后，如图3所示，在原来设置有该参照 天线3的位置施加圆形开口 5,在圆形开口 5中填设下部与凸缘7连接的圆筒地6(步骤 ST4)〇
[0059] 接着，将圆筒地6的凸缘7与天线地8连接，如图5所示，在圆筒地6内，在天线地 8上设置被测定用天线9 (步骤ST5)。
[0060] 在圆筒地6内设置被测定用天线9后，网络分析器4测定被测定用天线9与测定 用天线2之间的传递特性的频率特性E_^t(f)(步骤ST6)。
[0061] 接着，说明步骤ST7~ST8的运算步骤。
[0062]测定参照天线3与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_ref(f)、被测定 用天线9与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_^t(f)后，通过将该频率特性E_ ref(f)和频率特性E_^t(f)代入下述的式（1)，运算装置4a运算被测定用天线9的有效 高度的频率特性heff(f)(步骤ST7)。
[0063]
(1)
[0064] 在式（1)中，heff_ref讯是参照天线3的天线有效高度。
[0065] 运算装置4a运算被测定用天线9的有效高度的频率特性heff(f)后，如下述的式 (2)所示，运算有效高度的频率平均值heff_average(步骤ST8)。
[0066] 该里，网络分析器4 一边改变对测定用天线2供给的电波的频率（规定的频率） 一边实施同样的测定，W规定的频率使有效高度的频率特性heff(f)进行平均化，规定的 频率例如可采用500MHz~1500MHz。
[0067]
( 2 )
[0068] 在平板状的地1上设置的作为单极天线的测定用天线2发射与平板状的地1垂直 的偏振波，高频沿着平板状的地1传输。因此，如图5那样，设置测定用天线2和被测定用 天线9后，与采用G-TEM室的情况相同，能够向被测定用天线9的侧面照射与平板状的地1 垂直的偏振波。
[0069] 其结果，根据步骤ST1~ST8所示的顺序，能够进行与采用G-TEM室的情况的评价 相同的评价。
[0070] 例如，当假定圆形开口 5的直径是"350mm"、观测的频率为500MHz~1500MHz时， 规定的距离的最大值为"612mm"。
[0071] 因此，平板状的地1的长度最大收敛于Im左右，所W，与G-TEM室相比，可构建设 置区域小的评价设备。
[0072] 另外，可通过一个平板状的地来代用G-TEM室，所W，能够使设备本身低成本化。
[0073] 如W上可知，根据该实施方式1，无需采用大的G-TEM室，就能够运算被测定用天 线9的有效高度的频率特性heff(f)或有效高度的频率平均值heff_average，起到能够实 现整个装置的小型化的效果。
[0074] 实施方式2.
[0075] 图6是示出本发明实施方式2的部分放电传感器评价方法的流程图。
[0076] 图7是示出在平板状的地1上设置有多个测定用天线2和参照天线3的状态的说 明图，图8是示出在平板状的地1上设置有多个测定用天线2和被测定用天线9的状态的 说明图。
[0077] 在上述实施方式1中示出了测定用天线2与参照天线3 (被测定用天线9)W分开 规定距离的方式设置在平板状的地1上的情况，在该实施方式2中，不同之处是，在参照天 线3(被测定用天线9)的周围配置（沿闭合曲线设置）有N个测定用天线2。N是2W上 的整数。
[0078] 网络分析器10实施W下该样的处理，测定参照天线3与N个测定用天线2之间的 传递特性的频率特性E' _ref_i(f)，并且测定被测定用天线9与N个测定用天线2之间的 传递特性的频率特性E' (f)。此外，网络分析器10构成传递特性测定器。
[007引运算装置10a例如由个人计算机等构成，实施W下的处理；根据由网络分析器10 测定的参照天线3与N个测定用天线2之间的传递特性的频率特性E' _ref_i(f)，运算与 参照天线3分开规定距离W上的地点的电场E_ref(f)，并且根据被测定用天线9与N个测 定用天线2之间的传递特性的频率特性E' (f)，运算与被测定用天线9分开规定距 离W上的地点的电场E_^t(f)。
[0080]另外，运算装置10a实施W下的处理；根据双方地点的电场E_ref讯、E_^t讯， 运算被测定用天线9的有效高度的频率特性heff(f)，并且运算有效高度的频率平均值 heff_average。此外，运算装置10a构成有效高度频率特性运算单元。
