光斑整形装置和方法,光学拾取装置及光盘装置的制作方法

文档序号:6749452阅读:201来源:国知局
专利名称:光斑整形装置和方法,光学拾取装置及光盘装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种光斑整形装置和对投射到介质上的光斑进行整形的方法;一种适合于具有不同轨道间距的至少多种类型可移动光盘的,用于在光盘上形成光斑和再现信息信号的光学拾取装置;以及一种光盘装置。
背景技术
具有大约64mm的小直径,并且具有能够记录例如不小于74分钟音乐信号的存储容量的光盘,已经广为人知。这些小直径光盘被称为小型盘MD(商标名,索尼公司)。这种光盘分为两类,即数据以凹坑形式记录在其上的仅能再现类型,和可由磁光(MO)记录系统在其上记录数据,并且还可以再现的记录/再现型。下面的说明涉及记录/再现型(随后称之为磁光盘)。
对于磁光盘,为了增加记录容量,已经对轨道间距,记录激光束的记录波长,或者物镜的NA进行了改进。
将以1.6μm轨道间距和EFM调制系统进行凹槽记录的初始磁光盘称为第一种格式磁光盘。将以0.95μm轨道间距和RLL(1,7)调制系统进行平台记录(land recording)的第二代磁光盘称为第二种格式磁光盘。将以0.70μm或更小的轨道间距和RLL(1,7)调制系统进行平台和凹槽记录的第三代磁光盘称为第三种格式磁光盘。


图17表示出这三种类型磁光盘的规格。如上所述,由于不断地缩小轨道间距和减小凹坑长度,因而记录容量从第一种格式磁光盘的140MB显著地增大到第二种格式磁光盘的650MB,以及第三种格式磁光盘的2GB。还由于与图17中表示出的相应规格有关的技术的发展,记录容量得以不断增大。
参见图18,其表示每种磁光盘的地址格式,现在将说明第三种格式磁光盘如何获得上述记录容量。图18A,18B和18C分别说明第一种格式磁光盘、第二种格式磁光盘和第三种格式磁光盘的地址格式。第一种格式磁光盘具有采用1.6μm轨道间距和单螺线双侧摆动的凹槽记录的地址格式。第二种格式磁光盘具有采用0.95μm轨道间距,和双螺线单侧摆动的平台记录的地址格式。第三种格式磁光盘具有采用0.70μm或更小轨道间距,和双螺线单侧摆动的平台和凹槽记录的地址格式。
尤其是在第三种格式磁光盘中,如上所述,轨道间距缩小为0.70μm或更小。在普通的沟槽记录系统或平台记录系统中,对于激光束的光斑而言,轨道间距太小,从而使跟踪误差很小。不过,在第三种格式磁光盘中,由于采用了平台和凹槽记录系统,故作为两倍轨道间距的凹槽间距为1.4μm或更小,与传统的第二种格式磁光盘相比,可以获得更大的跟踪误差信号。与第二种格式磁光盘相同,第三种格式磁光盘的地址输入方法是单侧摆动的,并且由FM调制和双相调制用这种摆动对绝对地址进行编码。其地址格式与第二种格式磁光盘相同。区别在于,在第二种格式磁光盘中,如图18B所示,凹槽本身是摆动的,以加入地址信息,而在第三种格式磁光盘中,如图18C所示,仅凹槽的一侧是摆动的,而另一侧保持为DC。通过采用这种系统,有可能缩小轨道间距,同时抑制相邻摆动之间的干扰。
第三种格式磁光盘最显著的特征是基于畴壁位移检测(DWDD)进行数据再现。在使用畴壁位移时,通过使用与用于第二种格式磁光盘的光学系统相同的650nm激光波长,和0.52的透镜数值孔径,尽管其具有大约2.6倍于第二种格式磁光盘的高线密度,也能保持较低的兼容性。
第三种格式磁光盘采用RLL(1,7)调制系统记录信号,这与第二种格式磁光盘相同,不过它使用LDC(长距码)和高校正性BIS(脉冲指示子码)作为纠错码。最小记录单位为64千字节。结果,可以实现2GB的记录容量,大约为第二种格式磁光盘650MB记录容量的3.1倍。
同时,难于在具有固定光学环境的光学拾取装置上实现兼容的同时,对记录在上述三代磁光盘上的信号进行读出。
在轨道间距相当宽的第一种格式磁光盘上,在凹槽双侧摆动的基础上,将地址信息记录为ADIP(前一凹槽中的地址)信号,从而需要一稍大的光斑。对于使用650nm短波长激光束和NA为0.52的物镜的第二种格式磁光盘,通过改变光学拾取装置的数值孔径,可进一步减小变窄的倾斜余量(skew margin)。对于使用上述DWDD再现信号的第三种格式磁光盘,再现时的光斑形状改变了畴壁位移特性,并且径向较小的光斑适合于改善记录时的交叉光线特性。
根据这种方法,这些光盘分别需要最佳光斑形状。从而,难以在具有固定光学环境的光学拾取装置上实现兼容。
而且,在光盘装置中,对于具有例如通过上述的DWDD对高密度记录在光盘上的信号进行再现的再现单元的磁光信号记录/再现装置,难以仅使用一个光学拾取装置而将用于记录/再现的激光束投射到光盘上。由于DWDD利用了再现时介质上的温度分布,因而记录和再现之间激光束的最佳分布不同,从而不能充分发挥其特性。

发明内容
鉴于上述现有技术的状态,本发明的一个目的在于提供一种光斑整形装置和方法,一种光学拾取装置和一种能够对于多种不同的介质形成最佳光斑的光盘装置。
本发明的另一个目的在于提供一种光斑整形装置和方法,一种光学拾取装置,和一种能够将记录和/或再现激光束从单个光学拾取装置投射到光盘上同时改变其光斑形状的光盘装置。
根据本发明的光斑整形装置,适用于根据介质的类型对从同一光源通过相同光路投射到多种类型可移动介质上的光斑进行整形。该装置包括液晶装置,具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案;以及控制装置,用于根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
在这种光斑整形装置中,该控制装置根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿轨道方向的光提供像差,以便对光斑进行整形。
根据本发明的光斑整形方法,适用于根据介质的类型对从同一光源通过相同光路投射到多种类型可移动介质上的光斑进行整形。该方法包括一控制步骤,提供具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案的液晶装置,并且根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
在该光斑整形方法中,在控制步骤,根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿轨道方向的光提供象差,以便对该介质上的光斑进行整形。
