示值误差；
[0055] 当在空气中对哈特曼光阑法和莫尔条纹法的测量仪器进行后顶焦度示值误差检 验时，分别使用凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片;首先选用-5ΠΓ 1凹透镜校验镜片，将其后 表面朝下放入测量仪器的V型槽内，然后将放有-5ΠΓ1凹透镜校验镜片的V型槽放到仪器的测 量光路中，在仪器测量软件内输入相应的测量参数，调整测量位置并选定测量区域，即可进 行测量;将得到的测量值与-5ΠΓ 1凹透镜校验镜片的后顶焦度实际值进行比较，即可得到该 仪器在该测量点上的后顶焦度示值误差;依照此方法，依次对-10πΓ 1、-15πΓ1、-20πΓ1、+5πΓ1、+ ΙΟπι'+ΙδπΓ1和+20ΠΓ1校验镜片进行测量，分别得到各点的后顶焦度示值误差；
[0056] 当在空气中对焦度计进行后顶焦度示值误差检验时，需将凸透镜校验镜片和凹透 镜校验镜片与镜座配合使用，以便于操作测量及定位调整;首先选用-5ΠΓ 1凹透镜校验镜片， 将其后表面朝向较小孔径端放入镜筒第二阶梯的圆形通孔内，然后在校验镜片的前表面放 置垫圈，最后再用带有外螺纹的压圈固定;将装配好的-5ΠΓ 1凹透镜校验镜片的后表面朝下 放置在焦度计的接触镜测量支座上，通过调整校验镜片的位置，保证测量目标位于视场中 央，最后进行调焦测量;将得到的测量值与-5ΠΓ 1凹透镜校验镜片的后顶焦度实际值进行比 较，即可得到该仪器在该测量点上的后顶焦度示值误差；依照此方法，依次对-ΙΟπΓ^-Ιδπι '-20m-νδπΓVlOm-ν?δπΓ1和+20m-1校验镜片进行装配并测量，从而得到被测仪器在各 个点的后顶焦度示值误差。
[0057] 以上结合附图对本发明的【具体实施方式】作了说明，但这些说明不能被理解为限制 了本发明的范围，本发明的保护范围由随附的权利要求书限定，任何在权利要求基础上的 改动都是本发明的保护范围。
【主权项】
1. 一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征在于:将校验镜片或置于镜座内 的校验镜片放入待测仪器的测量光路中，调整测量位置进行测量;将得到的测量值与校验 镜片的后顶焦度实际值进行比较，能够得到该仪器在该测量点上的后顶焦度示值误差； 所述校验镜片包括:凸透镜校验镜片、凹透镜校验镜片和镜座。2. 如权利要求1所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征在于：当在溶 液中对哈特曼光阑法和莫尔条纹法的测量仪器进行后顶焦度示值误差检验时，分别使用凸 透镜校验镜片和凹透镜校验镜片;首先将凹透镜校验镜片或凸透镜校验镜片后表面朝下放 入测量仪器的V型槽内，V型槽内充入符合要求的标准盐溶液，然后将放有凹透镜校验镜片 或凸透镜校验镜片的V型槽放到仪器的测量光路中，在仪器测量软件内输入相应的测量参 数，调整测量位置并选定测量区域，即可进行测量;将得到的测量值与凹透镜校验镜片或凸 透镜校验镜片的后顶焦度实际值进行比较，即可得到该仪器在该测量点上的后顶焦度示值 误差； 当在空气中对哈特曼光阑法和莫尔条纹法的测量仪器进行后顶焦度示值误差检验时， 分别使用凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片;首先将凹透镜校验镜片或凸透镜校验镜片后 表面朝下放入测量仪器的V型槽内，然后将放有凹透镜校验镜片或凸透镜校验镜片的V型槽 放到仪器的测量光路中，在仪器测量软件内输入相应的测量参数，调整测量位置并选定测 量区域，即可进行测量;将得到的测量值与凹透镜校验镜片或凸透镜校验镜片的后顶焦度 实际值进行比较，即可得到该仪器在该测量点上的后顶焦度示值误差； 当在空气中对焦度计进行后顶焦度示值误差检验时，需将凸透镜校验镜片和凹透镜校 验镜片与镜座配合使用，以便于操作测量及定位调整;首先将凹透镜校验镜片或凸透镜校 验镜片后表面朝向较小孔径端放入镜筒第二阶梯的圆形通孔内，然后在校验镜片的前表面 放置垫圈，最后再用带有外螺纹的压圈固定;将装配好的凹透镜校验镜片或凸透镜校验镜 片的后表面朝下放置在焦度计的接触镜测量支座上，通过调整校验镜片的位置，保证测量 目标位于视场中央，最后进行调焦测量;将得到的测量值与凹透镜校验镜片或凸透镜校验 镜片的后顶焦度实际值进行比较，即可得到该仪器在该测量点上的后顶焦度示值误差。