4、前视相机15、前位面光源17、前光源支架18、点光源19、点光源支架30;所述后位面光源8安装在后光源支架7上，所述顶光源9安装在顶光源支架12上，所述标准尺13安装在标准尺支架14上，所述顶视相机10和前视相机15安装在相机支架11上，所述前位面光源17安装在前光源支架18上，所述点光源19安装在点光源支架30上，所述顶光源支架12安装在相机支架11上，所述后光源支架7、标准尺支架14、前光源支架
18和点光源支架30安装在测量装置支架4上，后位面光源8是用来测量后定位装置安装板5上的磁瓦内外弧尺寸照明用的，前位面光源17是用来测量前定位装置安装板16上的磁瓦内外弧尺寸照明用的，顶光源9是用来测量磁瓦长宽尺寸照明用的，顶视相机10是用来测量磁瓦长宽尺寸的，前视相机15是用来测量磁瓦内外弧尺寸的，标准尺13是用来校正前视相机15轴线安装与外弧定位块弧面32或者内弧定位块弧面33轴线不平行误差的；
本发明在前直线模组25和后直线模组24上安装六个测量定位装置6。
[0027]如图4所示，一种直线往复式磁瓦形状测量装置，所述磁瓦传输装置I包括输入传输带22、输出传输带23、后直线模组24、前直线模组25、搬运机械手26;所述输入传输带22与输出传输带23传输方向一致，所述后直线模组24与前直线模组25安装在测量装置支架4上，所述后直线模组24与前直线模组25输送磁瓦29的方向与输入传输带22的输送方向垂直，所述搬运机械手26布置在输入传输带22、输出传输带23与测量装置支架4之间;搬运机械手26将未测量的磁瓦29从输入传输带22吸取，然后放入测量定位装置6，将测量过的磁瓦29从输出传输带23上吸取，放入输出传输带23;后直线模组24和前直线模组25均内含伺服电机和滚珠丝杠驱动装置，能驱动后模组滑块20和前模组滑块21快速运动；
如图5、图6所示，一种直线往复式磁瓦形状测量装置，所述测量定位装置6包括外弧测量定位装置;外弧测量定位装置包括外弧定位块27、磁瓦挡块28;所述磁瓦挡块28安装在外弧定位块27的两侧，磁瓦29测量时放置在外弧定位块27上，磁瓦29端面与内弧定位块31的端面对齐。
[0028]如图7和图9，所述外弧定位块27的外弧定位块弧面32的弧面形状尺寸与磁瓦29的外弧面形状尺寸相同；
如图11所示，一种直线往复式磁瓦形状测量装置，所述磁瓦内外弧测量定位方法是:利用外弧定位同时测量外弧尺寸和内弧尺寸;在本发明所述的测量定位装置6上，采用外弧定位块27对磁瓦进行定位，前视相机15可以在一次成像中测量出磁瓦的内弧和外弧尺寸;利用外弧定位测量外弧尺寸时，点光源19发出的光从外弧缝隙38透过，进入前视相机15，测量外弧缝隙38尺寸，并利用外弧定位块弧面32的尺寸，可以计算出磁瓦内弧尺寸和外弧尺寸。
[0029]所述直线往复式磁瓦测量运输方法是:前直线模组25运输的磁瓦29测量尺寸时，搬运机械手26为后直线模组24卸载已经测量的磁瓦29，并加载待测量的磁瓦29，同样，后直线模组24运输的磁瓦29测量尺寸时，搬运机械手26为前直线模组25卸载已经测量的磁瓦29，并加载待测量的磁瓦29;前直线模组25和后直线模组24交替进行磁瓦测量，可以合理利用装载磁瓦时间，减少整个测量过程的中的等待时间，同时只需要一台前视相机15和一台顶视相机10即可完成磁瓦尺寸测量；
所述测量定位装置6采用外弧定位块27测量外弧尺寸时，使用点光源19照明；
所述测量定位装置6采用外弧定位块27测量内弧尺寸，装载在前直线模组25上的磁瓦29使用前位面光源17照明，装载在后直线模组24上的磁瓦29使用后位面光源8照明，前位面光源17与后位面光源8分时工作。
[0030]上面结合附图对本发明的具体实施例作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施例，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。
【主权项】
