由于功能贴膜B通过所述密封口 212与所述压框口 2134之间的压差而达到平铺展开，大部分地功能贴膜B通过压差抚平，但功能贴膜B仍存在少量褶皱，聚集在其四周，所述突出部2132突出于所述密封条214的结构有助于在所述压框口2134上形成所述皱褶间隙，得以遮挡功能贴膜B四周可能存在的褶皱，避免测试光线穿过功能贴膜B四周的褶皱，提高功能贴膜B的纹路测试准确性，如图9所示。
[0052]其中，所述密封壳体211有一对锁孔2111，相对应地，所述夹持压框213有一对锁件2133，所述锁件2133可分离地从所述夹持压框213向所述锁孔2111延伸，当所述锁件2133插入所述锁孔2111内时，将所述夹持压框213闭合于所述密封壳体211，得以夹持功能贴膜B，当所述锁件2133从所述锁孔2111分离时，打开所述夹持压框213，得以取放功能贴膜B。
[0053]所述调压部22包括一气栗221以及连接所述气栗221与所述密封腔210的导气软管222，通过气栗221的运转控制，得以对所述密封腔210抽气或注气，使得所述密封腔210的气压小于或大于大气压，从而功能贴膜B的内外两侧在所述密封口 212与所述压框口 2134之间形成压差，使得功能贴膜B被气压平铺展开，减少功能贴膜B在展开检测时受到皱褶影响，提高功能贴膜B测试时的平整性。也就是说，当夹持功能贴膜B，封闭所述密封腔210时，通过调节所述密封腔210的气压，所述功能贴膜B形成一定压力差，所述压力差适用于拉紧功能贴膜B，使其在所述夹持部21中处于紧绷状态而得到铺平和延展开，相当于功能贴膜B被气压抚平，减少功能贴膜B上可能存在的皱褶，尤其是所述压框口 2134位置处的功能贴膜B，从而有效提高整个待测试的功能贴膜B平整性。
[0054]所述移动台23为三维移动台23，得以使所述夹持部21沿着水平和竖直方向的预设运动轨迹进行位移，从而使得所述导光构件30相对所述夹持部21依次移动，沿着预设测试轨迹对所述压框口 2134内的功能贴膜B进行导光，从而有效获取功能贴膜B的多个纹路图像，得以定量地对纹路进行精确分析。通过移动所述夹持部21，得以相对移动功能贴膜B的测试位置，使得功能贴膜B相对于所述导光构件30在水平和竖直方向做规则运动，从而，所述构件沿着预设测试轨迹对所述压框口 2134内的功能贴膜B进行依次导光，分步测试功能贴膜B。也就是说所述前导光部31沿着所述预设测试轨迹向功能贴膜B分步射出光束，对功能贴膜B做多次局部穿透，依次完成全范围的扫描，从而保证功能贴膜B需要观察纹路部分时，得以分步并完整地呈现于所述显示装置40，如图10所示。
[0055]优选地，通过所述预设测试轨迹的测试方法为:设所述前导光孔310的直径为D，开始测试时，移动所述夹持部21，使得所述前导光孔310相对移动于所述压框口 2134的一角，对功能贴膜B进行取像，再通过调节所述移动台23，将所述夹持部21沿竖直方向或水平方向移动D/2，获取相应的纹路图像，通过所述导光构件30沿着预设测试轨迹对功能贴膜B的各个区域进行分步导光，获取功能贴膜B的多个纹路图像。重复移动过程，直到所述导光构件30经过所述压框口 2134的功能贴膜B各个区域，最后通过所述显示装置40对功能贴膜B的纹路图像进行处理。
[0056]各个所述导光构件30包括一挡圈312，322，所述挡圈312，322分别设置于所述夹持部21的前后两侧，所述挡圈312，322的预设直径适用于所述挡圈312，322遮挡所述夹持部21的功能贴膜B，有效减少光线干扰。
[0057]其中，各个所述导光构件30进一步包括一挡板311，321、一导光筒313，323以及一支撑杆314，324，所述导光筒313，323连接所述挡板311，321和所述挡圈312，322，所述前导光孔310形成于所述前导光部31的导光筒313，所述后导光孔320形成于所述后导光部32的导光筒323，所述导光筒313，323间隔地设置于所述夹持部21两侧，所述支撑杆314，324分别支撑所述导光筒313，323，使得所述导光筒313，323相对所述夹持部21保持对齐，从而所述导光筒313，323有助于对光线的导入和导出，减少干扰，降低误差。
