一种低压电器的老化测试控制器的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种以单片机为CPU核心的老化控制器，尤其涉及一种低压电器产品加载老化控制器。
【背景技术】
[0002]老化试验主要是指针对橡胶、塑料产品、电器绝缘材料及其他材料进行的热氧老化试验；或者针对电子零配件、塑化产品的换气老化试验。
[0003]电子产品，不管是原件、部件、整机、设备都要进行老化和测试。老化和测试不是一个概念。先老化后测试，电子产品(所有的产品都这样)通过生产制造后，形成了完整的产品。已经可以发挥使用价值了，但使用以后会发现会有这样或那样的毛病，又发现这些毛病绝大多数就发生在刚开始的几小时和几十个小时之内，后来干脆就规定电子产品的老化和测试，仿照或者等效产品的使用状况，这个过程由产品的制造者来完成，通过老化测试把有问题的产品在留在工厂，没有问题的产品给用户，以保证卖给用户的产品是可靠的或者是问题少的，这就是老化测试的意义。分为元器件老化和整机老化，尤其是新产品。在考核新的元器件和整机的性能，老化指标更高。
[0004]所谓低压电气产品老化，就是在一定环境的前提条件下，让低压电气产品连续工作若干个小时，然后再检测产品的性能是否仍符合要求。通过老化可以发现产品在制造过程中存在的潜在缺陷，把故障消灭在出厂之前。
[0005]当前低压电气产品老化，主要依靠的是PLC或时间继电器构成的系统驱动接触器，实现老化电源的控制驱动与分断，使用时间继电器控制精度受到限制，且触点寿命受到时间继电器触点寿命影响，长时间工作不可靠。使用PLC来控制老化过程，由于无针对低压电器老化的专门PLC，故成本较高。
[0006]当前针对LED的老化控制新技术较多，例如ZL201210428801.9提出一种利用温度控制模式对所述被测试模块进行温度控制的老化方法，专门针对单颗LED的老化温度进行控制，其缺点在于温度控制并非所有低压老化试验所必须的参数，加大了成本，且其老化电路电流载荷设计过小，因此不利于推广至低压电器的通用老化试验。又例如ZL201310252849.3，提供了一种LED的产品老化控制器，并提供了一种LED的产品老化控制方法:通过CPU总控模块控制冲击执行模块交替进行稳定老化、冲击老化，以加速产品的老化速度，缩短产品的老化时间。其缺点在于要求包含冲击执行模块，限制了客户对负载不同条件的灵活使用，同时要求CPU总控模块的输出端与冲击执行模块连接，同时与冲击控制器模块连接并双向控制，结构复杂。并且该设计利用电源控制模块控制CPU总控模块的工作时间，结构不合理且控制精度低。
【发明内容】
[0007]本实用新型目的在于提供了一种结构合理，控制精度高，功能齐全，并且成本较低的低压电器的老化测试控制器
[0008]如图1中虚线框内所示，本实用新型低压电器的老化测试控制器，其结构包括5部分:
[0009]1.CPU控制器模块
[0010]2.控制显示模块
[0011]3.电源模块
[0012]4.老化参数设置模块
[0013]5.老化驱动通道模块
[0014]所述的电源模块分别与CPU控制模块、控制显示模块、老化参数设置模块、老化驱动模块连接，提供工作电源；老化参数设置模块的输出端与CPU控制模块连接，用于设置老化参数.’CPU控制模块与控制显示模块连接，用于推送参数显示；并且CPU控制模块输出端与老化驱动模块连接，用于控制输出多个通道的驱动信号。
[0015]所述CPU控制模块为一单片机微处理器，承担老化测试的老化模式控制、老化输出驱动控制、老化计时、老化计次、显示驱动的全部控制任务。
[0016]所述老化驱动模块的输出端为固态继电器输出，可以输出驱动信号至接触器及其他类型的老化执行模块等，根据CPU控制模块的驱动指令执行低压电器产品的直通稳定驱动老化、脉冲驱动老化或交替脉冲驱动老化程序。其设计结构可以为有触点或无触点结构，例如图2中的原理图即为一例无触点应用设计结构。
[0017]本实用新型的低压电器产品加载老化控制器，以单片机为CPU核心，通过CPU控制模块控制低压电器的老化测试开始至结束的全过程，按参数设置执行稳定老化、脉冲老化或交替老化，以加速低压电器产品的老化速度；可灵活搭配多种接触器或老化执行模块，现场允许客户自定义老化模式，提供多种带载老化试验。本实用新型结构合理、控制精度高，而且成本低。
【附图说明】
[0018]图1为本实用新型低压电器的老化测试控制器结构流程图；
[0019]图2为本实用新型实施例的电路图；
[0020]图3为本实用新型实施例的产品功能面板。
【具体实施方式】
[0021]本实用新型设计的实施方式如图1，虚线中部分为本设计的内部结构示例，包括CPU控制器模块、控制显示模块、电源模块、老化参数设置模块、老化驱动通道模块5部分；5个部分的信号驱动关系及其方向如图1所示。本设计的外部连接包括设计的工作电源输入及驱动输出，其中驱动输出信号用于连接一个或多个执行老化的接触器或继电器等用以控制供电主电路到老化试验产品的电路通断。
[0022]本设计的老化驱动通道模块可以为有触点或无触点结构，例如图2中的原理图即为一例无触点应用设计结构。
[0023]参看图3，本公司LAD-1型低压电器老化测试产品中的功能面板。按参数设置执行稳定老化、脉冲老化或交替老化，以加速低压电器产品的老化速度；可灵活搭配多种接触器或老化执行模块，并允许客户自定义老化模式，
[0024]本实用新型可应用在LED，24V电源，UPS，灯具，传感器，计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等等。
【主权项】
1.一种低压电器的老化测试控制器，其特征在于:其结构包括CPU控制器模块、控制显示模块、电源模块、老化参数设置模块和老化驱动通道模块；所述电源模块与所述CPU控制模块，控制显示模块，老化参数设置模块，老化驱动模块连接，提供工作电源；所述老化参数设置模块的输出端与所述CPU控制模块连接，用于设置老化参数；所述CPU控制模块与所述控制显示模块连接，用于推送参数显示；所述CPU控制模块与所述老化驱动模块连接，用于控制输出多个通道的驱动信号。
2.根据权利要求1所述的一种低压电器的老化测试控制器，其特征在于:所述老化驱动模块，包含一个及一个以上的驱动信号输出通道，与客户提供的老化执行模块或接触器相连接。
【专利摘要】本实用新型提供了一种低压电器的老化测试控制器，其结构包括：CPU控制器模块、控制显示模块、电源模块、老化参数设置模块和老化驱动通道模块。本实用新型的低压电器的老化测试控制器可通过CPU控制模块控制低压电器的老化测试开始至结束的全过程，按参数设置执行稳定老化、脉冲老化或交替老化，以加速低压电器产品的老化速度。
【IPC分类】G05B23-02
【公开号】CN204374762
【申请号】CN201420750355
【发明人】李华嵩, 李悦荣
【申请人】江门市新会区炎泰电子有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2014年12月2日