1.一种直线往复式磁瓦形状测量装置，其特征在于:包括磁瓦传输装置(I)、磁瓦定位装置(2)、测量装置(3); 所述磁瓦传输装置(I)包括输入传输带(22)、输出传输带(23)、后直线模组(24)、前直线模组(25 )、搬运机械手(26);所述输入传输带(22)与输出传输带(23 )传输方向一致，所述后直线模组(24)与前直线模组(25)安装在测量装置支架(4)上，所述后直线模组(24)与前直线模组(25 )输送磁瓦(29 )的方向与输入传输带(2 2 )的输送方向垂直，所述搬运机械手(26)布置在输入传输带(22)、输出传输带(23)与测量装置支架(4)之间； 所述磁瓦定位装置(2)包括后定位装置安装板(5)、测量定位装置(6)、前定位装置安装板(16)、后模组滑块(20)、前模组滑块(21);所述后定位装置安装板(5)安装在后模组滑块(20)上，所述后模组滑块(20)安装在后直线模组(24)上，所述前定位装置安装板(16)安装在前模组滑块(21)上，所述前模组滑块(21)安装在前直线模组(25)上，所述测量定位装置(6)安装在后定位装置安装板(5)和前定位装置安装板(16)上； 所述测量装置(3)包括后光源支架(7)、后位面光源(8)、顶光源(9)、顶视相机(10)、相机支架(11)、顶光源支架(12)、标准尺(13)、标准尺支架(14)、前视相机(15)、前位面光源(17)、前光源支架(18)、点光源(19)、点光源支架(30);所述后位面光源(8)安装在后光源支架(7)上，所述顶光源(9)安装在顶光源支架(12)上，所述标准尺(13)安装在标准尺支架(14)上，所述顶视相机(10)和前视相机(15)安装在相机支架(11)上，所述前位面光源(17)安装在前光源支架(18)上，所述点光源(19)安装在点光源支架(30)上，所述顶光源支架(12)安装在相机支架(11)上，所述后光源支架(7)、标准尺支架(14)、前光源支架(18)和点光源支架(30)安装在测量装置支架(4)上。2.根据权利要求1所述的直线往复式磁瓦形状测量装置，其特征在于:所述测量定位装置(6)包括外弧测量定位装置或内弧测量定位装置；外弧测量定位装置包括外弧定位块(27),磁瓦挡块(28);内弧测量定位装置包括内弧定位块(31)、磁瓦挡块(28);所述磁瓦挡块(28)安装在外弧定位块(27)或者内弧定位块(31)的两侧，磁瓦(29)测量时放置在外弧定位块(27)或者内弧定位块(31)上，磁瓦(29)端面与外弧定位块(27)或者内弧定位块(31)的端面对齐。3.根据权利要求2所述的直线往复式磁瓦形状测量装置，其特征在于:所述外弧定位块(27)的外弧定位块弧面(32)的弧面形状尺寸与磁瓦(29)的外弧面形状尺寸相同；对于由三段圆弧面组成内弧面的磁瓦(29)，本发明所述内弧定位块弧面(33)的截面圆弧半径与磁瓦(29)的内弧外侧弧线(34)的半径相同；对于由单一弧面组成磁瓦内弧面的磁瓦(29)，内弧定位块弧面(33)的弧面形状尺寸与磁瓦(29)的内弧面形状尺寸相同。4.根据权利要求1所述的直线往复式磁瓦形状测量装置，其特征在于:所述测量定位装置(6)采用外弧定位块(27)测量外弧尺寸时，使用点光源(19)照明；测量定位装置(6)采用内弧定位块(31)测量内弧尺寸时，使用点光源(19)照明。5.根据权利要求1所述的直线往复式磁瓦形状测量装置，其特征在于:所述测量定位装置(6)采用外弧定位块(27)测量内弧尺寸与采用内弧定位块(31)测量外弧尺寸时，装载在前直线模组(25)上的磁瓦(29)使用前位面光源(17)照明，装载在后直线模组(24)上的磁瓦(29)使用后位面光源(8)照明。
【专利摘要】本发明涉及一种直线往复式磁瓦形状测量装置，属于无损检测技术领域。本发明包括磁瓦传输装置、磁瓦定位装置、测量装置；磁瓦传输装置包括输入传输带、输出传输带、后直线模组、前直线模组、搬运机械手；所述磁瓦定位装置包括后定位装置安装板、测量定位装置、前定位装置安装板、后模组滑块、前模组滑块；所述测量装置包括后光源支架、后位面光源、顶光源、顶视相机、相机支架、顶光源支架、标准尺、标准尺支架、前视相机、前位面光源、前光源支架、点光源、点光源支架。本发明能实现磁瓦的外弧、内弧以及长宽等尺寸测量。
【IPC分类】G01B11/02, G01B11/00
【公开号】CN105547163
【申请号】CN201610038165
【发明人】蒋红海, 钱俊兵, 杨晓京, 袁锐波, 罗璟, 何祖顺
【申请人】昆明理工大学
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2016年1月21日