技术特征：
技术总结
本发明公开了一种磁体外观缺陷检测的方法及装置，首先对待检测磁体图像进行二值化处理，其次对经过二值化处理后的磁体图像进行特征提取，并根据提取到的图像特征，确定待检测磁体的缺陷类型、缺陷位置以及缺陷大小。最后，根据待检测磁体的缺陷位置以及缺陷大小，确定待检测磁体是否合格。从而对符合工艺要求的产品进行准确、快速的识别，减少由于采用同一识别标准而造成的误识别。
技术研发人员：黄甦;何金洲
受保护的技术使用者：成都银河磁体股份有限公司
技术研发日：2018.06.12
技术公布日：2018.11.09