来决定的。
[0021]本实施方式提供了一种基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，如图1?4所示，主要由高温老化室1、低温老化室2和两组多级堆叠半导体制冷片3组成，高温老化室I位于低温老化室2上方，二者之间通过纳米微孔隔热材料制成的隔热板4隔开，高温老化室I和低温老化室2的各个侧壁及门板(图中15和25)也均由纳米微孔隔热材料制成，以保证更好的隔热效果;两组多级堆叠半导体制冷片3均位于隔热板4内部，且各组多级堆叠半导体制冷片3的冷端(较窄端)均与低温老化室2顶端的低温散热片21有效接触，热端(较宽端)均与高温老化室I底部的高温散热片11有效接触;在实际应用中，高温老化室I内还设有一个高温热电偶14，低温老化室2内设有一个低温热电偶24，以实时监测各老化室内温度;为了能够使得高低温老化室内的温度均匀扩散，在高温散热片11上方邻近位置还设置了高温强对流风扇12，在低温散热片21下方邻近位置设有低温强对流风扇22;为了能够更好地辅助控制高低温老化室内的温度，在高温散热片11内部还制作了高温强制水冷系统13，从而实现高低温老化室相对独立的恒温控制。
[0022]在使用本实施方式中的高低温老化测试设备对工件进行高低温老化测试时，首先在高低温老化室内各放置一个工件托架5(该工件托架5也可以是测试设备本身自带的)，将待测试工件分别安装到一个测试基座6上后将测试基座6分别放置在高低温老化室内的工件托架5上，接着分别给两组多级堆叠半导体制冷片3通直流电流，通电后在多级堆叠半导体制冷片3上就能产生能量的转移，热量从冷端传递到热端，再由高温散热片11将热端的热量散发到高温老化室I内，借助高温强对流风扇12的作用使得热端热量能够较均匀快速地散发到整个高温老化室I内，高温热电偶14实时监测高温老化室I内的温度并与高温强制水冷系统13综合控制高温老化室I内的温度，当高温老化室I内的温度达到高温老化的条件时即可对待测工件进行高温老化测试;相应地，低温散热片21将冷端较低的热量散发到低温老化室2内，借助低温强对流风扇22的作用使得冷端较低的热量能够较均匀快速地散发到整个低温老化室2内，低温热电偶24实时监测低温老化室2内的温度并通过控制多级堆叠半导体制冷片3上的直流电流综合控制低温老化室内的温度，当低温老化室2内的温度达到低温老化的条件时即可对待测工件进行低温老化测试；当高低温老化室内的温度较高或较低时，还可以通过减小或增大多级堆叠半导体制冷片3上的直流电流进行调节，电流增大，温度升高，电流降低，温度降低。
[0023]上述实施方式只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所做的等效变换或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，包括高温老化室(I)、低温老化室(2)、至少一组多级堆叠半导体制冷片(3)，所述高温老化室(I)与所述低温老化室(2)之间通过隔热板(4)隔开，所述多级堆叠半导体制冷片(3)位于所述隔热板(4)内，且所述多级堆叠半导体制冷片(3)的热端与所述高温老化室(I)内的高温散热片(11)有效接触，所述多级堆叠半导体制冷片(3)的冷端与所述低温老化室(2)内的低温散热片(21)有效接触。2.根据权利要求1所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温老化室(I)内设有高温强对流风扇(12)。3.根据权利要求2所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温强对流风扇(12)靠近所述高温散热片(11)设置。4.根据权利要求1?3中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述低温老化室(2 )内设有低温强对流风扇(22 )。5.根据权利要求4所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述低温强对流风扇(22)靠近所述低温散热片(21)设置。6.根据权利要求1?3或5中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温散热片(11)内还内置有高温强制水冷系统(13)。7.根据权利要求1?3或5中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温老化室(I)内还设有高温热电偶(14)，所述低温老化室(2)内还设有低温热电偶(24)。8.根据权利要求1?3或5中任一项所述的基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，所述高温老化室(I)和所述低温老化室(2)的各侧壁以及所述隔热板(4)均由纳米微孔隔热材料制成。
【专利摘要】本发明涉及高低温老化测试领域，公开了一种基于半导体制冷片的高低温老化测试设备，其特征在于，包括高温老化室（1）、低温老化室（2）、至少一组多级堆叠半导体制冷片（3），所述高温老化室（1）与所述低温老化室（2）之间通过隔热板（4）隔开，所述多级堆叠半导体制冷片（3）位于所述隔热板（4）内，且所述多级堆叠半导体制冷片（3）的热端与所述高温老化室（1）内的高温散热片（11）有效接触，所述多级堆叠半导体制冷片（3）的冷端与所述低温老化室（2）内的低温散热片（21）有效接触。与现有技术相比，本发明能够同时对产品进行高低温老化测试，解决了现有技术中设备占地大且存在噪音的缺点。
【IPC分类】G01R31/00
【公开号】CN105548761
【申请号】CN201510975302
【发明人】朱小刚, 柳慧敏, 刘鑫培
【申请人】苏州创瑞机电科技有限公司
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年12月23日