专利名称：射线曝光量测定仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种射法照相法中射线曝光量的测量装置。
射线照相工作中通常采用制作曝光曲线的方法来控制射线曝光量，例如杜邦公司提供的NDT 70胶片的曝光曲线，其先决条件是显影在自动显影机中，30℃时显95秒，增感屏为前屏0.125mm，后屏0.250mm铅箔X光机为恒压式300KV机，焦距900mm，底片黑度为2.0。在上述条件下，曝光表上可查得工件厚度与X光机电压KV数及曝光时间毫安－分等参数的关系。
一些X光机带有采用电离室的自动曝光装置，在射线剂量达到预定值时能自动关去X光机高压电源。但此种装置在探伤用X光机中极为少见，而且价格昂贵。至于用电离室的射线剂量仪，它们是一种独立的剂量测量仪器，在医学上经常采用的有美国NE Technology公司的FARMER Dosemcher 2570／1，它带三个电离室－－0.03cc，0.6cc，及600cc，测量范围很广，已成为国际上医疗放射界中公认的标准仪器。国产的有上海第六电表厂的PL－1型数字伦琴计，它带有二个电离室－－1cc及100cc，能测0－1000伦琴，及0－1伦琴的剂量，但上述仪器均不能直接在射线照相法中应用。
本实用新型的目的是提供一种射线检测工件照相用的射线曝光量的测定装置，用于测量透过被检测工件后射线的强度，测定准确的曝光量。
本实用新型是这样实施的，它分成两个部份，即探测器和指示器。探测器置于被检查物体后面放置X线胶片的部位，指示器置于X光机控制台附近，二者用电缆联接。当开动X光机并增加其KV和mA值时，指示器上即有读数。操作人员可将X光机的输出增加到使指示器指在预定数值(伦琴数)上，此时曝光量已测定完毕，将X光机关闭，取出探测器，放上X光胶片，就可进行准确的曝光。
从上所述，本实用新型包括探测器、指示器、以及联结它们的电缆。探测器包括顺次以电路联结的高压发生单元、计数单元、放大单元和检测单元、以及功能选择单元。而指示器是一只表头。
使用本实用新型确定射线照相曝光量与惯用的由曝光曲线确定曝光量的方法相比，本实用新型具有明显的技术进步a.曝光曲线是在规定焦距下制作的，如焦距改变就无法应用。使用本仪器可不考虑焦距，只要测得穿过工件的射线有足够强度即可。焦距远时可提高KV数，反之则减小；b.曝光曲线制作时是只对某种型号X光机而言的，由于X光机电路不同，效率不一，故一种曝光曲线不能适用于所有X光机。本仪器是一台测量射线伦琴值的仪器，它有客观的标准，可不受X光机型号的影响；c.本仪器在射线探伤工作中可作为一台监测仪器，它能在射线照相工作中及时发现X光机性能变化、失效，以及其它不正常现象。
本实用新型由以下附图加以实施。
图1是本实用新型的整体结构示意图。
图2是本实用新型的电路结构示意图。
根据图1和图2给出本实用新型一个较好实施例，结合对该实施例的叙述，进一步提供本实用新型的技术细节。从图1可见，本实用新型包括探测器1和指示器2，以及以电路联结它们的电缆3。又从图2中，本实用新型的检测器1包括高压发生单元11、计数单元12、放大单元13和检测单元14以及功能选择单元15，它们顺次以电路联结，而指示器2是一只指示表头M20。本实施例中，高压发生单元11包括由三极管BG1、自耦变压器T1、基极回路电阻R1和电容C1、以及正反馈电阻R2组成的自激振器、将直流电源(电池)转变成高频高压电源，并由自耦变压器T1的次级送入由电容C2、二极管D1、D2和电容C3组成的倍压整流器，进行整流滤波，再由相串接的三只稳压管D3、D4、D5稳压成＋390伏直流高压电源，向计数单元12供电。计数单元12由电阻R3和电容C4并联而成的脉冲淬灭电路、计数管J和由电阻R4与R5组成的输出分压器依次串联构成。计数管J接收X射线而发生电离，所产生的射线电离的脉冲信号馈入放大单元13进行放大整形。放大单元13包括稳压管D6和二极管D7、D8构成的正负限压器和由电阻R6与三极管BG2构成的放大器对电离脉冲进行整形放大而输出矩形脉冲去触发检测单元14工作。检测单元14包括由定时集成电路IC1及其外接定时电阻R7、R8与电容C5构成的单稳态电路，R7与R8相串联，调节R8，引起时间常数(R7＋R8)。C5的变化而改变单稳态输出脉冲的波宽。输出脉冲馈入由电阻R9、R10与电容C6构成的T型积分电路，其电压值由指示器2的读出电表头M20指示，代表相应的X射线剂量值。本实施例中还有功能选择单元15，它由调节电位器R11与R12，双刀双掷开关K2和表头M1所构成，当开关K2置“1”位置时，开关K2与电阻R10相连接，并经由电缆3(约200米)与表头M20相连接，置于“2”位置时，电位器R12、表头M1、电位器R11和表头M20依次串联成回路。
权利要求1.一种射线曝光量测定仪，用于工件射线探伤照相法中的射线曝光量的测定，其特征在于包括探测器1和指示器2，它们由电缆3以电路联结。
2.根据权利要求1所述测定仪，其特征在于探测1包括顺次以电路联结的高压发生单元11、计数单元12、放大单元13和检测单元14以及与指示器2相联结的功能选择单元15。
3.根据权利要求1所述测定仪，其特征在于指示器2是一只指示表头M20。
4.根据权利要求2所述测定仪，其特征在于高压发生单元11包括由三极管BG1、自耦变压器T1、其极回路串联电阻R1和电容C1、以及正反馈电阻R2构成的自激振荡器、与变压器T1的次级连接并由电容C2、C3、三极管D1、D2组成的倍压整流器、以及后接该倍压整流器并由三只稳压管D3～D5构成的稳压管。
5.根据权利要求2所述测定仪，其特征在于计数单元12包括由电阻R3和电容C4并联而成脉冲淬灭电路、计数管J和由电阻R4与R5组成的分压器，它们依次以电阻联结。
6.根据权利要求2所述测定仪，其特征在于放大单元13包括由稳压管D6和二极管D7、D8构成的整形限幅器和后接的由电阻R6与三极管BG2构成的放大器。
7.根据权利要求2所述测定仪，其特征在于检测单元包括由定时集成电路IC1及其外接定时电阻R7、R8和定时电容C6构成的单稳态电路、和其后接由电阻R9、R10与电容C6构成的T型积分电路。
8.根据权利要求2所述测定仪，其特征在于功能选择单元15包括监视表头M1、功能选择开关K2和调节电位器R11与R12，该开关K2为双刀双掷开关，在“1”位置时，与指示器2联结，在“2”位置时，电位器R12、监视表头M1电位器R11和指示器2依次连接构成回路。
专利摘要一种射线曝光量测定仪，用于工件射线探伤照相法中测量定射线的曝光量，本实用新型包括探测器1和指示器2，它们由电缆3以电路联结，使用时，探测器1置于工作后面，即放置X线胶片的部位，而指示器2测置于X光机控制台附近，当开动X光机并增加其KV和mA值至指示器2上规定读数时，便表明此时射线的曝光量为所欲，比惯用的曲线法确定X光机的KV和mA数方便得多。
文档编号G01T1/18GK2101886SQ9121584
公开日1992年4月15日 申请日期1991年8月27日 优先权日1991年8月27日
发明者陈祝年 申请人:陈祝年