根据本发明的光斑整形装置,适用于将记录和再现中的入射的激光束,分别整形成投射在记录介质上的用于记录和/或再现信息信号的光斑。该装置包括具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案的液晶装置;和控制装置,用于改变记录和再现之间施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
在这种光斑整形装置中,在用于从介质再现出信息信号的再现模式中,该控制装置改变施加给分离电极图案上的电压,从而为沿介质记录轨道方向入射在液晶装置上的光提供象差,以便对该介质上的光斑进行整形。
根据本发明的光斑整形方法,适用于将记录和再现中入射的激光束,分别整形为投射在介质上的用于记录和/或再现信息信号的光斑。该方法包括一控制步骤,提供具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案的液晶装置,并且改变记录和再现之间施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
在这种光斑整形方法中,在用于从介质再现出信息信号的再现模式中,该控制步骤中改变施加给分离电极图案上的电压,从而为沿介质记录轨道方向入射在该液晶装置上的光提供象差,以便对该介质上的光斑进行整形。
根据本发明的光学拾取装置,适于在光盘上形成适用于至少具有不同轨道间距的多种类型可移动光盘的光斑,从而读出信息信号。该装置包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到该光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;液晶装置,设置于该光学系统中,并且沿光盘的径向层叠有分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于针对每种类型光盘,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
在这种光学拾取装置中,该光斑整形装置根据光盘的类型,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿径向的光提供象差,以便对光斑进行整形。
根据本发明的光学拾取装置,适于将用于记录和/或再现信息信号的记录光和/或再现光投射到光盘上。该装置包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到该光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;液晶装置,设置于该光学系统中,并且沿光盘的径向层叠有分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于在投射记录光和投射再现光时,改变光斑的光学特性。
在这种光学拾取装置中,该光斑整形装置在用于从光盘再现信息信号的再现模式中,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而为沿光盘轨道的切线方向入射在该液晶装置上的光提供象差,以便对该光盘上的光斑进行整形。
根据本发明的光盘装置,具有一再现部分,用于在光盘上形成适合于至少具有不同轨道间距的多种类型可移动光盘的光斑,从而从每种光盘读出信息信号。在该光盘装置中,其再现部分包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到该光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;液晶装置,设置于该光学系统中,并且沿光盘的径向层叠有分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于根据光盘的类型,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性,以便对光斑进行整形。在该光盘装置中,在该光检测装置所检测的返回光大小的基础上,再现信息信号。
在这种光盘装置中,该光斑整形装置根据光盘的类型,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿径向方向的光提供象差,以便对该光盘上的光斑进行整形。
根据本发明的光盘装置,适用于将记录光和/或再现光投射到光盘上,以便记录和/或再现信息信号。该装置包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;液晶装置,设置于该光学系统中,并且沿该光盘的径向层叠有分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于在投射记录光和投射再现光时,改变光斑的光学特性。
在这种光盘装置中,该光斑整形装置在从光盘再现信息信号的再现模式中,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而为沿光盘轨道的切向入射在该液晶装置上的光提供象差,以便对该光盘上的光斑进行整形。
通过下面实施例的描述,本发明的其它目的和优点将会更加清楚。
附图的简要说明图1为表示第一实施例的磁光盘记录/再现装置的结构的方框图。
图2表示设置于图1中所示磁光盘记录/再现装置中的光学拾取装置的结构。
图3表示设置于图1中所示磁光盘记录/再现装置中的光斑整形装置的液晶部分的分离电极图案。
图4为表示光盘倾斜0.7°(径向倾斜)时,第二种格式磁光盘上的光强分布曲线。
图5示意性地说明图3所示的光斑整形装置所进行的光斑整形。
图6表示不进行液晶校正时,所施加的用于通过对用于第二种格式磁光盘的光斑进行整形,以获得用于第三种格式磁光盘的光斑的电压。
图7表示在从第二种格式磁光盘再现信号时,所施加的用于提供具有接近于彗差的象差图案的光束的电压。
图8表示通过提供沿线性方向散焦的光斑的光斑尺寸的变化特性。
图9为表示使用图1中所示磁光盘记录/再现装置的摄像机记录/再现装置的结构的方框图。
图10为表示第二实施例的磁光盘记录/再现装置的结构的方框图。
图11示意性地表示畴壁位移检测。
图12为曲线图,用于解释图10中所示磁光盘记录/再现装置的运作。
图13说明畴壁位移检测所产生的幻影。
图14表示光束的入射所造成的磁光盘上光斑的实际温度分布。
图15表示当从磁光盘再现所记录的信号(DWDD)时,与数据信号一起产生的幻影信号。
图16表示当从磁光盘再现所记录的信号(DWDD)时,消除幻影信号。
图17表示三种磁光盘的规格。
图18表示各种磁光盘的地址格式,以解释第三种格式磁光盘如何获得其记录容量。