3. 如权利要求1所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征在于:所述的 镜座，包括镜筒、垫圈和压圈；其中镜筒外形为圆形，内有台阶状圆形通孔，按照通孔直径由 小到大分为三个阶梯，分别为第一阶梯、第二阶梯和第三阶梯;第二阶梯的直径与校验镜片 的外径相同；垫圈外形为圆形，内为圆形通孔，通孔一端为平面，另一端为开有120°角的斜 面;所述压圈为带有外螺纹的圆环;所述的凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片位于镜筒第 二阶梯的圆形通孔内，在凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片的前表面放上垫圈，再用带有 外螺纹的压圈固定。4. 如权利要求1至3中任意一项所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特 征在于:所述的凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片，为圆形透镜，前表面和后表面均为球面 且精密抛光，后表面曲率半径相同，接近于人眼角膜前表面曲率半径8_。5. 如权利要求4中任意一项所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征 在于:所述的凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片，材料为无色冕牌光学玻璃。6. 如权利要求5中任意一项所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征 在于:所述的凸透镜校验镜片，包括+5πΓ1、+10πΓ 1、+15πΓ1和+20ΠΓ1四片凸透镜，结构形状模拟 实际的接触镜片，后表面曲率半径相同，前表面曲率半径不同，中心厚度不同。7. 如权利要求5中任意一项所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征 在于:所述的凹透镜校验镜片，包括-δπι'-ΙΟπι'-ΙδπΓ 1和-20ΠΓ1四片凹透镜，结构形状模拟 实际的接触镜片，后表面曲率半径相同，前表面曲率半径不同，中心厚度不同。8. 如权利要求3中任意一项所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征 在于:所述第三阶梯的侧壁上设有内螺纹，用于与压圈的外螺纹配合。9. 如权利要求3中任意一项所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征 在于:所述第三阶梯与第二阶梯交汇处开有退刀槽。10. 如权利要求3中任意一项所述的一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，其特征 在于:所述压圈上开有凹槽，便于压圈与镜筒的固定。
【专利摘要】本发明涉及一种接触镜后顶焦度测量仪器的校准方法，属于测试计量技术及仪器领域。包括：凸透镜校验镜片、凹透镜校验镜片和镜座。所述的凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片位于镜筒的台阶状圆形通孔内，在凸透镜校验镜片或凹透镜校验镜片的前表面放上垫圈，再用带有外螺纹的压圈固定。本发明通过设计具有不同后顶焦度的凸透镜校验镜片和凹透镜校验镜片，以及配套的镜座，不仅可以在空气中实现接触镜测量仪器的后顶焦度示值误差检验，而且还可以在溶液中实现测量仪器的后顶焦度示值误差检验。且具有结构简单、操作方便、适用范围广的优点。
【IPC分类】G01M11/02
【公开号】CN105571836
【申请号】CN201610060476
【发明人】张吉焱, 刘文丽, 洪宝玉, 马振亚, 王莉茹
【申请人】中国计量科学研究院
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2016年1月29日