[0081] 接着，对动作进行说明。
[0082] 最先，说明步骤ST11~ST13的第1频率特性测定步骤。
[0083]首先，为了测定参照天线3与测定用天线2之间的传递特性的频率特性E_ref(f)， 如图7所示，在平板状的地1上沿闭合曲线设置N个作为单极天线的测定用天线2(图6的 步骤ST11)。
[0084] 接着，在闭合曲线内的任意位置设置天线有效高度heff_ref(f)的频率特性为已 知的参照天线3(步骤ST12)。
[0085] 由此，在参照天线3的周围配置有N个测定用天线2。
[0086] 在平板状的地1上设置参照天线3和N个测定用天线2后，网络分析器10利用开 关从N个测定用天线2中切换测定对象的测定用天线2,并且测定参照天线3与N个测定用 天线2之间的传递特性的频率特性E' _ref_i讯（步骤ST13)。其中，i= 1、2、…、N。
[0087] 接着，说明步骤ST14~ST16的第2频率特性测定步骤。
[0088] 与上述实施方式1相同，在从平板状的地1撤去参照天线3之后，在原来设置有该 参照天线3的位置施加圆形开口 5,在圆形开口 5中填设下部连接凸缘7的圆筒地6 (步骤 ST14)。
[0089] 接着，将圆筒地6的凸缘7与天线地8连接，在圆筒地6内，在天线地8上设置被 测定用天线9(步骤ST15)。
[0090] 在圆筒地6内设置被测定用天线9后，网络分析器10利用开关从N个测定用天线 2中切换测定对象的测定用天线2,并且测定被测定用天线9与N个测定用天线2之间的传 递特性的频率特性E' _dut(f)_i(步骤ST16)。其中，i= 1、2、…、N。
[0091] 接着，说明步骤ST17~ST20的运算步骤。
[0092] 测定参照天线3与N个测定用天线2之间的传递特性的频率特性E'_ref_i(f)W 及被测定用天线9与N个测定用天线2之间的传递特性的频率特性E' (f)后，运算 装置10a根据参照天线3与N个测定用天线2之间的传递特性的频率特性E' _ref_i(f)，如下述的式（3)所示，运算与参照天线3分开规定距离W上的地点的电场6_'6^〇 (相当 于式做的左边）（步骤ST17)。
[0098] R ;测定天线的位置与观测点的位置之间的距离
[0099] k;23i/波长
[0100] 此外，距离R是各测定用天线2的坐标与观测点的坐标之间的距离，该观测点被设 定在与参照天线3相距远大于D2/A的距离处。D是测定用天线2的大小，A是波长。矢 量n是处于平板状的地1的面内且相对于上述闭合曲线朝向外侧的法线矢量。
[0101] 另外，运算装置10a根据被测定用天线9与N个测定用天线2之间的传递特性的 频率特性如下述的式（4)所示，运算与被测定用天线9分开规定距离W上的 地点的电场E_^t(f)(相当于式（4)的左边）（步骤ST18)。
[0107] R;测定天线的位置与观测点的位置之间的距离 [010引k;2 3i/波长
[0109] 此外，距离R是各测定用天线2的坐标与观测点的坐标之间的距离，该观测点被设 定在与被测定天线9相距远大于D2/A的距离处。D是测定用天线2的大小，A是波长。矢 量n是处于平板状的地1的面内且相对于上述闭合曲线朝向外侧的法线矢量。
[0110] 运算装置10a运算双方地点的电场E_ref(f)、E_^t(f)后，将双方地点的电场E_ ref(f)、E_^t(f)代入上述的式（1)，由此，运算被测定用天线9的有效高度的频率特性heff讯（步骤ST19)。
[0111] 运算装置10a运算被测定用天线的有效高度的频率特性heff(f)后，如上述的式 (2)所示，运算有效高度的频率平均值heff_average(步骤ST20)。
[011引该里，利用网络分析器10W及运算装置10a-边改变对测定用天线2供给的电波 的频率（规定的频率）一边实施同样的测定，W规定的频率使有效高度的频率特性heff(f) 进行平均化，规定的频率例如采用500MHz~1500MHz。
[0113] 通过执行W上的步骤ST11~ST20,可进行与采用G-TEM室的情况的评价相同的评 价。
[0114] 在该实施方式2中，通过采用在被测定用天线9的周围配置的N个测定用天线2 计算等效的远场，从而计算相当于被测定用天线元件9与测定用天线2充分分开的情况的 传递特性，能够使被测定用天线元件9与测定用天线2的距离接近。结果，与上述实施方式 1相比，能够使装置