路反射光，计 算出三玻两腔中空玻璃的三层玻璃和两层空腔的各厚度。然后，将基于第一光源103的各厚 度检测值和基于第二光源104的各厚度检测值分别取平均值作为三玻两腔中空玻璃的各个 厚度的测量结果。
[0069] 图8是表示测量三玻两腔中空玻璃时的第一光源射出的检测用光的光路的示意 图。设第一光源801发出的检测用光相对于被测玻璃上表面的入射角为i，被测玻璃的折射 率为n，光电检测部803的光检测单元距离被测玻璃上表面的高度为H，所述光电检测部803 的各光检测单元间的中心距离为α。
[0070] 根据几何光学知识，该三玻两腔中空玻璃中的第一层玻璃810的厚度值61、第二层 玻璃812的厚度值6 2、第三层玻璃814的厚度值G3分别为：
[0074]其中，Pi、？〗*别为第一层玻璃的上表面和下表面反射的光线到达光电检测部803 的光检测单元序号。P3、P4分别为第二层玻璃的上表面和下表面反射的光线到达光电检测部 803的光检测单元序号。P 5、P6分别为第三层玻璃的上表面和下表面反射的光线到达光电检 测部803的光检测单元序号。由光检测单元之间的序号差与光检测单元的中心距离α的乘积 可以计算出两路光到达光检测部803时的距离(例如，（Ps-PdXa为第一层玻璃的上表面与 上表面反射的两路光到达光电检测部803时的距离）。同样地，三玻两腔中空玻璃中的第一 空气层811的厚度Ai和第二空气层813的厚度A 2分别为：
[0077] 利用第二光源发出的检测用光的反射光计算三玻两腔中空玻璃的各厚度值的计 算方法也基本相同，在此省略对其详细描述。
[0078] 图9是本发明涉及的玻璃厚度检测装置的另一实施例的结构示意图。
[0079] 该实施例中，该光电检测部设置成垂直于被测玻璃905的表面，并且具备朝着相反 方向设置的两个反射光接收面。或者，可以设置两个光电检测部903、904,这两个光电检测 部903、904的光接收面朝向相反，并且分别接收来自第一光源901和第二光源902的检测用 光。根据光学原理可知，如此垂直方向设置的光电检测部，同样能够根据反射光的入射位 置，计算出被测玻璃的各厚度。具体的玻璃厚度计算公式，在此不再重复论述。
[0080] 图10是本发明涉及的玻璃厚度检测方法的流程图。下面，参照附图详细说明该玻 璃厚度检测方法的各步骤。
[0081] 在步骤S11，将玻璃厚度检测装置的底面部放置在被测玻璃的表面，使第一光源和 第二光源分别发射出检测用光。
[0082] 在步骤S12,光电检测部接收由所述被测玻璃的各表面反射的反射光。
[0083]在步骤S13,玻璃厚度计算部根据所述光电检测部的输出结果，计算该被测玻璃的 各厚度检测值。
[0084] 在步骤S14,将基于第一光源的厚度检测值和基于第二光源的厚度检测值的平均 值，作为该被测玻璃的各厚度参数的最终检测值。
[0085] 此外，在步骤S13还可以包含确定被测玻璃的种类的步骤。即，当所述光电检测部 检测到的反射光的有效波峰数为2时，判断为被测玻璃是单片玻璃，有效波峰数为4时，判断 为被测玻璃是双玻中空玻璃，有效波峰数为6时，判断为被测玻璃是三玻两腔中空玻璃。根 据如上所述确定的被测玻璃种类，可以更准确地检测出被测玻璃的各厚度值。
[0086] 此外，第一光源和第二光源的发射光可以通过多种方式实现，例如，第一光源和第 二光源通过光纤从同一光源引出。如上所述，通过这种设置，可以仅使用一个光源达到同样 的测量效果。因此，可以降低本本发明的玻璃厚度检测装置的成本。
[0087] 另外，在本发明中，虽然将基于第一、第二光源分别测得的厚度检测值取平均而作 为最终厚度，但不限定与此，也可以使用其它优化算法并根据这两路光源的厚度检测值，取 得最终的厚度参数。
[0088] 而且，本发明中虽然设置了两个光源，但也可以设置更多数量的光源用于厚度测 量。
