II108、磁输运样品室109、光纤组件BI 1、光谱仪111和测试分析计算机112。
[0015]图2:真空密封接头104俯视图和侧面刨面图。图中各部分为:光纤1103、真空密封接头104、O型圈105、螺母106、光纤11108和磁输运样品室109。
【具体实施方式】
[0016]下面根据
【发明内容】
和【附图说明】给出本发明的一个较好的实例，结合实例进一步说明本发明技术细节、结构特征和功能特点。但此实例并不限制本发明范围，合乎
【发明内容】
和【附图说明】中描述的实例均应包含在本发明范围内。
[0017]光纤激光器101采用532nm光纤激光器，型号LSR532H-600。
[0018]光纤组件A102和光纤组件B108采用石英光纤，产品型号UV600-1*2。光纤1103和光纤II106采用石英光纤，芯径I毫米，位于磁输运样品室107外的部分外层有3毫米护套，位于真空密封接头104内和磁输运样品室107内部分剥去护套。
[0019]真空密封接头104采用不锈钢打造，为圆形中空结构，设计有沟槽和螺纹，配合O型圈和螺母以及密封胶使用，达到真空密封的目的。具体见图2。
[0020]磁输运样品室107结合已有的深低温、磁输运系统，为一套牛津无液氦循环超导磁体系统的一部分。
[0021]光谱仪110采用光纤光谱仪，型号PC4000，波长范围400?11 OOnm，分辨率约0.5nm。
[0022]在用光纤测量光致发光方法中，光纤激光器101发出激光，经过光纤组件A102和光纤1103由光纤1103的下端平端面发射照到待测样品105上，产生光致发光信号由光纤II106下端半球面接收，经过光纤II106和光纤组件B108传入到光谱仪110，由其测出其光谱信号，并通过测试分析计算机111记录储存。在不同温度、不同磁场下可得到待测样品105的光致发光光谱的变化关系。
【主权项】
1.一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，包括:光纤激光器(101)、光纤组件A( 102)、光纤I (103)、真空密封接头(104)、0型圈(105)、螺母(106)、待测样品(107)、光纤11(108)、磁输运样品室(109)、光纤组件B(IlO)、光谱仪(111)和测试分析计算机(112)，其特征在于: 所述的光纤组件A(102)两端通过光纤接头分别与光纤激光器(101)和光纤1(103)连接;所述的光纤1(103)左端通过光纤接头与光纤组件A(102)连接，右端穿过真空密封接头(104)进入磁输运样品室(109)后对准待测样品(107);所述的光纤11(108)左端通过光纤接头与光纤组件B(IlO)连接，右端穿过真空密封接头(104)进入磁输运样品室(109)后对准待测样品(107);真空密封接头(104)为圆形，内有剥去外皮仅留中心石英部分的光纤1(103)和光纤II (108)穿过，当中采用密封胶固定和密封;真空密封接头(104)穿过磁输运样品室(109)，一部分位于磁输运样品室(109)外并有沟槽，O型圈(105)套进真空密封接头(104)内并处于真空密封接头(104)沟槽里，O型圈(105)露出沟槽的部分贴于磁输运样品室(109)夕卜壁，真空密封接头(104)处于磁输运样品室(109)之内的部分上有螺纹，螺丝(106)拧进螺纹并贴紧磁输运样品室(109)外壁，起固定和真空密封作用;待测样品(107)平放于磁输运样品室(109)底端超导线圈内；调整待测样品(107)位置以及光纤1(103)、光纤11(108)下端对准待测样品(107)的角度，使得光纤1(103)发出的激光入射到待测样品(107)上，所激发的光致发光被光纤11(108)所接收;光纤组件B(IlO)两端通过光纤接头分别与光谱仪(111)和光纤11(108)连接;光谱仪(111)连接到测试分析计算机(112)，从而记录、分析得到的光谱?目息O2.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，其特征在于:所述的光纤激光器(101)所激发的激光波长短于待测样品(107)的被激发光的波长。3.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，其特征在于:光纤组件Α(102)、光纤K 103)、光纤II (108)和光纤组件B(IlO)芯径不小于I微米，传输光效率高于百分之五十。4.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，其特征在于:所述的光纤I (103)下端为便于发射平行激光的平端面。5.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，其特征在于:所述的光纤II (108)下端为便于收集光致发光信号的半球面。6.根据权利要求1所述的一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，其特征在于:光谱仪(111)所测光波长范围满足光致发光包括光致发光信号波长范围;光谱仪(111)之内放置有与光纤激光器(101)所激发的激光波长相对应的滤波片。
【专利摘要】本发明公开了一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光光谱的系统，测量系统主要由光纤激光器、光纤组件、光纤、真空密封接头、O型圈、螺母、待测样品、磁输运样品室、光谱仪和测试分析计算机等组成。该测量系统的主要特征在于利用光纤组件在深低温、强磁场环境中对样品进行光致发光测试，实现了光致发光测试与深低温、强磁场输运测量的结合。
【IPC分类】G01N21/63
【公开号】CN105510282
【申请号】CN201610019745
【发明人】吕蒙, 俞国林, 林铁, 褚君浩
【申请人】中国科学院上海技术物理研究所
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2016年1月13日