用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法及装置与流程

本发明涉及触控技术领域，特别涉及一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法及装置。

背景技术：

随着科技的发展，触控产品已越来越多地被使用到人们的日常生活中，同时，人们对触控产品的触控操作响应的关注也越来越多。

现有技术中，电容式触控产品中包括片上系统(英文：systemonchip；缩写：soc)、触控芯片和触控按键，当触控按键上存在触摸操作时，触控按键会发生一定程度的形变，进而使触控按键的电容值发生变化，触控芯片能够将该电容值的变化以电信号的方式发送给片上系统，片上系统再根据该电信号向触控芯片发送相应的控制信号，以控制触控芯片对触控操作进行响应。

但是，当电容式触控产品受到振动干扰时，触控按键也会发生形变，由于现有触控响应方法中不对触控按键表面的触控操作进行判断，振动干扰引起的形变也会被认为是用户的触控操作引起的，进而触控芯片会根据该振动干扰引起的形变产生响应，继而出现响应错误，例如，当电容式触控产品的音量突然发生变化时，电容式触控产品会产生振动，继而出现响应错误。因此，现有的触控响应方法的抗干扰性较差，准确性较低。

技术实现要素：

为了解决现有的触控响应方法中由于触控产品中存在扬声器的声音干扰、机外异常振动等因素，导致的触控响应准确性较低的问题，本发明实施例提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法及装置。所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，包括：

当所述触控按键表面发生形变时，判断所述触控按键表面的形变量是否大于所述形变阈值，其中，所述形变阈值基于所述触控产品的当前时刻音量确定；

当所述触控按键表面的形变量不大于所述形变阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

可选地，所述判断所述触控按键表面的形变量是否大于所述形变阈值，包括：

将所述触控按键表面的形变量与所述触控按键的相邻区域的形变量进行比较；

当所述触控按键表面的形变量与所述相邻区域的形变量的差值大于阈值时，将所述触控按键表面的形变量与所述形变阈值进行比较。

可选地，所述形变阈值基于所述触控产品的当前时刻音量确定，具体包括：

获取所述触控产品的当前时刻音量，并确定所述当前时刻音量所引起的形变量；

确定附加形变量，所述附加形变量包括伴音功率对应的形变量、音效模式对应的形变量以及触控按键的设计误差对应的形变量中的至少一种；

根据所述当前时刻音量所引起的形变量以及所述附加形变量，确定所述形变阈值。

可选地，所述根据所述当前时刻音量所引起的形变量以及所述附加形变量，确定所述形变阈值，包括：

确定用于反映所述触控按键对音量的敏感度的形变系数；

确定所述形变系数和所述当前时刻音量所引起的形变量的乘积；

将所述乘积与所述附加形变量的和值确定为所述形变阈值。

可选地，所述相邻区域为两个，两个所述相邻区域沿指定方向排布在所述触控按键的两侧，每个所述相邻区域的形状与所述触控按键的形状全等。

可选地，所述相邻区域与所述触控按键之间的间隙距离大于所述触控按键的宽度的两倍，所述触控按键的宽度为所述触控按键在指定方向上的最大尺寸。

第二方面，提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，包括：

当所述触控按键表面发生形变时，将所述触控按键表面的形变量与所述触控按键的相邻区域的形变量进行比较；

当所述触控按键表面的形变量与所述相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

第三方面，提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置，包括：

判断模块，用于当所述触控按键表面发生形变时，判断所述触控按键表面的形变量是否大于所述形变阈值，其中，所述形变阈值基于所述触控产品的当前时刻音量确定；

处理模块，用于当所述触控按键表面的形变量不大于所述形变阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

