用于天线互调测试的测试设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及天线测试技术，尤其涉及一种用于天线互调测试的测试设备。
【背景技术】
[0002]请参照图1，一种现有用于天线互调测试的测试设备包括测试机柜11和半封闭式暗室12。半封闭式暗室12内部为测试腔，在其一个侧面开有暗室口 120，半封闭式暗室12的暗室口 120的尺寸通常较小，测试腔中还设置有工作台121和滑动推车122。
[0003]对天线13进行互调测试时，首先需要人工将待测天线13从暗室口 120搬到滑动推车122上放好，然后将天线13通过电缆14连接至测试机柜11，随后将天线13和滑动推车122 —起推入测试腔120的测试位置对天线13进行测试。
[0004]上述现有技术存在如下缺点:暗室口 120的尺寸较小，而待测天线13的体积较大，人工将天线13放入滑动推车122的操作较难实现，将会浪费较多的天线搬运时间。
【实用新型内容】
[0005]本实用新型主要解决的技术问题是提供一种能够快速将天线放入测试暗室的测试腔中的测试设备。
[0006]本实用新型实施例公开了一种用于天线互调测试的测试设备，其包括测试暗室、支撑架和承载件，测试暗室内部包括测试腔，测试暗室的一侧面开有暗室门，支撑架一端延伸至与测试腔对接，另一端从暗室门伸出测试暗室；承载件用于承载待测天线，承载件置于支撑架上，并能够在支撑架上沿第一方向平移；第一方向为支撑架的长度方向。
[0007]本实用新型的有益效果是:区别于现有技术的情况，本实用新型测试设备设置由暗室门伸出测试暗室的支撑架，天线测试前，可将承载件平移至测试暗室外的支撑架上，后将天线搬至承载件上，然后推入测试腔的测试台上，天线的放置过程不受暗室口的较窄的宽度的局限，方便操作，能够大大减少天线的搬运时间。
【附图说明】
[0008]为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0009]图1是一种现有用于天线互调测试的测试设备；
[0010]图2是本实用新型实施例用于天线互调测试的测试设备用于测试天线的第一角度不意图；
[0011]图3是本实用新型实施例用于天线互调测试的测试设备用于测试天线的第二角度示意图。
【具体实施方式】
[0012]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0013]本实用新型实施例公开了一种用于天线互调测试的测试设备包括测试暗室、支撑架和承载件，测试暗室内部包括测试腔，测试暗室的一侧面开有暗室门，支撑架一端延伸至与测试腔对接，另一端从暗室门伸出测试暗室；承载件用于承载待测天线，承载件置于支撑架上，并能够在支撑架上沿第一方向平移；第一方向为支撑架的长度方向。本实用新型测试设备设置由暗室门伸测试暗室的支撑架，天线测试前，可将承载件平移至测试暗室外的支撑架上，后将天线搬至承载件上，然后推入测试腔的测试台上；如此以来，天线的放置过程不受暗室门的较窄的宽度的局限，方便操作，能够大大减少天线的搬运时间。
[0014]参阅图2和图3，本实用新型实施例提供一种用于天线互调测试的测试设备，用于对天线20进行互调测试，其包括测试暗室21、支撑架22、承载件23、测试机柜24和电缆25。其中，承载件23可以认为是测试暗室21的组成部分，电缆25可以认为是测试机柜24的组成部分。
[0015]测试暗室21呈长方体状或立方体状，其包括金属外壳和包覆于金属外壳内部的吸波海绵。测试暗室21的一侧面开有暗室门210，且测试暗室21的内部设置连通暗室门210的测试腔(未标示)，本实施例中，暗室门210还贯穿测试暗室21的底壁。测试腔中设置测试台(未图示)，天线20被推至测试台上后方可进行互调测试。优选地，第一方向X为垂直于开设暗室门210的侧面的方向。
[0016]支撑架22的一端延伸至与测试腔对接，另一端从暗室门210伸出测试暗室21。支撑架22的顶端沿第一方向X设置第一导轨220，测试台沿第一方向X设置第二导轨(未图示)，第一导轨220与第二导轨对接，承载件23能够沿第一导轨220和第二导轨平移，亦即承载件23沿第一方向X滑动设置于支撑架22和测试台上。第一方向X亦即支撑架22的长度方向。
[0017]更具体地，支撑架22包括沿垂直于第一方向X的第二方向Y平行设置的左侧支架221和右侧支架222，可以肯定的是，左侧支架221和右侧支架222沿第一方向X延伸。支撑架22的底部与测试暗室21的底壁平齐，支撑架22的一部分伸入暗室门210中。换句话说，左侧支架221和右侧支架222的底部与测试暗室21的底壁平齐，且左侧支架221和右侧支架222的一部分伸入暗室门210中。左侧支架221和右侧支架222在靠近底部的位置连接。支撑架22进一步包括连接肋223，连接肋223设置于靠近支撑架22靠近底部的位置，其连接左侧支架221和右侧支架222 ;连接肋223的数目可以是一个、两个或多个。进一步地，为了便于使用者操作，支撑架22进一步包括连接板224，连接板224亦设置于靠近支撑架22底部的位置，其两侧分别连接左侧支架221和右侧支架222。第一导轨220设置于左侧支架221和/或右侧支架222上；优选地，左侧支架221和右侧支架222上均设置第一导轨 220。
[0018]为了适应多种尺寸规格的待测天线，优选地，承载件23由两块或两块以上沿第一方向X平行间隔设置的承载板230组成。承载板230同时支撑于左侧支架221和右侧支架222上，且相邻两块承载板230之间的距离可调。承载板230的下方设置有与第一导轨220及第二导轨230匹配的滚轮。
