技术总结
本发明提供了一种电子元件的检测方法、装置和设备，所述方法包括：获取待检测电子元件的元件参数，并根据元件参数的数据分布信息获取待检测电子元件对应的特征向量；在预先基于历史电子元件构建的分类器库中，检索与待检测电子元件的特征向量相似的目标特征向量，并将分类器库中与目标特征向量对应的分类器作为目标分类器；将待检测电子元件的元件参数输入目标分类器中，获取目标分类器输出的检测结果。本发明通过预先构建的分类器库获取对应的分类器进行检测，无需使用待检测电子元件数据进行模型训练，而是直接利用基于历史电子元件数据构建的分类器进行检测，节省了大量的时间成本，直观有效、便于使用。
技术研发人员：王建民;刘英博;张育萌
受保护的技术使用者：清华大学
技术研发日：2018.01.22
技术公布日：2018.07.10