02，设备本体101顶部设有与其可拆卸连接的真空罩103，该真空罩103的顶部设有与其螺接的盖体104，真空罩103的侧壁设有抽气口 105;设备本体101的顶部设有插接机构106，该插接机构106包括插槽107，插槽107的外侧设有环形的第一凸台108，第一凸台108的顶部设有密封圈109;真空罩103的外侧底部设有环形的第二凸台110，该第二凸台110的高度低于第一凸台108，且第一凸台108与第二凸台110之间存在间隙；密封圈109的边缘延伸出第一凸台108并延伸至第二凸台110的上方。
[0067]设备本体101上设有第一导电片120，第一导电片120位于真空罩103的内侧;真空罩103包括用透明材质制成的观测部124，真空罩103的侧壁设有与其螺接的调节件121，该调节件121位于真空罩103内部的一端连接有第二导电片122;旋拧调节件121用于使第一导电片120接触或分离。真空罩103的侧壁设有螺接部123，调节件121与该螺接部123螺接，螺接部123为双层结构。
[0068]实施例5
[0069]一种高分子材料电阻测试设备，包括设备本体101，该设备本体101包括电阻测试仪102，设备本体101顶部设有与其可拆卸连接的真空罩103，该真空罩103的顶部设有与其螺接的盖体104，真空罩103的侧壁设有抽气口 105;设备本体101的顶部设有插接机构106，该插接机构106包括插槽107，插槽107的外侧设有环形的第一凸台108，第一凸台108的顶部设有密封圈109;真空罩103的外侧底部设有环形的第二凸台110，该第二凸台110的高度低于第一凸台108，且第一凸台108与第二凸台110之间存在间隙；密封圈109的边缘延伸出第一凸台108并延伸至第二凸台110的上方。
[0070]第一凸台108的顶面为斜面，第一凸台108较高的一侧靠近第二凸台110。第二凸台110的高度高于第一凸台108的最低高度且低于第一凸台108的最高高度。插槽107的槽底设有弹性机构，该弹性机构包括支撑板111及设于支撑板111底部的弹性件112，弹性件112的底端与插槽107的槽底固定连接，真空罩103的底部放置于支撑板111上。弹性件112有沿插槽107的延伸方向间隔设置的多个。
[0071 ]真空罩103上设有与抽气口 105活动连接的密封罩113，该密封罩113包括依次相连的密封片114、连接块115及阻挡块116，密封片114位于抽气口 105的外侧，连接块115穿过抽气口 105并延伸至抽气口 105的内部，阻挡块116位于抽气口 105的内侧;密封片114的尺寸大于抽气口 105，阻挡块116有环形间隔分布的4个。密封片114包括相连的外片体117及内片体118，外片体117用刚性材质制成，内片体118用柔性材质制成。外片体117远离内片体118的一侧与真空罩103之间连接有压缩弹簧119，压缩弹簧119有环形分布的多个。
[0072]设备本体101上设有第一导电片120，第一导电片120位于真空罩103的内侧;真空罩103包括用透明材质制成的观测部124，真空罩103的侧壁设有与其螺接的调节件121，该调节件121位于真空罩103内部的一端连接有第二导电片122;旋拧调节件121用于使第一导电片120接触或分离。真空罩103的侧壁设有螺接部123，调节件121与该螺接部123螺接，螺接部123为双层结构。
[0073]以上所述仅为本发明的优选实施方式而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种高分子材料电阻测试设备，其特征在于，包括设备本体，该设备本体包括电阻测试仪，设备本体顶部设有与其可拆卸连接的真空罩，该真空罩的顶部设有与其螺接的盖体，真空罩的侧壁设有抽气口；所述设备本体的顶部设有插接机构，该插接机构包括插槽，插槽的外侧设有环形的第一凸台，第一凸台的顶部设有密封圈；所述真空罩的外侧底部设有环形的第二凸台，该第二凸台的高度低于所述第一凸台，且第一凸台与第二凸台之间存在间隙;所述密封圈的边缘延伸出第一凸台并延伸至第二凸台的上方。2.根据权利要求1所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述第一凸台的顶面为斜面，第一凸台较高的一侧靠近所述第二凸台。3.根据权利要求2所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述第二凸台的高度高于所述第一凸台的最低高度且低于第一凸台的最高高度。4.根据权利要求1所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述插槽的槽底设有弹性机构，该弹性机构包括支撑板及设于支撑板底部的弹性件，所述弹性件的底端与插槽的槽底固定连接，所述真空罩的底部放置于所述支撑板上。5.根据权利要求4所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述弹性件有沿插槽的延伸方向间隔设置的多个。6.根据权利要求1所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述真空罩上设有与抽气口活动连接的密封罩，该密封罩包括依次相连的密封片、连接块及阻挡块，所述密封片位于抽气口的外侧，所述连接块穿过所述抽气口并延伸至抽气口的内部，所述阻挡块位于抽气口的内侧;所述密封片的尺寸大于所述抽气口，所述阻挡块有环形间隔分布的多个。7.根据权利要求6所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述密封片包括相连的外片体及内片体，所述外片体用刚性材质制成，所述内片体用柔性材质制成。8.根据权利要求7所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述外片体远离内片体的一侧与真空罩之间连接有压缩弹簧，所述压缩弹簧有环形分布的多个。9.根据权利要求1所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述设备本体上设有第一导电片，所述第一导电片位于真空罩的内侧;所述真空罩包括用透明材质制成的观测部，真空罩的侧壁设有与其螺接的调节件，该调节件位于真空罩内部的一端连接有第二导电片;旋拧所述调节件用于使第一导电片接触或分离。10.根据权利要求9所述的高分子材料电阻测试设备，其特征在于，所述真空罩的侧壁设有螺接部，所述调节件与该螺接部螺接，所述螺接部为双层结构。
【专利摘要】本发明提供了一种高分子材料电阻测试设备，属于测试设备领域，包括设备本体，该设备本体包括电阻测试仪，设备本体顶部设有与其可拆卸连接的真空罩，该真空罩的顶部设有与其螺接的盖体，真空罩的侧壁设有抽气口；所述设备本体的顶部设有插接机构，该插接机构包括插槽，插槽的外侧设有环形的第一凸台，第一凸台的顶部设有密封圈；所述真空罩的外侧底部设有环形的第二凸台，该第二凸台的高度低于所述第一凸台，且第一凸台与第二凸台之间存在间隙；所述密封圈的边缘延伸出第一凸台并延伸至第二凸台的上方。这种电阻测试设备能够对高分子材料在真空状态下进行电阻测试，测量出更完善的数据。
【IPC分类】G01R27/02
【公开号】CN105445554
【申请号】CN201511019739
【发明人】王孝海
【申请人】重庆精榜高分子材料有限公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年12月30日