可选地，所述判断模块，包括：

第一比较子模块，用于将所述触控按键表面的形变量与所述触控按键的相邻区域的形变量进行比较；

第二比较子模块，用于当所述触控按键表面的形变量与所述相邻区域的形变量的差值大于阈值时，将所述触控按键表面的形变量与所述形变阈值进行比较。

第四方面，提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置，包括：

比较模块，用于当所述触控按键表面发生形变时，将所述触控按键表面的形变量与所述触控按键的相邻区域的形变量进行比较；

处理模块，用于当所述触控按键表面的形变量与所述相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法及装置，当触控按键表面发生形变时，通过判断触控按键表面的形变量是否大于形变阈值，并在触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，不响应触控操作，能够对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，在一定程度上避免对触控按键表面因振动干扰发生的形变产生响应，减小了出现响应错误的概率，提高了触控响应方法的抗干扰性和准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法的流程图；

图2是本发明实施例提供的另一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法的流程图；

图3是本发明实施例提供的又一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法的流程图；

图4是本发明实施例提供的一种安装有触控按键的电视的示意图；

图5-1是本发明实施例提供的一种触控按键0和触控按键1的形变量的示意图；

图5-2是本发明实施例提供的另一种触控按键0和触控按键1的形变量的示意图；

图6是本发明实施例提供的一种基于所述触控产品的当前时刻音量确定形变阈值的方法流程图；

图7-1是图4中触控按键1的局部切割放大图；

图7-2是本发明实施例提供的一种根据当前时刻音量所引起的形变量以及附加形变量确定形变阈值的方法流程图；

图8-1是本发明实施例提供的一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置的结构示意图；

图8-2是本发明实施例提供的一种判断模块的结构示意图；

图8-3是本发明实施例提供的另一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置的结构示意图；

图9是本发明实施例提供的又一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

本发明实施例提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，如图1所示，该方法可以包括：

步骤101、当触控按键表面发生形变时，判断触控按键表面的形变量是否大于形变阈值。

其中，形变阈值基于触控产品的当前时刻音量确定。

步骤102、当触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

需要说明的是，电容式触控产品在对触控操作进行响应时，是根据触控按键表面的电容值变化进行响应的，但是，触控按键表面的电容值变化是由触控按键表面的形变量来表现的，因此，判断是否进行触控响应的实质主要是判断触控按键表面是否发生了形变，并且，在触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，可以认为该形变是由振动干扰引起的，禁止对其进行触控响应即可避免响应错误的发生，以屏蔽振动干扰对触控响应方法的影响，进而提高触控响应方法的抗干扰性。

综上所述，本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，当触控按键表面发生形变时，通过判断触控按键表面的形变量是否大于形变阈值，并在触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，不响应触控操作，能够对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，在一定程度上避免对触控按键表面因振动干扰发生的形变产生响应，减小了出现响应错误的概率，提高了触控响应方法的抗干扰性和准确性。

图2是本发明实施例提供的另一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，如图2所示，该方法可以包括：

步骤201、当触控按键表面发生形变时，将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较。

步骤202、当触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

综上所述，本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，当触控按键表面发生形变时，通过将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较，并在触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，不响应触控操作，能够对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，在一定程度上避免对触控按键表面因振动干扰发生的形变产生响应，减小了出现响应错误的概率，提高了触控响应方法的抗干扰性和准确性。

图3是本发明实施例提供的又一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，该方法可以应用于能够发声的电容式触控产品，本发明实施例中以该方法应用于安装有触控按键的电视为例对该方法的实现过程进行说明，当该方法应用于其他电容式触控产品(例如：一些医用显示产品或其他商用显示产品等)时，该方法在触控产品中的实现可相应参考在电视上实现的过程，如图3所示，该方法可以包括：

步骤301、检测触控按键表面是否发生形变。

电容式触控产品中触控作用的实现，依赖于电容式触控产品中片上系统、触控芯片和触控按键之间的配合，其中，触控芯片用以检测触控按键表面是否发生了形变，当检测到触控按键表面发生了形变时，触控芯片以电信号的形式将该情况反馈给片上系统，片上系统根据接收到的电信号判断是否需要对该形变进行触控响应，当需要对该形变进行触控响应时，片上系统向触控芯片发送相应的控制信号，以控制触控芯片对该形变进行响应。其中，触控芯片检测触控按键表面是否发生形变的方法可以为光干涉法等常用方法，本发明实施例对其不做具体限定。