[0058]相应地，所述前导光部31包括一前挡板311、一前挡圈312、一前导光筒313以及一前支撑杆314，所述前挡板311邻近所述扩束部12，以用于遮挡从所述扩束部12射向所述夹持部21的多余光线，所述前挡圈312面向所述夹持部21，紧贴所述夹持部21的前侧，以用于遮挡所述夹持部21的功能贴膜B，防止从所述前导光部31穿过以外的光线进入所述夹持部21，而影响功能贴膜B的纹路测试。其中，所述前导光筒313连接所述前挡板311和所述前挡圈312，从所述扩束部12延伸向所述夹持部21，所述前导光筒313为中空结构，得以引导测试光线从所述扩束部12穿过其中，射向所述夹持部21中的功能贴膜B。也就是说，所述前导光筒313轴向对齐所述扩束部12和所述夹持部21的功能贴膜B，所述前导光孔310形成于所述前导光筒313的一端，面向所述夹持部21，所述前导光筒313的另一端面向所述扩束部12，当测试光线通过所述扩束部12扩展后，主要的测试光线通过所述前导光筒313的引导射向所述夹持部21的功能贴膜B，而未能进入所述前导光筒313的多余光线则依次被所述前挡板311和所述前挡圈312遮挡和屏蔽。
[0059]其中，所述前挡圈312的预设直径适用于所述前挡圈312遮挡整个所述夹持部21的功能贴膜B。同时，所述前挡圈312紧贴于所述夹持部21，尽可能地邻近功能贴膜B，得以减少多余光线的干扰，减少反射、散射现象，有助于后续的清晰成像。
[0060]其中，所述前支撑杆314设置于所述前档光筒的中间位置，支撑所述前档光筒轴向对齐所述扩束部12和所述夹持部21。
[0061]相对应地，所述后导光部32包括一后挡板321，一后挡圈322、一后导光筒323以及一后支撑杆324，所述后挡板321邻近所述显示装置40，以用于遮挡多余光线，所述后挡圈322面向所述夹持部21，紧贴所述夹持部21的后侧，防止杂光进入所述夹持部21或是杂光影响后侧的图像显示，而干扰功能贴膜B的纹路测试。其中，所述后导光筒323连接所述后挡板321和所述后挡圈322，从所述夹持部21延伸向所述显示装置40，所述后导光筒323为中空结构，得以引导从所述夹持部21射出的测试光线穿过其中，射向所述显示装置40。也就是说，所述后导光筒323轴向对齐所述夹持部21和所述显示装置40，所述后导光孔320形成于所述后导光筒323的前端，面向所述夹持部21，对准所述前导光筒313的前导光孔310，准确引导光线的发射方向，所述后导光筒323的后端面向所述显示装置40，当测试光线穿过功能贴膜B后，得以将图像投影向所述后导光筒323，再从所述后导光筒323射向所述显示装置40，形成投影图像，最后通过成像处理、分析形成纹路图像。
[0062]其中，所述后挡圈322的预设直径适用于所述后挡圈322遮挡所述夹持部21的功能贴膜B，得以将所述夹持部21的功能贴膜B设置于所述前挡圈312和后挡圈322之间。
[0063]其中，所述后支撑杆324设置于所述后档光筒的中间位置，支撑所述后档光筒轴向对齐所述夹持部21和所述显示装置40。
[0064]图2到图4所述的所述显示装置40包括包括一放大部41，所述放大部41对齐所述后导光部32，以用于放大所述后导光部32导出的投影图像；以及一显示部42，所述显示部42包括一投影屏421、一摄像器422以及一显示处理器423，所述显示处理器423电性连接于所述摄像器422，所述投影屏421面向所述放大部41，得以显示通过所述放大部41放大的投影图像，所述摄像器422以用于拍摄所述投影屏421的投影图像，并传输于所述显示处理器423进行成像处理、分析，形成功能贴膜B的多个纹路图像，从而精确判别功能贴膜B的纹路质量。通过所述显示处理器423将分布得到的多个纹路图像进行分析、筛选、合并以及处理，得到全面、完整信息的功能贴膜B纹路图像，以用于准确定性或定量地判别功能贴膜B的纹路质量，如功能贴膜B的污坏点测试。
[0065]其中，所述放大部41包括放大透镜411和透镜挡板412，所述放大透镜411设置于所述透镜挡板412，对齐所述后导光筒323，以用于放大含有投影图像的光束，使得投影图像更直观地显示于所述显示部42。
[0066]图11所示的是功能贴膜纹路测试仪1A的另一种变形，所述显示装置40A包括一(XD探测器41A以及电性连接于所述(XD探测器41A的一显示处理器423A，所述CCDA探测器41A连接于所述后导光部32的后端，以用于对所述后导光部32导出的投影图像进行识别和放大，并传输于所述显示处理器423A进行成像处理、