7的延伸方向间隔设置的多个。多个弹性件112的设置使其对真空罩103的弹力更强，且支撑效果更稳定。
[0049]抽气口 105处用于连接抽真空设备，具体地，真空罩103上设有与抽气口 105活动连接的密封罩113，该密封罩113包括依次相连的密封片114、连接块115及阻挡块116，密封片114位于抽气口 105的外侧，连接块115穿过抽气口 105并延伸至抽气口 105的内部，阻挡块116位于抽气口 105的内侧;密封片114的尺寸大于抽气口 105，阻挡块116有环形间隔分布的多个。
[0050]如图所示，密封罩113插接在抽气口 105处，阻挡块116位于抽气口 105内部，密封片114位于抽气口 105外部。在抽气时，受抽真空设备的抽力作用密封罩113向外运动，使阻挡块116与抽气口 105的内侧贴合，由于阻挡块116有环形间隔分布的多个，两个阻挡块116之间存在间隙，使真空罩103内部的空气能够顺利被抽出。抽真空结束后受外界气压的压力，将密封片114紧紧地压在抽气口 105的孔口处，使外界大气不会由抽气口 105处进入真空罩103内部，使真空罩103内部保持真空状态。
[0051 ]具体地，密封片114包括相连的外片体117及内片体118，外片体117用刚性材质制成，内片体118用柔性材质制成。刚性的外片体117确保了密封片114的刚度，使其不会被大气压压弯，具体可采用硬质塑料或金属制成;柔性的内片体118确保了密封片114的密封效果，使其能够与抽气口 105紧密贴合，具体可选用橡胶、硅胶或塑胶制成。
[0052]为进一步增强其密封效果，外片体117远离内片体118的一侧与真空罩103之间连接有压缩弹簧119，压缩弹簧119有环形分布的多个。抽真空时压缩弹簧119进一步压缩;抽真空后受压缩弹簧119的弹力，密封片114能够快速地与抽气口 105贴合，使大气不会进入真空罩103内，确保了真空罩103的真空效果，在持压时受压缩弹簧119的持续压力，使密封片114与抽气口 105之间不会有气体通过。
[0053]为进一步测试高分子材料的电阻特性，设备本体101上设有第一导电片120，第一导电片120位于真空罩103的内侧;真空罩103包括用透明材质制成的观测部124，真空罩103的侧壁设有与其螺接的调节件121，该调节件121位于真空罩103内部的一端连接有第二导电片122;旋拧调节件121用于使第一导电片120接触或分离。透明材质制成的观测部124方便观测真空罩103内部。
[0054]两个导电片分别与电源的两极连接，高分子材料连接在电路回路上，旋拧调节件121，使第一导电片120与第二导电片12 2接触，使电路接通，观测此时高分子材料的电阻。这种设计使高分子材料在测试之前能够先放入真空罩103内，再进行抽真空的工作，之后再打开设备本体101，接通电源，进行电阻的测试。使得测试之前的各过程中高分子材料不处于通电状态，一方面能够起到省电的效果，另一方面，使通断电能够在真空状态下进行，可以观测到高分子材料接通电源瞬间、通电稳定后以及断电瞬间各阶段的电阻值，测试到更多更完善的数据，给高分子材料的工业应用带来宝贵的数据资源。
[0055]优选地，真空罩103的侧壁设有螺接部123，调节件121与该螺接部123螺接，螺接部123为双层结构。调节件121与螺接部123螺接，双层的螺接部123不仅使真空罩103与调节件121的连接效果更好，且密封效果更好，测试过程中不会进入空气，使测试能够顺利进行。
[0056]为清楚说明本发明，本实施方式中列举了一些具体的实施例:
[0057]实施例1
[0058]一种高分子材料电阻测试设备，包括设备本体101，该设备本体101包括电阻测试仪102，设备本体101顶部设有与其可拆卸连接的真空罩103，该真空罩103的顶部设有与其螺接的盖体104，真空罩103的侧壁设有抽气口 105;设备本体101的顶部设有插接机构106，该插接机构106包括插槽107，插槽107的外侧设有环形的第一凸台108，第一凸台108的顶部设有密封圈109;真空罩103的外侧底部设有环形的第二凸台110，该第二凸台110的高度低于第一凸台108，且第一凸台108与第二凸台110之间存在间隙；密封圈109的边缘延伸出第一凸台108并延伸至第二凸台110的上方。
[0059]实施例2
[0060]一种高分子材料电阻测试设备，包括设备本体101，该设备本体101包括电阻测试仪102，设备本体101顶部设有与其可拆卸连接的真空罩103，该真空罩103的顶部设有与其螺接的盖体104，真空罩103的侧壁设有抽气口 105;设备本体101的顶部设有插接机构106，该插接机构106包括插槽107，插槽107的外侧设有环形的第一凸台108，第一凸台108的顶部设有密封圈109;真空罩103的外侧底部设有环形的第二凸台110，该第二凸台110的高度低于第一凸台108，且第一凸台108与第二凸台110之间存在间隙；密封圈109的边缘延伸出第一凸台108并延伸至第二凸台110的上方。
[0061]第一凸台108的顶面为斜面，第一凸台108较高的一侧靠近第二凸台110。第二凸台110的高度高于第一凸台108的最低高度且低于第一凸台108的最高高度。插槽107的槽底设有弹性机构，该弹性机构包括支撑板111及设于支撑板111底部的弹性件112，弹性件112的底端与插槽107的槽底固定连接，真空罩103的底部放置于支撑板111上。弹性件112有沿插槽107的延伸方向间隔设置的多个。
[0062]实施例3
[0063]一种高分子材料电阻测试设备，包括设备本体101，该设备本体101包括电阻测试仪102，设备本体101顶部设有与其可拆卸连接的真空罩103，该真空罩103的顶部设有与其螺接的盖体104，真空罩103的侧壁设有抽气口 105;设备本体101的顶部设有插接机构106，该插接机构106包括插槽107，插槽107的外侧设有环形的第一凸台108，第一凸台108的顶部设有密封圈109;真空罩103的外侧底部设有环形的第二凸台110，该第二凸台110的高度低于第一凸台108，且第一凸台108与第二凸台110之间存在间隙；密封圈109的边缘延伸出第一凸台108并延伸至第二凸台110的上方。
[0064]真空罩103上设有与抽气口105活动连接的密封罩113，该密封罩113包括依次相连的密封片114、连接块115及阻挡块116，密封片114位于抽气口 105的外侧，连接块115穿过抽气口 105并延伸至抽气口 105的内部，阻挡块116位于抽气口 105的内侧;密封片114的尺寸大于抽气口 105，阻挡块116有环形间隔分布的4个。密封片114包括相连的外片体117及内片体118，外片体117用刚性材质制成，内片体118用柔性材质制成。外片体117远离内片体118的一侧与真空罩103之间连接有压缩弹簧119，压缩弹簧119有环形分布的多个。
[0065]实施例4
[0066]一种高分子材料电阻测试设备，包括设备本体101，该设备本体101包括电阻测试仪1