柱状物外表面缺陷检查用照明装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种检测用照明装置，具体地说是一种柱状物外表面缺陷检查用照明装置。
【背景技术】
[0002]在使用机器视觉技术对柱状物外表面缺陷进行快速检查时，需要对柱状物的柱状外表面进行照明，要尽可能保证照明的均匀性。传统机器视觉光源不论是平面光源还是环形光源都无法保证对柱状物实现均匀的照明，会影响检查结果的准确性。因此，提供一种可以对柱状物实现均匀照明，且快速检查的照明系统是十分必要的。
【实用新型内容】
[0003]根据上述提出的对柱状物进行表面缺陷检查时如何提供均匀照明光源的技术问题，而提供一种柱状物外表面缺陷检查用照明装置。本实用新型主要利用圆柱状内表面发光体作为光源，对柱状物体的外表面进行照明，照明光线环绕圆柱体，从各个角度对其照射，从而使得柱状物外表面得到均匀的照明。
[0004]本实用新型采用的技术手段如下:
[0005]—种柱状物外表面缺陷检查用照明装置，其特征在于:所述照明装置包括中央漫反射筒、对称设置在所述中央漫反射筒两端的右端面光源和左端面光源；
[0006]所述中央漫反射筒为筒形结构，在所述中央漫反射筒的外表面中环线上设有多个用于摄像机拍摄被检查柱状物表面图像的检查孔，所述中央漫反射筒的内表面设有一层柱面漫反射涂层；
[0007]所述右端面光源包括圆盘状的支撑基板、用于安装LED灯的灯基座和遮光板，所述灯基座朝向所述中央漫反射筒的内部设置，所述遮光板置于所述灯基座朝向所述中央漫反射筒内部一侧的端部;所述支撑基板朝向所述中央漫反射筒一侧的表面上设有一层端面漫反射涂层，所述遮光板的表面设有漫反射涂层;所述支撑基板和所述遮光板的中心均设有用于所述被检查柱状物通过的通过孔；
[0008]所述左端面光源的结构同所述右端面光源相同。
[0009]在实际工作时，检查孔的位置设置摄像机，供拍摄被检查柱状物外表面，上述的柱面漫反射涂层、端面漫反射涂层和漫反射涂层均为白色漫反射材料，如硫酸钡、硫酸钙等。遮光板的作用是防止LED灯的光线直接照射到被检查柱状物上，影响照明效果。左端面光源和右端面光源结构相同，且对称放置，保持通过孔处于同一轴线上，确保被检查柱状物可以在同一轴线上通过检查。
[0010]进一步地，所述灯基座由多个以所述中央漫反射筒的中轴线为轴呈圆形放射状排布的灯基座单体构成。
[0011]进一步地，所述灯基座单体包括与所述支撑基板固定的底端座、与所述遮光板固定的且沿所述遮光板端面垂直方向设置的顶端座和设置在所述底座和所述顶端座之间的呈斜度设置的灯安装面。
[0012]进一步地，所述灯安装面与所述底端座之间的夹角在0°-90°之间，优选地，夹角在
15。-60° 之间。
[0013]进一步地，所述灯基座的材质为招合金、铜合金中的一种。
[0014]灯基座的选材原则是导热性能较好的材料，不局限于上述的两种。通过上述特有的灯基座单体的形式及圆形放射状的排布，可以使LED灯发射出的光线射向各个漫反射面，漫反射后的光线能够均匀地对位于中央漫反射筒轴线上的被检查柱状物照明。
[0015]较现有技术相比，本实用新型通过制造一个圆柱状内表面漫反射面，在合适的位置布置发光点，合理设置灯基座形式，与支撑基板和遮光板配合，使光线射向各个漫反射面，经漫反射面漫反射后的光线能够实现对被检查柱状物均匀的照明，为机器视觉技术对柱状物外面缺陷进行快速检查提供了良好的条件，具有结构简单，实用性强等优点。
[0016]基于上述理由本实用新型可在机器视觉技术检测领域广泛推广。
【附图说明】
[0017]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细的说明。
[0018]图1是本实用新型的结构爆炸图。
[0019]图2是本实用新型的结构示意图。
[0020]图3是本实用新型的主视图。
[0021]图4是本实用新型的剖视图。
[0022]图中:1、中央漫反射筒11、柱面漫反射涂层12、检查孔2、右端面光源21、支撑基板22、端面漫反射涂层23、遮光板24、通过孔25、灯基座26、LED灯3、左端面光源4、被检查柱状物。
【具体实施方式】
[0023]如图1至图4所示，一种柱状物外表面缺陷检查用照明装置，所述照明装置包括中央漫反射筒1、对称设置在所述中央漫反射筒I两端的右端面光源2和左端面光源3;
[0024]所述中央漫反射筒I为筒形结构，在所述中央漫反射筒I的外表面中环线上设有多个用于摄像机拍摄被检查柱状物4表面图像的检查孔12，所述中央漫反射筒I的内表面设有一层柱面漫反射涂层11;检测孔12的设置可以根据摄像机的设置决定开孔数量，均布在中环线上即可，如检测孔12可开设3个、4个、5个等。
