节检测截面与高精度激光位移传感器9移动平面保持平行。所述的显微镜装置由镀反光膜的透光镜8、显微镜移动台10、显微镜11和侧光灯12组成。镀反光膜的透光镜8置于被测截面和高精度激光位移传感器9之间，既要使测量的激光能够穿透到截面并返回，不影响测量结果，又要能反射截面的散光，使显微镜头能捕捉到截面清晰的镜像，经过显微镜镜筒后放大，在后端的电子目镜摄像头转换成清晰的图像，并传输到计算中进行显示。其中显微镜11由镜筒和电子目镜摄像头组成，镜筒上可以调节放大倍数，电子目镜摄像头采用的是CCD成像方式的摄像头，计算机通过RS232接口即可进控制和数据传输。其中显微镜移动台10主要是调节镜头与截面镜像的距离来调节焦距，使捕捉到最清晰的图像。所述的高精度激光位移传感器9采用的是CD33-L50-422型号的高精度激光位移传感器，其检测距离为47.3mm，检测范围为± 5mm，分辨率为2.5μπι。高精度激光位移传感器9安装于纵向电动滑台13，使其可以在纵向上精确移动，检测截面上微小的痕迹，并将量化的数据传回计算机分析和存储。
[0027]如图2所示:包括计算机15、控制器16、电动滑台17、电控角度位移台18、高精度激光位移传感器9、电子目镜摄像头19。计算机15通过USB与控制器16通讯，控制器16接收计算机15的指令信号，对电动滑台17、电控角度位移台18进行控制；高精度激光位移传感器9与计算机15通讯，高精度激光位移传感器9为计算机15提供被测物截面高精度痕迹数据；电子目镜摄像头19为计算机提供被测截面放大后的高清图像，进行分析和处理，并可辅助激光检测的控制。
[0028]所述的控制器16主要采用增强型51单片机STC12C5A60S2作为核心控制芯片，集成了 RS232转TTL功能，通过USB转RS232接口线实现控制器2与计算机1的通讯，进行指令与数据的传输;实现了对电动滑台3滑台位置和速度的高精度控制;实现了对电控角度位移台18偏转角度的高精度控制。所述的电动滑台17为含滑块的滚珠丝杠直线导轨加装有42步两相步进电机，丝杠规格为1204即丝杠直径12mm导程4mm，水平载重为50kg，往复精度为
0.01mm。其主要作用在于装载高精度激光位移传感器9，控制高精度激光位移传感器9前后左右位置的精确移动。所述的电控角度位移台18为蜗轮副驱动，滚珠配合环形钢导轨运动，提供旋转角度调节。加装有42步两相步进电机和检测最大角度的霍尔传感器，实现电控角度调节并能有效防止超出旋转角度的有效范围。其电控角度位移台18的主要作用在于承载被检测物体，并精准调节检测截面与高精度激光位移传感器9移动平面保持平行。所述的高精度激光位移传感器9作用是当检测截面放置于高精度激光位移传感器9测量范围内时，就能测量高精度激光位移传感器到检测截面的距离，随着高精度激光位移传感器9在检测截面上方平行移动，就能把激光所照射到检测截面的痕迹的的凸凹程度进行量化，并将量化的数据传输到分析系统分析。所述的电子目镜摄像头19采用CCD技术成像的高清显微电子目镜摄像头，可通过RS232接口向计算机1传输高清图像。
[0029]本实用新型提出一种剪切类线性痕迹激光检测系统，采用高精度激光测距技术与巧妙的光学成像相结合，实现对截面痕迹的高精度检测，对于细微痕迹的提取和鉴定相比于传统方法有着明显优势。并进行量化分析和存储;本实用新型适用于警用线性痕迹激光检测系统。
[0030]最终，以上实施例和附图仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管通过上述实施例已经对本实用新型进行了详细的描述，但本领域技术人员应当理解，可以在形式上和细节上对其作出各种各样的改变，而不偏离本实用新型权利要求书所限定的范围。
【主权项】
1.一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:包括底座(1)、减震板(2)、多功能载物台(3)、横向电控角度位移台(4)、纵向电控角度位移台(5)、中心位置参考板(6)、截头挟持器(7 )、镀反光膜的透光镜(8 )、高精度激光位移传感器(9 )、显微镜移动台(10 )、显微镜头(11)、侧光灯(12)、纵向电动滑台(13)和横向电动滑台(13)，其中，底座(1)和减震板(2)构成减震台，减震台的上下层为钢板，中间层为减震层，其余部件装置于减震台上;所述的多功能载物台(3)为可平移、旋转和升降结构，中心位置参考板(6)、截头挟持器(7)通过横向电控角度位移台(4)、纵向电控角度位移台(5)固定在多功能载物台(3)上，所述的横向电控角度位移台(4)、纵向电控角度位移台(5)为可在平面±15°内任意方向倾斜角度调节的活动结构，两个电控角度位移台相互垂直重叠安装；显微镜(11)固定在显微镜移动台(10)上，高精度激光位移传感器(9 )安装于纵向电动滑台(13 )，纵向电动滑台(13 )和横向电动滑台(14 )垂直连接，显微镜装置由镀反光膜的透光镜(8 )、显微镜移动台(10 )、显微镜(11)和侧光灯(12)组成，显微镜装置主要通过RS232接口连接计算机，传输图像信号；高精度激光位移传感器(9)直接与计算机连接，传输数据;电动滑台的电机连接控制器。2.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:所述的减震台主要由底座(1)和减震板(2)组成，减震台的上下层为厚重钢板，中间层为孔状减震层。3.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:所述的多功能载物台(3)底部固定于减震台上，在水平方向上可以进行前后左右的快速移动调节，并且可以做360°旋转，在垂直方向上可以升降调节载物台的高度。4.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:电控角度位移台主要由横向电控角度位移台(4)和纵向电控角度位移台(5)重叠并相互垂直安装组成，每台电控角度位移台上装配有42步进电机，电机控制线连接与控制器，电机运动可以使相垂直的两轴在±15°内旋转调节角度，实现电控角度位移台上的一个平面在±15°内任意方向倾斜角度调节。5.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:所述的显微镜装置由镀反光膜的透光镜(8)、显微镜移动台(10)、显微镜(11)和侧光灯(12)组成，镀反光膜的透光镜(8)置于被测截面和高精度激光位移传感器(9)之间，镜筒后端的电子目镜摄像头带有RS232接口，用USB转RS232线连接计算机的USB接口，进行数据传输;其中显微镜(11)由镜筒和电子目镜摄像头组成，显微镜移动台(10)上装载调节镜头与截面镜像的距离来调节焦距的显微镜(11)。6.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:所述的侧光灯(12)上设有光亮度调节旋钮。7.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:所述的显微镜移动台(10)设有装步进电机和旋钮，通过旋钮控制步进电机，电动控制调节显微镜移动台(10)的移动，从而调节显微镜的焦距。8.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:所述的显微镜头(11)由手动旋动调节放大倍数，设有加装步进电机和旋钮，通过旋钮控制步进电机，电动控制显微镜头(11)放大倍数的调节。9.根据权利要求1所述的一种剪切类线性痕迹激光检测系统，其特征在于:所述的高精度激光位移传感器(9)采用的是CD33-L50-422型号的高精度激光位移传感器，通过专用控制线直接连接计算的USB接口，高精度激光位移传感器(9)安装于纵向电动滑台(13)，两个电动滑台的电机控制线连接于控制器。
【专利摘要】本实用新型涉及一种剪切类线性痕迹激光检测系统。本实用新型的所有仪器部件装置于减震台上，减震台的上下层为较厚重钢板中间层为孔状减震层；多功能载物台的平移、旋转和升降，通过旋钮可调节平移和升降，通过转盘调节旋转角度；两个电控角度位移台相互垂直重叠装置，电机的控制端连接控制器；显微镜装置主要通过RS232接口连接计算机，传输图像信号；高精度激光位移传感器直接与计算机连接，传输数据；精密电动滑台的电机连接控制器。本实用新型提出一种剪切类线性痕迹激光检测系统，采用高精度激光测距技术与巧妙的光学成像相结合，实现对截面痕迹的高精度检测；本实用新型适用于剪切类线性痕迹激光检测系统。
【IPC分类】G01N21/84
【公开号】CN205139024
【申请号】CN201520930508
【发明人】潘楠, 刘益, 宋卫国, 沙生, 张斌
【申请人】云南卡索实业有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2015年11月20日