当检测到触控按键表面发生形变时，需要根据该形变进行进一步的判断，以便确定是否对该形变进行响应，即执行步骤302，当检测到触控按键表面未发生形变时，说明触控按键上没有触控操作产生，无需进行触控响应，则结束动作，或者，持续检测触控按键表面是否发生形变，直至检测到触控按键表面发生形变。

步骤302、当触控按键表面发生形变时，将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较。

其中，相邻区域可以为与触控按键相邻的其他触控按键，也可以为与触控按键相邻的不具有按键功能的区域，还可以同时为与触控按键相邻的其他触控按键和不具有按键功能的区域。该相邻区域可以有两个，该两个相邻区域沿指定方向排布在触控按键的两侧，每个相邻区域的形状与触控按键的形状全等，且每个相邻区域与触控按键之间的间隙的距离大于触控按键的宽度两倍，触控按键的宽度为触控按键在指定方向上的最大尺寸。该指定方向可以为水平方向，也可以为垂直方向，或者，该指定方向也可以为生产触控按键时预设的其他方向，本发明实施例对其不做具体限定。示例地，图4为安装有触控按键1的电视的示意图，如图4所示，触控按键1两侧各设置了一个触控按键0，且触控按键0与触控按键1大小相同，触控按键0与触控按键1之间的间隙等于触控按键1的直径，也即是，在图4中相邻区域为与触控按键1相邻的两个触控按键0，该两个触控按键0沿水平方向排布在触控按键1的两侧。

一般地，由于扬声器只设置在触控产品的某些位置，因此，音量、伴音功率、音效模式和设计误差等干扰因素只能影响到触控产品的局部小范围，例如：只能影响到单个触控按键，或者单个按键及其周围的小面积区域，使其表面发生形变。但是，在触控产品的实际使用过程中，触控产品不仅受到音量、伴音功率、音效模式和设计误差等干扰因素的影响，还受到其他干扰因素的影响，该其他干扰因素可以在大范围内对触控产品产生影响，使其发生形变，且形变的幅度几乎相同。例如：桌子的晃动会引起触控产品整体发生振动，导致触控产品的多处甚至整体均发生形变，且该多处地方发生形变的幅度相同。因此，在将触控按键表面的形变量与形变阈值进行比较之前，可以先将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较，以初步排除其他干扰因素对触控按键的影响。

具体地，将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较时，若触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量的差值大于预设差值，则可以确定触控按键表面的形变不是由其他干扰因素引起的，此时再将触控按键表面的形变量与形变阈值进行比较，以判断触控按键表面的形变是否是由音量、伴音功率、音效模式和触控按键的设计误差中的至少一种引起的，即执行步骤303和步骤304，例如，请参考图5-1，触控按键0和触控按键1上方的弧线的高度分别表示的是触控按键0和触控按键1表面发生的形变量，图中两条虚线之间的高度表示的是预设形变量差值，从图中可以看出触控按键1表面的形变量与触控按键0表面的形变量的差值明显大于预设差值，则可以确定触控按键表面的形变不是由其他的一些干扰因素引起的；若触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量的差值不大于预设的预设差值，即可认为触控按键表面的形变是由其他干扰因素引起的，则无需对该形变进行触控响应，例如，如图5-2所示，触控按键1表面的形变量与触控按键0表面的形变量几乎相同，则可以确定触控按键表面的形变是由其他干扰因素引起的，则禁止对该形变进行触控响应。

示例地，请继续参考图5-1，触控按键0和触控按键1上方的弧线的高度分别表示的是触控按键0和触控按键1表面的形变量，假设触控按键1表面的形变量为1.5μm，触控按键0表面的形变量为0.5μm，阈值(即预设差值)为0.2μm，触控按键1表面的形变量与触控按键0表面的形变量的差值＝1.5μm-0.5μm＝1μm，由于1μm>0.2μm，可以确定触控按键1表面的形变不是由其他的一些干扰因素引起的，此时需要将触控按键1表面的形变量与形变阈值进行比较，并根据比较结果判断是否对形变进行响应。

