复合绝缘子的缺陷的检测设备和系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型实施例涉及电力技术领域，尤其涉及一种复合绝缘子的缺陷的检测设备和系统。
【背景技术】
[0002]复合绝缘子因其体积小、重量轻、憎水性和憎水迀移性优良、内绝缘性能好、机械强度高以及电晕小和电磁干扰小等优点被越来越广泛地应用于电力系统中，但是仍然有少量复合绝缘子存在缺陷并导致事故的产生，所以有必要检测复合绝缘子的缺陷，因此，复合绝缘子的缺陷的检测技术应运而生。
[0003]复合绝缘子存在缺陷处会产生泄露电流，并在交变电场下的作用下，产生异常温升。现有的红外检测法一般是通过红外热像仪检测复合绝缘子的异常温升点或异常温升区域，并将与所述异常温升点或异常温升区域对应的复合绝缘子的位置确定为存在缺陷，从而达到检测复合绝缘子的缺陷的目的。
[0004]上述红外检测法存在的缺陷在于:由于外界环境的温度、湿度、日照情况，复合绝缘子表面的污闪、雨闪、鸟粪闪络和泄露电流等因素都会造成复合绝缘子的温度的变化，因此影响检测结果的准确性。目前已有大量实例是复合绝缘子有异常温升但是解剖并没有发现相应位置存在缺陷。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型实施例提供一种复合绝缘子的缺陷的检测方法、设备和系统，以提高复合绝缘子的缺陷的检测结果的准确性。
[0006]第一方面，本实用新型实施例提供了一种复合绝缘子的缺陷的检测方法，包括:
[0007]控制微波源产生高频微波，并将产生的高频微波传导至待测试复合绝缘子表面的测试点；
[0008]获取所述测试点的反射波；
[0009]根据所述反射波，得到所述测试点对应的电压强度信号；
[0010]判断所述测试点对应的电压强度信号是否位于预设电压偏差范围内，并根据判断结果确定所述测试点是否存在缺陷。
[0011]第二方面，本实用新型实施例提供了一种复合绝缘子的缺陷的检测设备，包括:
[0012]供电电源，用于为下述微波源提供直流工作电压；
[0013]微波源，与所述供电电源连接，用于根据所述供电电源提供的直流工作电压，产生高频微波；
[0014]波导管，用于将所述微波源产生的高频微波传导至待测试复合绝缘子表面的测试点；还用于传导所述测试点的反射波；
[0015]定向耦合器，设置在所述波导管中，用于分离提取所述波导管中的所述反射波，并将分离提取的反射波发送至下述微波检测器；
[0016]微波检测器，与所述定向耦合器连接，用于从所述定向耦合器接收分离提取的所述反射波，转换为所述测试点对应的电压强度信号；
[0017]数据采集卡，与所述微波检测器连接，用于从所述微波检测器采集所述测试点对应的电压强度信号，并将所述测试点对应的电压强度信号发送至处理器，以使处理器判断所述测试点对应的电压强度信号是否位于预设电压偏差范围内，并根据判断结果确定所述测试点是否存在缺陷。
[0018]第三方面，本实用新型实施例提供了一种复合绝缘子的缺陷的检测系统，包括:
[0019]本实用新型任意实施例提供的复合绝缘子的缺陷的检测设备，用于获取待测试复合绝缘子表面的测试点的反射波的电压强度信号，并将所述测试点对应的电压强度信号发送至下述处理器；
[0020]处理器，与所述复合绝缘子的缺陷的检测设备连接，用于判断所述测试点对应的电压强度信号是否位于预设电压偏差范围内，并根据判断结果确定所述测试点是否存在缺陷。
[0021]本实用新型实施例提供的复合绝缘子的缺陷的检测方法、设备和系统，将微波源产生的高频微波传导至待测试复合绝缘子表面的测试点，高频微波在待测试复合绝缘子表面的测试点处发生折射和反射，通过判断测试点的反射波对应的电压强度信号是否位于预设电压偏差范围内，可以检测测试点是否存在缺陷。由于复合绝缘子采用非金属材料，而高频微波在非金属材料中穿透能力强，不需要表面接触、不需要耦合剂，基于反射波即可实现复合绝缘子内部缺陷的无损检测，提高了检测的便捷性和应用范围；由于测量结果不依赖于外界环境的温度、湿度和日照情况，提高了检测结果的准确性。
【附图说明】
[0022]为了更清楚地说明本实用新型，下面将对本实用新型中所需要使用的附图做一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1a为本实用新型实施例一提供的一种复合绝缘子的缺陷的检测方法的流程图；
[0024]图1b为本实用新型实施例一中实例I和实例2适用的参考复合绝缘子表面各测试点对应的反射波的电压强度信号的读数值极差分布图；
[0025]图1c为本实用新型实施例一提供的实例I中待测试复合绝缘子表面各测试点对应的电压强度信号分布图；
[0026]图1d为本实用新型实施例一提供的实例2中待测试复合绝缘子表面各测试点对应的电压强度信号分布图；
[0027]图2为本实用新型实施例二提供的一种复合绝缘子的缺陷的检测设备的结构示意图；
[0028]图3为本实用新型实施例三提供的一种复合绝缘子的缺陷的检测系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0029]为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施例中的技术方案作进一步详细描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部内容。
[0030]实施例一
[0031]请参阅图la，为本实用新型实施例一提供的一种复合绝缘子的缺陷的检测方法的流程图。
[0032]该方法包括:步骤110?步骤140。
[0033]步骤110、控制微波源产生高频微波，并将产生的高频微波传导至待测试复合绝缘子表面的测试点。
[0034]本步骤中，所述微波源产生的高频微波的频率可以为1GHz以上。复合绝缘子的缺陷的检测精度与微波源出射的高频微波的频率正相关，也即，微波源出射的高频微波的频率越高，复合绝缘子的缺陷的检测精度越高；微波源出射的高频微波的频率越低，复合绝缘子的缺陷的检测精度越低。
[0035]本步骤中，可以通过波导管将微波源产生的高频微波传导至待测试复合绝缘子表面的测试点。波导管内径的大小因所传输高频微波的波长而异，因此可以根据所传输的高频微波的频率选用合适内径的波导管。
[0036]其中，在步骤110之前，可以预先选定待测试复合绝缘子表面的测试点。优选是在垂直于复合绝缘子轴线的平面与所述复合绝缘子相交的第一预设数量的圆周上，选取各圆周上第二设定数量的等分点作为所述测试点。
[0037]步骤120、获取所述测试点的反射波。
[0038]本步骤中，高频微波通过波导管传导至待测试复合绝缘子表面的测试点，会在待测试复合绝缘子表面发生折射和反射，反射波的一部分传输至波导管中，具体可以通过波导管中设置的定向耦合器将负向传播的波即反射波分离提取出来。
[0039]步骤130、根据所述反射波，