专利名称：可调式缺陷定级的定量方法
技术领域：
本发明为一种缺陷定级的定量方法，尤指一种可调式测试面板缺陷定级的定量方法。
背景技术：
在显示器制造过中度量与检测扮演重要的角色，现今各级制造厂商欲利用自动检测系统取代或者加强传统凭视觉的检测方法。已有些厂商开发出或者正在开发一种标准(测试方法及评估准则)，主要针对自动检测系统中的亮度不平均性缺陷，称之为平板显示器的“Mura缺陷”检测法。Mura缺陷检测是针对显示器组件，子系统以及各种关于显示器技术的一项重要议题。显示系统组件诸如微型显示器，扩散膜，偏光板，背光模块，玻璃基板以及增亮膜也必须通过检测来确定那些在最终的显示系统中造成Mura异化的缺陷。
根据视讯电子标准协会(VESA)的平板显示器测量标准将Mura缺陷定义为“当显示屏以一个恒定的灰度值显示时，可看到显示器像素区域的不完美。Mura缺陷是以低对比度、亮度不均的区域方式出现，一般比单个像素要大。”同样的，在国际半导体设备和材料协会(SEMI)所定义Mura缺陷是根据亮度不均性。
在现有专利文献中，如美国专利号第5754678“基板检测装置及方法(Substrate inspection apparatus and method)”揭露一种自动化基板检测装置及方法，请参考图1所示为基板检测方法流程图，包括捉取于一影像侦测装置的一基板定位(S100)，限制由于背景调整的强度变动(S102)，比较由四个像素所组成的第一像素内的第一个像素及由四个像素所组成的第二个像素内的第一个像素(S104)，比较由四个像素所组成的第一像素内的第二个像素及由四个像素所组成的第二个像素内的第二个像素(S106)，决定检测基板上的子像素(S108)。
又，如美国专利号第5917935“云纹(Mura)检测装置及方法(Muradetection apparatus and method)”揭露一种自动化检测缺陷的方法及装置，该方法是针对在基板上检测云纹型式及检测装置，其中该基板包括液晶平面显示器、主动矩阵显示器以及其它类似的显示器。请参考图2所示为基板云纹检测方法流程图，是包括取得一基板的原始影像(S200)，从原始影像中产生多个子取样影像(S202)，执行每一影像的缺陷特定过滤(S204)，以每一影像的门限建立每一个点(BLOB)(S206)，藉由每一点分析决定云纹(mura)缺陷(S208)，特征化云纹的缺陷(S210)，选择性后处理去决定线云纹缺陷(S212)。
然而，各厂商在云纹检测上所遭遇的困难(1)难以定性；(2)难以定量；(3)云纹图形出现的重复性低；(4)云纹检测与角度、背景图形有相当大的关系；(5)不同客户要求不同，甚至同一客户不同时间要求不一的问题。
发明内容
为解决上述问题以及现有技术忽略提升现存以人眼检测效率的可能性及优点，本发明提出一种可调式缺陷定级的定量方法以架构在人眼视觉模型的人因基础，并辅以一可调式装置以达到量化云纹的目的。
人眼侦测物体的阀限因物体大小、物体与背景亮度对比及背景亮度有所变化。视觉研究领域上常用视觉恰辨差(Just Noticeable Difference)来定义侦测阀限。
为了达成上述量化云纹目的，本发明提供一种可调式缺陷定级的定量方法，包括取得至少一测试面板的前置作业；检测至少一测试面板的至少一缺陷程度；将所述的缺陷程度经由一调整转换动作以产生至少一辨识(Opticaldensity)数值；转换所述的辨识数值为至少一视觉恰辨差(Just NoticeableDifference)；及汇集所述的视觉恰辨差以制作至少一可调式缺陷定级的定量数值。
图1为现有技术的基板检测方法流程图；图2为现有技术的基板云纹检测方法流程图；图3为本发明的可调式缺陷定级的定量方法流程图；及图4为本发明的可调式缺陷定级的定量数值方法流程图。
具体实施例方式
为了进一步说明本发明为达成既定目的所采取的技术、方法及功效，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，相信本发明的目的、特征与特点，当可由此得一深入且具体的了解，然而所附图式仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
本发明以架构在人眼视觉模型的人因基础，并辅以一可调式装置以达到量化云纹的目的。
请参考图3，为本发明的可调式缺陷定级的定量方法流程图，包括取得至少一测试面板的前置作业(S300)，其中所述的测试面板为液晶面板、阴极射线管电视面板、电浆面板或其它类型的测试面板。检测至少一测试面板的至少一缺陷程度(S302)，将所述的缺陷程度经由一调整转换动作以产生至少一辨识数值(S304)，其中该调整转换动作是由一可调式装置所达成的，该调整转换动作包含调整穿透时间或穿透强度，例如LCD眼镜具有可改变穿透率的特性，所以可作为该可调式装置的一实施例，又该可调式装置亦可为机械式、空间式或时间式，透过该可调式装置可将整个亮度(人眼可见波段的波长)降低，其中所述的辨识数值为光衰减率，其光衰减率的数学式为D＝log1/T，D为光衰减率(Optical Density)，而T为光穿透率。
