一种产品测试方法和设备的制造方法_2

文档序号:9673022阅读:来源:国知局
互式测试结果,测试人员可以对待测试产品中测试用例是否运行进行选择。
[0052]在本发明一实施例中,当运行交互式测试用例时,待测试产品会向上位机输出测试用例是否运行,即〃 [Yes/No]?〃的命令,并等待上位机测试工具软件返回结果。上位机软件发现测试用例是否运行,即〃 [Yes/No]? 〃的命令后,显示可操作的对话框,并询问测试人员测试的结果,测试人员在对话框的内容进行判断,并将结果发送到待测试产品。
[0053]通过这种交互测试的方式,测试人员可以对待测试产品的测试用例是否运行进行有效的监控,从而防止运行不必要的测试用例,浪费待测试产品的资源。
[0054]在本发明一实施例中,上位机与待测试产品之间的连接方式包括:串行接口(Serial)、USB或以太网(Ethernet)。具体而言,可通过简单的shell命令完成上位机和待测试产品的交互。本发明对上位机和待测试产品之间的具体交互方式不做限定。
[0055]在本发明一实施例中,在待测试产品根据要运行的测试用例列表执行要运行的测试用例之后,产品测试方法进一步包括:待测试产品向上位机中的测试工具软件发送测试结果;或,待测试产品储存测试结果。
[0056]在本发明一实施例中,在上位机中的测试工具软件中,可通过图形用户界面的方式显示要运行的测试用例的测试结果。这样,测试人员通过上位机清楚完整地观察到待测试产品测试的情况,为更好地使用待测试产品做出了准备。
[0057]测试结果也可存储在待测试产品中,当测试人员需要读取结果时,可将待测试产品连接显示屏直接读取测试结果。
[0058]在本发明一实施例中,待测试产品为嵌入式产品。嵌入式设备向上位机返回全部测试用例列表通过GUI的方式在上位机中显示。下面通过测试嵌入式设备的VGA视频输出(VGA Output)、音频输出(Aud1 Output Test)和LED数码管闪烁(LED Blink Test)为例来对本发明进行详细说明。
[0059]图3所示为本发明一实施例提供的一种嵌入式产品测试方法的流程图,具体步骤如下:
[0060]步骤S301:将基于用于设备测试的测试用例部署到嵌入式设备中。
[0061]步骤S302:利用上位机的测试工具软件通过访问设备上的测试用例的程序获取可运行的测试项,并呈现给测试人员。此步骤对应步骤S101:获取待测试产品中的标准测试用例库。例如:
[0062]通过上位机测试嵌入式设备运行:
[0063]Alltest—list
[0064]此命令为通过上位机的测试工具软件获取嵌入式设备中预先部署的标准测试用例库中全部测试用例的列表。
[0065]嵌入式设备向上位机返回:
[0066]VGA Output Test
[0067]Aud1 Output Test
[0068]LED Blink Test
[0069]此命令为嵌入式设备向上位机返回全部测试用例的列表。
[0070]步骤S303:测试人员通过GUI选择部分或者全部测试用例项,并运行。此步骤对应步骤S102:从标准测试用例库中指定要运行的测试用例,并将要运行的测试用例列表下发给待测试产品。
[0071]在本发明一实施例中,上位机可通过GUI的方式提示给测试人员可选择的全部测试用例列表,此时,测试人员点击“全选”按钮指定上位机显示的全部测试用例并点击“运行”按钮对该嵌入式设备进行测试,如图4所示。
[0072]步骤S304:上位机测试工具软件控制嵌入式设备运行指定的测试用例项,并记录测试结果。此步骤对应步骤S103:待测试产品根据要运行的测试用例列表执行要运行的测试用例。
[0073]在本发明一实施例中,如图4所示,上位机可通过⑶I的方式显示嵌入式产品测试用例的测试结果。具体来说,VGA Output Test和Aud1 Output Test测试成功,但LEDBlink Test测试失败。
[0074]图5为本发明一实施例提供的一种产品测试设备的结构示意图。如图5所示,待测试产品中预先存储有标准测试用例库,该产品测试设备包括:
[0075]获取装置1,用于获取待测试产品4中的标准测试用例库;
[0076]下发装置2,用于从标准测试用例库中指定要运行的测试用例,并将要运行的测试用例列表下发给待测试产品4;
[0077]测试装置3,用于使得待测试产品4根据要运行的测试用例列表执行要运行的测试用例。
