一种玻璃厚度检测装置及玻璃厚度检测方法

文档序号:9842078阅读:1013来源:国知局
一种玻璃厚度检测装置及玻璃厚度检测方法
【技术领域】
[0001 ]本发明涉及光学测量技术领域,更为具体地,涉及一种玻璃厚度检测装置及方法。
【背景技术】
[0002] 目前,主要采用光学测量的方法测量玻璃的厚度,光学测量方法不仅精度高,而且 能够实现非接触测量。现有的用于测量玻璃厚度的光学测量方法中主要是利用光的折射和 反射的原理,用一束光斜射在被测玻璃上,经过玻璃折射后的光束被光电二极管传感器接 收,由计算机或单片机进行运算得到玻璃厚度值。例如申请号为CN200920201105的专利公 开了一种玻璃厚度测量仪,申请号为CN201010528877的专利公开了一种中空玻璃厚度和铝 框宽度检测装置,申请号为CN201220327620.2的专利公开了一种数码玻璃厚度仪、申请号 为CN201310695005的专利公开了一种非相干成像玻璃测厚方法。
[0003] 在实际生产中,如图1所示,浮法玻璃常常会出现楔角,导致同一块玻璃的厚度不 均匀,即玻璃的两个表面不平行。另外,中空玻璃或者三玻两腔中空玻璃在制作过程中,中 空腔也很容易出现楔角。
[0004] 图2是表示使用现有的厚度测量装置测量玻璃厚度时的光路原理图,在此,假设被 测玻璃的上下表面是相互平行的,不存在楔角。如图2所示,现有的玻璃厚度检测装置包括 一个光源201和光电检测部件202,由光源201发出的检测用光在被检测玻璃203的上表面及 下表面反射后,入射到光电检测部件202的各光检测单元。设玻璃的折射率为n、检测用光的 入射角为i,检测用光经被检测玻璃上表面反射的光出射的位置与经被测玻璃下表面反射 的光出射的位置之间的距离为A,光电检测部件接受到的两反射光斑间距为△'。由图中几 何关系可知,被测玻璃的厚度G可以用以下公式1表示。
[0005] [公式 1]
[0007] 由光学原理可知,当被测玻璃的上下表面相互平行时,两条反射光路也互相平行, V = △。此时,被测玻璃的厚度G可以用以下公式2表示。
[0008] [公式2]
[0010]图3是表示使用现有的厚度测量装置在测量厚度方向上存在楔角的玻璃的厚度时 的光路示意图。图3所示,由于玻璃的上、下表面间存在楔角,导致经玻璃上表面与下表面反 射的光路不平行,光电检测部件接受到的两反射光斑间距A '小于两路反射光从玻璃出射 的位置A,从而使测得的玻璃厚度值偏小。
[0011]此外,申请号为CN200910054824.6的专利公开了一种玻璃厚度的检测设备和检测 方法。虽然该方法尽管采用两个激光器进行测量,但是其测量原理基于光的折射。该专利中 提供的设备和检测方法中,激光器和CCD探测器分别在待测玻璃的两侧,难以准确控制激光 器和(XD探测器之间以及二者与待测玻璃之间的相对位置,可能会造成CCD探测器与待测玻 璃表面不平行,从而影响测量准确度。并且,由于这种方法需要将玻璃置于检测装置中,因 此,限制了该检测装置的使用范围。

