专利名称：沉降—分析天平的制作方法
技术领域：
本实用新型是一种天平，特别适用于以沉降重量法测定粉体粒度及其分布，同时具有光学分析天平的功能。
现有的沉降天平，如Gallenkamp沉降天平、Shimaelzu沉降天平等，都是用电磁起动，自动加码平衡颗粒沉降的原理，每次加码的间隔量不变，造成在细粒级部分误差较大，分散相颗粒浓度大(1～5％)，操作复杂，易出故障。这些沉降天平仅适合测定100μm以下颗粒范围和实验室研究之用，不适合工业常规例行测试工作。对大于100μm以上的多分散体都用筛析法。而筛析法存在筛孔尺寸易变，测定精度低，劳动强度大，耗电耗试样多，静电粘附，技术不安全因素及粉尘损害操作人员身体健康等多种弊端，使其使用受到很大限制。目前有相当一部分工业粉体粒度上限在500微米以上，现有的沉降天平和筛析法都无法精确测定。
本实用新型的目的是提供一种沉降天平，能测定5～1200μm粉体粒度大小及其分布情况，并具有光学分析天平的功能。
本实用新型是采取以下措施达到上述目的的在双盘光学分析天平的外壳上，于加码架的下面增设了一个与原加码架平行的加码架及其控制的圈码；在其横梁A端的阻尼盒下面，设置了一个由沉降筒和置于沉降筒内的沉降盘组成的沉降承受器，沉降盘挂在与横梁A端相连的挂钩上。取下沉降承受器，换上称样盘，就成为一台双盘光学分析天平。
本实用新型具有结构简单，操作方便，节电省试样，测量范围广，精确度高，相对误差小于±1.5％，适于工业常规和科研中测试粉体粒度大小及其分布情况。又可作为光学分析天平用。
以下结合附图对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的结构示意图；图2是图1的C－C视图；图3是主凸轮组的5片凸轮图；图4是副凸轮组的3片凸轮图。
参照图1，在双盘光学分析天平的外壳13上，位于原加码架5的下面，增设了一个与加码架5平行的加码架4及其控制的圈码3。双盘光学分析天平的横梁7两端分别以A和B表示。横梁7的B端为加圈码端，在A端阻尼盒9的下面设置了一个沉降承受器，它是由透明或半透明的沉降筒2和置于其内的沉降盘1构成。沉降筒2是耐油性聚酯制成，沉降盘1是由黄铜杆的一头固定在黄铜盘中心而成。黄铜杆的另一头可通过尼龙线与横梁7A端相连的挂钩相连接。沉降承受器设置在外壳13外面，即阻尼盒9正下方的底板上有一个孔，由尼龙线通过该孔上下连接。沉降承受器也可以设置在外壳13内，这可根据需要而定。在横梁7A端阻尼盒9下面可以设置一个配重体10，使其作为当沉降天平使用时起平衡作用。在支柱8上可以设置一个指针11的限摆器12，用作限制指针11的摆动范围。
参照图2、图3，加码架4是由5片齿缘齿谷所占相位相异的凸轮20、21、22、23、24构成的一组主凸轮组16。与主凸轮组16同轴的外定轴齿轮14是12个齿。主凸轮组16和外定轴齿轮14固定在外定轴15上。外定轴齿轮14将主凸轮组16分成12个档次(相位)，这12个档次又分为第一段是1～5档，每档加圈码200mg；第二段是6～11档，每档加圈码100mg；第12档为0档。而第三段10mg级的圈码由加码架5控制圈码6完成。现将主凸轮组16调码数值及程序列表如下
注“＋”——加入该圈码；“－”——未加该圈码。
