专利名称：光学拾取头的制作方法
技术领域：
本发明涉及对光盘等信息记录媒体通过光学方法来记录重放信息的光学拾取头。特别涉及在具有不同波长的多个光源的光学拾取头进行跟踪伺服中容易而且以低成本对于跟踪误差信号所发生的偏移进行校正的光学拾取头。
背景技术：
近年来，由于光盘能够以高密度记录大量的信息信号，因此在音响设备、录像机、计算机等许多领域中得到广泛应用。
在上述光盘等信息记录媒体中，为了重放以微米为单位记录的信息信号，必须使光束正确地跟踪信息道。关于上述跟踪用的跟踪误差信号(TESTrackingError Signal)的检测方法，已知有种种方法。
另外，在光盘中，使用红外激光的CD系列盘片及使用红色激光的DVD系列盘片已经商品化，同时最近还提出使用蓝色激光的高密度盘片。即，各光盘由于信息的记录密度及盘内结构不同，因此为了对各种盘片进行信息的记录及重放，要采用不同波长的光。
最近，在光盘装置中，有的装置装有适应CD系列盘片及DVD系列盘片的两种盘片的记录及重放用的光学拾取头。
例如，在日本国公开专利公报“特开2002-342956号公报(平成14年11月29日公开)中提出一种光学系统，该光学系统如图23所示，为了使能够适应DVD系列的两种盘片的光学拾取头小型化，在一个组件内具有双波长半导体激光器。
在上述光学拾取头中，利用从单组件的多波长半导体激光器构成的光源101a及101b发出的不同波长的光束，使用同一光学系统，对多种光盘中的信息进行记录及重放。在光路上配置两个三光束用衍射光栅112及113。波长λ1及λ2的光束虽通过两个三光束用衍射光栅112及113，但一个衍射光栅的槽深设定成仅对一个波长起作用。例如，在对波长λ1的光使其起到作为三光束的功能时，将其槽深设定成波长λ2的整数倍。这样，利用该衍射光栅，波长λ1的光不产生射光，而实质上通过。
另外，在三光束法中，由于利用±1级光的光通量的不同来进行道检测，因此0级光及±1级光在光盘上必须配置在规定位置。为此，各衍射光栅的槽方向在光学拾取头组装时必须正确调整。
通过采用这样的结构，不会使某一方的道检测光恶化，对于不同种类的光盘能够很好地进行信息的记录及重放。
然而，在使用三光束的道检测中，本申请人在组装时不需要对三光束用衍射光栅进行旋转调整的方法(以下称为“相移DPP法”)，作为日本国公开专利公报“特开2002-250250号公报(平成13年9月14日公开)”加以公开。
该相移DPP法是将使用三光束的差动推挽法(DPPDifferential Push Pull法)发展而成的道检测法。在通常的DPP法中，是通过取得利用三光束用衍射光栅产生的主光束的推挽信号与副光束的推挽信号之差，来对因透镜移位而产生的偏移进行校正。
在将副光束的反射光通量之差进行比较好的三光束法中，在重写型盘片等情况下，产生在记录前后因反射光通量变化而引起的偏移，但在DPP法中，同样的原因引起的偏移小。因而，DPP法是对光盘进行记录时更适合的道检测法。但是，该方法中为了抵消偏移分量，必须对衍射光栅进行正确调整，使得利用三光束用衍射光栅产生的主光束及副光束在光盘上的位置错开1/2间距。另外，在用一个光学拾取头重和道间距不同的多种光盘时则出现问题。
为了解决上述那样的问题，在相移DPP法中，在对副光束的推挽信号有用的光束区域形成三光束用衍射光栅的沟槽图形，使得位相差不同的两个区域为实质上相同的面积。以下对该方法进行说明。
例如，如图24(a)所示，将从半导体激光器201发出的激光利用准直透镜202变换为平行光，利用光栅203分割为主光束230、副光束(+1级光)231、及副光束(-1级光)232。通过分束器204后，利用物镜205聚焦在光盘206的道261上，使反射光通过物镜205，再用分束器204反射，用聚焦透镜207引导至光检测器208(208A、208B、203C)。