[0078]具体来说,获取装置1的两端分别连接待测试产品4和上位机5;下发装置的两端分别连接待测试产品4和上位机5;测试装置3和待测试产品4相连接。上位机5通过驱动获取装置1可以在待测产品中获取标准测试用例库;然后,测试人员通过上位机5指定要运行的测试用例,上位机5通过驱动下发装置2将要运行的测试用例列表下发到待测试产品4中;此时待测试产品4驱动测试装置3根据要运行的测试用例列表执行要运行的测试用例。这样,同样可以完成待测试产品4的测试。
[0079]本领域技术人员应当理解,附图中描绘为功能块的元件可以被实现为硬件、软件、或它们的组合。框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
[0080]以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换等,均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种产品测试方法,其特征在于,待测试产品中预先存储有标准测试用例库,所述测试方法包括: 获取待测试产品中的标准测试用例库; 从所述标准测试用例库中指定要运行的测试用例,并将要运行的测试用例列表下发给所述待测试产品; 使得所述待测试产品根据要运行的测试用例列表执行所述要运行的测试用例。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过上位机中的测试工具软件获取待测试产品中的标准测试用例库,从所述标准测试用例库中指定要运行的测试用例,并将要运行的测试用例列表下发给所述待测试产品。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,进一步包括: 所述待测试产品向所述上位机中的测试工具软件发送测试结果;或, 所述待测试产品储存测试结果。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使得所述待测试产品根据要运行的测试用例列表执行所述要运行的测试用例包括: 使得所述待测试产品采取本地自动测试的方式运行所述要运行的测试用例。5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述待测试产品根据要运行的测试用例列表执行所述要运行的测试用例包括: 所述待测试产品向所述上位机中的测试工具软件输出交互信息; 所述上位机中的测试工具软件根据所述交互信息生成交互式测试结果。6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,从所述标准测试用例库中指定要运行的测试用例,并将要运行的测试用例列表下发给所述待测试产品包括: 在所述上位机中的测试工具软件中,通过图形用户界面的方式显示所获取的所述标准测试用例库中的所有测试用例,并通过图形用户界面中设置的选项来指定要运行的测试用例。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,进一步包括: 在所述上位机中的测试工具软件中,通过图形用户界面的方式显示所述要运行的测试用例的测试结果。8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述上位机与所述待测试产品之间的连接方式包括:串行接口、USB或以太网。9.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述待测试产品为嵌入式产品Ο10.—种产品测试设备,其特征在于,待测试产品中预先存储有标准测试用例库,所述产品测试设备包括: 获取装置,用于获取待测试产品中的标准测试用例库; 下发装置,用于从所述标准测试用例库中指定要运行的测试用例,并将要运行的测试用例列表下发给所述待测试产品; 测试装置,用于使得所述待测试产品根据要运行的测试用例列表执行所述要运行的测试用例。
【专利摘要】本发明一实施例提供了一种产品测试方法和设备,解决了现有技术中产品测试方法不统一,测试软件重复开发的问题。该方法为待测试产品中预先存储有标准测试用例库,所述测试方法包括:获取待测试产品中的标准测试用例库;从所述标准测试用例库中指定要运行的测试用例,并将要运行的测试用例列表下发给所述待测试产品;使得所述待测试产品根据要运行的测试用例列表执行所述要运行的测试用例。
【IPC分类】G06F11/28
【公开号】CN105446849
【申请号】CN201510751955
【发明人】边荣光
【申请人】北京中星微电子有限公司
【公开日】2016年3月30日
【申请日】2015年11月6日
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