专利名称：定位主板问题元件的测试系统及方法
技术领域：
本发明是关于一种主板问题元件的测试系统及方法，特别是关于一种定位主板问题元件的测试系统及方法。
背景技术：
主板是个人计算机中的主要组成部件之一，它提供了指挥数据传输的南桥北桥芯片组，总线与外围装置数据接口等等。因此，主板的可靠性与操作系统、个人计算机等其它装置的兼容性成为主板产品质量的重要决定因素。在进行主板问题元件测试时，一般会将主板安装于一待测计算机中，通过待测计算机执行相关的测试程序取得测试结果，以此作为主板是否合乎性能要求的依据。然而，由于主板的开发成本比较高，测试有问题元件的主板必须经过维修后继续使用。
传统上，对主板测试所取得的测试结果，不能帮助维修人员定位主板的具体问题。目前，测试计算机主板的方法，是基于各个独立的设备进行测试，只能判断出待测主板有问题，但不能具体定位问题元件，不利于维修人员快速的进行维修，导致主板的制造商花费过大的成本在主板的维修上。因此，如何定位主板问题元件的测试系统及方法成为业内亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明乃为解决上述问题而提供一种定位主板问题元件的测试系统及方法，可基本定位主板问题元件，以便快速维修主板问题元件，提高主板再利用率，节省大量人力、物力和时间。
所以为达上述目的，本发明提供一种定位主板问题元件的测试系统，用于定位主板问题元件，该系统包括一待测主板；一测试控制主机(Master)，其用以配置和控制待测主板的测试内容与设定主板程序的测试顺序；一中央处理器仿真器(CPU Emulator)，其用以连接待测主板与测试控制主机，控制待测主板的工作状态；一记录器，其与测试控制主机相连，用以记录待测主板的问题元件；一辅助装置，其用以固定待测主板。
其中，该测试顺序的设定采用深度优先策略；该测试顺序包含主线一、主线二与主线三三条主线，主线一的存在性取决于待测主板元件，且同一主在线主板元件的测试顺序是可调的；该系统还包括一显示终端，用以显示该待测主板的该问题元件；该三条主线的测试顺序是任意可调整的。
本发明进而提供一种定位主板问题元件的测试方法，将待测主板通过中央处理器仿真器同测试控制主机相连，测试控制主机根据待测主板的系统架构，设定主板程序的测试顺序，根据测试顺序运行主板程序，并得出测试结果，最后根据测试结果在记录器中记录并定位待测主板的问题元件。
其中，该测试顺序的设定采用深度优先策略；该测试顺序包含主线一、主线二与主线三三条主线，主线一的存在性取决于待测主板元件，且同一主在线主板元件的测试顺序是可调的；还包括一显示终端，用以显示该待测主板的该问题元件；该三条主线的测试顺序是任意可调整的。
在上述方法中测试控制主机还用以配置和控制待测主板的测试内容；中央处理器仿真器还用以控制待测主板的工作状态。
利用本发明，可基本定位主板问题元件，以便快速维修主板问题元件，提高主板再利用率，节省大量人力、物力和时间。有关本发明的详细内容及技术，现就配合
如下
图1为本发明所提出的定位主板问题元件测试系统的总体架构图；图2为本发明所提出的定位主板问题元件测试方法的总体流程图；图3A～图3B为本发明所提出的定位主板问题元件的主线一测试流程图；图4为本发明所提出的定位主板问题元件的主线二测试流程图；图5A～图5C为本发明所提出的定位主板问题元件的主线三测试流程图。
其中，附图标记说明如下100 待测主板
101 测试控制主机102 中央处理器仿真器103 记录器104 辅助装置步骤200 选择一待测试有问题元件主板；步骤201 将待测试主板通过中央处理器仿真器与测试控制主机相连；步骤202 测试控制主机根据待测试主板的系统架构，设定主板程序的测试顺序；步骤203 根据测试顺序运行主板程序，得出测试结果；步骤204 根据测试结果，在记录器中记录并定位待测主板的问题元件；步骤300 选择一待测试主板，并选取主线一测试顺序进行主板元件测试；步骤301 判断主中央处理器和副中央处理器能否通过测试；步骤302 判断北桥能否通过测试；步骤303 判断CIOBX2芯片能否通过测试；步骤304 判断PCI插槽能否通过测试；步骤305 判断网卡能否通过测试；步骤306 判断网卡EEPROM和标准网络接口能否通过测试；步骤307 得出测试结果，记录并定位主板问题元件；步骤400 选择一待测试主板，并选取主线二测试顺序进行主板元件测试；步骤401 判断主中央处理器和副中央处理器能否通过测试；步骤402 判断北桥能否通过测试；步骤403 判断DIMM插槽能否通过测试；步骤404 得出测试结果，记录并定位主板问题元件；步骤500 选择一待测试主板，并选取主线三测试顺序进行主板元件测试；步骤501 判断主中央处理器和副中央处理器能否通过测试；步骤502 判断北桥能否通过测试；
