环境检测方法和装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种环境检测方法和装置，能够检测对电子设备有影响的环境值。所述环境检测方法应用于电子设备，该电子设备包括一环境检测装置，该环境检测装置包括一第一电容检测板和一设置为接地的环境检测板，环境检测板与第一电容检测板平行设置，所述方法包括：利用第一电容检测板检测第一电容检测板与环境检测板之间的电容，得到第一检测结果；判断第一检测结果是否在预设电容环境对照表中的电容范围内，得到一判断结果，预设电容环境对照表中至少包括不同环境值对应的电容值；当所述判断结果表明第一检测结果在预设电容环境对照表中的电容范围内时，从预设电容环境对照表中，查找与第一检测结果最接近的电容值所对应的环境值，并输出。
【专利说明】环境检测方法和装置
【技术领域】
[0001] 本发明涉及电子【技术领域】，尤其涉及一种环境检测方法和装置。
【背景技术】
[0002] 在现有技术中，具有触摸屏和触摸板电子设备中，其灵敏度往往受制与温度，湿度 等多重原因，在温度较高，且空气湿度较为明显的条件下，其灵敏度与用户会出现偏差。严 重影响了用户体验。
【发明内容】
[0003] 本发明所要解决的技术问题是提供一种环境检测方法和装置，能够检测对电子设 备有影响的环境值。
[0004] 为了解决上述技术问题，本发明提供了一种环境检测方法，应用于电子设备，其特 征在于，所述电子设备包括一环境检测装置，所述环境检测装置包括一第一电容检测板和 一设置为接地的环境检测板，所述环境检测板与所述第一电容检测板平行设置，所述方法 包括：
[0005] 利用所述第一电容检测板检测所述第一电容检测板与环境检测板之间的电容，得 到第一检测结果；
[0006] 判断所述第一检测结果是否在预设电容环境对照表中的电容范围内，得到一判断 结果，所述预设电容环境对照表中至少包括不同环境值对应的电容值；
[0007] 当所述判断结果表明所述第一检测结果在预设电容环境对照表中的电容范围内 时，从所述预设电容环境对照表中，查找与所述第一检测结果最接近的电容值所对应的环 境值，并输出。
[0008] 进一步地，所述电子设备还包括第二电容检测板，所述第二电容检测板用于检测 所述第二电容检测板与其上触摸物之间的电容，所述预设电容环境对照表中还包括不同环 境值对应的电容校正值；
[0009] 所述方法还包括：
[0010] 利用所述第二电容检测板检测得到第二检测结果；
[0011] 从所述预设电容环境对照表中，查找与所述环境值所对应的电容校正值；
[0012] 利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正。
[0013] 进一步地，所述利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正，包括：所述第 二检测结果减去所述电容校正值后的值作为校正后的第二检测结果。
[0014] 进一步地，所述环境检测板为导电网状结构，所述环境值为湿度值。
[0015] 进一步地，所述环境检测板为温度敏感材料，所述环境值为温度值。
[0016] 为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种环境检测装置，应用于电子设备，其 特征在于，所述环境检测装置包括一第一电容检测板、一设置为接地的环境检测板和一检 测芯片，其中所述环境检测板与所述第一电容检测板平行设置，所述检测芯片包括判断单 元和环境值输出单元，其中：
[0017] 所述第一电容检测板，用于检测所述第一电容检测板与环境检测板之间的电容， 得到第一检测结果；
[0018] 所述判断单元，用于判断所述第一检测结果是否在预设电容环境对照表中的电 容范围内，得到一判断结果，所述预设电容环境对照表中至少包括不同环境值对应的电容 值；
[0019] 所述环境值输出单元，用于在所述判断结果表明所述第一检测结果在预设电容环 境对照表中的电容范围内时，从所述预设电容环境对照表中，查找与所述第一检测结果最 接近的电容值所对应的环境值，并输出。
[0020] 进一步地，所述检测芯片还包括校正单元，所述预设电容环境对照表中还包括不 同环境值对应的电容校正值；
[0021] 所述校正单元，用于从所述预设电容环境对照表中，查找所述环境值输出单元输 出的环境值所对应的电容校正值，利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正，所 述第二检测结果是所述电子设备的第二电容检测板检测所述第二电容检测板与其上触摸 物之间的电容得到的检测结果。
[0022] 进一步地，所述校正单元利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正，包 括：所述校正单元用所述第二检测结果减去所述电容校正值后的值作为校正后的第二检测 结果。
[0023] 进一步地，所述环境检测板为导电网状结构，所述环境值为湿度值。
[0024] 进一步地，所述环境检测板为温度敏感材料，所述环境值为温度值。
[0025] 与现有技术相比，利用电容值反映环境值，实现简单。另外通过该方法还可以实现 对电容式触摸屏或触摸板中电容信号的校正，减少外界环境对电容式触摸屏或触摸板的影 响，提高电子设备对环境的适应能力。
[0026] 本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变 得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利 要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
【专利附图】
【附图说明】
[0027] 附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本 申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
[0028] 图1是本发明实施例1环境检测方法流程图；
[0029] 图2是本发明实施例1环境检测装置结构示意图；
[0030] 图3是本发明实施例2环境检测方法流程图；
