一种寄生参数结果正确性的判断方法与流程

本发明涉及eda技术领域，特别是涉及一种寄生参数结果正确性的判断方法。

背景技术：

版图中寄生参数是集成电路设计和液晶面板设计中最为重要、最为关键的步骤，直接决定着整个集成电路设计过程的成败。在集成电路版图设计和液晶面板设计过程中，需要不断的对各个功能模块进行寄生参数提取并进行结果判断，提取的正确性以及精度直接决定着芯片或面板流片能否成功，因此需要对海量的寄生参数进行正确性及精度方面进行判断，而手工进行判断不仅浪费大量的时间，而且正确性也无法保证，一旦出现错误，将对芯片或面板的性能影响很大，甚至导致功能失效。

技术实现要素：

为了解决现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种寄生参数结果正确性的判断方法，支持复杂数据类型的计算，支持海量数据的自动分析，大大提高设计的正确性和效率。

为实现上述目的，本发明提供的一种寄生参数结果正确性的判断方法，包括以下步骤：

1）指定测试的测例库，运行目录以及报告生成目录；

2）设置寄生参数的提取方式以及阈值；

3）按照设置的提取模式对版图数据进行提取操作；

4）将提取的所有测例的寄生参数写入测试表格中；

5）进行寄生参数结果正确性的判断，生成总结报告。

进一步地，所述步骤1）还包括，设置所述寄生参数提取的时间阈值和并行运行的所述测例数量。

进一步地，当提取时间超过所述时间阈值后，停止相应测例的参数提取。

进一步地，所述步骤3）进一步包括：

根据所述设置将所述测例库中的数据解压到所述运行目录；

所述测例包括执行码，根据所述执行码调用所述寄生参数的提取模式。

进一步地，所述步骤4）进一步包括，写入时，判断所述报告目录下是否存在对应的所述测试表格，若不存在，生成测试表格并写入，若存在，对所述测试表格中数据进行覆盖写入。

进一步地，所述步骤5）进一步包括：

将所述测试表格数据和标准数据并排依次写入生成对比表格数据；

对所述测试数据和所述标准数据进行减法操作，并与设置的所述阈值相比较。

进一步地，还包括，当超过所述阈值时，标记所述数据为失败。

进一步地，所述总结报告包括失败数据信息和通过数据信息。

为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行如上文所述的寄生参数结果正确性的判断方法步骤。

为实现上述目的，本发明还提供一种寄生参数结果正确性的判断装置，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行如上文所述的寄生参数结果正确性的判断方法步骤。

本发明的一种寄生参数结果正确性的判断方法，具有以下有益效果：

1）支持复杂数据类型的计算，支持海量数据的自动分析，大大提高设计的正确性和效率。

2）不仅能够降低用户的工作量，同时也能有效避免用户手工操作带来的错误，十分有效的保证了版图设计的正确性。

3）存在界面操作过程，易于使用。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本发明的实施例一起，用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为根据本发明的寄生参数结果正确性的判断方法流程图；

图2为根据本发明的基本参数设置常规界面示意图；

图3为根据本发明的基本参数设置选择界面示意图；

图4为根据本发明的运行设置确认界面示意图；

图5为根据本发明的运行过程显示界面示意图；

图6为根据本发明的运行记录结果显示界面示意图；

图7为根据本发明的运行结果自动对比命令生成结果界面示意图；

图8为根据本发明的运行结果自动对比结果显示界面示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

图1为根据本发明的寄生参数结果正确性的判断方法流程图，下面将参考图1，对本发明的寄生参数结果正确性的判断方法进行详细描述。

首先，在步骤101，指定测试测例库，运行目录以及报告生成目录。该步骤中，首先需要进行配置，在general（常规）页面中指定要测试的测例库，运行目录以及report报告生成目录。

优选地，设置超时时间和并行运行的例子数量。

优选地，当寄生参数提取时间超过规定时间，停止对该测试模块的提取操作。该步骤中，防止个别模块提取过程中出现异常（例如死循环），造成无休止的等待，同时可以对多个模块进行并行运行。

在步骤102，设置寄生参数提取方式以及阈值。该步骤中，在option（选择）界面中设置寄生参数的提取方式，以及rc等参数的阈值，以便能自动判断提取的相关参数是否符合要求。

在步骤103，提取并判断寄生参数结果的正确性，记录相关设置和测试情况。该步骤中，点击run（运行）按钮，页面会自动跳转到log（记录）页面，同时会在log（记录）页面的开头部分显示运行的相关设置，运行过程中会显示每个测例的完成情况。