[0025]所述右端面光源2包括圆盘状的支撑基板21、用于安装LED灯26的灯基座25和遮光板23，所述灯基座25朝向所述中央漫反射筒I的内部设置，所述遮光板23置于所述灯基座25朝向所述中央漫反射筒I内部一侧的端部;所述支撑基板21朝向所述中央漫反射筒I 一侧的表面上设有一层端面漫反射涂层22，所述遮光板23的表面设有漫反射涂层;所述支撑基板21和所述遮光板23的中心均设有用于所述被检查柱状物4通过的通过孔24;所述柱面漫反射涂层11、端面漫反射涂层22和漫反射涂层均为白色漫反射涂层，材质为硫酸钡、硫酸钙等。遮光板23的作用是防止LED灯26的光线直接照射到被检查柱状物上，影响照明效果。左端面光源3和右端面光源2结构相同，且对称放置，保持通过孔24处于同一轴线上，确保被检查柱状物4可以在同一轴线上通过检查。
[0026]所述灯基座25由多个以所述中央漫反射筒I的中轴线为轴呈圆形放射状排布的灯基座单体构成。所述灯基座单体包括与所述支撑基板21固定的底端座、与所述遮光板23固定的且沿所述遮光板23端面垂直方向设置的顶端座和设置在所述底座和所述顶端座之间的呈斜度设置的灯安装面。所述灯安装面与所述底端座之间的夹角在0°-90°之间，优选地，夹角设置可以在15°-60°之间，特别的夹角设置可以在0°-45°之间。在具体应用过程中，夹角的端点值分别为:在顶端座上设置LED灯，此时灯照方向与底端座之间成90°夹角，再有底端座上也可以设置LED灯，此时灯照方向与底端座之间成0°夹角;其他角度即为在灯安装面上设置LED灯的情况。所述灯基座25选材原则是导热性能较好的材料，可以选用铝合金、铜合金中的一种，且不局限于上述的两种。通过上述特有的灯基座单体的形式及圆形放射状的排布，可以使LED灯26发射出的光线射向各个漫反射面，漫反射后的光线能够均匀地对位于中央漫反射筒I轴线上的被检查柱状物4照明。
[0027]以上所述，仅为本实用新型较佳的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种柱状物外表面缺陷检查用照明装置，其特征在于:所述照明装置包括中央漫反射筒(I)、对称设置在所述中央漫反射筒(I)两端的右端面光源(2)和左端面光源(3); 所述中央漫反射筒(I)为筒形结构，在所述中央漫反射筒(I)的外表面中环线上设有多个用于摄像机拍摄被检查柱状物(4)表面图像的检查孔(12)，所述中央漫反射筒(I)的内表面设有一层柱面漫反射涂层(11); 所述右端面光源(2)包括圆盘状的支撑基板(21)、用于安装LED灯(26)的灯基座(25)和遮光板(23)，所述灯基座(25)朝向所述中央漫反射筒(I)的内部设置，所述遮光板(23)置于所述灯基座(25)朝向所述中央漫反射筒(I)内部一侧的端部;所述支撑基板(21)朝向所述中央漫反射筒(I) 一侧的表面上设有一层端面漫反射涂层(22)，所述遮光板(23)的表面设有漫反射涂层;所述支撑基板(21)和所述遮光板(23)的中心均设有用于所述被检查柱状物(4)通过的通过孔(24); 所述左端面光源(3)的结构同所述右端面光源(2)相同。2.根据权利要求1所述的柱状物外表面缺陷检查用照明装置，其特征在于:所述灯基座(25)由多个以所述中央漫反射筒(I)的中轴线为轴呈圆形放射状排布的灯基座单体构成。3.根据权利要求2所述的柱状物外表面缺陷检查用照明装置，其特征在于:所述灯基座单体包括与所述支撑基板(21)固定的底端座、与所述遮光板(23)固定的且沿所述遮光板(23)端面垂直方向设置的顶端座和设置在所述底座和所述顶端座之间的呈斜度设置的灯安装面。4.根据权利要求3所述的柱状物外表面缺陷检查用照明装置，其特征在于:所述灯安装面与所述底端座之间的夹角在0° -90°之间。5.根据权利要求1所述的柱状物外表面缺陷检查用照明装置，其特征在于:所述灯基座(25)的材质为铝合金、铜合金中的一种。
【专利摘要】本实用新型公开了一种柱状物外表面缺陷检查用照明装置，其特征在于：包括中央漫反射筒、对称设置在中央漫反射筒两端的左、右端面光源；在中央漫反射筒的外表面中环线上设有多个用于拍摄被检查柱状物表面图像的检查孔，中央漫反射筒的内表面设有一层柱面漫反射涂层；右端面光源包括圆盘状的支撑基板、用于安装LED灯的灯基座和遮光板；支撑基板朝向中央漫反射筒一侧的表面上设有一层端面漫反射涂层，遮光板的表面设有漫反射涂层；支撑基板和遮光板的中心均设有用于被检查柱状物通过的通过孔；左端面光源的结构同右端面光源相同。本实用新型结构简单，实用性强，实现了均匀照明，为机器视觉技术对柱状物外表面缺陷进行快速检查提供了良好的条件。
【IPC分类】G01N21/01, G01N21/88
【公开号】CN205317682
【申请号】CN201521062848
【发明人】江昕, 魏永明, 陈刚, 顿爱波
【申请人】大连实远科技发展有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2015年12月17日