本发明最佳实施方式下面将参照附图,说明本发明的实施例。首先将描述第一实施例。该第一实施例是一种磁光盘记录/再现装置,其具有一再现装置,用于形成适合于至少具有不同轨道间距的三种磁光盘中的每一种,即图17中所示的第一种格式磁光盘、第二种格式磁光盘和第三种格式磁光盘的光斑,并且从每种磁光盘中再现信息信号;以及一记录装置,用于将信息信号记录到每种磁光盘上。
该磁光盘记录/再现装置具有一采用本发明具体例子的光斑整形装置的光学拾取装置。下面将详细描述该光学拾取装置。
首先,将参照图1描述用于使载荷在磁光盘记录/再现装置上的三种磁光盘之一的磁光盘1旋转的结构,和用于在磁光盘1上移动光学拾取装置4的结构。磁光盘1通过主轴电动机2以预先确定的转数旋转。由驱动器3驱动主轴电动机2。由下面将描述的数字伺服处理器(DSPP)23控制驱动器3,从而旋转主轴电动机2。
利用来自光学拾取装置4的激光束照射通过主轴电动机2旋转的磁光盘1。通过沿磁光盘1的径向移动光学拾取装置4而读出磁光盘1上的数据。由具有螺纹的电动机5的螺纹机构支撑光学拾取装置4,从而使光学拾取装置4可沿磁光盘1的径向移动。这种螺纹机构可产生很大的读出位置移动。下面将要描述的光学拾取装置4的物镜被双轴驱动电路支撑,并且根据跟踪伺服操作由驱动器3沿磁光盘1的径向移动,作到读出位置的小位移。而且,随着在聚焦伺服操作的基础上物镜通过双轴驱动电路朝向或远离磁光盘1移动,对激光束在磁光盘1的信号记录表面上的聚焦进行控制。
现在将描述再现装置的结构。光学拾取装置4产生RF信号,并将RF信号供给RF放大器6。将通过RF放大器6以预定增益放大的信号依顺序传输给A/D转换器7、自动增益控制(AGC)电路8、均衡器(EQ)和数字PLL装置9、解码器10和解调器11,这些装置构成了信号处理单元。解调器11通过内部总线12与存储装置13、ECC编码器/解码器14和解密器及解码器15相连。
该再现单元按照如下方式进行操作。具体来说,由光学拾取装置4从磁光盘1采集的信号在光学拾取装置4中进行光电转换,并且作为RF信号输出。该RF信号被输入RF放大器6,在该放大器中以预定增益放大,然后输送给构成信号处理单元的A/D转换器7。输入A/D转换器7的RF信号被量化。此后,由AGC处理单元8控制增益,然后由均衡器(EQ)和数字PLL单元9进行波形整形并产生取样时钟。由解码器10解码所产生的信号,然后由解调器11进行解调。在这种情形中,对经过A/D转换的RF信号进行AGC、均衡和DPLL,不过可以在A/D转换之前进行该信号的AGC、均衡和PLL。经过解调器11解调的数据流被写入(expand)存储器13,且由ECC编码器/解码器14对其各个纠错块进行误差校正。用解密器与解码器15对经过纠错的数据进行解密处理和解码处理,并且与来自时钟发生器16的传输时钟SCLK一起,输出DAT1信号。
现在将描述该记录单元的结构。由加密器和编码器17对所输入的信号DAT0进行处理,然后通过内部总线12顺序输送给存储单元13、ECC编码器/解码器14和调制器18。调制器18将经过调制的数据输送给磁头驱动装置19。磁头驱动装置19驱动磁头20。调制器18还将时钟信号输送给激光器APC电路和驱动器21。
该记录单元按照如下方式进行操作。具体来说,加密器和编码器17对与传输时钟SCLK同步输入的信号DAT0进行加密处理和编码处理,然后将该信号写入存储单元13。由编码器/解码器14对写入存储单元13中的数据施加误差奇偶校正,所产生的数据通过内部总线12传输给调制器18。由调制器18调制的数据通过磁头驱动装置19传输给磁头20。同时,将来自调制器18的激光器选通调制时钟传输给激光器APC电路和驱动器21。
现在将描述伺服系统的结构。该伺服系统具有下列元件;一矩阵放大器22,用于从光学拾取装置4所产生的信号中抽取伺服误差信号和摆动信号,将在下面对其进行描述;一DSSP23,用于在伺服误差信号的基础上,经由驱动器3,对光学拾取装置4的螺纹机构和激励器进行预先确定的伺服处理,并且根据CLV控制信号,对主轴电动机(SM)2进行主轴伺服处理,将在下面对其进行描述;和一用于控制DSSP23的系统控制器27。该伺服系统还具有一带通滤波器(BPF)24,用于从矩阵放大器所抽取的摆动信号中检测ADIP(预凹槽中的地址)信号;一ADIP解码器25,用于对ADIP信号进行解码;和一CLV控制装置26,用于将CLV控制信号传输给DSSP23。
现在将描述该伺服系统的操作。DSSP23对由矩阵放大器22从来自光学拾取装置4的信号中抽取的伺服误差信号进行相位补偿和增益与目标值设定处理,并且将所产生的信号通过驱动器3传输给光学拾取装置4中的激励器和有螺纹的电动机5。由于跟踪误差信号在磁光盘的平台部分与凹槽部分之间具有相反的极性,所以系统控制器27根据对哪个部分进行记录/再现而切换极性。具体来说,已知在使用象散方法在平台/凹槽盘上进行聚焦检测时,产生平台部分和凹槽部分之间的偏移。为了消除其影响,系统控制器27在平台部分和凹槽部分分别设置聚焦偏移。
同时,由带通滤波器(BPF)24对从矩阵放大器22输出的摆动信号成分进行抽取,而且由ADIP解码器25解码的地址信息被传送给系统控制器27。BPF24输出的积分和ADIP解码器25中的PLL相位误差,以及系统控制器27发出的控制信号,被传输给CLV控制装置26,并通过DSSP23和驱动器3传输给主轴电动机2。
图1中所示的磁光盘记录/再现装置适用于向规格彼此不同的第一种格式磁光盘、第二种格式磁光盘和第三种格式磁光盘记录和从中再现信息信号。从而,光学拾取装置4或者记录装置和再现装置可适用于这些光盘中的任何一种。
由于所有这些光盘均放置于盒中,故通过读出设置于盒上的识别标志,可以对三种光盘进行区别。还可以通过检测格式本身存在的差别而识别光盘类型。
首先,将描述在光学拾取装置4中将光斑整形为适合于三种类型磁光盘,作为本发明主要部分。
图2表示光学拾取装置4的详细结构。具体来说,该光学拾取装置4具有一激光二极管(LD)41,作为发射激光束的光源;一照射光路,用来利用LD41发出的激光束照射磁光盘1的信号记录表面;一光学系统,用于形成返回光路,使磁光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;和一光检测器(PD)51,用于检测光学系统的返回光路所引导的返回光的大小。该光学系统包括一As校正板42,一光栅43,一分束器44,一准直透镜46,一反射镜47,一物镜48,一沃拉斯顿棱镜49和一多透镜50。光学拾取装置4还具有一光斑整形装置的液晶装置45,作为本发明具体例子的光斑整形装置,液晶装置45设置于光学系统的分束器44与准直透镜46之间。
