知全漫反射太阳光在大气层外的响应数据时，能够计算得到当前测量路径下的整层大气透过率。由于全漫反射元件能够将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中，并满足光学辐射测量仪的响应谱段要求，因此得到的大气透过率是光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。因此通过本发明实施例中的装置能够准确获知当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率，达到了准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上，光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率的目的。
[0096]能够理解，由于本发明第二实施例提供的方法和本发明第一实施例提供的装置基于相同的测量原理，因此本发明第一实施例中的描述及有益效果同样适用于本发明第二实施例。
[0097]图5为本发明第二实施例提供的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的方法的另一种流程示意图。如图5所示，一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的方法，还包括:
[0098]步骤450，根据当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其他路径的光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。
[0099]进一步地，全漫反射元件的漫反射波段覆盖光学辐射测量仪的响应波段。
[0100]进一步地，预设角度包括当前测量路径下观测太阳的角度，即观测太阳的方位角和高低角。
[0101]进一步地，当前测量路径为太阳照射全漫反射元件的路径。
[0102]综上所述，相比于现有技术，本发明实施例中的基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法具有如下有益效果。
[0103]本发明实施例中，利用全漫反射元件110、光学辐射测量仪130、遮光元件120的配合使用，按照预设角度测量，根据光辐射叠加原理，能够得到全漫反射太阳光的响应数据，即响应差；在预先获知全漫反射太阳光在大气层外的响应数据时，通过计算单元140能够计算得到当前测量路径下的整层大气透过率。由于全漫反射元件110能够将太阳光漫反射至光学辐射测量仪130中，并满足光学辐射测量仪130的响应谱段要求，因此得到的大气透过率是光学辐射测量仪130响应谱段的整层大气透过率。因此通过本发明实施例中的装置能够准确获知当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率，达到了准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上，光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率的目的。
[0104]本发明实施例中，通过设置全漫反射元件，一方面能够满足光学辐射测量仪的响应范围要求，保证响应波段的完整，另一方面还能够避免进入光学辐射测量仪的太阳光过多，避免光学辐射测量仪饱和或损坏。
[0105]本发明实施例中，在不同场合测量大气透过率时，保持预设角度不变，能够保证本发明实施例中的装置与太阳的相对位置不变，从而保证测量大气透过率的标准性与测量条件的统一"性。
[0106]本发明实施例中，能够将本发明实施例得到的大气透过率作为标准数据，对其他方法得到的大气透过率进行修正，解决现有技术得到的大气透过率修正标准和精度检测问题，准确校正现有技术获得大气透过率。'
[0107]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置，其特征在于，包括全漫反射元件、光学辐射测量仪，遮光元件和计算单元: 所述全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至所述光学辐射测量仪中； 所述遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光； 所述光学辐射测量仪，用于测量所述全漫反射元件，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据； 计算单元，用于计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括: 校正单元，用于根据所述当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其它路径的所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述全漫反射元件的漫反射波段覆盖所述光学辐射测量仪的响应波段。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述全漫反射元件通过连接杆与所述光学辐射测量仪连接。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述遮光元件活动设置于所述光学辐射测量仪的镜筒表面。
6.一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的方法，其特征在于，包括: 通过全漫反射元件按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中； 通过所述光学辐射测量仪测量所述全漫反射元件，获得含有全漫反射太阳光的第一响应数据； 遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光，通过所述光学辐射测量仪测量所述全漫反射元件，获得不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据； 计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括: 根据所述当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其他路径的所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述全漫反射元件的漫反射波段覆盖所述光学辐射测量仪的响应波段。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述预设角度包括当前测量路径下观测太阳的角度。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述当前测量路径为太阳照射所述全漫反射元件的路径。
【专利摘要】本发明提供了一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法，其中装置包括：全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中；遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射全漫反射元件的太阳光；光学辐射测量仪，用于测量全漫反射元件，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含全漫反射太阳光的第二响应数据；计算单元，用于计算第一响应数据和第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。本发明的目的在于准确获知太阳与测量装置形成的测量路径上，光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。
【IPC分类】G01N21-59
【公开号】CN104634765
【申请号】CN201510098070
【发明人】姜志富, 李满良, 左亚林, 吴亚丽, 马峰, 孟凡胜, 杜芳, 麻纪庵, 王琳, 郭毅
【申请人】姜志富
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2015年3月5日