[0031] 图4是本发明实施例2环境检测装置结构示意图；
[0032] 图5a_5d是本发明实施例3环境检测板为导电网状结构的示意图
[0033] 图6a_6c是本发明实施例4环境检测板为温度敏感材料的示意图。
[0034] 在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中 执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺 序执行所示出或描述的步骤。
【具体实施方式】
[0035] 为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明 的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中 的特征可以相互任意组合。
[0036] 实施例1
[0037] 本实施例描述一种应用于电子设备的环境检测方法，该电子设备包括一环境检测 装置，该环境检测装置包括一第一电容检测板和一设置为接地的环境检测板，所述环境检 测板与所述第一电容检测板平行设置，图1为本实施例环境检测方法流程图，如图所示，包 括以下步骤：
[0038] 步骤101，利用所述第一电容检测板检测所述第一电容检测板与环境检测板之间 的电容，得到第一检测结果；
[0039] 步骤102,判断所述第一检测结果是否在预设电容环境对照表中的电容范围内，得 到一判断结果，所述预设电容环境对照表中至少包括不同环境值对应的电容值；
[0040] 步骤103,当所述判断结果表明所述第一检测结果在预设电容环境对照表中的电 容范围内时，从所述预设电容环境对照表中，查找与所述第一检测结果最接近的电容值所 对应的环境值，并输出。
[0041] 上述预设电容环境对照表中的环境值和电容值可通过仿真获得。例如在实验室环 境下测试不同环境值对应的电容值，电容环境对照表中任一环境值对应的电容值可以是多 次测量得到的平均值或者是一个电容范围。上述步骤102中，判断第一检测结果是否在预 设电容环境对照表中的电容范围内，此处所述预设电容环境对照表中的电容范围是指电容 环境对照表中所有电容值构成的电容范围。预设电容环境对照表的一种不例如表1所不。
[0042] 表 1
[0043]
【权利要求】
1. 一种环境检测方法，应用于电子设备，其特征在于，所述电子设备包括一环境检测装 置，所述环境检测装置包括一第一电容检测板和一设置为接地的环境检测板，所述环境检 测板与所述第一电容检测板平行设置，所述方法包括： 利用所述第一电容检测板检测所述第一电容检测板与环境检测板之间的电容，得到第 一检测结果； 判断所述第一检测结果是否在预设电容环境对照表中的电容范围内，得到一判断结 果，所述预设电容环境对照表中至少包括不同环境值对应的电容值； 当所述判断结果表明所述第一检测结果在预设电容环境对照表中的电容范围内时，从 所述预设电容环境对照表中，查找与所述第一检测结果最接近的电容值所对应的环境值， 并输出。
2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于： 所述电子设备还包括第二电容检测板，所述第二电容检测板用于检测所述第二电容检 测板与其上触摸物之间的电容，所述预设电容环境对照表中还包括不同环境值对应的电容 校正值； 所述方法还包括： 利用所述第二电容检测板检测得到第二检测结果； 从所述预设电容环境对照表中，查找与所述环境值所对应的电容校正值； 利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正。
3. 如权利要求2所述的方法，其特征在于： 所述利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正，包括： 所述第二检测结果减去所述电容校正值后的值作为校正后的第二检测结果。
4. 如权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于： 所述环境检测板为导电网状结构，所述环境值为湿度值。
5. 如权利要求1或2或3所述的方法，其特征在于： 所述环境检测板为温度敏感材料，所述环境值为温度值。
6. -种环境检测装置，应用于电子设备，其特征在于，所述环境检测装置包括一第一电 容检测板、一设置为接地的环境检测板和一检测芯片，其中所述环境检测板与所述第一电 容检测板平行设置，所述检测芯片包括判断单元和环境值输出单元，其中： 所述第一电容检测板，用于检测所述第一电容检测板与环境检测板之间的电容，得到 第一检测结果； 所述判断单元，用于判断所述第一检测结果是否在预设电容环境对照表中的电容范围 内，得到一判断结果，所述预设电容环境对照表中至少包括不同环境值对应的电容值； 所述环境值输出单元，用于在所述判断结果表明所述第一检测结果在预设电容环境对 照表中的电容范围内时，从所述预设电容环境对照表中，查找与所述第一检测结果最接近 的电容值所对应的环境值，并输出。
7. 如权利要求6所述的环境检测装置，其特征在于： 所述检测芯片还包括校正单元，所述预设电容环境对照表中还包括不同环境值对应的 电容校正值； 所述校正单元，用于从所述预设电容环境对照表中，查找所述环境值输出单元输出的 环境值所对应的电容校正值，利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正，所述第 二检测结果是所述电子设备的第二电容检测板检测所述第二电容检测板与其上触摸物之 间的电容得到的检测结果。
8. 如权利要求7所述的环境检测装置，其特征在于： 所述校正单元利用所述电容校正值对所述第二检测结果进行校正，包括： 所述校正单元用所述第二检测结果减去所述电容校正值后的值作为校正后的第二检 测结果。
9. 如权利要求6或7或8所述的环境检测装置，其特征在于： 所述环境检测板为导电网状结构，所述环境值为湿度值。
10. 如权利要求6或7或8所述的环境检测装置，其特征在于： 所述环境检测板为温度敏感材料，所述环境值为温度值。
【文档编号】G06F3/042GK104062326SQ201310094774
【公开日】2014年9月24日 申请日期:2013年3月22日 优先权日:2013年3月22日
【发明者】阳光 申请人:联想(北京)有限公司