专利名称：一种时序测试电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光耦测试电路，尤其涉及一种时序测试电路，主要用于时序 输出设备的时序输出自测试。
背景技术：
目前，飞行器的时序输出测试都在地面完成，一般用点对点的方式直接从飞行器 上引出时序输出的模拟信号至地面测发控系统，地面再用指示灯或是别的测试电路进行测 试，这种测试方法只能在地面试验时才能发挥作用，对于飞行器真正飞行过程中的时序输 出，传统的测试方法将会失效。
实用新型内容本实用新型的技术解决问题是克服现有技术的不足，提供一种时序测试电路， 通过采用一个高可靠光耦测试电路实现对时序信号的测试，该电路简单可靠、体积小、成本 低，可靠性高。本实用新型的技术解决方案是一种时序测试电路，其特征在于包括测试输入 接口电路和光耦测试输出电路，所述的测试输入接口电路包括限流电阻Rl、电阻R2和电容 Cl，电阻R2和电容Cl并联组成RC滤波器，RC滤波器与限流电阻Rl串联后组成测试输入接 口电路；所述的光耦测试输出电路包括光电耦合器Ul和电阻R3，光电耦合器Ul的两个输 入端分别与RC滤波器的两端相连，光电耦合器Ul的输出正端与电阻R3串联后接电源Vcc， 光电耦合器Ul的输出负端接地，光电耦合器Ul的输出正端引出作为测试信号输出至测试 计算机进行采样。其工作原理是被测时序信号经限流电阻R1，再经电阻R2和电容Cl并联形成的 RC滤波器弓I至光电耦合器Ul的输入端，当测试电路输入端没有时序输出时，光电耦合器Ul 不导通，测试计算机I/O 口接收到的时序测试信号为高电平，当测试电路输入端有时序输 出时，光电耦合器Ul导通，测试计算机I/O 口接收到的时序测试信号为低电平。本实用新型与现有技术相比的有益效果是本实用新型通过在时序输出设备内置 高可靠光耦测试电路即可实现时序输出设备的自测试功能，由于电路直接集成在飞行器上 设备中，即使在飞行器飞行状态下，测试电路仍然能够采集到时序的输出状态，相比现有的 时序测试方法，解决了飞行器飞行过程中时序无法测试的问题，同时采用光电耦合器对时 序信号进行光电隔离后再进行测试，保证了后端采集到的测试信号的有效性和可靠性，同 时，光耦的输入端并联RC滤波器，有效减少时序测试线路上的干扰，提高了时序测试电路 的可靠性。
图1为本实用新型的电路原理示意图。
具体实施方式
下面以时序输出电压为28V为例给出本实用新型的具体实施方法。如图1所示，Ul作为光电耦合器，是实现测试电路的主要器件，在测试电路输入端 引入时序信号后导通，电路输出端输出低电平给测试计算机I/O 口实现时序的测试。光电 耦后器输入端并联连接电阻R2和电容Cl，其中一个输入端点通过串联限流电阻Rl与弹上 时序输出设备的时序输出端连接，光电耦后器Ul的另一个输入端连接到时序信号对应的 负端。光电耦合器Ul的输出证端通过串联电阻R3与电源Vcc连接，输出负端连接至电源 Vcc的对应地，输出正端引出作为测试信号输出至测试计算机进行采样。根据光电耦合器的 工作参数，可通过适当选择电阻R1、R2、R3的阻值和电容器Cl容值，设计光耦Ul的实际可 靠工作参数。所述技术方案的工作过程为(1)继电器Kl断开，时序无输出，光电耦合器Ul由于输入两端没有形成通电回路 而不导通，此时光电耦合器Ul输出正端呈高电平状态，测试计算机I/O 口接收到高电平；(2)继电器Kl闭合，时序输出，光电耦合器Ul导通，此时光电耦合器Ul输出正端 通过负端与地短接，呈低电平状态，测试计算机I/O 口接收到低电平。针对实施例所示的技术方案，在具体应用时主要涉及光耦的选择和阻容参数的选 择。图1中，光电耦合器Ul可选用瑞普北光生产的GH281-4型光电耦合器，光电耦合器导 通电流为l_20mA，导通电压Vf* 1.0-1. 5V，光电耦合器导通后输出导通压降VtjSO. 1 0. 3V，光电耦合器电流的传输比CTR为300%。电阻R2和电容Cl主要用于滤波和提高输入 信号门限，Cl容值可选0. 047 μ F，R2阻值取200 Ω ；电阻Rl与R2构成分压、分流电路，Rl 阻值取1800 Ω。测试电路工作参数具体计算如下测试电路的门槛电压
VCC-V V5-0 2 12(°++—)x1800 + 1.2 14.8F
R3xCTR Rl1 1000x3 200测试电路导通最小电流
Γ η VCC-V0 5-0.2 , 〔 λ-- =-a 1.6mA
R3xCTR 1000x3测试电路工作电流为
「 +D-VF VF 28-1.2 1.2 。…-己=--- 8.9mA
Rl R2 1800 200上述计算结果表明，本实施例的技术方案能够正常检测时序输出信号。本实用新型未详细描述内容为本领域技术人员公知技术。
权利要求一种时序测试电路，其特征在于包括测试输入接口电路和光耦测试输出电路，所述的测试输入接口电路包括限流电阻R1、电阻R2和电容C1，电阻R2和电容C1并联组成RC滤波器，RC滤波器与限流电阻R1串联后组成测试输入接口电路；所述的光耦测试输出电路包括光电耦合器U1和电阻R3，光电耦合器U1的两个输入端分别与RC滤波器的两端相连，光电耦合器U1的输出正端与电阻R3串联后接电源Vcc，光电耦合器U1的输出负端接地，光电耦合器U1的输出正端引出作为测试信号输出至测试计算机进行采样。
2.根据权利要求1所述的一种时序测试电路，其特征在于所述光电耦合器Ul选用 GH281-4型光电耦合器，光电耦合器Ul的导通电流为l_20mA，导通电压为1. 0-1. 5V，光电耦 合器Ul导通后输出导通压降为0. 1 0. 3V。
3.根据权利要求1所述的一种时序测试电路，其特征在于所述电阻R2的阻值为 200 Ω，电容Cl的容值为0. 047 μ F，限流电阻Rl的阻值为1800 Ω。
专利摘要一种时序测试电路，包括电阻R1、R2、R3、电容C1和光电耦合器U1，被测时序信号经限流电阻R1，再经电阻R2和电容C1并联形成的RC滤波器引至光电耦合器U1的输入端，光电耦合器U1的输出端正端串联电阻R3后接电源Vcc，光电耦合器U1输出端正端直接引出作为测试信号至测试计算机的I/O口进行采样，光电耦合器U1输出端负端接地。相比现有的时序测试方法，本实用新型解决了时序无法测试的问题，同时采用光电耦合器对时序信号进行光电隔离后再进行测试，保证了后端采集到的测试信号的有效性和可靠性，同时，光耦的输入端并联RC滤波器，有效减少时序测试线路上的干扰，提高了时序测试电路的可靠性。
文档编号G08G5/00GK201707396SQ20102019036
公开日2011年1月12日 申请日期2010年5月10日 优先权日2010年5月10日
发明者刘林梅, 刘波, 吴 灿, 周志久, 尹刚, 曹帮林, 赵雅丽, 邱靖宇, 黄波 申请人:北京航天自动控制研究所