主光束230及副光束231和232的反射光的远场图形如图25所示，分别用具有相当于道方向的分割线的两分割光检测器208A、208B、208C受光。然后，得到来自各两分割光检测器208A、208B、208C的差信号、即推挽信号PP230、PP231、PP232。
这里，如图24(a)所示，设定xy坐标系，该坐标系以光束中心为原点，以光盘的半径方向为X方向，以与它垂直的道方向为Y方向。在光栅203中，如图24(b)所示，例如第1象限中的道沟槽的周期结构位相差有180°不同时，利用该光栅203衍射的副光束231及232中，仅第1象限部分产生180°的位相差。这时，使用副光束231及232的推挽信号PP231及P232如图26(a)所示，与不加上位相差的主光束的推挽信号PP230相比，振幅实质上为0。这由于与道位置无关，没有检测出推挽信号，因此将副光束231及231无论是配置在与主光束230相同的道上，还是配置在不同的道上，都为实质上相同的信号。
另外，对于因物镜移位或盘片倾斜而产生的跟踪误差信号(TES)的偏移，如图26(b)所示，推挽信号PP230及推挽信号231(或推挽信号PP232)分别产生与光通量相对应向同一侧(同相)的偏移Δp及AP’。因而，通过下式计算，即PP234＝PP230-k(PP231+PP232)＝PP230-k·PP233能够检测出抵消上述偏移的差动推挽信号PP234。式中，系数k是为了校正0级光主光束230与+1级光副光束231及-1级光副光束232的光强度的不同的系数，若光强度为0级光主光束230∶+1级光副光束231∶-1级光副光束232＝a∶b∶b，则系数k＝a/(2b)。另外，推挽信号PP233是副光束231的推免信号PP231与副光束232的推挽信号PP232之和。
在利用相移DPP法的跟踪误差检测中，副光束231及232的推挽信号PP233与沟槽深度无关，振幅为0。即，由于在道上任何位置的振幅都为0，因此不要进行光束的位置调整(衍射光栅等的旋转调整)。为此，能够大幅度简化光学拾取头的组装调整。
另外，在使用全息激光器单元时，特别是在半导体激光光源附近配置相移衍射光栅时，实质上由于副光束的通过区域与主光束的通过区域在衍射光栅上错开，因此虽然存在对两个副光束不能附加公共的最佳相移，但在该上述“特开2001-250250公报”中提出了对于某光盘的间距及深度是最佳的相移图形。
但是，如上述“特开2002-342956号公报”所示的方式那样，在具有多个光源的光学拾取头中对DVD系列及CD系列的任一种光盘利用三光束法进行道检测时，必须分别调整各光栅，使得对各光盘的间距为最佳。因此，这不适合于光学拾取头实现低成本、简单化及小型化。
另外，在上述“特开2001-250250号公报”所示的使用相移光栅的方法中，附加相移的区域是对单一光源的光束进行了优化设计的相移图形。因此，在具有多个光源的光学拾取头中，在将一个相移光栅用于数值孔径不同的多光束的情况下，或在光栅上的光束位置及波长而改变的情况下，由于不能完全抵消一方的副光束的推挽信号，因此具有特性恶化的问题。
本发明正是鉴于上述以往的问题而提出的，其目的在于提供一种光学拾取头，它是在同一组件内具有多个不同光源的光学拾取头中，在对DVD系列及CD系数等的任一种光盘进行三光束道检测时，能够以低成本实现，而且能够实现组装调整的简化及光学拾取头的简化。
发明内容
为了达到上述目的，本发明的光学拾取头，是在对光盘进行利用三光束的跟踪的光学拾取头中，具有产生第1波长的光束及第2波长的光束用的单组件化的光源、将所述光源出射的光束分割为主光束及两个副光束的形成三光束的光栅、将所述分割的三光束聚焦在光盘上的物镜、以及从三光束各自用光盘产生的反射光、检测出推挽信号的光检测器，所述形成三光束的光栅要赋予使所述第1波长的光束及第2波长的光束中的各光束产生部分相移的图形，在各光束的通过区域中具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域，同时所述产生相移的图形设定成对于所述波长不同的各光束的任一光束，都实质上抵消副光束的推挽信号的振幅。