需要说明的是，相邻区域的个数、每个相邻区域与触控按键之间的间隙的距离以及预设差值均可以根据实际情况进行设定，例如：每个相邻区域与触控按键之间的间隙的距离可以为2～6倍的触控按键的宽度，或者，根据实际情况间隙的距离也可以适当地调整为小于2倍或大于6倍的触控按键的宽度，本发明实施例对其不做具体限定。

步骤303、当触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值大于阈值时，基于触控产品的当前时刻音量确定形变阈值。

可选地，形变阈值不仅可以由当前时刻音量反映，还可以由伴音功率、音效模式和触控按键的设计误差等因素反映，如图6所示，基于所述触控产品的当前时刻音量确定形变阈值的过程，可以包括：

步骤3031、获取触控产品的当前时刻音量，并确定当前时刻音量所引起的形变量。

音量为能够发声的电容式触控产品中使触控按键表面发生形变的主要干扰因素，也是使触控按键表面频繁地发生形变的干扰因素，因此，需要确定音量引起的形变量。

在制造触控产品时，技术人员会对触控产品进行调试，以使触控产品发出不同大小的声音，该声音的大小即表现为触控产品的音量，并且，在触控产品发出不同大小的声音时，技术人员会检测并记录其引起的触控按键表面发生的形变量，并将音量与其引起的形变量的大小形成的对应关系存储在触控产品的预设位置中，在需要根据当前时刻音量确定对应的形变量时，可以在该预设位置中查询该对应关系以得到对应的形变量。

示例地，音量与形变量的对应关系可以参考表1，如表1所示，当音量为10分贝(英文：decibel；缩写：db)时，其引起的形变量为0.1微米(英文：μm)，当音量为20db时，其引起的形变量为0.4μm。

表1

由于电容式触控产品能够发出声音以及发出的声音的音量，都是通过片上系统对触控产品中的扬声器进行控制来实现的，因此，片上系统能够获取当前时刻音量。并且，片上系统在获取当前时刻音量后，可以根据该音量在音量与形变量的对应关系表中进行查找，以确定当前时刻音量引起的形变量。

示例地，请参考图4，虚线框内的区域的表面部分为金属网罩，该金属网罩是电视外壳的一部分，电视内部设置有扬声器(未画出)和触控芯片，两者的设置位置可以与金属网罩的位置对应(例如，两者在金属网罩所在平面上的正投影位于该金属网罩上，如图4中的虚线圆圈所示的位置，图中位置只是一个示意性位置，并不用以限定，实际应用中可以将触控芯片设置在金属网罩的任意位置)，图7-1为图4中触控按键1的局部切割放大图，触控芯片靠近金属网罩的一侧的表面上设置有与金属网罩正对的电极板110，该电极板110与与其正对的金属网罩120形成触控按键1的电容，在图4所示的电视中，扬声器通过金属网罩出音，其出音方向为前出，当用户触摸触控按键1时，其表面发生了形变，并且，在检测到触控按键表面发生形变的时刻，获取的电视在当前时刻音量为20db，则通过查询表1所示的对应关系可以确定该音量所引起的形变量为0.4μm。

步骤3032、确定附加形变量。

除了音量之外，其他的干扰因素也会使触控按键表面发生形变，例如：触控产品的伴音功率、触控产品使用的音效模式和触控按键的设计误差等干扰因素，其中，不同的音效模式由不同的发音频段表征，例如：立体环绕声音效和3d音效可以对应于不同的发音频段。伴音功率、音效模式和触控按键的设计误差中的至少一种使触控按键表面发生的形变量可以统称为附加形变量。

技术人员在对触控产品进行调试时，会记录触控产品在不同伴音功率和不同音效模式时触控按键表面发生的形变量，不同伴音功率与形变量的关系可以表现为非线性的曲线，将该非线性曲线进行模数转换并采样可以得到伴音功率与形变量的对应关系，不同音效模式对应的发音频段与形变量的关系也可以表现为非线性的曲线，将该非线性曲线进行模数转换并采样可以得到音效模式对应的发音频段与形变量的对应关系，伴音功率、发音频段与形变量的对应关系均可存储在触控产品的预设位置中，在需要根据伴音功率和/或发音频段确定对应的形变量时，可以在该预设位置中查询该对应关系以得到对应的形变量。