在再现时,该光斑整形装置根据磁光盘1的类型,通过控制装置改变施加给液晶装置45的分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性,以便对光斑进行整形。
在下面的描述中,假设例如将光学拾取装置4设计成用于第二种格式磁光盘。在光学拾取装置4中,再现时,由LD41发出的再现激光束通过As校正板42和光栅43,并入射在分束器44上。分束器44使该激光束通过,并使该激光束入射在液晶装置45上。在再现时,光斑整形装置根据磁光盘的类型为通过液晶装置45的激光束提供象差,从而对磁光盘上的光斑进行整形。如下面将要详细描述的,通过改变施加给液晶装置45的分离电极图案A,B,C,D和E上的电压,如图3所示,使激光束具有象差,且沿径向或线性方向对磁光盘上的光斑进行整形。由光斑整形装置的液晶装置45根据每种磁光盘整形的激光束被准直透镜46准直,并被反射镜47反射。此后,该激光束被物镜48会聚,并投射到磁光盘1的信号记录表面上。
由磁光盘1的信号记录表面反射的返回光,将通过物镜48、反射镜47、准直透镜46和液晶装置45,然后被分束器44反射到PD51的方向。然后该返回光被沃拉斯顿棱镜49分束,被多透镜50会聚,并入射在PD51的光接收表面上。
在PD51上设置有多个例如两个四等分光接收受表面,每个光接收表面具有一四等分光接收区域,并且PD51所探测的接收光量信号(RF信号)被传送给图1中所示的RF放大器6。
将光斑整形装置的液晶装置45形成为圆形或椭圆形形状,沿磁光盘1的径向具有图3中所示的分离电极图案A,B,C,D和E。例如,假设圆的中心为0,则图案电极A,B,C,D和E在径向具有下列宽度A=-1.0至-0.85;B=-0.85至-0.13;C=-0.13至+0.13;D=+0.13至+0.85;E=+0.85至+1.00。
由于如上所述将光学拾取装置4设计成用于第二种格式磁光盘,激光束的波长λ为650nm,物镜48的数值孔径NA为0.52,如图17所示。
在使用这种光学拾取装置4从第一种格式磁光盘再现数据时,用于第二种磁光盘的光斑在径向较小,故必须通过散焦到一定程度而增大光斑,以便读出ADIP,因为是在参照图18描述的凹槽双侧摆动的基础上,使用ADIP信号将地址信息记录在第一种格式磁光盘上。不过,太多的散焦会到达S形引入焦点的端部,从而不能利用散焦边缘。为了克服这个问题,光斑整形装置为用于第二种格式磁光盘的光斑提供象差,并进行光斑整形,使得沿径向方向横向拉长光斑。
在使用该光学拾取装置4从第三种格式磁光盘再现数据时,由于用DWDD检测第三种格式磁光盘上经过线性方向的畴壁增大所记录的信号,所以沿线性方向竖直的长光斑增大了用于再现的光量。从而,改善了再现性质,并且改善了记录过程中的交叉光线特性。因此,光斑整形装置为用于第二种格式磁光盘的光斑提供象差,并进行光斑整形,使得在线性方向竖直地拉长光斑。而且,如下面将要描述的,进行散焦。
在从第二种格式磁光盘再现数据时,由于光斑整形装置提供给光束以接近于彗差的象差图案,且在倾斜的基础上进行彗差校正,以便增大径向倾斜余量,故可以改善再现性质。例如,当第二种格式磁光盘倾斜0.7°(径向倾斜)时,用图4中的虚线表示光盘上的光强分布特性。如果光斑中心处的强度为1,在离中心+0.7μm位置附近,强度降到零,随后,在+1μm位置处增大到0.05的强度峰值,形成一凸起形状。虚线所示的光强分布特性大体上显示出底部扩展。从而,根据虚线所示的光强分布,已知由于径向倾斜0.7°,可能读出相邻的轨道。因此,光斑整形装置进行液晶校正,以便消除强度峰为0.05的凸形,并且防止底部在两侧的扩展。在图4中,用实线表示通过光斑整形装置在液晶校正之后的光强分布特性。根据该实线的光强分布特性,由于消除了光斑的任何横向轨道偏离,故能改善再现特性。
现在将参照图5到8描述光斑整形装置的操作,其根据三种类型磁光盘,通过使用液晶装置45进行光斑整形,而对用于第二种格式磁光盘的光斑进行整形。
图5为用于示意性地表示光斑整形的视图。
首先将描述不使用液晶校正,从用于第二种格式磁光盘的光斑整形成用于第一种格式磁光盘的光斑的光斑整形装置的操作。在这种情形中,光斑整形装置将图6所示的所施加的电压提供给图3中所示的液晶装置45的分离电极图案A和E,并向光束提供接近于象散的象差图案。因此,可以形成沿径向(rad)拉长的光斑。
虽然在图5中没有表示出,不过将描述在从第二种格式磁光盘再现数据时,将接近于彗差的象差提供给光束,并在倾斜的基础上进行彗差校正的操作。在光斑整形装置中,将沿一个方向幅值不同的电压(A>D)施加给液晶装置45的分离电极图案A和D,并将沿另一个方向幅值不同的电压(E>B)施加给部分B和E,如图7所示。因此,将接近于彗差的象差图案提供给光束,并在倾斜的基础上进行彗差校正,以增大径向倾斜余量。
现在将描述不使用液晶校正,从用于第二种格式磁光盘的光斑整形成用于第三种格式磁光盘的光斑的光斑整形装置的操作。在这种情形中,光斑整形装置将图6所示的所施加的电压提供给图3所示的液晶装置45的分离电极图案部分A和E,然后将接近于象散的象差图案提供给光束,并沿切向(tan)提供散焦,从而形成沿切向拉长的光斑。图8表示通过沿切向为光斑提供散焦,光斑尺寸的改变特性。分别使用用于定义光盘上光斑尺寸的1/e2光强和1/2光强,作为沿切向(tan)和径向(rad)的参数。可以理解,当光强为1/e2时,散焦接近于2μm,并且当散焦超过2μm时,光斑尺寸迅速增大。因而,通过对用于第二种格式磁光盘的光提供大约2μm的散焦,可以形成沿切向拉长的用于第三种格式磁光盘的光斑。
如上所述,在图1所示的磁光盘记录/再现装置中,在再现时,由光学拾取装置4中的光斑整形装置,根据三种磁光盘中的每一种,仅仅通过改变施加给液晶装置45的所施加的电压图案,可以形成用于每种光盘的最佳光斑。从而,可以使用简单的结构,并且很廉价地保证其兼容性。
如上所述,在这种磁光盘记录/再现装置中,记录装置和再现装置以及光学拾取装置4,适用于对三种磁光盘进行记录和再现。
首先,在记录装置中,ECC编码器/解码器14为写入存储器13中的数据添加纠错码。在这种情形下,对于第一种格式磁光盘,对数据进行ACIRC(高级的交叉交错里德—索罗蒙码)处理。对于第二种格式磁光盘,对数据进行RS-PC(里德—索罗蒙平行码)处理。对于第三种格式磁光盘,对数据进行RS-LDC(里德—索罗蒙长距码)处理。
调制器18根据每种光盘类型,对于上面所述的由ECC编码器/解码器14执行的各ECC处理的数据进行调制处理。对于第一种格式磁光盘,对数据进行EFM处理。对于第二种格式磁光盘和第三种格式磁光盘,对数据进行RLL(1,7)处理。
而且,在记录装置中,根据图17所示的三种光盘类型,改变交错存取、最小记录单位、冗余度、地址格式等,从而产生记录数据。
