技术特征：
技术总结
集成电路装置、物理量测量装置、电子设备和移动体。能够抑制由于信号线的寄生电阻、寄生电容而引起的时间数字转换的性能下降。集成电路装置包含：端子区域，其配置有输入第2信号的第2信号端子；AFE电路(模拟前端电路)，其进行第2信号的波形整形；以及时间数字转换电路，其将第1信号的转变时刻与波形整形后的第2信号的转变时刻的时间差转换为数字值。在设从集成电路装置的第1边朝向与第1边相对的第2边的方向为第1方向时，AFE电路配置于端子区域的第1方向侧，时间数字转换电路配置于AFE电路的第1方向侧、以及与第1方向交叉的方向侧中的至少一侧。
技术研发人员：小松史和;堤昭夫
受保护的技术使用者：精工爱普生株式会社
技术研发日：2018.07.24
技术公布日：2019.02.01