优选地，根据设置解压测例库中的数据到运行目录。

优选地，每个测例中有对应的执行码，该执行码会自动调用寄生参数提取的引擎，按照设置的提取模式对版图数据进行提取操作。

优选地，每个测例完成提取时，系统调用数据处理模块，将每个例子的各个寄生参数值写到excel中。

优选地，执行写操作时，判断report（报告）目录下是否存在对应的excel报告，若不存在，生成新的excel，调用excel写入模块，依次将数据写入；如果已经存在相应的excel，采用追加的模式执行写操作，即如果已经存在该测例的数据，则进行覆盖写操作。

优选地，寄生参数提取完成后，调用数据合并处理模块，将测试的excel报告中数据和标准数据并排依次写入新的对比excel表格中。

优选地，调用比较模块，对测试数据和标准数据进行做减法操作，与每个参数设定的阈值比较，当超过对应阈值时，突出显示该行数据，并在结果一列中标记为失败。

优选地，运行后自动在excel中生成总结报告，包括失败数据信息和通过数据信息。

下面结合一具体实施例对本发明的一种寄生参数结果正确性的判断方法做进一步的说明。

图2为根据本发明的基本参数设置常规界面示意图，如图2所示，用户首先需要进行配置，在inputs（输入）框内选择onedirectory（一个目录），通过browser（浏览程序）选择一个测例库的目录；在outputs（输出）框内点击workdir（工作目录）对应的browser（浏览程序）选择一个运行目录，然后点击reportdir（报告存放目录）对应的browser（浏览程序）选择一个存放excel格式报告的目录。

图3为根据本发明的基本参数设置选择界面示意图，如图3所示，在boundarycondition（边界条件）一行中选择一种寄生参数提取模式；在multiprocessornumber（多处理机数量）一行选择提取时用到的进程数；在thresholdsetting（阈值设置）中为各个参数指定阈值（超过该阈值时将会报错并在excel中高亮显示）。

图4为根据本发明的运行设置确认界面示意图。

系统根据这些设置，首先将测例库中的数据解压到运行目录，每个测例中会有对应的执行码，该执行码会自动调用寄生参数提取的引擎，按照设置的提取模式对版图数据进行提取操作。

图5为根据本发明的运行过程显示界面示意图。

每当一个例子完成提取时，系统会调用数据处理模块，自动将每个例子的各个寄生参数值写到excel中，执行写操作时首先判断report（报告）目录下是否存在对应的excel报告，如果不存在首先会生成一个新的excel，然后系统调用excel写入模块，依次将数据写入；如果已经存在相应的excel，写入时则会采用追加的模式执行写操作，如果已经存在该测例的数据，则进行覆盖写操作。

当所有测例的寄生参数提取完毕后，系统会调用数据合并处理模块，将测试的excel报告中的数据和标准数据并排依次写入，并生成一个新的excel表格数据，然后系统调用比较模块，对两列数据进行做减法操作，然后与每个参数设定的阈值进行比较，当超过相应的阈值时，系统会自动将该行数据标红显示，同时在结果一列中标记为失败，最后会自动在excel中生成总结报告（多少个数据失败，多少个数据通过）。

图6为根据本发明的运行记录结果显示界面示意图。

图7为根据本发明的运行结果自动对比命令生成结果界面示意图。

图8为根据本发明的运行结果自动对比结果显示界面示意图。

在整个运行过程中，用户还可以实时的指定每个模块的超时检测值，如图2所示，在timeout（超时）框内指定小时数，如果一个模块的寄生参数提取时间超过设定的小时数，系统会强制停止对该模块的提取操作，防止个别模块提取过程中出现异常（例如死循环），造成无休止的等待，同时可以对多个模块进行并行运行，如图2所示，在parallelruncasenumber（并行运行例子数量）中指定同时运行测例的数量，这样可以极大的节省了总的运行时间。这种对海量寄生参数的验证方法，保证了版图设计的正确性，极大的提高了版图人员的设计效率。

本发明是首次在集成电路设计和液晶面板设计中对版图中海量寄生参数进行一键启动并进行自动化判断的一种方法。

为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行如上文所述的寄生参数结果正确性的判断方法步骤。

为实现上述目的，本发明还提供一种寄生参数结果正确性的判断设备，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令，所述处理器运行所述计算机指令时执行如上文所述的寄生参数结果正确性的判断方法步骤。

本领域普通技术人员可以理解：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。