同样,在再现装置中,根据三种光盘类型,改变解码器10所进行的解码处理,解调器11所进行的解调处理,ECC编码器/解码器14所进行的ECC处理等。
例如,将描述从第三种格式磁光盘再现数据时的再现操作。从磁光盘1采集的信号在光学拾取装置4中被光电转换,然后进入RF放大器6并进行积分,以便消除上述DWDD具有的低频成分的涨落。信号通过LPF用于减小噪声,然后由A/D转换器7进行量化。此后,进行AGC处理和均衡处理,并由PLL产生取样时钟。解码器10在该时钟之后执行解码处理,且由解调器11对RLL(1,7)信号进行解调。对于每个纠错块,由ECC解码器/编码器14通过RS-LDC处理对存储单元13上的数据流进行处理,并且还由解密和解码器15进行解密处理和解码处理,作为DAT1信号被输出。
上述磁光盘记录/再现装置适用于具有图9所示结构的摄像机记录/再现装置的介质驱动装置34和机械平台/OPU(光学拾取装置)35。在图9中,从透镜31经由摄像机装置32输送的图像信号,受到视频信号处理装置33的诸如运动补偿的图像处理,然后成为MPEG2数据流。将附加有OSD信号等的信号输送给LCD/视频/声频/界面装置(interface block)36,然后在LCD显示器37上进行监视。该编码的MPEG2数据被发送给介质驱动装置34,在磁光盘记录/再现装置中进行如上所述的处理。此后,将经过处理的数据输送给机械平台/OPU35,并写入光盘。
在再现时,当安装在机械平台/OPU35上的光盘是三种光盘其中之一时,设置于OPU中的光斑整形装置根据光盘类型对光斑进行整形,并将光斑投射到该光盘的信号记录表面上。仅通过改变施加给液晶装置的所施加的电压图案,光斑整形装置能形成用于每种光盘的最佳光斑。因而,可能使用简单的结构,并且所费不多地保证其兼容性。
现在将描述本发明第二实施例的磁光盘记录/再现装置。该第二实施例包括具有另一种具体光斑整形装置实例的光学拾取装置,该光斑整形装置具有包括图3所示分离电极图案的液晶装置,和用于改变施加给分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性,以便对光斑进行整形的控制装置。
第二实施例的磁光盘记录/再现装置适合于通过光学拾取装置62将记录/再现光投射到磁光盘60上,从而记录/再现信息信号,如图10所示。
该磁光盘记录/再现装置具有下列元件一设置在光学拾取装置62内部并适于发射激光束的LD67;一同样设置于光学拾取装置62内部,并适于将LD67发射的激光束投射到磁光盘60的信号记录表面上,并使磁光盘60反射的返回光通过的光学系统;一PD70,用于检测光学系统所引导的返回光;和一光斑整形装置,用于在通过记录光和通过再现光时改变两者之间光斑的光学特性。
该光学系统设置于光学拾取装置62中,并且形成利用LD67发出的激光束照射磁光盘60的信号记录表面用的照射光路,和用于使磁光盘60反射的返回光通过的返回光路。
该光斑整形装置具有一设置于光学系统的照射光路中、并且具有沿光盘径向的分离电极图案的液晶装置65;和一相位补偿液晶驱动电路76,用于控制液晶装置65中的相位补偿。将在下面描述包含结构的其它部件在内的磁光盘记录/再现装置的详细结构。
该磁光盘记录/再现装置通过上述的畴壁位置检测,从其上高密度记录有数据的磁光盘(MO盘)60中再现数据。首先,将描述畴壁位移检测的原理。畴壁位移检测能够从其上高密度记录有数据的磁光盘中再现数据,以便能够在作为记录介质的磁光盘(MO)上实现高密度记录和再现,在该记录介质上可能进行信息信号的重复写入。这种畴壁位移检测是这样一种技术,它通过利用光斑产生的热分布,在再现时进行磁畴扩大,并读出小于光斑的标记。由于畴壁位移检测能够完全检测出该标记的边缘,故其适用于从采用所谓的“标记边缘记录”的磁光盘中再现数据。
用于执行畴壁位移检测的磁光盘具有一放大层83和一记录层81,并且还具有一处于放大层83与记录层81之间的切换层82,如图11所示。基于畴壁位移检测的再现的原理,是通过利用放大层83的畴壁87快速移动到最高温度部分的位移(畴壁位移88),当畴壁87到达不低于激光束86所产生的居里温度的等温区域的前端92时,检测标记的存在,如图11所示。
现在将描述当本发明应用于DWDD盘时,第二实施例的基本操作原理。图11表示温度分布T关于激光光斑位置x的特性,以及畴壁的能量密度关于光斑位置x的特性。而且,图11表示畴壁位移的驱动力F(x)关于激光光斑位置x的特性。
在DWDD光盘中,在对再现起作用的前端部分92处,畴壁位移的驱动力F(x)正比于箭头90所示的光束传播方向中温度分布的斜率。即畴壁位移的驱动力F(x)表示为F(x)=-σ/x=(-σ/T)*(T/x)其中(T/x)为温度梯度。从中可知,为了迅速地进行畴壁位移,必须增大温度梯度。
同时,在畴壁位移检测的基础上从磁光盘执行再现时,随着磁光盘沿箭头90所示的方向移动,在畴壁87到达等温区的后端91时,畴壁87也迅速地移动到最高温度部分。将这种后端部分91处的畴壁位移称为幻影。
为了限制后端部分处所产生的幻影的影响,必须减小后端部分91处畴壁位移的驱动力F(x),并使畴壁位移离开再现区域。
因而,在第二实施例中,在再现时,改变DWDD光盘上激光束的强度,以便增大在光束传播方向上的温度梯度,以增大对再现有贡献的前端部分处畴壁位移的驱动力F(x),同时减小后端部分处的梯度,以抑制幻影的产生并减小幻影的影响。在记录时,不进行激光束强度分布的这种改变,因为它会降低写入效率。
现在将描述该磁光盘记录/再现装置的详细结构和操作。在图10中,光学拾取装置62的光学系统具有下列元件一准直透镜66,用于将LD67发出的激光束转变成准直光束;一分束器64,用于对通过光斑整形装置的液晶元件65的准直光束(激光束)进行分束;一物镜63,作为激光束的输出端;一沃拉斯顿棱镜68;以及一聚光透镜69。照射光路由准直透镜66、分束器64和物镜63组成。返回光路由物镜63、沃拉斯顿棱镜68和聚光透镜69组成。
现在将描述光学拾取装置62的驱动。通过双轴驱动电路75支撑物镜63,使物镜可沿跟踪方向和聚焦方向移动。通过沿磁光盘60的径向移动光学拾取装置62,可以读出磁光盘60上的数据。由图中未示出的螺纹机构支撑光学拾取装置62,从而使光学拾取装置62可沿磁光盘60的径向移动。通过该螺纹机构,可以使读出位置发生较大的移动。随着在跟踪伺服操作的基础上物镜63通过双轴驱动电路75沿磁光盘60的径向移动,可以实现读出位置的较小移动。此外,随着在聚焦伺服操作的基础上物镜63通过双轴驱动电路75朝向和远离磁光盘60移动,对激光束在磁光盘60的信号记录表面上的聚焦进行控制。
