专利名称：：专利分析方法及系统的制作方法
技术领域：
：本发明涉及专利信息处理的相关
技术领域：
，尤其涉及一种专利分析方法及系统。
背景技术：
：通常在中国知识产权网(www.cnipr.com)中对应的CNIPR中外专利数据库平台进行专利检索后，可对检索到的相关专利在中外专利信息分析系统中作简单的分析，由此可获取相应的图表分析，供广大需求者进行相关产业或公司专利的分析了解。但是，该系统仅能就使用者每次检索到的所有专利进行相关分析，而不能使使用者对检索到的部分专利，例如经使用者根据专利的重要性、或者产品类别等进行筛选后，再进行分析；或者是使使用者对经过不同关键词的检索后，对所有检索结果进行相关分析，如此不方便使用者的使用。因此，有必要提供一种专利分析方法及系统以克服所述问题。
发明内容本发明的目的在于提供一种专利分析方法。本发明的另一目的在于提供一种专利分析系统，所述系统应用在所述专利分析方法。相应地，一种专利分析方法，包括:S10,设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20,设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由SlO及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自SlO及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。作为本发明的进一步改进，所述SlO步骤中的纵轴属性为用户存储要进行分析的专利的存储地址。作为本发明的进一步改进，所述S20步骤中的横轴属性为用户要进行分析的专利项目，该项目为专利著录项目中的专利信息项目。作为本发明的进一步改进，所述S30步骤的统计数量与对应的专利信息之间相互关联，以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。作为本发明的进一步改进，所述方法还包括:在根据S30步骤的统计数量查阅对应的专利信息后，将该统计数量对应的专利复制或移动至具有SlO及S20属性的专利信息存储地址中以对专利进行分类。作为本发明的进一步改进，一种专利分析系统，包括:纵轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利息;横轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；统计分析模块，用于绘制由纵轴及横轴属性设置模块设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自纵轴及横轴属性设置模块查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。作为本发明的进一步改进，所述纵轴属性设置模块设置的纵轴属性为用户存储要进行分析的专利的存储地址。作为本发明的进一步改进，所述横轴属性设置模块设置的横轴属性为用户要进行分析的专利项目，该项目为专利著录项目中的专利信息项目。作为本发明的进一步改进，所述统计分析模块中的统计数量与对应的专利信息之间相互关联，以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。作为本发明的进一步改进，在根据统计分析模块中的统计数量查阅对应的专利信息后，将该统计数量对应的专利复制或移动至具有横轴及纵轴属性的专利信息存储地址中以对专利进行分类。本发明的有益效果是:当用户按照不同的关键词进行专利检索并进行基本信息的下载后，本发明专利分析方法及系统可通过设定进行专利分析的纵轴属性和横轴属性以查找要进行分析的专利信息，进而对用户想要进行分析的部分或全部专利进行相关统计分析，而不受相关网站进行专利分析的限制，方便用户的使用。图1是本发明专利分析方法一具体实施方式的流程图2是本发明一具体实施方式中专利分析选项的示意图3是图1中SlO至S30步骤的执行示意图4是图1中S30步骤进行统计分析后的统计数量对应的专利信息显示示意图5是本发明专利分析系统的模块图。具体实施例方式以下将结合附图所示的各实施方式对本发明进行详细描述。但这些实施方式并不限制本发明，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本发明的保护范围内。请参阅图1所示为本发明专利分析方法的一具体实施方式。所述专利分析方法包括以下步骤:S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；请结合图2及图3所示，当用户将专利信息下载并存储到不同的存储地址，本发明称该存储地址为存储节点或图2专利分析选项下拉栏中的技术树或产品树，该技术树或产品树为存储节点中包含有按照技术或产品进行分类的子节点，该存储节点与子节点即构成技术树或产品树；用户希望对某一节点中的专利信息进行统计分析时，则结合图3中第一选择项目所示，该纵轴属性即设置为用户要进行统计分析的专利的存储节点，从而该SlO步骤仅会根据该存储节点查找其中的专利信息；S20,设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；结合图2，该横轴属性设置为用户要进行分析的专利项目，该项目与专利著录项目相对应；该横轴属性可为专利著录项目中的一项或两项，例如图3中所示的横轴属性项目同时包括申请人及申请年度，即查找专利的申请人信息及申请年度信息；该申请人分析可默认选择所选存储节点中专利申请量在前5名或前10名申请人、或用户手动选择该存储节点中的某些专利申请人进行分析；同时该申请年度也可由用户进行手动选择想要分析的年度区间；S30，绘制由SlO及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自SlO及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。结合图3所示，该表格也可导出到Excel中。所述S30步骤的统计表格中不同表格中的数量与对应的专利信息之间相互关联，结合图3及图4所示，本发明中该种关联主要设置为当点击表格中的相关数量时，即可显示如图4中与该数量相对应的专利信息以供用户查阅，即以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。此外，所述方法还包括:结合图4所示，在根据S30步骤的统计数量查阅对应的专利信息时，也可根据用户需求将其中的部分或全部专利信息复制或移动到用户自定义的具有SlO及S20属性的专利信息存储地址中以对SlO步骤选择的节点中的所有专利进行分类。请参阅图5所示为本发明专利分析系统的一具体实施方式，主要应用在所述专利分析方法，所述系统包括:纵轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；请结合图2及图3所示，当用户将专利信息下载并存储到不同的存储地址，本发明称该存储地址为存储节点或图2专利分析选项下拉栏中的技术树或产品树，该技术树或产品树为存储节点中包含有按照技术或产品进行分类的子节点，该存储节点与子节点即构成技术树或产品树；用户希望对某一节点中的专利信息进行统计分析时，则结合图3中第一选择项目所示，该纵轴属性即设置为用户要进行统计分析的专利的存储节点，从而该纵轴属性设置模块仅会根据该存储节点查找其中的专利信息；横轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；结合图2，该横轴属性设置为用户要进行分析的专利项目，该项目与专利著录项目相对应；该横轴属性可为专利著录项目中的一项或两项，例如图3中所示的横轴属性项目同时包括申请人及申请年度，即查找专利的申请人信息及申请年度信息；该申请人分析可默认选择所选存储节点中专利申请量在前5名或前10名申请人、或用户手动选择该存储节点中的某些专利申请人进行分析；同时该申请年度也可由用户进行手动选择想要分析的年度区间；统计分析模块，用于绘制由纵轴及横轴属性设置模块设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自纵轴及横轴属性设置模块查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。