根据上述的发明，形成三光束的光栅要赋予使上述第1波长的光束及第2波长的光束中的各光束产生部分相移的图形，在各光束的通过区域中具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域。另外，上述产生相移的图形设定成对于上述波长不同的各光束的任一光束，都实质上抵消副光束的振挽信号的振幅。
即，在本发明中，形成为了实质上抵消副光束的推挽信号的振幅而设定的产生相移的图形，该图形在各光束的通过区域中具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域。通过这样进行下述设定，即在照射第1波长的光束时，能够设定成仅在该第1波长的光束的通过区域内实质上抵消副光束的推挽信号的振幅，而在照射第2波长的光束时，能够设定成仅在该第2波长的光束的通过区域内实质上抵消副光束的推挽信号的振幅。
因而，能够对不同波长的光束利用公共的一个形成三光束的光栅，进行采用三光束法的道检测，而且容易抵消因透镜移位等而产生的偏移分量。
其结果，能够提供一种光学拾取头，在同一组件内具有多个不同光源的光学拾取头中，在对DVD系列及CD系列等的任一种光盘用三光束进行道检测时，能够在低成本实现，而且能够实现组装调整的简化及拾取头的简化。
根据以下所示的记载内容，将完全清楚本发明的还有的其它目的、特征以及优点。通过参照附图的以下的说明，将明白本发明的好处。
图1(a)所示为本发明的拾取头装置的一实施形态，是表示形成相移图形的光栅结构的平面图，图1(b)是将图1(a)所示的用虚线圆包围的区域放大表示的平面图。
图2(a)所示为上述拾取头装置的光学系统中用双波长半导体激光器1a输出波长λ2时的简要构成图，图2(b)所示为上述拾取头装置的光学系统中用双波长半导体激光器1b输出波长λ2时的简要构成图，图3是表示通过上述拾取头装置的孔径控制元件后的波长λ1及波长λ2的束径的平面图。
图4(a)是表示上述拾取头装置的副光束的从光盘反射的反射光束的衍射图形的剖视图，图4(b)是表示上述副光束的从光盘反射的反射光束用物镜产生的衍射图形的平面图。
图5(a)及图5(b)是表示副光束从光盘反射的反射光束用物镜产生的推挽图形的平面图。
图6是表示形成其它的相移图形的光栅结构的平面图。
图7是表示在上述光栅的情况下，副光束从光盘反射光束用物镜产生的推挽图形的平面图。
图8是表示形成又一其它的相移图形的光栅结构的平面图。
图9(a)及图9(b)是表示在上述光栅的情况下，副光束从光盘反射的反射光束用物镜产生的推挽图形的平面图。
图10是表示形成又一其它的相移图形的光栅结构的平面图。
图11是表示在上述光栅的情况下，副光束从光盘反射的反射光束用物镜产生的推挽图形的平面图。
图12为所示为本发明的拾取头装置的其它实施形态，是表示光学系统的简要构成图。
图13是表示上述拾取头装置中的全息元件及受光元件的结构的平面图。
图14是表示将上述全息元件及受光元件进行集成的拾取头装置简要构成的剖视图。
图15是表示上述拾取头装置的光栅上形成的波长λ1的光束的束径及波长λ2的光束的束径的平面图。
图16是表示上述拾取头装置中形成相移图形的光栅结构的平面图。
图17是表示在上述集成化的拾取头装置中的全息元件上主光束及副光束的通过位置的平面图。
图18所示为本发明的拾取头装置的又一其它实施形态，是表示三光束用衍射光栅的相移图形。
图19是表示使用上述三光束用衍射光栅时的副光束的推挽图形的平面图。
图20是表示使用上述三光束用衍射光栅时的其它相移图形的平面图。
图21是表示使用上述三光束用衍射光栅时的又一其它相移图形的平面图。
图22是表示使用上述三光束用衍射光栅时的又一其它相移图形的平面图。
图23所示为以往的拾取头装置的简要构成图。
图24(a)所示为以往的其它拾取头装置的简要构成图，图24(b)是表示上述拾取头装置的光栅的的平面图。
图25所示为上述拾取头装置的推挽信号检测原理方框图。
