技术特征：
技术总结
本发明提出了一种基于栅线检测的单晶硅太阳能电池片表面缺陷检测方法，其步骤如下：首先，采用图像缩放和中值滤波对单晶硅太阳能电池片表面图像进行预处理；其次，提出一种栅线检测方法，用于删除单晶硅太阳能电池片表面图像中的主栅线和副栅线；随后，提出一种超像素分割和自适应阈值处理相结合的方法，用于在无栅线图像中检测缺陷区域，得到初始的检测结果图；最后，通过图像缩放对初始检测结果图进行后处理，得到最终的检测结果图。本发明不仅对单晶硅太阳能电池片表面图像的采集质量要求相对较低，而且在保持较高检测准确率的同时具有较快的检测速度，对提高单晶硅太阳能电池片的质检效率和出厂合格率具有重要意义。
技术研发人员：钱晓亮;张鹤庆;李清波;杨存祥;张焕龙;毋媛媛;刁智华;刘玉翠;吴青娥;陈虎;贺振东;过金超;王延峰;姜利英;张秋闻
受保护的技术使用者：郑州轻工业学院
技术研发日：2017.06.12
技术公布日：2017.10.20