一种简易的电子元件表面缺陷检测装置的制造方法
【专利摘要】本发明一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，属于表面质量检查设备领域。目的是提供一种能更直观的检查电子元件的表面情况的电子元件表面缺陷检测装置。包括支座和放大镜，所述放大镜可拆卸安装于支座；在放大镜下方设有电子元件成像装置，所述电子元件成像装置包括与支座可拆卸连接的本体，在本体上设有垂直贯穿本体的方形通孔，所述方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜，所述平面镜的镜面由下至上向外延伸；在通孔正下方设有安装于支座的平台。该一种简易的电子元件表面缺陷检测装置能更直观的检测电子元件的表面情况，提高了观察的准确性，且该一种简易的电子元件表面缺陷检测装置结构简单，使用方便。
【专利说明】
一种简易的电子元件表面缺陷检测装置
技术领域
[0001]本发明属于表面质量检查设备领域，具体的是检测电子元件表面缺陷的装置。
【背景技术】
[0002]随着电子科技技术的进步，对电子元件表面质量的要求越来越高。现有的电子元件表面缺陷的检测通常是利用照相机拍摄出电子元件的表面情况照片，然后通过拍摄出的照片来判断电子元件的表面质量。然后，表面有划痕和表面脏污在照片中的表现及其相似，这时，容易将表面脏污的情况归类为表面有划痕的产品，对其进行表面缺陷修复或者报废。
【发明内容】
[0003]本发明所要解决的技术问题是提供一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，其对待检测电子元件的表面进行放大，能更直观的检查电子元件的表面情况。
[0004]本发明采用的技术方案是:一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，包括支座和放大镜，所述放大镜可拆卸安装于支座;在放大镜下方设有电子元件成像装置，所述电子元件成像装置包括与支座可拆卸连接的本体，在本体上设有垂直贯穿本体的方形通孔，所述方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜，所述平面镜的镜面由下至上向外延伸；在通孔正下方设有安装于支座的平台。
[0005]进一步的，所述通孔的上端大于通孔的下端。
[0006]进一步的，所述支座包括左立板、右立板和底座，所述左立板和右立板的一端与底座固定连接;所述电子元件成像装置的本体一侧与左立板螺栓连接，另一侧与右立板螺栓连接。
[0007]本发明的有益效果是:一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，电子元件正面直接通过通孔经过放大镜放大后进入观察者的视野，而电子元件侧面的情况通过平面镜反射给放大镜，经过放大镜放大后进入观察者的视野，从而能更直观的检测电子元件的表面情况，提高了观察的准确性，且该一种简易的电子元件表面缺陷检测装置结构简单，使用方便。
【附图说明】
[0008]图1为本发明结构图。
[0009]图2为图1的A-A剖视图。
[0010]图中，支座1、左立板11、右立板12、底座13、放大镜2、本体3、通孔4、平面镜5、平台6，电子元件100。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明。
[0012]本说明书所表示方位的“上”和“下”均以图1为准。
[0013]如图1和图2所示，一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，包括支座I和放大镜2，所述放大镜2可拆卸安装于支座I;在放大镜2下方设有电子元件成像装置，所述电子元件成像装置包括与支座I可拆卸连接的本体3，在本体3上设有垂直贯穿本体3的方形通孔4，所述方形通孔4的四个内壁上均安装有平面镜5，所述平面镜5的镜面由下至上向外延伸;在通孔4正下方设有安装于支座I的平台6。
[0014]放大镜2用于放大观察电子元件100的表面情况。由于将电子元件100直接置于放大镜2只能观察到电子元件100正面的情况，无法观察到电子元件100侧面的情况，因此，在放大镜2下方设有电子元件成像装置，用于将电子元件100侧面的情况反射给放大镜2。因此，电子元件成像装置包括本体3，在本体3上设有垂直贯穿本体3的方形通孔4，通孔4提供光线通道，使电子元件100正面直接通过通孔4经过放大镜2放大后进入观察者的视野。而电子元件100的侧面需要通过平面镜5反射到放大镜2。因此，平面镜5安装于方形通孔4四个内壁上，且平面镜5的镜面由下至上向外延伸。平面镜5的镜面由下至上向外延伸所诉的“外”是以通孔4为准，向通孔4以外的区域为“外”。通过将电子元件正面和侧面的情况进行放大后观察，从而能更直观的检测电子元件的表面情况，提高了观察的准确性。且该一种简易的电子元件表面缺陷检测装置结构简单，使用方便。
[0015]在上述实施方式中，通孔4可以两端大小相等。但是，若通孔4两端大小相等，平面镜5的镜面倾斜安装不便。作为优选，所述通孔4的上端大于通孔4的下端。如此，选择常规的平面镜5粘贴在通孔4的内壁上即可，安装方便。
[0016]为了便于支撑放大镜2和电子元件成像装置，优选的，所述支座I包括左立板11、右立板12和底座13，所述左立板11和右立板12的一端与底座13固定连接;所述电子元件成像装置的本体3—侧与左立板11螺栓连接，另一侧与右立板12螺栓连接。本体3夹持于左立板11和右立板12之间，避免了本体3滑落，损坏平面镜，而螺栓连接简单方便。
【主权项】
1.一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于:包括支座(I)和放大镜(2)，所述放大镜(2)可拆卸安装于支座(I);在放大镜(2)下方设有电子元件成像装置，所述电子元件成像装置包括与支座(I)可拆卸连接的本体(3)，在本体(3)上设有垂直贯穿本体(3)的方形通孔(4)，所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5)，所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸;在通孔(4)正下方设有安装于支座(I)的平台(6)。2.如权利要求1所述的一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于:所述通孔(4)的上端大于通孔(4)的下端。3.如权利要求1所述的一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于:所述支座(I)包括左立板(11)、右立板(12)和底座(13)，所述左立板(11)和右立板(12)的一端与底座(13)固定连接;所述电子元件成像装置的本体(3)—侧与左立板(11)螺栓连接，另一侧与右立板(12)螺栓连接。
【文档编号】G01N21/01GK105842251SQ201610300639
【公开日】2016年8月10日
【申请日】2016年5月9日
【发明人】廖兴旺
【申请人】成都慧信实验设备有限公司