转换所述的辨识数值为至少一视觉恰辨差(S306)，其所述的视觉恰辨差为辨识模糊不清状态时，依观看者能够看到某一事物与不能看到同事物所换算出的比率，来定义出一切换门阀值(thresholds)，汇集所述的视觉恰辨差以制作至少一可调式缺陷定级的定量数值(S308)。
光衰减率与视觉恰辨差转换的模型可表达如下的公式δ(JND)＝k*Dn上述的公式中的k，n为调变参数，D为光衰减率，其公式的实质意义为利用调变光衰减率可得到视觉恰辨差(JND)改变量，以达到量化缺陷的目标。
请参考图4为本发明的可调式缺陷定级的定量数值方法流程图，包括取得至少一测试面板的前置作业(S400)，其中所述的测试面板为液晶面板、阴极射线管电视面板、电浆面板或其它类型的测试面板。检测至少一测试面板的至少一缺陷程度(S402)，将所述的缺陷程度经由一调整转换动作以产生至少一辨识数值(S404)，其中该调整转换动作是由一可调式装置所达成的，该调整转换动作包含调整穿透时间或穿透强度，例如LCD眼镜具有可改变穿透率的特性，所以可作为该可调式装置的一实施例，又该可调式装置亦可为机械式、空间式或时间式，透过该可调式装置可将整个亮度(人眼可见波段的波长)降低，其中所述的辨识数值为光衰减率。降低该调整转换动作的一穿透强度(S406)，藉由该穿透强度而获得至少一可调式缺陷定级的定量数值(S408)。
本发明可解决现有技术的缺点，并且将本发明与现有技术作比较如下1.可利用本发明将辨识数值与视觉恰辨差进行量化连结；2.可利用本发明将辨识数值与面板等级间关系进行客观量化，而不会随时间、客户而移转；3.本发明已将不同亮度背景考量进来；4.在判断云纹(mura)有无明显边界时，本发明可将两类型的云纹同时进行判定；5.对于云纹大小并无限制；6.本发明在判别云纹的时间较现有技术快。
本发明确能藉上述所揭露的技术，提供一种迥然不同于现有的设计，堪能提高整体的使用价值。
上述所揭露的图式、说明，仅为本发明的实施例而已，凡精于此项技艺者当可依据上述的说明作其它种种的改良，而这些改变仍属于本发明的发明精神及以下界定的专利范围中。
权利要求
1.一种可调式缺陷定级的定量方法，包括检测至少一测试面板的至少一缺陷程度；将所述的缺陷程度经由一调整转换动作以产生至少一辨识数值；转换所述的辨识数值为至少一视觉恰辨差；及汇集所述的视觉恰辨差以制作至少一可调式缺陷定级的定量数值。
2.根据权利要求1所述的可调式缺陷定级的定量方法，其中该检测至少一测试面板的步骤前，进一步包含取得至少一测试面板的前置作业。
3.根据权利要求1所述的可调式缺陷定级的定量方法，其中所述的测试面板为液晶面板或其它显示器。
4.根据权利要求1所述的可调式缺陷定级的定量方法，其中该调整转换动作是由一可调式装置所达成的。
5.根据权利要求1所述的可调式缺陷定级的定量方法，其中该调整转换动作包含调整穿透时间或穿透强度。
6.一种可调式缺陷定级的定量数值方法，包括检测至少一测试面板的至少一缺陷程度；将所述的缺陷程度经由一调整转换动作以产生至少一辨识数值；降低该调整转换动作的一穿透强度；及藉由该穿透强度而获得至少一可调式缺陷定级的定量数值。
7.根据权利要求6所述的可调式缺陷定级的定量数值方法，其中该检测至少一测试面板的步骤前，进一步包含取得至少一测试面板的前置作业。
8.根据权利要求6所述的可调式缺陷定级的定量数值方法，其中所述的测试面板为液晶面板或其它显示器。
9.根据权利要求6所述的可调式缺陷定级的定量数值方法，其中该调整转换动作是由一可调式装置所达成的。
全文摘要
本发明为一种可调式缺陷定级的定量方法，用以解决在云纹检测上所遭遇的困难，以及现有忽略提升现存以人眼检测效率的可能性及优点，本发明提出一种可调式缺陷定级的定量方法以架构在人眼视觉模型的人因基础，并辅以一可调式装置以达到量化云纹的目的。
文档编号G06F17/10GK1900700SQ20051008509
公开日2007年1月24日 申请日期2005年7月20日 优先权日2005年7月20日
发明者温照华, 范纲政, 黄国忠, 郭升宗, 黄光永 申请人:台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会, 中华映管股份有限公司, 友达光电股份有限公司, 广辉电子股份有限公司, 瀚宇彩晶股份有限公司, 奇美电子股份有限公司, 财团法人工业技术研究院, 统宝光电股份有限公司