204还设有用于固紧支撑件201的锁紧螺栓203。在本实施例中，在套筒支撑件204上设有支撑平台205 ;在支撑平台205上连接有直角件202且所述直角件202的上表面与所述支撑平台205的上表面位于同一平面内。
[0026]下面结合附图，对本发明的技术方案进行详细的说明。
[0027]如图1-图5所示，本发明的快速可调节工装是由八个相同结构的支撑结构单元与平板底座间的装配构成的，其工装包括平板底座1、支撑结构单元2 ;进一步所述的支撑结构单元2包括带有刻度尺的支撑件201 (其中刻度尺的刻度在图中未显示)、直角件202、锁紧螺栓203、套筒支撑件204。以一个支撑结构单元为例，套筒支撑件204通过螺栓与平板底座I连接，带有刻度尺的支撑件201 —端放置于套筒支撑件204内，当需要进行调节支撑结构单元2的高度时，整体调节和上下移动带有刻度尺的支撑件201的高度，达到某一所需要的刻度时，通过锁紧螺栓203进行固定，在每个套筒支撑件204上设有同一高度的2-4个锁紧螺栓203，在此起到固定和夹紧带有刻度尺的支撑件201的作用，直角件202与支撑平台205通过焊接的方式进行连接，其上表面与支撑平台205的上表面平行对接，且两个表面位于同一个平面内。平板底座I上装配的八个排列的支撑结构单元2，构成整个工装的框架，在检测的过程中共同支撑平板天线。
[0028]所述的减小天线平板平面度及其检测的过程方法在于进行测量前，统一调整每个支撑结构单元2，可以根据需要调节带有刻度尺的支撑件201，调整至某一所需要的刻度，且用锁紧螺栓203进行固定和夹紧，使得八个支撑结构单元2的平板平面高度一致，同时采用水平仪校正其高度的一致性，其高度无明显的差异性，然后天线平板放置于八个支撑结构单元2上，运用测量仪检测天线平板的位置高度，最后根据其位置高度，计算天线平板的平面度。
[0029]本发明的用于减小天线平板平面度及其检测的快速可调节工装，是通过调节部件的上下移动，从而实现工装在测量前每个支撑结构单元高度的一致性，便于放置平板天线，使得天线平板没有较明显的高度差异性，减少其它专用工装数量和缩短人工装配周期，提高测量效率。
[0030]通过【具体实施方式】的分析，本发明一种减小天线平板平面度及其检测的快速可调节工装，工装结构简单，测量精度高，能够实现工装支撑天线平板且高度一致性的目的。同时，在测量前，通过支撑件的上下移动，统一调整支撑件的刻度尺的刻度，使得每个支撑结构单元达到统一的高度，不需要测量仪器之前的反复测量来调整每个支撑件的高度，在实际使用时可以采用水平仪校正整个工装结构的高度一致性，然后在利用测量仪测量天线平板的位置高度。该快速可调节工装操作简单方便，减少了其它专用工装的数量，大幅度的降低了人工工作量、测量反复以及天线平板平面度检测的周期，提高了检测效率和测量的精度。
【主权项】
1.一种平板天线的平面度检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 步骤I取快速可调节工装，所述的快速可调节工装包括平板底座(I)，在平板底座(I)上设有呈阵列分布的支撑结构单元(2)，所述支撑结构单元(2)包括套筒支撑件(204)，在套筒支撑件(204)内设有支撑件(201)且支撑件(201)的表面有刻度尺，在套筒支撑件(204)还设有用于固紧支撑件(201)的锁紧螺栓(203)， 步骤2将平板底座(I)置于水平面内，以支撑件(201)表面的刻度尺为依据，将各个支撑件(201)的顶端调至相同的高度并用锁紧螺栓(203)固定支撑件(201)， 步骤3将平板天线放置在支撑件(201)上，再用测量仪检测平板天线的位置高度，并根据其位置高度，计算得到平板天线的平面度。2.根据权利要求1所述的平板天线的平面度检测方法，其特征在于，在将各个支撑件(201)的顶端调至相同高度后，采用水平仪对各个支撑件(201)顶端的高度进行等高校正。3.一种用于权利要求1或2所述平板天线的平面度检测方法的快速可调节工装，其特征在于，包括平板底座(I)，在平板底座(I)上设有呈阵列分布的支撑结构单元(2)，所述支撑结构单元(2)包括套筒支撑件(204)，在套筒支撑件(204)内设有支撑件(201)且支撑件(201)的表面有刻度尺，在套筒支撑件(204)还设有用于固紧支撑件(201)的锁紧螺栓(203)ο4.根据权利要求3所述的快速可调节工装，其特征在于，在套筒支撑件(204)上设有支撑平台(205) ο5.根据权利要求4所述的快速可调节工装，其特征在于，在支撑平台(205)上连接有直角件(202)且所述直角件(202)的上表面与所述支撑平台(205)的上表面位于同一平面内。
【专利摘要】本发明公开一种平板天线的平面度检测方法及其快速可调节工装，包括平板底座、在平板底座上设有呈阵列分布的支撑结构单元，其支撑结构单元包括套筒支撑件，在套筒支撑件内设有表面带有刻度尺的支撑件，以及用于固紧支撑件的锁紧螺栓，在检测时，将平板底座置于水平面内，以支撑件表面的刻度尺为依据，将各个支撑件的顶端调至相同的高度并用锁紧螺栓固定支撑件，采用水平仪对各个支撑件顶端的高度进行等高校正，将平板天线放置在支撑件上，再用测量仪检测平板天线的位置高度，并根据其位置高度，计算得到平板天线的平面度。该检测方法及其快速可调节工装操作简单方便，且能够解决目前检测工作量大、测量反复、平面度检测精度和质量不高等问题。
【IPC分类】G01B5/28, B25B11/00
【公开号】CN105203008
【申请号】CN201510613873
【发明人】汤文成, 潘明辉, 倪俊, 幸研
【申请人】东南大学
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2015年9月23日