板60之间，而令限位件80的缓冲部800抵靠并接触第一适配卡2，进而使第一适配卡2夹设于限位件80和第一转接板20之间。因此，测试治具I可承载及固定第一适配卡2，以进行沿X方向、沿Y方向或沿Z方向的三维晃动测试(如图3所示)。
[0052]在本实施例中，当调整板60位于第一装设位置时，第一立板40和调整板60之间的距离LI恰为第一立板40和第二立板50之间的距离H的一半(S卩Ll = 0.5H)，但本发明并不以此为限。在其它实施例中，可适当调整各组件的配置而改变上述比例关系。此外，在本实施例中，第一适配卡2的一侧可滑移地设置于滑轨件70而固定于调整板60，但本发明并不以此为限。在其它实施例中，第一适配卡2和调整板60可透过卡合结构相固定，而使测试治具I可不需包含滑轨件70。
[0053]当要对长度尺寸大于第一适配卡2的至少一第二适配卡3进行晃动测试时，先拆卸限位件80，并且将第一适配卡2的相对二侧分别自第一立板40和滑轨件70拆卸，而令第一适配卡2脱离测试装置I。接着，将调整板60自侧墙110拆卸后变更设置于第二装设位置。
[0054]当调整板60位于第二装设位置时，第二立板50和调整板60之间的距离L2匹配第二适配卡3的长度尺寸(如图5和图6所示)，且位于调整板60上的滑轨件70面对第二立板50。第二适配卡3插设于第二转接板30的第二插槽300，且第二适配卡3的相对二侧分别固定于第二立板50与调整板60。进一步来说，第二适配卡3邻近调整板60的一侧可滑移地设置于滑轨件70。第一适配卡邻近第二立板50的一侧固定于第二立板50，并且位于第二开口 500。接着，将限位件80设置于第二立板50和调整板60之间，而令限位件80的缓冲部800抵靠并接触第二适配卡3，进而使第二适配卡3夹设于限位件80和第二转接板30之间。因此，测试治具I可承载及固定第二适配卡3，以进行沿X方向、沿Y方向或沿Z方向的三维晃动测试(如图5所示)。
[0055]在本实施例中，当调整板60位于第二装设位置时，第二立板50和调整板60之间的距离L2大于第一立板40和第二立板50之间的距离H的一半，且小于第一立板40和第二立板50之间的距离HJS卩0.5H〈L2〈H)，但本发明并不以此为限。在其它实施例中，可适当调整各组件的配置而改变上述比例关系。
[0056]当测试装置承载第一适配卡进行晃动测试时，第一适配卡的相对二侧也可分别固定于第二立板和调整板。请参照图7，为根据本发明第二实施例的测试治具承载第一适配卡的立体示意图。由于本实施例和第一实施例相似，以下仅就相异处进行说明。
[0057]在本实施例中，调整板60的相对二侧皆设有滑轨件70。当调整板60位于第一装设位置时，可将第一适配卡2的相对二侧分别固定于第一立板40与调整板60，也可将第一适配卡2的相对二侧分别固定于第二立板50与调整板60。因此，第一立板40与调整板60之间，以及第二立板50与调整板60皆可设置第一适配卡2，有助于提升测试效率。
[0058]综上所述，本发明揭露的测试治具中，调整板可拆卸地设置于壳体而介于第一立板和第二立板之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置。当调整板位于第一装设位置时，测试治具可供第一适配卡进行晃动测试。当调整板位于第二装设位置时，测试治具可供第二适配卡进行晃动测试。因此，测试治具可支持承载不同尺寸规格的适配卡进行晃动测试，有助于节省测试成本以及提高测试效率。
[0059]显然，本领域的技术人员可以对发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包括这些改动和变型在内。
【主权项】