下面将描述在具有上述光学系统的光学拾取装置62中激光束的发射和激光束的返回。由LD67发出的发散激光束被准直透镜66转变成准直光束,然后通过光斑整形装置的液晶装置65和分束器64,下面将对其进行描述。此后,该激光束被物镜会聚,并投射到磁光盘60上。在这种情形中,如上所述,通过双轴驱动电路75,物镜63沿跟踪方向和聚焦方向移动。光学拾取装置62发出的激光束可以是用于再现/记录的激光束。首先,假设从光学拾取装置62投射用于再现的激光束。
由磁光盘60反射的返回光经由物镜63入射在分束器64上。分束器64将该返回光朝向沃拉斯顿棱镜68引导。沃拉斯顿棱镜68对来自磁光盘60的返回光进行分束,并将分束光经由聚光透镜69投射到PD70。
由图中未示出的激光驱动装置控制从光学拾取装置62的LD67输出的激光束的ON/OFF操作和输出大小。
使用例如具有两个四等分光接收区域的光检测器,作为光学拾取装置62的PD70。在PD70检测的所接收光信号大小的基础上,用后面将要描述的矩阵装置72获得磁光信号MO(主)等。
下面将描述包括上述光斑整形装置的、用于对来自光学拾取装置62的再现信号进行处理的再现处理系统的另一种结构和操作。从光学拾取装置62的PD70的每个光接收区域输出所接收的光量信号,产生相当于所接收的来自磁光盘60的返回光量的电信号。该所接收的光量信号被输送给I-V转换器71。I-V转换器71对所接收的光量信号进行电流/电压转换。I-V转换器71所产生的每个所接收光量信号的电信号被输送给矩阵装置72。
矩阵装置72对每个所接收的光量信号进行算术处理,产生相当于记录在磁光盘60上的数据的磁光信号MO(主)。矩阵装置72还产生聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE。矩阵装置72还产生RF信号。
矩阵装置72所产生的聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE被传输给相位补偿电路74,且相位补偿电路74起伺服控制器的作用。相位补偿电路74在聚焦误差信号FE的基础上产生聚焦驱动信号,在跟踪误差信号TE的基础上产生跟踪驱动信号,并将这些信号施加给双轴驱动电路75的聚焦线圈和跟踪线圈。因此,构成了用于相对记录轨道方向将物镜63聚焦到精确的焦点处的伺服系统。
在这种磁光盘记录/再现装置中,由矩阵装置72从磁光盘产生的读出信号MO(主)被传输给数据检测装置78,并在再现时钟的基础上在数据检测装置中检测数据,下面将要对其进行描述。
由矩阵装置72产生的RF信号被输送给扇区检测装置73,并在扇区检测装置73中检测所记录的用于每个扇区的记录标记。从扇区检测装置73检测的所记录的用于每个扇区的记录标记,同步发生器79产生具有预定频率的时钟信号,并将该时钟信号输送给数据检测装置78和光斑整形装置的相位补偿液晶驱动电路76。
现在将描述该记录处理系统的结构和操作。在磁光盘记录/再现装置中,当由图中未示出的主机等提供写入信号时,编码器对该写入信号进行编码,然后将经过编码的信号经由磁头驱动电路77输送给磁头80。磁头80产生相应于所提供的写入信号的磁场,并将该磁场施加给磁光盘60。在这种情形中,光学拾取装置62通过物镜63将记录激光束投射到磁光盘60上磁头80所施加的调制磁场的位置处。
下面将描述该磁光盘记录/再现装置中光斑整形装置的结构和操作。如上所述,光斑整形装置具有液晶装置65,该液晶装置65设置于光学拾取装置62的光学系统的照射光路中,并且具有沿光盘径向的分离电极图案;以及相位补偿液晶驱动电路76,用于控制液晶装置65中的相位补偿。
液晶装置65具有分离电极图案A,B,C,D和E,如图3所示。相位补偿液晶驱动电路76改变施加给分离电极图案A,B,C,D和E上的电压,从而为再现激光束提供象差,以便使磁光盘上的光斑整形成线性方向。
已经参照图1描述了在将本发明应用于DWDD光盘的情形中,第二实施例的基本操作原理。现在将参照图12和13详细描述上述原理。
参照图13,首先将描述等温区域101中隔离标记(isolation mark)95的畴壁的前端放大和后端放大。在图13A中,在相对隔离标记95的光斑100的等温区域101中,在时间t1,在前端部分处产生隔离标记95的畴壁位移所导致的前端放大。通过时间t1时所产生的这种前端放大,获得数据信号D,如图13C所示。不过,在前端放大开始时间t1之后(等温区域长度d÷线速度V1)的时间t2,在后端部分处产生隔离标记95的畴壁位移所导致的后端放大,如图13B所示。从而,基于畴壁位移检测的读出信号(MO信号),除了数据信号D以外,还包含幻影信号G,幻影信号G与数据信号D具有相同的信号长度,并且比数据信号D的值低,且滞后于数据信号D上述的量d/V1。读出信号是一种数据信号D和幻影信号G两者的值叠加在一起的信号。
在DWDD光盘中,在对再现起作用的前端部分处该畴壁位移的驱动力F(x)正比于箭头90所示的光束传播方向中温度分布的斜率,如图11所示。因此应当理解,为了迅速地进行畴壁位移,必须增大温度梯度。因此,光束传播方向的正侧,即在前端放大一侧,可以使以实线表示的带有补偿特性的斜率比较陡峭,如图12所示。
在畴壁位移检测的基础上从磁光盘进行再现时,为了抑制时间t2处产生的幻影的影响,必须减小后端部分处畴壁位移的驱动力F(x),并使畴壁位移离开再现区域,如图13B所示。因此,在光束传播方向的反侧,即在后端放大一侧,实线的斜率特性可能比虚线所示的特性平缓,如图12所示。
即在DWDD光盘上,在再现时,可以增大沿光束传播方向的强度梯度,并可以使后端部分处的梯度比较平缓,以增大对再现有贡献的前度部分处畴壁位移的驱动力,并且还抑制幻影的产生,减小其影响。
图10所示的相位补偿液晶驱动电路76改变施加给液晶装置65的分离电极图案A,B,C,D和E上的电压,并为再现激光束提供象差,从而使磁光盘上的光斑整形成线性方向。具体来说,在对于电极A和D为+λ/10,对于电极B和E为-λ/10,对于电极C为0的校正条件下进行彗差校正,并且控制校正量。由此,得到图12所示的特性曲线。由于光束的照射所导致的磁光盘上光斑的实际温度分布随线速度和介质的温度特性而改变,如图14所示,故在初始阶段对校正量进行优化。根据光束强度校正量的最佳数值或者基于线速度的最佳校正量顺序进行控制。
在记录时无需对如上所述的光强分布进行校正,因为这会降低写入效率。因而,在具有图10所示结构的磁光盘记录/再现装置中,在记录和再现之间改变光束分布。
因此,由于磁光盘记录/再现装置具有设置于光学拾取装置62中的光斑整形装置,故当从磁光盘(DWDD)60再现所记录的信号时,可以消除如图15所示,除了传统技术产生的数据信号110以外产生的幻影信号,并有可能只提供数据信号110,如图16所示。