图26(a)所示为上述拾取头装置的主光束及副光束的各自的推挽信号波形图，图26(b)所示为上述拾取头装置中物镜偏移时的推挽信号波形图。
具体实施例方式
以下，根据实施形态及比较例更详细地说明本发明，但本发明不因这些有任何限定。
以下根据图1至图11说明本发明的一实施形态。
作为本实施形态的光学拾取头的拾取头装置如图2(a)及图2(b)所示，具有产生作为第1波长的波长λ1的光束及作为第2波长的波长λ2的光束这两种光束用的单组件化的光源1、将该光源1出射的光束分割为主光束及两个副光束的作为形成三光束的光栅的光栅3、将分割的三光束的光盘6聚焦的物镜5、以及作为从三光束的各自的反射光检测推挽信号的光检测器的光检测器8，进行利用三光束的跟踪控制。
即，上述光源1具有双波长半导体激光器1a及1b，双波长半导体激光器1a输出波长λ2的光束，另外双波长半导体激光器1b输出波长λ1的光束。这些波长λ1及λ2是互相不同的波长。另外，上述光栅3是透明的衍射光栅，其表面形成沟槽，形成凹凸面。再有，光检测器8为了从三光束的各自的反射光检测出推挽信号，具有三个两我检测器8A、8B、8C。
在上述的拾取头装置中，将从双波长半导体激光器1a及1b输出的各自的波长λ2或波长λ1的激光利用准直透镜2变换为平行光，利用光栅3分割为主光束30、副光束(+1级光)31、及副光束(-1级光)32。
然后，使通过分束器4的光通过设置在物镜5之前的孔径控制元件11，利用物镜5聚焦在光盘6的道61上。即，如图2(b)所示，从双波长半导体激光器1b输出的波长λ1的激光在通过孔径控制元件11时，通过区域被缩小。
然后，使来自光盘6的反射光通过物镜5，用分束器4反射，利用聚焦透镜7引导至光检测器8。主光束30、副光束(+1级光)31及副光束(-1级光)32的反射光的远场图形用各自具有相当于道方向的分割线的上述光检测器8的两分割光检测器8A、8B、8C受光。然后，从各两分割光检测器8A、8B、8C得到差信号、即推挽信号PP30、PP31、PP32。
上述孔径控制元件11是为了形成各种光盘6规定的一定的数值孔径用的元件，在光束通过的区域的外周部分，使CD系列使用的波长λ1的光束不通过，而使DVD系列使用的波长λ2的光束通过，具有作为样的波长选择性的透射滤光片的功能。
因而，如图3所示，内侧的圆及外侧的圆分别成为通过孔径控制元件11之后的波长λ1的光束的束径及波长λ2的光束的束径。
这里，在本实施形态中，生成三光束的衍射光栅即光栅3的沟槽部分的结构具有特征，关于这一点将根据图1(a)及图1(b)进行说明。
首先，在本实施形态中，采用在组装时不需要对三光束用衍射光栅即光栅3进行旋转调整的方法(以下称为“相移DPP法”)。
该相移DPP法是将使用三光束的差动推挽法(DPPDifferential Push Pull法)发展而成的道检测法。在通常的DPP法中，是通过取得利用三光束用衍射光栅产生的主光束30的推挽信号及副光束31和32的推挽信号之差，来对因透镜移位而产生的偏移进行校正。具体来说，是抵消偏移分量那样来进行校正。
但是，在通常的DPP法中，为了抵消偏移分量，由于必须对衍射光栅进行正确调整，使得利用三光束用衍射光栅产生的主光束及副光束在光盘上的位置错开1/2间距，因此在用一个光学拾取头重放道间距不同的多种光盘时则出现问题。
因此，为了解决该问题，在相移DPP法中，在对副光束的推挽信号有用的光束区域形成三光束用衍射光栅的沟槽图形，使得位相差不同的两个区域为实质上相同的面积。
但是，在以往的相移DPP法中，附加相移的区域是对单一光源的光束进行优化设计的相移图形。为此，在具有多个光源的光学拾取头中，将一个相移光栅用于数值孔径不同的多个光束时，或者在光栅上的光束位置随波长而改变时，由于一个副光束的推挽信号不能完全抵消，因此有特性恶化的问题。
所以，在本实施形态的拾取头装置中采用以下的结构。
