一种五向键帽的公差检测治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种五向键帽的公差检测治具，属于公差检测技术领域。
【背景技术】
[0002]五向键由于其性能被人们在日常生活中应用的很广泛，五向键帽是五向键的重要组成部分，在五向键的生产过程中需要对五向键帽的高度进行公差检测，避免出现不合格的产品，但现有的公差检测设备比较传统，一方面效率低下、无法满足现有的需要，另一方面公差检测的精确度不高，不能很好的适应产品的标准。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于:针对现有技术的缺陷，提出了一种五向键帽的公差检测治具，该治具结构简单，设计合理，不仅检测的精度高，而且检测的速度快，有利于提高检测的效率，很好的满足现有的需要和适应产品的检测标准。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:一种五向键帽的公差检测治具，包括底板、支架一、支架二、固定块一、固定块二和测量块，底板上设有凹槽，底板上分布有支架一和支架二，支架一的两端端分别设有支架二，支架二的一端通过螺丝固定在支架一上，支架二的另一端通过螺钉固定在底板的凹槽内，两支架二之间与两支架二相邻分别设有固定块一和固定块二，固定块一和固定块二之间放置有待测产品，其中固定块一的下方设有测量块或固定块二的下方设有测量块。
[0005]在本实用新型中:所述的测量块通过螺丝固定在支架一上。
[0006]采用上述技术方案后，本实用新型的有益效果为:本实用新型结构简单，设计合理，不仅检测的精度高，而且检测的速度快，有利于提高检测的效率，很好的满足现有的需要和适应产品的检测标准。
【附图说明】
[0007]图1为本实用新型的结构示意图。
[0008]图中:1.底板；2.支架一 ；3.支架二 ；4.固定块一 ；5.固定块二 ；6.测量块；7.凹槽;8.螺钉；9.螺丝；10.待测产品。
【具体实施方式】
[0009]下面将结合附图对本实用新型作进一步的说明。
[0010]由图1可见，一种五向键帽的公差检测治具，包括底板1、支架一 2、支架二 3、固定块一 4、固定块二 5和测量块6，底板1上设有凹槽7，底板1上分布有支架一 2和支架二 3，支架一 2的两端端分别设有支架二 3，支架二 3的一端通过螺丝9固定在支架一 2上，支架二 3的另一端通过螺钉8固定在底板1的凹槽7内，两支架二 3之间与两支架二 3相邻分别设有固定块一 4和固定块二 5，固定块一 4和固定块二 5之间放置有待测产品10，其中固定块一 4的下方设有测量块6或固定块二 5的下方设有测量块6 ;所述的测量块6通过螺丝固9定在支架一 2上。
[0011]以上对本实用新型的【具体实施方式】进行了描述，但本实用新型并不限于以上描述。对于本领域的技术人员而言，任何对本技术方案的同等修改和替代都是在本实用新型的范围之中。因此，在不脱离本实用新型的精神和范围下所作的均等变换和修改，都应涵盖在本实用新型的范围内。
【主权项】
1.一种五向键帽的公差检测治具，其特征在于:包括底板、支架一、支架二、固定块一、固定块二和测量块，底板上设有凹槽，底板上分布有支架一和支架二，支架一的两端端分别设有支架二，支架二的一端通过螺丝固定在支架一上，支架二的另一端通过螺钉固定在底板的凹槽内，两支架二之间与两支架二相邻分别设有固定块一和固定块二，固定块一和固定块二之间放置有待测产品，其中固定块一的下方设有测量块或固定块二的下方设有测量块。2.根据权利要求1所述的一种五向键帽的公差检测治具，其特征在于:所述的测量块通过螺丝固定在支架一上。
【专利摘要】本实用新型涉及一种五向键帽的公差检测治具，包括底板、支架一、支架二、固定块一、固定块二和测量块，底板上设有凹槽，底板上分布有支架一和支架二，支架一的两端分别设有支架二，支架二的一端通过螺丝固定在支架一上，支架二的另一端通过螺钉固定在底板的凹槽内，两支架二之间与两支架二相邻分别设有固定块一和固定块二，固定块一和固定块二之间放置有待测产品，其中固定块一的下方设有测量块或固定块二的下方设有测量块。本实用新型结构简单，设计合理，不仅检测的精度高，而且检测的速度快，有利于提高检测的效率，很好的满足现有的需要和适应产品的检测标准。
【IPC分类】G01B5/00
【公开号】CN205066617
【申请号】CN201520824655
【发明人】朱国平
【申请人】江苏乐智电子科技有限公司
【公开日】2016年3月2日
【申请日】2015年10月24日