示例地，伴音功率与形变量的对应关系可以参考表2，如表2所示，当伴音功率为8瓦特(英文：w)时，其引起的形变量为0.1μm，当伴音功率为10w时，其引起的形变量为0.15μm。

表2

示例地，音效模式对应的发音频段与形变量的对应关系可以参考表3，如表3所示，当音效模式对应的发音频段为50赫兹(英文：hz)时，其引起的形变量为0.05μm，当音效模式对应的发音频段为200hz时，其引起的形变量为0.1μm。

表3

触控按键的设计误差是由生产工艺所决定的，同一生产线上生产出的触控产品的设计误差基本相同，其使触控按键表面发生的形变量也基本相同，即对同一批生产的同一型号的触控产品来说，其触控按键的设计误差使其表面发生的形变量也基本相同，且该形变值为固定的，因此，技术人员在对触控产品进行调试时，可以检测该形变值，并将其存储在触控产品的预设位置中，在需要确定该形变值时可以直接在预设位置中提取该形变值。示例地，不同的生产线上生产出的触控产品使触控按键表面发生的形变量可以为±0.04μm、±0.08μm和±0.1μm等。

步骤3033、根据当前时刻音量所引起的形变量以及附加形变量，确定形变阈值。

可选地，如图7-2所示，根据当前时刻音量所引起的形变量以及附加形变量确定形变阈值，其确定公式为：

l0＝ax+w。

其中，x为当前时刻音量所引起的形变量，a为用于反映触控按键对音量的敏感度的形变系数，w为所有附加形变量的总和，l0为形变阈值。

具体地，确定形变阈值的过程，可以包括：

步骤3033a、确定用于反映触控按键对音量的敏感度的形变系数。

该反映触控按键对音量的敏感度的形变系数主要由触控按键的材料决定，该系数可以是技术人员调试时测试好并存储在片上系统中，在使用该形变系数时可以直接调用，或者，也可以在检测过程中通过多次采样计算得到该形变系数。可选地，对于不同的触控按键材质和不同的制造工艺，触控按键对音量的敏感度不同，反映该敏感度的形变系数的取值范围为(0，1]。示例地，假设某电视的触控按键对音量的敏感度的形变系数为0.1。

步骤3033b、确定形变系数和当前时刻音量所引起的形变量的乘积。

示例地，假设获取的电视在当前时刻音量为20db，查询表1可得该音量引起的形变量为0.4μm，电视的触控按键对音量的敏感度的形变系数为0.1，则形变系数和当前时刻音量所引起的形变量的乘积为0.1*0.4＝0.04μm。

步骤3033c、将乘积与附加形变量的和值确定为形变阈值。

示例地，假设形变系数和当前时刻音量所引起的形变量的乘积为0.04μm，电视的伴音功率为10w，电视的音效模式对应的发音频段为200hz，触控按键设置在电视机的金属网罩上使触控按键发生的形变量为0.08μm，通过查询表2和表3可得，10w的伴音功率对应的形变量为0.3μm，200hz的发音频段对应的形变量为0.1μm，附加形变量包括伴音功率对应的形变量、音效模式对应的形变量和触控按键的设计误差对应的形变量，则所有附加形变量的总和为0.3μm+0.1μm+0.08μm＝0.48μm，则上述乘积与该附加形变量的和值为0.04μm+0.48μm＝0.52μm，即触控按键的形变阈值为0.52μm。

步骤304、比较触控按键表面的形变量是否大于形变阈值。

由于形变阈值是根据音量、音效模式和触控按键的设计误差等振动干扰因素确定的，因此，当触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，可以确定使触控按键表面发生形变的因素是振动干扰，不是用户触发的触控操作，则不响应该触控操作，即禁止对触控按键表面发生的形变进行触控响应，即执行步骤305，当触控按键表面的形变量大于形变阈值时，可以确定使触控按键表面发生形变的因素是用户触发的触控操作，可以对该触控操作进行响应，即可对触控按键表面发生的形变进行触控响应，即执行步骤306。