首先，如图1(a)所示，在光栅3中设置xy坐标系，该xy坐标系以光束通过区域的中心作为原点，将相当于光盘6的半径方向的径向作为x方向，将道方向作为y方向。这里，在相对于y轴的右侧区域，而且与y轴平行形成互相不同的光栅图形的第1光栅图形即区域A…和第2光栅图形即区域B…。
上述第1光栅图形即区域A…如图1(b)所示，光栅3的凹凸沟槽垂直于道方向(y轴方向)而形成。另外，第2光栅图形即区域B…的光栅3的凹凸沟槽间距虽与区域A相同，但采用光栅沟槽仅错开1/2间距的结构。即，区域A与区域B形成图形沟槽、即凸起的台阶与凹下的凹槽互相反转的区域。通过采用这样的结构，用区域A及区域B能够形成位相差180°的不同的区域。因而，在将不附加位相差的区域作为区域A时，位相差附加180度的区域就成为区域B。
在本实施形态中，具有第2光栅图形的区域B1形成波长λ1的光束及波长λ2的光束都通过的区域，具有相同第2光栅图形的另外一个区域B2形成只有波长λ2的光束通过的区域。
通过上述光栅3的光束如图2(a)及图2(b)所示，分割为主光束30及副光束31和32，然后通过孔径控制元件11。这时，在图3所示的波长λ1及波长λ2的各束径中，由于在光栅3上通过的区域B的面积不同，因此利用物镜5在光盘6上聚焦的副光束31及32的光点取决于波长λ1及波长λ2的光束而分别形成不同的形状。另外，衍射角度因波长不同而异，副光束31及32的光点中，波长λ1的光束的光点形成在偏离主光束30的光点的位置。
这时，采用副光束31及32的推挽信号PP31及PP32与不加上位相差的主光束30的推挽信号PP30相比，振幅实质上为0。
这里，说明上述副光束31及32不发生推挽信号PP31及PP32、即振幅为0的原理。
如图4所示，利用物镜对具有周期结构的道61聚焦的光束即例如副光束31被分为0级衍射光31a及±1级衍射光31b和31c进行反射，在其重合区域n1及n2互相干涉，在物镜5的光瞳上生成衍射图形、即推挽图形。
在使用本实施形态的光栅3时，由于图1(a)及图1(b)所示的加上位相差的区域B1的部分的影响，在各反射衍射光中，光栅3上与阴影位置对应的部分的位相与其它区域相比，相移180度。
因而，例如在束径小的波长λ1的光束波长盘6反射后入射物镜5时，如图5(a)所示，在衍射光重叠的区域、即因光束偏道而产生明暗的区域的推挽信号区域n1中，0级光中因通过区域B1而加上位相差的部分与1级衍射光中通过区域A的部分重合区域(该图中的阴影部分)C1的推挽信号振幅的位相在推挽信号区域中，与该图所示的没有阴影部分C2的推挽信号振幅的位相正好为反位相。
这里，若设定区域B1，使得推挽信号振幅的位相不同的区域为推挽信号区域n1的实质上一半，则在仅考虑推挽信号区域n1的区域时，与偏道的状态无关，明暗相反的区域始终实质上相等，若将整个进行相加，则最终不能检测出推挽分量。
另外，对于束径大的波长λ2的光束，被光盘6反射后入射物镜5的光束如图5(b)所示，在推挽信号区域n1中，加上180度位相差的部分形成两个分离的区域。这时，若设定区域B2的区域，使得因光栅3上的区域B1产生相移的部分C3与因区域B2产生相移的部分C4之和(阴影部分之和)与不受相移影响的区域C5实质上相等，则与上述束径小的波长λ1的光束的情况相同，与偏道状态无关，明暗相反的区域始终实质上相等，最终不能检测出推挽分量。
另外，例如道间距等光盘6的规格改变时，推挽图形变化。在这种情况下，为了按照因间距变化而产生的推挽图形形状的变化，弥补区域B1能够提供的位相差的不足的部分，在光栅3上只有波长λ2的光束通过的区域中，适当设定区域B2的区域。
例如，对于道间距大的光盘6，将光栅3上的相移区域B2设定成像图6所示的相移区域B3那样的区域。
在这种情况下，在物镜5上得到的推挽图形成图7所示的形状，在推挽信号区域n1中，附加位相差的区域(阴影部分)与没有附加位相差的区域(没有阴影的部分)为实质上相同的面积，推挽信号振幅实质上为0。
