技术特征：
技术总结
本发明公开了一种高反光物体扫描测绘方法和系统，包括以下步骤：(1)为被扫描物体增加参照物，所述参照物放置在被扫描物体周围或表面；(2)对被扫描物采用摄像设备按照不同角度进行环物扫描拍摄，(3)在被扫描物表面喷涂哑光涂层或用光学系统投射光斑、杂点、二维码；(4)用一个或多个摄像设备对经过步骤(3)处理的被扫描物进行多角度环物拍摄，获取被扫描物的各个顶点、棱边数据；(5)对步骤(4)中获取的图像进行计算，得出被扫描物的几何顶点、几何边和几何表面的模型；(6)根据步骤(1)中获取的参照物信息，将步骤(2)中获取的图像代入到步骤(5)得到的模型中，生成被扫描物的顶点色彩和贴图信息，生成最终模型。
技术研发人员：朱培恒
受保护的技术使用者：朱培恒
技术研发日：2017.07.12
技术公布日：2017.09.15