测试治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明揭露一种测试治具，特别是一种用于承载适配卡的测试治具。
【背景技术】
[0002]—般而言，业者在生产计算机和服务器时，会测试内部的适配卡(PCI Card)在计算机和服务器晃动过程中的稳定度，以确认产品的质量是否合格。然而，目前业界用于适配卡晃动测试所使用的治具仅能同时承载单一尺寸规格的适配卡。因此，当要测试不同尺寸规格的适配卡时，必须使用不同治具，而不利于节省测试成本以及提高测试效率。
【发明内容】
[0003]鉴于以上的问题，本发明揭露一种测试治具，有助于对不同尺寸规格的适配卡进行晃动测试，进而节省测试成本以及提高测试效率。
[0004]本发明所揭露的测试治具用于承载一第一适配卡或一第二适配卡，且第二适配卡的长度大于第一适配卡的长度。测试治具包含一壳体、一第一转接板、一第二转接板、第一立板、一第二立板和一调整板。壳体包含一底座和一侧墙，且侧墙围绕底座而形成一置放空间。第一转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第一转接板具有一第一插槽。第二转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第二转接板具有一第二插槽。第一立板设置于壳体。第二立板设置于壳体，并且面向第一立板。第一转接板和第二转接板皆介于第一立板和第二立板之间。调整板可拆卸地设置于壳体而介于第一立板和第二立板之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置。当调整板位于第一装设位置时，测试治具供第一适配卡插设于第一插槽，且第一适配卡的相对二侧分别固定于第一立板与调整板。当调整板位于第二装设位置时，测试治具供第二适配卡插设于第二插槽，且第二适配卡的相对二侧分别固定于第二立板与调整板。
[0005]根据本发明所揭露的测试治具，调整板可拆卸地设置于壳体而介于第一立板和第二立板之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置。当调整板位于第一装设位置时，测试治具供第一适配卡进行晃动测试。当调整板位于第二装设位置时，测试治具供第二适配卡进行晃动测试。因此，测试治具可支持承载不同尺寸规格的适配卡进行晃动测试，有助于节省测试成本以及提升测试效率。
[0006]以上关于本揭露内容的说明及以下【具体实施方式】的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求书更进一步的解释。
【附图说明】
[0007]图1为根据本发明第一实施例的测试治具的立体示意图。
[0008]图2为根据本发明第一实施例的测试治具的分解示意图。
[0009]图3为根据本发明第一实施例的测试治具承载第一适配卡的立体示意图。
[0010]图4为图3的上视图。[0011 ]图5为根据本发明第一实施例的测试治具承载第二适配卡的立体示意图。
[0012]图6为图5的上视图。
[0013]图7为根据本发明第二实施例的测试治具承载第一适配卡的立体示意图。
[0014]符号说明
[0015]I测试治具
[0016]2第一适配卡
[0017]3第二适配卡
[0018]10 壳体
[0019]100 底座
[0020]101 凸包
[0021]HO 侦 _
[0022]120 置放空间
[0023]20 第一转接板
[0024]200 第一插槽
[0025]30 第二转接板
[0026]300 第二插槽
[0027]40第一立板
[0028]400 第一开口
[0029]50第二立板
[0030]500 第二开口[0031 ]60调整板
[0032]70滑轨件
[0033]80限位件
[0034]800 缓冲部
[0035]90 结构补强肋
【具体实施方式】
[0036]以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0037]请参照图1和图2。图1为根据本发明第一实施例的测试治具的立体示意图。图2为根据本发明第一实施例的测试治具的分解示意图。
[0038]在本实施例中，一测试治具I包含一壳体10、复数个第一转接板20、复数个第二转接板30、一第一立板40、一第二立板50、一调整板60、复数个滑轨件70和一限位件80。第一转接板20、第二转接板30和滑轨件70的数量并非用以限制本发明。在其它实施例中，第一转接板20、第二转接板30和滑轨件70的数量皆可为一。
[0039]壳体10包含一底座100和竖立于底座100的一侧墙110。侧墙110围绕底座100而形成一置放空间120。
[0040]第一转接板20固定于壳体10的底座100，并且位于置放空间120。第一转接板20具有复数个第一插槽200，但第一插槽200的数量并非用以限制本发明。
[0041 ]第二转接板30固定于壳体10的底座100，并且位于置放空间120。第二转接板30具有复数个第二插槽300，但第二插槽300的数量并非用以限制本发明。
[0042]第一立板40的相对二侧设置于壳体10的侧墙110，且第一立板40具有复数个第一开口 400。
[0043]第二立板50的相对二侧设置于壳体10的侧墙110，并且面对第一立板40。第一转接板20和第二转接板30皆介于第一立板40和第二立板50之间。第二立板50具有复数个第二开P 500 ο
[0044]调整板60可拆卸地设置于壳体10的侧墙110而介于第一立板40和第二立板50之间。调整板60的功能将于后续说明。
[0045]滑轨件70设置于调整板60。调整板60可拆卸地设置于壳体10的侧墙110，而令滑轨件70可选择地面向第一立板40和第二立板50。滑轨件70的功能将于后续说明。
[0046]限位件80可拆卸地设置于壳体10的侧墙110而可选择地介于第一立板40和调整板60之间，或是介于第二立板50和调整板60之间。限位件80具有一缓冲部800，且缓冲部800的材质例如为泡绵或是橡胶等具有缓冲震动功能的材质。限位件80的功能将于后续说明。
[0047]此外，测试治具I还包含复数个结构补强肋90，分别设置于壳体10的底座100和侧墙110的外表面。因此，测试治具I更适合应用于承载电子组件以进行晃动测试。
[0048]另外，机壳10的底座100可具有复数个凸包101。凸包101的形成方法为例如对底座100进行冲压加工制程。第一转接板20和第二转接板30固定于底座100而抵靠凸包101。因此，凸包101有助于加强测试治具I整体的结构强度。
[0049]以下叙述测试治具的使用方式。请同时参照图3、图4、图5和图6。图3为根据本发明第一实施例的测试治具承载第一适配卡的立体示意图。图4为图3的上视图。图5为根据本发明第一实施例的测试治具承载第二适配卡的立体示意图。图6为图5的上视图。
[0050]在本实施例中，调整板60可拆卸地设置于壳体10的侧墙110，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置。
[0051]当调整板60位于第一装设位置时，测试治具I用以承载至少一第一适配卡2以进行晃动测试。详细来说，当调整板60位于第一装设位置时，第一立板40和调整板60之间的距离LI匹配第一适配卡2的长度尺寸(如图3和图4所示)，并且位于调整板60上的滑轨件70面对第一立板40。此时，第一适配卡2可插设于第一转接板20的第一插槽200，且第一适配卡2的相对二侧分别固定于第一立板40与调整板60。进一步来说，第一适配卡2邻近调整板60的一侧可滑移地设置于滑轨件70。第一适配卡邻近第一立板40的一侧固定于第一立板40，并且位于第一开口 400。接着，将限位件80设置于第一立板40和调整