[0019]优选地，承载件23由酚醛材料制成，支撑架22由铝材制成。
[0020]对天线20进行测试时，首先将根据天线20的尺寸调整承载板230之间的距离并确保承载件23尽可能完全处于测试暗室21外部的支撑架22上，接下来将天线搬至承载件23上，然后推动天线20，将其移动至测试腔的测试台上进行互调测试。
[0021]为了尽可能适应更多规格的天线进行互调测试，优选地，支撑架22伸出测试暗室21的长度为1.Sm?2m。由于天线20不必直接搬入空间较小的测试腔，而首先放在凸出测试暗室21设置的支撑架22上，因此，操作空间较大，使用者能够快速将天线20搬至承载件23上，大大简短搬运天线20所用的时间；进一步地，由于左侧支架221和右侧支架222在靠近底部的位置进行连接，天线20放至承载件23上后电缆25自然下垂而不会碰触支撑架22或其他元件，进而确保电缆使用性能稳定且具有较长的使用寿命；加上，由于支撑架22靠近底部的位置设置连接左侧支架221和右侧支架222的连接板223，操作者可以站在连接板223上推动天线20，进一步优化了操作者的使用体验。从兼顾操作者使用和确保天线测试准确性出发，优选地，暗室门210的高度为1.5m?1.8m。
[0022]本实用新型创作的初衷是为了方便放置天线20以提高工作效率，减少搬运距离以节省劳动力；因此，具体应用中，但凡具有与测试腔对接且伸出测试暗室21设置的支撑架22的方案均在本实用新型的保护范围内。
[0023]区别于现有技术，本实用新型测试设备设置与测试暗室21的测试腔对接且至少部分伸出测试暗室21的支撑架22，天线20测试前，可将承载件23平移至测试暗室21外的支撑架22上，后将天线20搬至承载件23上，然后推入测试腔的测试台上；天线20的放置过程不受暗室门210的较窄的宽度的局限，方便操作，能够大大减少天线的搬运时间。
[0024]以上所述仅为本实用新型的实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
【主权项】
1.一种用于天线互调测试的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括测试暗室、支撑架和承载件，所述测试暗室内部包括测试腔，所述测试暗室的一侧面开有暗室门，所述支撑架一端延伸至与所述测试腔对接，另一端从所述暗室门伸出所述测试暗室；所述承载件用于承载待测天线，所述承载件置于所述支撑架上，并能够在所述支撑架上沿第一方向平移；所述第一方向为所述支撑架的长度方向。
2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述测试腔内包括测试台； 所述支撑架的顶端沿所述第一方向设置第一导轨，所述测试台沿所述第一方向设置第二导轨，所述第一导轨与所述第二导轨对接，所述承载件能够沿所述第一导轨和所述第二导轨平移。
3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述承载件下方设置有与所述第一导轨和第二导轨匹配的滚轮。
4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述支撑架包括沿垂直于所述第一方向的第二方向平行设置的左侧支架和右侧支架，所述第一导轨设置于所述左侧支架和/或右侧支架上。
5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述支撑架在靠近底部的位置处设置连接所述左侧支架和所述右侧支架的连接肋。
6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，所述支撑架进一步包括连接板，所述连接板设置于所述支撑架靠近底部的位置处，所述连接板的两侧分别连接所述左侧支架和所述右侧支架。
7.根据权利要求6所述的测试设备，其特征在于，所述暗室门的高度为1.5?1.Sm。
8.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述承载件包括两块沿所述第一方向间隔设置的承载板，所述承载板支撑于所述左侧支架和所述右侧支架上，两块所述承载板之间的距离可调。
9.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，所述支撑架伸出所述测试暗室的长度为1.8?2mο
10.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述承载件由酚醛塑料制成，所述支撑架由铝材制成。
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于天线互调测试的测试设备，其包括测试暗室、支撑架和承载件，测试暗室内部包括测试腔，测试暗室的一侧面开有暗室门，支撑架一端延伸至与测试腔对接，另一端从暗室门伸出测试暗室，承载件用于承载待测天线，承载件置于所述支撑架上，并能够在支撑架上沿第一方向平移；第一方向为支撑架的长度方向。本实用新型测试设备在天线的放置过程中不受测试腔的宽度的局限，方便操作，能够大大减少天线的搬运时间。
【IPC分类】G01R1-00, G01R29-08
【公开号】CN204536364
【申请号】CN201420868816
【发明人】刘杨清, 贺朝辉, 张闯, 周正国
【申请人】苏州市大富通信技术有限公司
【公开日】2015年8月5日
【申请日】2014年12月31日