1.一种测试治具，用于承载一第一适配卡或一第二适配卡，所述第二适配卡的长度大于所述第一适配卡的长度，其特征在于，所述测试治具包含: 一壳体，包含一底座和一侧墙，所述侧墙围绕所述底座而形成一置放空间； 一第一转接板，固定于所述壳体，并且位于所述置放空间内，所述第一转接板具有一第一插槽； 一第二转接板，固定于所述壳体，并且位于所述置放空间内，所述第二转接板具有一第二插槽； 一第一立板，设置于所述壳体； 一第二立板，设置于所述壳体，并且面向所述第一立板，所述第一转接板和所述第二转接板皆介于所述第一立板和所述第二立板之间；以及 一调整板，可拆卸地设置於所述壳体而介於所述第一立板和所述第二立板之间，并且具有一第一装设位置及一第二装设位置，当所述调整板位於所述第一装设位置时，所述测试治具供所述第一介面卡插设於所述第一插槽，且所述第一介面卡的相对二侧分别固定於所述第一立板与所述调整板，当所述调整板位於所述第二装设位置时，所述测试治具供所述第二介面卡插设于所述第二插槽，且所述第二介面卡的相对二侧分別固定於所述第二立板于所述调整板。2.如权利要求第I项所述的测试治具，其特征在于，其中所述第一转接板和所述第二转接板皆固定于所述底座，所述第一立板于所述第二立板的相对二侧分别设置于所述侧墙。3.如权利要求第2项所述的测试治具，其特征在于，其中所述底座具有复数个凸包，所述第一转接板和所述第二转接板固定于所述底座而抵靠所述复数个凸包。4.如权利要求第I项所述的测试治具，其特征在于，还包含设置于所述调整板的一滑轨件，其中当所述调整板位于所述第一装设位置时，所述滑轨件面向所述第一立板，且所述第一介面卡的一侧可滑移地设置于所述滑轨件，当所述调整板位于所述第二装设位置时，所述滑轨件面向所述第二立板，且所述第二介面卡的一侧可滑移地设置于所述滑轨件。5.如权利要求第I项所述的测试治具，其特征在于，其中所述第一立板具有一第一开口，所述第二立板具有一第二开口，当所述调整板位于所述第一装设位置时，所述第一介面卡的一侧固定于所述第一立板，并且位于所述第一开口，当所述调整板位于所述第二装设位置时，所述第二介面卡的一侧固定于所述第二立板，并且位于所述第二开口。6.如权利要求第I项所述的测试治具，其特征在于，其中当所述调整板位于所述第一装设位置时，所述第一立板和所述调整板之间的距离为所述第一立板和所述第二立板之间距离的一半。7.如权利要求第I项所述的测试治具，其特征在于，其中当所述调整板位于所述第二装设位置时，所述第二立板和所述调整板之间的距离大于所述第一立板和所述第二立板之间的距离的一半，且小于所述第一立板和所述第二立板之间的距离。8.如权利要求第I项所述的测试治具，其特征在于，还包含一限位件，可拆卸地设置于所述壳体，其中当所述调整板位于所述第一装设位置时，所述限位件抵靠所述第一介面卡，而使所述第一介面卡夹设于所述限位件和所述第一转接板之间，当所述调整板位于所述第二装设位置时，所述限位件抵靠所述第二介面卡，而使所述第二介面卡夹设于所述限位件和所述第二转接板之间。9.如权利要求第8项所述的测试治具，其特征在于，其中所述限位件具有一缓冲部，且所述缓冲部抵靠并接触所述介面卡。10.如权利要求第I项所述的测试治具，其特征在于，还包含复数个结构补强肋，设置於所述壳体的外表面。
【专利摘要】一种测试治具，用于承载第一适配卡或第二适配卡，包含壳体、第一转接板、第二转接板、第一立板、第二立板和调整板。壳体具有置放空间。第一转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第一转接板具有第一插槽。第二转接板固定于壳体，并且位于置放空间内。第二转接板具有第二插槽。第一立板和第二立板皆设置于壳体。第二立板面向第一立板。第一转接板和第二转接板皆介于第一立板和第二立板之间。调整板可拆卸地设置于壳体而介于第一立板和第二立板之间，并且具有固定第一适配卡的第一装设位置及固定第二适配卡的第二装设位置。
【IPC分类】G01D21/00
【公开号】CN105509783
【申请号】CN201510799517
【发明人】颜宏文, 蔡协良, 吴俊贤, 陈建国
【申请人】英业达科技有限公司, 英业达股份有限公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年11月18日