步骤504 判断SCSI芯片能否通过测试；步骤505 判断元件SCSI芯片的EEPROM、ROM、SDRAM和硬盘能否通过测试；步骤506 判断视频图形数组芯片能否通过测试；步骤507 判断阴极射线管和同步动态随机内存能否通过测试；步骤508 判断IDE、USB和BIOS ROM能否通过测试；步骤509 判断超级输入输出端口能否通过测试；步骤510 判断键盘、鼠标、软盘和串行通讯端口能否通过测试；步骤511 判断元件DIMM插槽能否通过测试；步骤512 得出测试结果，记录并定位主板问题元件。
具体实施例方式
图1为本发明所提出的定位主板问题元件测试系统的总体架构图，其用以定位主板问题元件，系统包括一待测主板100；一测试控制主机101，其用以配置和控制待测主板100的测试内容与设定主板程序的测试顺序；一中央处理器仿真器102，其用以连接待测主板100与测试控制主机101，控制待测主板100的工作状态；一记录器103，其与测试控制主机101相连，用以记录待测主板100的问题元件；一辅助装置104，其用以固定待测主板100。
本发明为一种定位主板问题元件的测试方法，首先由图2中说明本发明的测试方法，该图是本发明所提出的定位主板问题元件测试方法的总体流程图，说明如下首先选择一待测试有问题元件主板(步骤200)；将待测试主板通过中央处理器与测试控制主机相连(步骤201)；测试控制主机根据待测试主板的系统架构，设定主板程序的测试顺序(步骤202)；并根据测试顺序运行主板程序，得出测试结果(步骤203)；最后根据测试结果，在记录器中记录并定位待测主板的问题元件(步骤204)。
该方法测试并定位主板问题元件分三条主线进行，分别说明如下采用主线一测试主板问题元件的测试顺序为，首先测试元件一主中央处理器(主CPU)和一副中央处理器(副CPU)，主CPU和副CPU控制测试元件理器(主CPU)和一副中央处理器(副CPU)，主CPU和副CPU控制测试元件北桥(North Bridge)，接着北桥控制测试元件CIOBX2芯片(CIOBX2 Chip)，CIOBX2芯片控制测试元件PCI插槽(PCI Slot)，PCI插槽控制测试元件网卡(NetCard)，网卡控制测试元件网卡电可擦除只读存储器(EEPROM of NetCard或网卡EEPROM)。
采用主线二测试主板问题元件的测试顺序为，首先测试主CPU和副CPU，主CPU和副CPU控制测试元件北桥，然后北桥控制测试元件双列直插式存储模块插槽(DIMM插槽)。
采用主线三测试主板问题元件的测试顺序为，首先测试主CPU和副CPU，主CPU和副CPU控制测试元件北桥，北桥控制测试元件南桥(SouthBridge)，南桥控制测试元件小型计算机系统接口芯片(SCSI Chip或SCSI芯片)，SCSI芯片控制测试元件小型计算机系统接口芯片电可擦除只读存储器(EEPROM of SCSI Chip)，EEPROM of SCSI Chip控制测试元件视频图形数组芯片(VGA Chip)，视频图形数组芯片控制测试元件阴极射线管(CRT)，阴极射线管控制测试元件集成电路设备(IDE)，集成电路设备控制测试元件超级输入输出端口(Super IO)，超级输入输出端口控制测试元件键盘(Keyboard)，键盘控制测试元件DIMM插槽。
测试并定位主板问题元件是否按照主线一的测试顺序进行，取决于待测主板上的测试元件。当待测主板上不存在测试元件CIOBX2芯片或与之具有类似功能的元件时，测试顺序主线一不存在，该测试方法只包括主线二和主线三两种元件测试顺序。
同一主线的测试元件在同一层次的测试顺序是可调的，该种测试采用了深度优先策略。
