一种定量取样装置的制造方法

文档序号:9372806阅读:173来源:国知局
一种定量取样装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及光电探测领域,具体设计一种定量取样装置。
【背景技术】
[0002]目前采用的光学定量系统主要包括:取样装置、定量玻璃管,探测光发射器,探测光检测器,继电器。所述探测光发射器发射的探测光线通过所述定量玻璃管的直径,探测光检测器位于与探测光发射器相对的所述定量玻璃管的另一侧,与所述继电器连接,所述继电器与所述取样装置连接。当所述定量系统工作时,首先根据所需取样量在定量玻璃管上确定取样终点,并设置探测光发射器与探测光检测器,确保探测光发射器发射的探测光线通过所述取样终点与所述定量玻璃管的直径并能够被探测光检测器接收,设此时探测光检测器接收到的探测光线的光强值为Il ;然后启动所述取样装置进行取样;最后,当所述探测光线经过待取样样品因表面张力的作用而形成的凹液面到凹液面持续上升高于探测光线的过程中,由于凹液面的弧面形状特性,所述探测光线经过凹液面的折射与反射后的出射探测光线的强度会先变弱后增强,当所述探测光线经过全部由待取样样品充满的定量玻璃管时,因为所述探测光线的光路经过定量玻璃管的直径,所以所述探测光线只会经过待取样样品的反射,此时所述探测光检测器检测到的出射探测光线的强度达到稳定,设整个过程中探测光检测器检测到的最小光强值为12,并取一个光强值大于12且小于Il的光强值I 3设为判定取样终点的光强值,探测光检测器第二次探测到所述判定取样终点的光强值I 3时,通过所述继电器切断所述取样装置的电源,实现定量取样。需要说明的是,所述判定取样终点的光强值I 3在所述定量取样装置工作前预先设置。
[0003]但是,上述光学定量系统存在抽样量不准的现象,严重时甚至会溢出所述样品存储装置。

【发明内容】

[0004]本发明提供了一种定量取样装置,能够实现各种待取样样品的精确取样,以解决现有技术中光学定量系统存在抽样量不准的问题,避免抽取样品溢出所述样品存储装置的情况发生。而且适用于待取样样品不存在凹液面的情况下的精确取样。
[0005]—种定量取样装置,包括:
[0006]样品存储装置,用于存储待取样样品;
[0007]样品抽取装置,所述样品抽取装置与所述样品存储装置以导气管连接,用于将待取样样品抽取到所述样品存储装置中;
[0008]光线准直装置,所述光线准直装置包括:相对设置在所述样品存储装置两侧的第一准直面板和第二准直面板,其中,所述第一准直面板上具有第一孔道,所述第二准直面板上具有第二孔道,所述第一孔道和第二孔道的连线经过所述样品存储装置的预设弦,所述预设弦非直径弦;
[0009]光线发射装置,位于所述第一准直面板背离所述样品存储装置的一侧,用于向所述第一孔道发射入射探测光线;
[0010]光线检测装置,位于所述第二准直面板背离所述样品存储装置的一侧,用于检测所述第二孔道射出的出射探测光线,并在检测到所述出射探测光线的强度小于预设值时,控制所述样品抽取装置停止抽样。
[0011]优选的,所述光线检测装置包括光电检测器和继电器;其中,
[0012]所述光电检测器用于检测所述出射探测光线强度;
[0013]所述继电器与所述光电检测器、所述样品抽取装置连接,用于当所述光电检测器检测的所述出射探测光线的强度小于预设值时,控制所述样品抽取装置停止抽样。
[0014]优选的,所述光电检测器为硅光电池或光电传感器。
[0015]优选的,所述样品抽取装置包括:控制器、步进电机和蠕动栗;其中,
[0016]所述控制器控制步进电机的开关;
[0017]所述步进电机带动所述蠕动栗通过所述导气管对所述样品存储装置进行抽真空,使得所述待取样样品进入所述样品存储装置。
[0018]优选的,所述光线发射装置为LED灯珠或氦氖激光器。
[0019]优选的,所述导气管为聚四氟乙烯管。
[0020]优选的,所述样品存储装置为定量玻璃管。
[0021]优选的,在所述样品存储装置中包括所述第一孔道和第二孔道连线的横截面内,所述第一孔道和第二孔道的连线经过的弦所对应的圆心角范围为0° -180°,不包括端点值。
[0022]优选的,在所述样品存储装置中包括所述第一孔道和第二孔道连线的横截面内,所述第一孔道和第二孔道的连线经过的弦所对应的圆心角150°。
[0023]优选的,所述定量玻璃管管壁厚度范围为0.5mm-0.8mm,包括端点值。
[0024]与现有技术相比,上述技术方案具有以下优点:
[0025]本发明所提供的定量取样装置开始工作后,所述样品抽取装置将待取样样品抽取到所述样品存储装置中;当所述样品存储装置内的待取样样品高度达到入射探测光入射高度时,不论待取样样品存在凹液面与否,入射探测光线都会在经过空气与所述定量取样装置内待取样样品的临界面时发生反射与折射,使得所述出射探测光线无法全部通过所述光线准直装置,造成所述光线检测装置检测到的出射探测光线强度将大大降低,甚至无法接收到出射探测光线,并在其检测到的所述出射探测光线的强度小于预设值时,切断所述样品抽取装置的电源,达到精确取样的目的。
[0026]综上所述,本发明提供的定量取样装置能够适用于在定量取样过程中待取样样品不存在凹液面的情况,大大提升了所述定量取样装置的实用性和适用范围,避免了待取样样品因各种原因不存在凹液面时,传统定量取样装置无法确定取样终点,造成的无法定量取样的问题,解决了现有技术中光学定量系统存在抽样量不准的问题,避免了抽取样品溢出所述样品存储装置的情况发生。
【附图说明】
[0027]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0028]图1为本发明实施例提供的一种定量取样装置的结构示意图;
[0029]图2为本发明实施例提供的一种定量取样装置的工作流程示意图;
[0030]图3为现有技术中的光学定量系统的探测光线的光路示意图;
[0031]图4为本发明实施例提供的一种定量取样装置的探测光新的光路示意图;
[0032]图5为本发明的一个具体实施例提供的一种定量取样装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0033]正如【背景技术】所述,现有技术中的光学定量系统存在抽样量不准的现象,严重时甚至会溢出所述样品存储装置。
[0034]发明人研究发现,这是由于不同种类的待取样样品的表面张力系数相差很大,一些表面张力系数小的待取样样品不会在所述定量玻璃管内形成明显的凹液面,而且当所述定量玻璃管内的洁净程度不同时,凹液面的形状也会改变甚至消失。在凹液面不存在或不明显的情况下,所述探测光线通过所述定量玻璃管截面圆心射入均一的空气或待取样样品介质内不会发生明显折射,导致探测光检测器检测到的出射探测光线的强度不会经过先变弱再变强并稳定的过程,所述探测光检测器不会两次探测到预设的所述判定取样终点的光强值I 3,因此不会切断所述取样装置的电源,所述取样装置会一直工作,使得所取待取样样品的量超出所需取样量甚至导致待取样样品溢出所述定量玻璃管。
[0035]有鉴于此,本发明提供了一种定量取样装置,包括:
[0036]样品存储装置,用于存储待取样样品;
[0037]样品抽取装置,所述样品抽取装置与所述样品存储装置以导气管连接,用于将待取样样品抽取到所述样品存储装置中;
[0038]光线准直装置,所述光线准直装置包括:相对设置在所述样品存储装置两侧的第一准直面板和第二准直面
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