如上所述,在图10所示的磁光盘记录/再现装置中,可将再现激光束投射到磁光盘上,同时改变来自单个光学拾取装置的光斑的形状,从而消除幻影信号,高质量地再现数据信号。而且,通过投射未改变光斑形状的记录激光束,可以防止记录时写入效率降低。
工业适用性在根据本发明的光斑整形装置和方法中,根据介质的类型改变施加给液晶装置的分离电极图案上的电压,从而改变从同一光源经由相同光路投射到多种类型可移动介质上的光斑的光学特性。因而,可以形成用于多种不同介质的最佳光斑。
此外,在根据本发明的光斑整形装置和方法中,在记录和/或再现时改变施加给液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。因而,可以将记录光和/或再现光投射到光盘上,同时改变来自单个光学拾取装置的光斑的形状。
根据本发明的光学拾取装置,具有液晶装置,设置于光学系统中并且沿光盘的径向形成有分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于根据光盘类型改变施加给液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。因而,可以将适用于具有至少不同轨道间距的多种光盘的光斑投射其上。
此外,根据本发明的光学拾取装置,具有液晶装置,设置于光学系统中并且具有沿光盘径向形成的分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于在投射记录光与投射再现光之间改变光斑的光学特性。因而可以将记录光和/或再现光投射到光盘上,同时改变光斑的形状。
根据本发明的光盘装置,具有液晶装置,设置于光学系统中并且具有沿光盘径向形成的分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于针对光盘类型改变施加给液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。因而,可以在各种光盘上形成适用于具有至少不同轨道间距的多种光盘类型的光斑,并且可以从各个光盘再现信息信号。
此外,根据本发明的光盘装置,具有液晶装置,设置于光学系统中并且具有沿光盘径向形成的分离的电极图案;以及光斑整形装置,用于在投射记录光和投射再现光之间改变光斑的光学特性。因而,可以将用于记录/再现的激光束投射到光盘上,同时改变光斑的形状。
权利要求
1.一种光斑整形装置,用于根据介质的类型对从同一光源通过相同光路投射到多种类型可移动介质上的光斑进行整形,该装置包括液晶装置,具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案;以及控制装置,用于根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
2.如权利要求1所述的光斑整形装置,其中该控制装置根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿轨道方向的光提供象差。
3.如权利要求1所述的光斑整形装置,其中该多种类型可移动介质为具有至少不同轨道间距的多种类型的可移动光盘。
4.一种光斑整形方法,用于根据介质的类型对从同一光源通过相同光路投射到多种类型可移动介质上的光斑进行整形,该方法包括一控制步骤,提供具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案的液晶装置,并且根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
5.如权利要求4所述的光斑整形方法,其中在该控制步骤,根据介质的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿轨道方向的光提供象差。
6.如权利要求4所述的光斑整形方法,其中该多种类型可移动介质为具有至少不同轨道间距的多种类型的可移动光盘。
7.一种光斑整形装置,用于将记录和再现中的入射的激光束,分别整形成投射到介质上的用于记录和/或再现信息信号的光斑,该装置包括液晶装置,具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案;以及控制装置,用于改变记录和再现之间施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
8.如权利要求7所述的光斑整形装置,其中该控制装置在从该介质(再现)信息信号时,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而为沿介质记录轨道方向入射在液晶装置上的光提供象差,以便改变光斑的光学特性。
9.如权利要求7所述的光斑整形装置,其中该控制装置在将信息信号记录到介质上时,停止将电压施加给该液晶装置的分离电极图案上,从而不为入射在液晶装置上的光提供象差。
10.如权利要求7所述的光斑整形装置,其中该介质为光盘,通过由于畴壁位移现象所导致的磁放大从中再现所记录的信号。
11.一种光斑整形方法,用于将记录和再现中入射的激光束,分别整形为投射到介质上的用于记录和/或再现信息信号的光斑,该方法包括一控制步骤,提供具有沿介质的记录轨道方向形成的分离电极图案的液晶装置,并且改变记录和再现之间施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
12.如权利要求11所述的光斑整形方法,其中在控制步骤,当从介质再现信息信号时改变施加给分离电极图案上的电压,从而为沿介质记录轨道方向入射在该液晶装置上的光提供象差,以便改变光斑的光学特性。
13.如权利要求11所述的光斑整形方法,其中在控制步骤,当将信息信号记录到介质上时停止将电压施加给该液晶装置的分离电极图案,并且不向入射在液晶装置上的光提供象差。
14.如权利要求11所述的光斑整形方法,其中该介质为光盘,通过由于畴壁位移现象所导致的磁放大从中再现所记录的信号。
15.一种光学拾取装置,用于在光盘上形成适用于至少具有不同轨道间距的多种类型可移动光盘的光斑,从而读出信息信号,该装置包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到该光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;设置于该光学系统中,并且沿光盘的径向层叠有分离电极图案的液晶装置;以及光斑整形装置,用于针对每种类型光盘,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性。