下面以一较佳实施例来说明本发明实现定位主板问题元件的测试方法，请参阅图3A～图3B，为测试主板的主线一测试流程图，说明如下首先选择一待测试主板，并选取主线一测试顺序进行主板元件测试(步骤300)；判断主CPU能否通过测试，若不能通过，则说明元件ITP连接器(ITP Connector)C0到主CPU的线路连接，或者主CPU有问题。同时判断副CPU能否通过测试，若不能通过，则说明主CPU到副CPU的线路连接，或者副CPU有问题(步骤301)；判断元件北桥能否通过测试，若不能通过，则说明主CPU(副CPU)到元件北桥的线路连接，或者元件北桥有问题(步骤302)；判断元件CIOBX2芯片能否通过测试，若不能通过，则说明北桥元件到CIOBX2芯片的线路连接，或者CIOBX2芯片有问题(步骤203)；判断元件PCI插槽能否通过测试，若不能通过，则说明CIOBX2芯片到PCI插槽的线路连接，或者PCI插槽有问题(步骤304)；判断网卡能否通过测试，若不能通过，则说明CIOBX2芯片到网卡的线路连接，或者网卡有问题(步骤305)；判断网卡EEPROM能否通过测试，若不能通过，则说明网卡到网卡EEPROM的线路连接，或者网卡EEPROM有问题，同时判断元件标准网络接口(RJ45)能否通过测试，若不能通过，则说明网卡到标准网络接口的线路连接，或者标准网络接口有问题(步骤306)；得出测试结果，记录并定位主板问题元件(步骤307)。根据深度优先策略，以上测试步骤304，305，306可调整顺序为步骤305，306，304。
请参阅图4，为本发明定位主板问题元件的主线二测试流程图，说明如下首先选择一待测试主板，并选取主线二测试顺序进行主板元件测试(步骤400)；判断主CPU能否通过测试，若不能通过，则说明元件ITP连接器C0到主CPU的线路连接，或者主CPU有问题。同时判断副CPU能否通过测试，若不能通过，则说明主CPU到副CPU的线路连接，或者副CPU有问题(步骤401)；判断北桥元件能否通过测试，若不能通过，则说明主CPU(或副CPU)到北桥元件的线路连接，或者北桥元件有问题(步骤402)；判断DIMM插槽能否通过测试，若不能通过，则说明北桥元件到DIMM插槽的线路连接，或者DIMM插槽有问题(步骤403)；根据主线二测试流程图测试结果，定位并记录主板有问题的元件(步骤404)。
请参阅图5A～图5C，为本发明定位主板问题元件的主线二测试流程图，说明如下首先选择一待测试主板，并选取主线三测试顺序进行主板元件测试(步骤500)；判断主CPU能否通过测试，若不能通过，则说明元件ITP连接器到主CPU的线路连接，或者主CPU有问题。同时判断副CPU能否通过测试，若不能通过，则说明主CPU到副CPU的线路连接，或者副CPU有问题(步骤501)；判断北桥元件能否通过测试，若不能通过，则说明主CPU(或副CPU)到北桥元件的线路连接，或者北桥元件有问题(步骤502)；判断南桥元件能否通过测试，若不能通过，则说明北桥元件到南桥元件的线路连接，或者南桥元件有问题(步骤503)；判断SCSI芯片能否通过测试，若不能通过，则说明南桥元件到SCSI芯片的线路连接，或者SCSI芯片有问题(步骤504)；判断SCSI芯片的EEPROM能否通过测试，若不能通过，则说明SCSI芯片到SCSI芯片的EEPROM的线路连接，或者SCSI芯片的EEPROM有问题，同时判断SCSI芯片的ROM能否通过测试，若不能通过，则说明SCSI芯片到SCSI芯片的ROM的线路连接，或者SCSI芯片的ROM有问题，同时判断元件SCSI芯片的SDRAM能否通过测试，若不能通过，则说明SCSI芯片到元件SCSI芯片的SDRAM的线路连接，或者元件SCSI芯片的SDRAM有问题，同时判断SCSI芯片的硬盘能否通过测试，若不能通过，则说明SCSI芯片到SCSI芯片的硬盘的线路连接，或这SCSI芯片的硬盘有问题(步骤505)；判断元件视频图形数组芯片能否通过测试，若不能通过，则说明SCSI芯片的EEPROM(SCSI芯片的ROM、SCSI芯片的SDRAM或SCSI HDD)到元件视频图形数组芯片的线路连接，或者视频图形数组芯片有问题(步骤506)；判断阴极射线管能否通过测试，若不能通过，则说明视频图形数组到阴极射线管的线路连接，或者阴极射线管有问题，同时判断同步动态随机内存能否通过测试，若不能通过，则说明视频图形数组到同步动态随机内存的线路连接，或者同步动态随机内存有问题(步骤507)；判断试IDE元件能否通过测试，若不能通过，则说明阴极射线管(或同步动态随机内存)到IDE元件的线路连接，或者IDE元件有问题，同时判断USB元件能否通过测试，若不能通过，则说明阴极射线管(或同步动态随机内存)到USB的线路连接，或者USB有问题，同时判断BIOS