【发明内容】

[0012] 本发明是为了解决现有技术中存在的上述技术问题而做出,其目的在于提供一种 玻璃厚度检测装置和玻璃厚度检测方法以提高玻璃测量的精度,并且简化测量步骤。
[0013] 根据本发明的一个方面提供了一种玻璃厚度检测装置,其包括:壳体,具有能够与 被测玻璃表面接触的底面部,所述底面部为平面形状且可透过光线;两个光源,相对置地隔 着规定间距设置在所述壳体的内部,可发出射向所述底面部的检测用光;光电检测部,由多 个光检测单元排列构成,设置在所述壳体的内部,可接收来自所述被测玻璃的反射光;玻璃 厚度计算部,根据由所述光电检测部输出的检测信息,计算所述被测玻璃的厚度参数。
[0014]此外,优选地,在所述壳体的底面部设有狭缝。
[0015] 另外,优选地,在所述光电检测部的光入射侧设置有滤光片,用于滤除杂散光。
[0016] 再者,优选地,所述玻璃厚度计算部根据所述两个光源分别发出的所述检测用光 照射到所述被测玻璃后反射至所述光电检测部而得到的检测信息,分别计算被测玻璃的厚 度参数,并将该两个厚度参数的平均值作为最终的玻璃的厚度参数。
[0017] 此外,优选地,所述光电检测部与所述壳体的底面部平行设置。
[0018] 另外,优选地,所述光电检测部包括两个光电检测器件,所述两个光电检测器件的 光入射面朝着相反方向,并且,所述两个光电检测器件与所述壳体的底面部垂直设置。
[0019] 此外,优选地,当所述光电检测部检测到的反射光的有效波峰数为2时,判断为被 测玻璃是单片玻璃,有效波峰数为4时,判断为被测玻璃是双玻中空玻璃,有效波峰数为6 时,判断为被测玻璃是三玻两腔中空玻璃。
[0020] 另外,本发明还提供一种玻璃厚度检测方法,其包括以下步骤:将玻璃厚度检测装 置的底面部放置在被测玻璃的表面,使第一光源和第二光源分别发射出检测用光;光电检 测部接收由所述被测玻璃的各表面反射的反射光;玻璃厚度计算部根据所述光电检测部的 输出结果,计算该被测玻璃的各厚度检测值;以及将基于第一光源的厚度检测值和基于第 二光源的厚度检测值的平均值,作为该被测玻璃的各厚度参数的最终检测值。
[0021] 此外,优选地,在所述计算该被测玻璃的各厚度检测值的步骤中,当所述光电检测 部检测到的反射光的有效波峰数为2时,判断为被测玻璃是单片玻璃,有效波峰数为4时,判 断为被测玻璃是双玻中空玻璃,有效波峰数为6时,判断为被测玻璃是三玻两腔中空玻璃。
[0022] 根据如上所述的发明,能够有效减小玻璃楔角对厚度测量结果造成的误差,从而 提高测量玻璃厚度时的准确度。
【附图说明】
[0023] 通过参考以下【具体实施方式】及权利要求书的内容并且结合附图,本发明的其它目 的及结果将更加明白且易于理解。在附图中:
[0024]图1是有楔角的玻璃的示意图;
[0025]图2是表示现有的厚度测量装置测量表面平行的玻璃的厚度时的示意图;
[0026]图3是表示现有的厚度测量装置测量表面带楔角的玻璃的厚度时的示意图;
[0027]图4是表示本发明涉及的玻璃厚度检测装置的结构示意图;
[0028]图5是表示使用本发明涉及的玻璃厚度检测装置测量有楔角玻璃的厚度时的光路 示意图;
[0029]图6是说明使用本发明涉及的玻璃厚度检测装置测量带楔角玻璃的测量实例的示 意图;
[0030] 图7是使用本发明涉及的玻璃厚度检测装置测量三玻两腔中空玻璃的示意图;
[0031] 图8是表示测量三玻两腔中空玻璃时的第一光源射出的检测用光的光路的示意 图;
[0032] 图9是本发明涉及的玻璃厚度检测装置的另一实施例的结构示意图;
[0033] 图10是本发明涉及的玻璃厚度检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0034] 在下面的描述中,出于说明的目的,为了提供对一个或多个实施例的全面理解,阐 述了许多具体细节。然而,很明显,也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施例。 在其它例子中,为了便于描述一个或多个实施例,公知的结构和设备以方框图的形式示出。
[0035] 下面将参照附图来对根据本发明的各个实施例进行详细描述。
[0036] 图4是表示本发明涉及的玻璃厚度检测装置的结构示意图。如图4所示,本发明涉 及的玻璃厚度检测装置包括:壳体400,用于收容所述玻璃厚度检查装置的各构成部件,具 有能够与
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