[0089] 尽管前面公开的内容示出了本发明的示例性实施例，但是应当注意，在不背离权 利要求限定的范围的前提下，可以进行多种改变和修改。根据这里描述的发明实施例的方 法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外，尽管本发明的元素可 以以个体形式描述或要求，但是也可以设想具有多个元素，除非明确限制为单个元素。
【主权项】
1. 一种玻璃厚度检测装置，其特征在于，包括： 壳体，具有能够与被测玻璃表面接触的底面部，所述底面部为平面形状且可透过光线； 两个光源，相对置地隔着规定间距设置在所述壳体的内部，可发出射向所述底面部的 检测用光； 光电检测部，由多个光检测单元排列构成，设置在所述壳体的内部，可接收来自所述被 测玻璃的反射光； 玻璃厚度计算部，根据由所述光电检测部输出的检测信息，计算所述被测玻璃的厚度 参数。2. 根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于， 在所述壳体的底面部设有狭缝。3. 根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于， 在所述光电检测部的光入射侧设置有滤光片，用于滤除杂散光。4. 根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于， 所述玻璃厚度计算部根据所述两个光源分别发出的所述检测用光照射到所述被测玻 璃后反射至所述光电检测部而得到的检测信息，分别计算被测玻璃的厚度参数，并将该两 个厚度参数的平均值作为最终的玻璃的厚度参数。5. 根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于， 所述光电检测部与所述壳体的底面部平行设置。6. 根据权利要求1所述的玻璃厚度检测装置，其特征在于， 当所述光电检测部检测到的反射光的有效波峰数为2时，判断为被测玻璃是单片玻璃， 有效波峰数为4时，判断为被测玻璃是双玻中空玻璃，有效波峰数为6时，判断为被测玻璃是 三玻两腔中空玻璃。7. -种玻璃厚度检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 将玻璃厚度检测装置的底面部放置在被测玻璃的表面，使第一光源和第二光源分别发 射出检测用光； 光电检测部接收由所述被测玻璃的各表面反射的反射光； 玻璃厚度计算部根据所述光电检测部的输出结果，计算该被测玻璃的各厚度检测值； 以及 将基于第一光源的厚度检测值和基于第二光源的厚度检测值的平均值，作为该被测玻 璃的各厚度参数的最终检测值。8. 根据权利要求7所述的玻璃厚度检测方法，其特征在于， 在所述计算该被测玻璃的各厚度检测值的步骤中，当所述光电检测部检测到的反射光 的有效波峰数为2时，判断为被测玻璃是单片玻璃，有效波峰数为4时，判断为被测玻璃是双 玻中空玻璃，有效波峰数为6时，判断为被测玻璃是三玻两腔中空玻璃。
【专利摘要】本发明提供了一种玻璃厚度检测装置，其包括：壳体，具有能够与被测玻璃表面接触的底面部，所述底面部为平面形状且可透过光线；两个光源，相对置地隔着规定间距设置在所述壳体的内部，可发出射向所述底面部的检测用光；光电检测部，由多个光检测单元排列构成，设置在所述壳体的内部，可接收来自所述被测玻璃的反射光；玻璃厚度计算部，根据由所述光电检测部输出的检测信息，计算所述被测玻璃的厚度参数。根据该结构，提高了测量玻璃厚度时的精度，尤其是提高了有楔角玻璃的厚度测量精度。
【IPC分类】G01B11/06
【公开号】CN105606034
【申请号】CN201510671857
【发明人】黄达泉, 常俏, 吴筱, 张鑫, 钟星辉
【申请人】北京奥博泰科技有限公司, 李春业
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2015年10月16日