参照图2、图3、图4，加码架4也可以由主凸轮组16和副凸轮组18组成。主凸轮组16和外定轴齿轮14如前段所述。副凸轮组18是由3片齿缘和齿谷所占相位相异的凸轮25、26、27构成。与副凸轮组18同轴的内定轴齿轮19是6个齿。副凸轮组18和内定轴齿轮19固定在内定轴17上。内定轴齿轮19将副凸轮组18分成6个档次(相位)，第6档为0档，1～5档为第三段，是试加圈码段，承担调动10mg级的圈码。即先试加80mg圈码，如沉降时间过长，可改为50mg、或30mg、或20mg、或10mg。现将副凸轮组18调码数值及程序列表如下
注“＋”——加入该圈码；“－”——未加该圈码。
测试操作过程简述放正沉降承受器，向沉降筒2内注入沉降介质，挂上沉降盘1，使沉降天平的指针11达到零点平衡，然后关闭天平，预加200mg圈码3。测试工作开始前，将5克试样加入沉降筒2内，用沉降盘1搅动到均匀。立即挂上沉降盘1，并同时打开天平和开动记时表，颗粒沉降量刚好平衡200mg圈码，即指针11指到零点时，记下时间，再加第二次圈码3，重复前面操作，直到测试完。根据每次累计的加码值和测试时间作出曲线图，并进行数据处理，就可确定粉体粒度的大小及其分布情况。这样一台沉降天平，每人每天可测试12～18个试样。
权利要求1.一种沉降-分析天平，包括外壳[13]、支柱[8]、横梁[7]、指针[11]、圈码[6]、加码架[5]、砝码盘、阻尼盒[9]，本实用新型的特征在于所述外壳[13]上，增设了一个与加码架[5]平行的加码架[4]及其圈码[3]；在所述横梁[7]A端的阻尼盒[9]下面，设置了一个由沉降筒[2]和置于其内的沉降盘[1]组成的沉降承受器，沉降盘[1]挂在与横梁[7]A端相连的挂钩上。
2.根据权利要求1所述的沉降——分析天平，其特征在于所述加码架〔4〕是由5片凸轮〔20、21、22、23、24〕构成一组主凸轮组〔16〕，与其同轴的外定轴齿轮〔14〕是12个齿。
3.根据权利要求1所述的沉降——分析天平，其特征在于所述加码架〔4〕的主凸轮组〔16〕是由5片凸轮〔20、21、22、23、24〕构成，与其同轴的外定轴齿轮〔14〕是12个齿，副凸轮组〔18〕是由3片凸轮〔25、26、27〕构成，与其同轴的内定轴齿轮〔19〕是6个齿。
4.根据权利要求1或2或3所述的沉降——分析天平，其特征在于所述横梁〔7〕A端的阻尼盒〔9〕下面，可以设置一个配重体〔10〕。
5.根据权利要求1或2或3所述的沉降——分析天平，其特征在于所述支柱〔8〕上可以设置一个指针〔11〕的限摆器〔12〕。
6.根据权利要求4所述的沉降——分析天平，其特征在于所述支柱〔8〕上可以设置一个指针〔11〕的限摆器〔12〕。
7.根据权利要求6所述的沉降——分析天平，其特征在于所述沉降承受器也可以设置在外壳〔13〕内。
8.根据权利要求4所述的沉降——分析天平，其特征在于所述沉降承受器也可以设置在外壳〔13〕内。
9.根据权利要求5所述的沉降——分析天平，其特征在于所述沉降承受器也可以设置在外壳〔13〕内。
专利摘要一种沉降—分析天平，是在光学分析天平加码架下方增一个与其并立的沉降加码架，并在横梁左端下方设置一个由沉降筒和沉降盘构成的沉降承受器而成。该天平不但具有测试粉体颗粒大小及其分布状况的作用，还具有光学分析天平的功能。这种天平结构简单，精确度高，操作方便，每人每天可测试12～18个试样，省电省试样，安全可靠，无粉尘污染，适用于工业常规测试5～1200μm粒度粉体和科学研究。
文档编号G01G1/00GK2160105SQ9320661
公开日1994年3月30日 申请日期1993年3月16日 优先权日1993年3月16日
发明者连嗣南 申请人:连嗣南