ROM能否通过测试，若不能通过，则说明阴极射线管(或同步动态随机内存)到BIOS ROM的线路连接，或者BIOSROM有问题(步骤508)；判断元件超级输入输出端口能否通过测试，若不能通过，则说明IDE元件(USB或BIOS ROM)到元件超级输入输出端口的线路连接，或者元件超级输入输出端口有问题(步骤509)；判断键盘能否通过测试，若不能通过，则说明超级输入输出端口到键盘的线路连接，或者键盘有问题，同时判断鼠标能否通过测试，若不能通过，则说明超级输入输出端口到鼠标的线路连接，或者鼠标有问题，同时判断软盘能否通过测试，若不能通过，则说明超级输入输出端口到软盘的线路连接，或者软盘有问题，同时判断串行通讯端口能否通过测试，若不能通过，则说明超级输入输出端口到串行通讯端口的线路连接，或者串行通讯端口有问题(步骤510)；判断DIMM插槽C13能否通过测试，若不能通过，则说明键盘(鼠标、软盘或串行通讯端口)到DIMM插槽的线路连接，或者DIMM插槽有问题(步骤511)；根据主线三测试流程图测试结果，定位并记录主板有问题的元件(步骤512)。
虽然本发明以前述的较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，故本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求书所界定的保护范围为准。
权利要求
1.一种定位主板问题元件的测试系统，该系统包括一待测主板，其上包含有问题元件；一测试控制主机，其用以配置和控制该待测主板的测试内容，并设定主板程序的测试顺序；一中央处理器仿真器，其用以连接该待测主板与该测试控制主机，控制该待测主板的工作状态；一记录器，其与该测试控制主机相连，用以记录并定位该待测主板的问题元件；及一辅助装置，其用以固定该待测主板。
2.如权利要求1所述的定位主板问题元件的测试系统，其中该测试顺序的设定采用深度优先策略。
3.如权利要求1所述的定位主板问题元件的测试系统，其中该测试顺序包含主线一、主线二与主线三三条主线，主线一的存在性取决于待测主板元件，且同一主在线主板元件的测试顺序是可调的。
4.如权利要求1所述的定位主板问题元件的测试系统，其中还包括一显示终端，用以显示该待测主板的该问题元件。
5.如权利要求3所述的定位主板问题元件的测试系统，其中该三条主线的测试顺序是任意可调整的。
6.一种定位主板问题元件的测试方法，该方法包括如下步骤首先选择一待测有问题元件的主板；用一辅助装置将待测主板进行固定；将该待测主板通过中央处理器仿真器同测试控制主机相连；该测试控制主机根据该待测主板的系统架构，设定主板程序的测试顺序；根据该测试顺序运行该主板程序，并得出测试结果；及最后根据该测试结果在记录器中记录并定位该待测主板的该问题元件。
7.如权利要求6所述的定位主板问题元件的测试方法，其中该测试顺序的设定采用深度优先策略。
8.如权利要求6所述的定位主板问题元件的测试方法，其中该测试顺序包含主线一、主线二与主线三三条主线，主线一的存在性取决于待测主板元件，且同一主在线主板元件的测试顺序是可调的。
9.如权利要求6所述的定位主板问题元件的测试方法，其中还包括一显示终端，用以显示该待测主板的该问题元件。
10.如权利要求8所述的定位主板问题元件的测试方法，其中该三条主线的测试顺序是任意可调整的。
全文摘要
本发明提供一种定位主板问题元件的测试系统及方法，该系统及方法首先将待测主板通过中央处理器仿真器同测试控制主机相连，并根据待测主板的系统架构，设定主板程序的测试顺序，运行主板程序，得出测试结果，最后根据测试结果在记录器中记录并定位待测主板的问题元件。利用本发明能基本定位导致主板不良的相关元件，可节省大量的人力、物力与时间。
文档编号G06F11/22GK1779651SQ200410092698
公开日2006年5月31日 申请日期2004年11月22日 优先权日2004年11月22日
发明者刘文涵, 宋建福, 王震 申请人:英业达股份有限公司