16.如权利要求15所述的光学拾取装置,其中该光斑整形装置根据每种光盘的类型,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿径向方向的光提供象差。
17.如权利要求16所述的光学拾取装置,其中由该光斑整形装置将光斑整形成适用于轨道间距为1.6μm、并进行凹槽记录的第一光盘,轨道间距为0.95μm、并进行平台记录的第二光盘,和轨道间距不大于0.70μm、并进行平台和凹槽记录的第三光盘。
18.如权利要求17所述的光学拾取装置,其中对于第一光盘,该光斑整形装置改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而沿该光盘径向对入射在该液晶装置上的光提供象散。
19.如权利要求17所述的光学拾取装置,其中对于第二光盘,该光斑整形装置改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而沿该光盘径向对入射在该液晶装置上的光提供彗差。
20.如权利要求17所述的光学拾取装置,其中对于第三光盘,该光斑整形装置改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而沿该光盘径向对入射在该液晶装置上的光提供象散,并使光斑散焦。
21.如权利要求20所述的光学拾取装置,其中通过由于畴壁位移现象所导致的磁放大从第三光盘中再现所记录的信号。
22.一种光学拾取装置,用于将用于记录和/或再现信息信号的记录光和/或再现光投射到光盘上,该装置包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到该光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;液晶装置,该液晶装置设置于该光学系统中,并且沿光盘的径向层叠有分离电极图案;以及光斑整形装置,用于在投射记录光和投射再现光时,改变光斑的光学特性。
23.如权利要求22所述的光学拾取装置,其中该光斑整形装置在从光盘再现信息信号时改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而为沿光盘轨道切向入射在该液晶装置上的光提供象差。
24.如权利要求22所述的光学拾取装置,其中该光斑整形装置在将信息信号记录到光盘上的记录模式中停止向该液晶装置分离电极图案施加电压,并且不为入射在该液晶装置上的光提供象差。
25.如权利要求22所述的光学拾取装置,其中通过由于畴壁位移现象所导致的磁放大从光盘中再现所记录的信号。
26.一种光盘装置,具有一再现部分,用于在光盘上形成适合于至少具有不同轨道间距的多种类型可移动光盘的光斑,从而从每种光盘读出信息信号,该再现部分包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到该光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;液晶装置,该液晶装置设置于该光学系统中,并且具有沿光盘径向形成的分离电极图案;以及光斑整形装置,用于根据光盘的类型改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而改变光斑的光学特性;该光盘装置在光检测装置所检测的返回光大小的基础上再现信息信号。
27.如权利要求26所述的光盘装置,其中该光斑整形装置根据每种光盘的类型,改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而至少为沿径向的光提供象差。
28.如权利要求27所述的光盘装置,其中由该光斑整形装置将光斑整形成适用于轨道间距为1.6μm、并进行凹槽记录的第一光盘,轨道间距为0.95μm并进行平台记录的第二光盘,和轨道间距不大于0.70μm并进行平台和凹槽记录的第三光盘。
29.如权利要求28所述的光盘装置,其中对于第一光盘,该光斑整形装置改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而沿该光盘径向对入射在该液晶装置上的光提供象散。
30.如权利要求28所述的光盘装置,其中对于第二光盘,该光斑整形装置改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而沿该光盘径向对入射在该液晶装置上的光提供彗差。
31.如权利要求28所述的光盘装置,其中对于第三光盘,该光斑整形装置改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而沿该光盘径向对入射在该液晶装置上的光提供象散,并使光斑散焦。
32.如权利要求31所述的光盘装置,其中通过由于畴壁位移现象所导致的磁放大从第三光盘中再现所记录的信号。
33.一种光盘装置,用于将记录光和/或再现光投射到光盘上,以便记录和/或再现信息信号,该装置包括一用于发射光的光源;一光学系统,用于将该光源发射的光投射到光盘的信号记录表面上,并使该光盘的信号记录表面所反射的返回光通过;光检测装置,用于检测通过该光学系统的返回光;液晶装置,该液晶装置设置于该光学系统中,并且沿该光盘的径向层叠有分离电极图案;以及光斑整形装置,用于在投射记录光和投射再现光时改变光斑的光学特性。
34.如权利要求33所述的光盘装置,其中在从光盘再现信息信号时,该光斑整形装置改变施加给该液晶装置分离电极图案上的电压,从而为沿光盘轨道的切向入射在该液晶装置上的光提供象差。
35.如权利要求33所述的光盘装置,其中该光斑整形装置在将信息信号记录到光盘上时停止将电压施加给该液晶装置的分离电极图案上,并且不为入射在该液晶装置上的光提供象差。
36.如权利要求34所述的光盘装置,其中通过由于畴壁位移现象所导致的磁放大从光盘中再现所记录的信号。
全文摘要
再现时,从LD(41)发出的用于再现的激光束通过As校正板(42)和光栅(43),并入射在分束器(44)上。该分束器(44)透过此激光束,并使该激光束入射在液晶装置(45)上。然后,在再现时,一光斑整形装置根据磁光盘的类型为透过液晶装置(45)的激光束提供象差,从而对磁光盘上的光斑进行整形。因此,可以整形成用于不同介质的最佳光斑。
文档编号G11B7/125GK1455922SQ02800173
公开日2003年11月12日 申请日期2002年1月25日 优先权日2001年1月25日
发明者寺罔善之, 石井保, 藤田五郎 申请人:索尼株式会社
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