需要说明的是，当触控产品的外壳由金属制成、触控按键与该金属制成的外壳为一体结构且扬声器的出音方向为前出时，由于音量、伴音功率和音效模式为影响触控按键的最频繁的因素，以及触控按键的设计误差是无法避免的因素，因此，比较触控按键表面的形变量是否大于根据音量、伴音功率、音效模式和触控按键的设计误差确定的形变阈值，能够根据比较结果对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，并确定是否对触控按键表面的形变进行触控响应，能够最大程度地减小出现响应错误的概率。并且，在判断触控按键表面的形变是否由用户触发的触控操作产生的过程中，先对其他干扰因素进行排除，并在确定形变量不是由其他干扰因素引起时再比较触控按键表面的形变量是否大于形变阈值，能够进一步地对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，进而进一步地提高触控响应方法的抗干扰性和准确性，同时，在确定形变量是由其他干扰因素引起时禁止触控响应能够缩短判断过程，可以进一步提高用户体验。

还需要说明的是，步骤3031至步骤3033也可以在步骤301和步骤302之间执行，也即是，在检测到触控按键表面发生形变后，先根据音量、音效模式和触控按键的设计误差确定形变阈值，然后再依次执行步骤302和304，即将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较，并在触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值大于阈值时，比较触控按键表面的形变量是否大于步骤303确定的形变阈值。或者，也可以选择不执行步骤302，也即是，在检测到触控按键表面发生形变后，即根据音量、音效模式和触控按键的设计误差确定形变阈值，然后比较触控按键表面的形变量是否大于步骤303确定的形变阈值，本发明实施例对其不做具体限定。

步骤305、当触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，不响应触控操作。

示例地，假设触控按键表面的形变量为0.5μm，确定的形变阈值为0.52μm，由于0.5μm<0.52μm，可以确定使该触控按键表面发生形变的因素是振动干扰，不是用户触发的触控操作，则不响应触控操作，即禁止对触控按键表面发生的形变进行触控响应。

步骤306、当触控按键表面的形变量大于形变阈值时，响应触控操作。

当触控按键表面的形变量大于形变阈值时，可以认为该形变量是由于用户触摸触控按键产生的，则响应触控操作，即对触控按键表面发生的形变进行触控响应，以实现相应的触控功能。

在实际应用中，也可以先将触控按键表面的形变量与形变阈值进行比较，当触控按键表面的形变量大于形变阈值时，再将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较，并在触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，不响应触控操作，即禁止对触控按键表面发生的形变进行触控响应，以避免出现响应错误，进而提高触控响应方法的抗干扰性。

需要说明的是，在上述步骤301至步骤306中基于形变量进行触控响应的方法也可以通过测量触控按键的电容值进行触控响应来间接实现，例如，在步骤301中，检测触控按键表面是否发生形变的过程，可以包括：检测触控按键对应的电容值是否发生改变，当触控按键对应的电容值发生改变，确定触控按键表面发生形变，当触控按键对应的电容值未发生改变，确定触控按键表面未发生形变；在步骤304中，当触控按键表面发生形变时，比较触控按键表面的形变量是否大于形变阈值的过程，可以包括：当触控按键表面发生形变时，比较触控按键所对应的电容变化量是否大于电容变化阈值，当触控按键所对应的电容变化量大于电容变化阈值时，确定触控按键表面的形变量大于形变阈值；当触控按键所对应的电容变化量不大于电容变化阈值，确定触控按键表面的形变量不大于形变阈值。并且，在上述步骤的执行过程中，形变量与电容值之间也可以根据形变量与电容值之间的关系进行转换，形变量与电容值之间的关系为：c＝ε1*ε2*s/d，其中，c为电容值，ε1为空气介电常数，ε2为触控按键的介电常数，s为触控按键中两个电极板的正对面积，d为发生形变后两个电极板之间的间距，即触控按键表面的形变量。

