常用校准模式下的校准模板文件，其中，所述校准模板文件为校准对应拍摄图像的最合适的校准影响因子及取值的组合。优选地，所述校准模板文件存储于磁盘上的树形路径下。
[0033]如图2所示，具体地，步骤I)及步骤2)为校准模式的构造过程，其主要包括以下步骤:
[0034]步骤a-1)，选择新增或编辑一个校准模式；
[0035]步骤a-2)，选择一个校准影响因子；
[0036]步骤a-3)，设置当前校准影响因子的取值或者取值范围；
[0037]步骤a-4)，是否继续设置其它影响因子，若否，则继续进行步骤a-5)，若是，则重复进行步骤a_2)?步骤a-4)；
[0038]步骤a-5)，保存当前校准模式。
[0039]如图3及图4所示，最后进行步骤3)，根据当前拍摄图像的各个校准影响因子的当前取值，自动匹配对应的校准模式，对采集到的图像进行校准。
[0040]作为示例，自动匹配对应的校准模式包括校准模式的完全匹配算法与近似匹配算法。
[0041]作为示例，所述完全匹配算法为匹配当前拍摄图像各个校准影响因子的当前取值完全吻合的校准模式。
[0042]作为示例，所述近似匹配算法为先挑选出备选的多个校准模式，再计算出各自的近似度，最终选取近似度最高的校准模式作为当前模式。
[0043]如图3所示，具体地，校准模板文件的生成过程包括以下步骤:
[0044]步骤b-Ι)，根据匹配算法判断是否可以直接选择一个校准模式，若可以，则跳至步骤b-5)，若不可以，则继续进行步骤b-2);
[0045]步骤b-2)，系统自动根据当前拍摄条件和方法获取各个校准影响因子的取值；
[0046]步骤b-3)，系统自动根据各个校准影响因子的取值，在决策数据库中检索出最为匹配的校准模式；
[0047]步骤b_4)，在选中的校准模式下，拍摄图像并生成对应的校准模板文件；
[0048]步骤b_5)，是否继续校准其它模式，若是，则返回步骤b-Ι)，若否，则结束。
[0049]如图4所示，具体地，图像的校准过程包括以下步骤:
[0050]步骤c-1)，用户发起拍摄准备；
[0051]步骤c-2)，系统自动根据当前拍摄条件和方法获取各个校准影响因子的取值；
[0052]步骤c-3)，系统自动根据各个校准影响因子的取值，在决策数据库中检索出最为匹配的校准模式；
[0053]步骤c-4)，系统自动加载与该校准模式相对应的校准模板文件；
[0054]步骤c-5)，提示用户拍摄准备完毕；
[0055]步骤c-6)，用户发起拍摄；
[0056]步骤c-7)，曝光，图像采集；
[0057]步骤c-8)，系统自动根据之前加载的校准模板文件，对图像进行校准，再将图像反馈给用户。
[0058]如上所述，本发明的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，具有以下有益效果:本发明将不同的拍摄条件或者方法与不同的校准模式这二者关联对应起来，并提供一种自动匹配的机制，以提高校准的有效性，进而提升探测器图像的整体质量。本发明提升了平板探测器图像校准的适应性，使其在不同拍摄条件或者方法下都能得到较为理想的校准效果，进而提升探测器图像的整体质量。本发明具备可配置、易于应用等特点，在平板探测器的图像校准技术领域具有广泛的应用前景。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
[0059]上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
【主权项】
1.一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于，包括步骤: 步骤I)，配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合； 步骤2)，基于不同的拍摄图像，从校准影响因子集合中选择合适的校准影响因子及其取值，组合形成多个的校准模式； 步骤3)，根据当前拍摄图像的各个校准影响因子的当前取值，自动匹配对应的校准模式，对采集到的图像进行校准。2.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:步骤I)中，配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合包括新增、编辑、删除校准影响因子集合中的校准影响因子。3.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:步骤I)中，校准影响因子包括X射线源电流电压、采集帧频以及采集延迟时间。4.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:步骤1)还包括对配置好的校准影响因子集合进行存储的步骤。5.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:步骤2)中，通过拍摄多个不同的图像并生成对应校准模式下的校准模板文件，并对其进行存储；重复该步骤，生成各种常用校准模式下的校准模板文件，其中，所述校准模板文件为校准对应拍摄图像的最合适的校准影响因子及取值的组合。6.根据权利要求5所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:所述校准模板文件存储于磁盘上的树形路径下。7.根据权利要求1所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:步骤3)中，自动匹配对应的校准模式包括校准模式的完全匹配算法与近似匹配算法。8.根据权利要求7所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:所述完全匹配算法为匹配当前拍摄图像各个校准影响因子的当前取值完全吻合的校准模式。9.根据权利要求7所述的自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，其特征在于:所述近似匹配算法为先挑选出备选的多个校准模式，再计算出各自的近似度，最终选取近似度最高的校准模式作为当前模式。
【专利摘要】本发明提供一种自动匹配的多模式的平板探测器校准方法，包括：1）配置校准模板匹配机制中的校准影响因子集合；2）基于不同的拍摄图像，从校准影响因子集合中选择合适的校准影响因子及其取值，组合形成多个的校准模式；3）根据当前拍摄图像的各个校准影响因子的当前取值，自动匹配对应的校准模式，对采集到的图像进行校准。本发明将不同的拍摄条件或者方法与不同的校准模式这二者关联对应起来，并提供一种自动匹配的机制，以提高校准的有效性，提升了图像的整体质量。本发明提升了平板探测器图像校准的适应性，使其在不同拍摄条件或者方法下都能得到较为理想的校准效果，进而提升探测器图像的整体质量。本发明具备可配置、易于应用等特点。
【IPC分类】G01V13/00, G01N23/00
【公开号】CN105588850
【申请号】CN201610105966
【发明人】宁海涛, 齐松
【申请人】上海奕瑞光电子科技有限公司
【公开日】2016年5月18日
【申请日】2016年2月26日