结合图3所示，该表格也可导出到Excel中。所述统计分析模块的统计表格中不同表格中的数量与对应的专利信息之间相互关联，结合图3及图4所示，本发明中该种关联主要设置为当点击表格中的相关数量时，即可显示如图4中与该数量相对应的专利信息以供用户查阅，即以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。此外，所述方法还包括:结合图4所示，在根据统计分析模块的统计数量查阅对应的专利信息时，也可根据用户需求将其中的部分或全部专利信息复制或移动到用户自定义的具有所述纵轴及横轴属性的专利信息存储地址中以对纵轴设置模块选择的节点中的所有专利进行分类。综上所述，当用户按照不同的关键词进行专利检索并进行基本信息的下载后，本发明专利分析方法及系统可通过设定进行专利分析的纵轴属性和横轴属性以查找要进行分析的专利信息，进而对用户想要进行分析的部分或全部专利进行相关统计分析，而不受相关网站进行专利分析的限制，方便用户的使用。本发明中的专利二字包括专利公告及专利申请，仅是为简单描述而统称为专利。为了描述的方便，描述以上系统时以功能分为各种模块分别描述。当然，在实施本申请时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如R0M/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施方式或者实施方式的某些部分所述的方法。以上所描述的系统实施方式仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施方式方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。本申请可用于众多通用或专用的计算系统环境或配置，或通信设备中。例如:个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器系统、基于微处理器的系统、置顶盒、可编程的消费电子设备、网络PC、小型计算机、大型计算机、包括以上任何系统或设备的分布式计算环境等等。本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述，例如程序模块。一般地，程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请，在这些分布式计算环境中，由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中，程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施方式中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本发明的可行性实施方式的具体说明，它们并非用以限制本发明的保护范围，凡未脱离本发明技艺精神所作的等效实施方式或变更均应包含在本发明的保护范围之内。权利要求1.一种专利分析方法，其特征在于，所述方法包括:SlO,设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20,设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由SlO及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自SlO及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。2.根据权利要求1所述的专利分析方法，其特征在于，所述SlO步骤中的纵轴属性为用户存储要进行分析的专利的存储地址。3.根据权利要求1所述的专利分析方法，其特征在于，所述S20步骤中的横轴属性为用户要进行分析的专利项目，该项目为专利著录项目中的专利信息项目。4.根据权利要求1所述的专利分析方法，其特征在于，所述S30步骤的统计数量与对应的专利信息之间相互关联，以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。5.根据权利要求4所述的专利分析方法，其特征在于，所述方法还包括:在根据S30步骤的统计数量查阅对应的专利信息后，将该统计数量对应的专利复制或移动至具有SlO及S20属性的专利信息存储地址中以对专利进行分类。6.一种专利分析系统，其特征在于，所述系统包括:纵轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利息;横轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；统计分析模块，用于绘制由纵轴及横轴属性设置模块设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自纵轴及横轴属性设置模块查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。7.根据权利要求6所述的专利分析系统，其特征在于，所述纵轴属性设置模块设置的纵轴属性为用户存储要进行分析的专利的存储地址。8.根据权利要求6所述的专利分析系统，其特征在于，所述横轴属性设置模块设置的横轴属性为用户要进行分析的专利项目，该项目为专利著录项目中的专利信息项目。9.根据权利要求6所述的专利分析系统，其特征在于，所述统计分析模块中的统计数量与对应的专利信息之间相互关联，以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。10.根据权利要求9所述的专利分析系统，其特征在于，所述系统还用于:在根据统计分析模块中的统计数量查阅对应的专利信息后，将该统计数量对应的专利复制或移动至具有横轴及纵轴属性的专利信息存储地址中以对专利进行分类。全文摘要本发明提供一种专利分析方法，包括S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20，设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由S10及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自S10及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中，以方便用户的使用。文档编号G06F17/30GK103177010SQ201110434908公开日2013年6月26日申请日期2011年12月22日优先权日2011年12月22日发明者罗才洋,罗万里申请人:苏州威世博知识产权服务有限公司