综上所述，本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法，通过将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较，在触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，判断触控按键表面的形变量是否大于形变阈值，并在触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，不响应触控操作，能够对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，在一定程度上避免对触控按键表面因振动干扰发生的形变产生响应，减小了出现响应错误的概率，提高了触控响应方法的抗干扰性和准确性，使得用户在使用时不用担心触控产品是否会出现响应错误，减少用户对电视质量的质疑，进而提高了用户体验。

需要说明的是，本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断方法步骤的先后顺序可以进行适当调整，步骤也可以根据情况进行相应增减，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化的方法，都应涵盖在本发明的保护范围之内，因此不再赘述。

本发明实施例提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置800，如图8-1所示，该装置800可以包括：

判断模块801，用于判断触控按键表面的形变量是否大于形变阈值，其中，形变阈值基于触控产品的当前时刻音量确定。

处理模块802，用于当触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

综上所述，本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置，当触控按键表面发生形变时，通过判断模块判断触控按键表面的形变量是否大于形变阈值，并在触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，处理模块不响应触控操作，能够对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，在一定程度上避免对触控按键表面因振动干扰发生的形变产生响应，减小了出现响应错误的概率，提高了触控响应方法的抗干扰性和准确性。

可选地，如图8-2所示，判断模块801，可以包括：

第一比较子模块8011，用于将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较。

第二比较子模块8012，用于当触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值大于阈值时，将触控按键表面的形变量与形变阈值进行比较。

可选地，如图8-3所示，装置800还可以包括：

获取模块803，用于获取当前时刻音量，并确定音量所引起的形变量。

第一确定模块804，用于确定附加形变量，附加形变量包括伴音功率对应的形变量、音效模式对应的形变量以及触控按键的设计误差对应的形变量中的至少一种。

第二确定模块805，用于根据音量所引起的形变量以及附加形变量，确定形变阈值。

可选地，第二确定模块805，具体可以用于：

确定用于反映触控按键对音量的敏感度的形变系数。

确定系数和音量所引起的形变量的乘积。

确定附加形变量的总和。

将所述乘积与所述总和的和确定为形变阈值。

可选地，相邻区域为两个，两个相邻区域沿指定方向排布在触控按键的两侧，每个相邻区域的形状与触控按键的形状全等。

可选地，相邻区域与触控按键的间隙距离大于触控按键宽度的两倍，触控按键的宽度为触控按键在指定方向上的最大尺寸。

可选地，用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置还可以包括金属网罩，触控按键位于金属网罩上，且触控按键与金属网罩为一体结构。

综上所述，本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置，当触控按键表面发生形变时，通过第一比较子模块将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较，第二比较子模块在触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，比较触控按键表面的形变量是否大于形变阈值，并在触控按键表面的形变量不大于形变阈值时，处理模块不响应触控操作，能够对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，在一定程度上避免对触控按键表面因振动干扰发生的形变产生响应，减小了出现响应错误的概率，提高了触控响应方法的抗干扰性和准确性，使得用户在使用时不用担心触控产品是否会出现响应错误，减少用户对电视质量的质疑，进而提高了用户体验。

本发明实施例提供了一种用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置900，如图9所示，该装置900可以包括：

比较模块901，用于当触控按键表面发生形变时，将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较。

处理模块902，用于当触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，不响应触控操作，否则，响应触控操作。

综上所述，本发明实施例提供的用于电容式触控产品中的触摸操作判断装置，当触控按键表面发生形变时，通过比较模块将触控按键表面的形变量与触控按键的相邻区域的形变量进行比较，并在触控按键表面的形变量与相邻区域的形变量的差值不大于阈值时，处理模块不响应触控操作，能够对用户的触摸操作产生的形变和振动干扰引起的形变进行区分，在一定程度上避免对触控按键表面因振动干扰发生的形变产生响应，减小了出现响应错误的概率，提高了触控响应方法的抗干扰性和准确性。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的装置、模块和子模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。