另外，在光栅3上产生相移的区域如图8所示，也可以相邻。在这种情况下，在光栅3上形成对跟踪信号检测有用的、波长λ1的光束的区域及波长λ2的光束的区域的两者通过的部分；以及在只有波长λ2的光束通过的区域中的各个区域B4及区域B5的相移部分。
因而，作为整个光栅3，由两个没有相移的区域A及A的部分和一个有相移的区域B的部分构成。
在这种情况下，如图9(a)及图9(b)所示，在对于波长λ1的光束及波长λ2的光束的推挽信号区域n1及n2中，附加位相的阴影部分与没有附加位相的部分的区域实质上相同，推挽信号振幅实质上为0。
另外，在本实施形态中，是对于光栅3上的区域中相对于y轴的右侧部分附加相移部分的情况进行了说明，但未必限于此，在相对于y轴的左侧区域附加以y轴对称的同样的形状时，当然也能够得到相同的效果。
另外，也可以如图10所示，在光栅3上相对于y轴的右侧及左侧的两个区域中形成相移的区域。在这种情况下，波长λ2的光束产生的推挽图形如图11所示。图中，推挽信号区域n1中的区域C6及C8分别是副光束31及32的+1级衍射光及0级衍射光的相移产生的区域，在这种情况下，阴影部分与除此以外的部分的面积实质上相等。
根据本实施形态，副光束31及32的推挽信号PP31及PP32与数值孔径不同的光无关，推挽信号振幅为0。即，由于对于波长λ1的光束及波长λ2的光束的副光束31及32的推挽信号振幅始终为0，因此不需要三光束的位置调整。因而，可以只采用一个三光束用的衍射光栅，能够达到拾取头装置的低成本及简单化。
这样，在本实施形态的拾取头装置中，光栅3要赋予使波长λ1的光束及波长λ2的光束中的各光束产生部分相移的图形，在对跟踪信号检测有用的各光束的通过区域中具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域B。另外，上述产生相移的图形设定成对于上述波长不同的各光束的任一光束，都实质上抵消副光束31及32的推挽信号的振幅。
即，在本实施形态中，形成为了实质上抵消副光束31及32的推挽信号的振幅而设定的产生相移的图形。该图形在各光束的通过区域中具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域。通过这样进行下述设定，即在照射波长λ1的光束时，能够设定成仅在该波长λ1的光束的通过区域内实质上抵消副光束31及32的推挽信号的振幅，在照射波长λ2的光束时，能够设定成仅在该波长λ2的光束的通过区域内实质上抵消副光束31及32的推挽信号的振幅。
因而，能够对不同波长的光束利用公共的一个光栅3，进行采用三光束的道检测，而且容易抵消因透镜移位等而产生的偏移分量。
其结果，能够提供一种拾取头装置，在同一组件内具有多个不同光源1的拾取头装置中，在对DVD系列及CD系列等的任一种光盘6用三光束进行道检测时，能够以低成本实现，而且能够实现组装调整的简化及拾取头的简化。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，光栅3的产生相移的图形的第1相移图形及第2相移图形与道平行形成，同时第1相移图形配置成包含对跟踪信号检测有用的波长λ1的光束的通过区域及波长λ2的光束的通过区域的两通过区域的一部分，第2相移图形配置成仅包含波长λ2的光束的通过区域的一部分。
即，在形成三光束的光栅的对跟踪信号检测有用的、波长λ1的光束的通过区域存在于波长λ2的光束的通过区域的内部时，如上述结构那样，形成产生相移的图形。
其结果，在采用波长不同的多个双波长半导体激光器1a及1b实现单组件化的拾取头装置进行利用相移DPP法的道检测时，在数值孔径因波长而异的情况下，或采用不同规格的光束的情况下，能够确实抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，在光栅3中，使波长λ1的光束产生相移的图形及使波长λ2的光束产生相移的图形，相对于穿过通过光栅3的光束的中心、而且与光盘6的道方向实质上平行的边界线线，都形成在左侧。
因而，由于仅在光栅3的单侧形成使波长λ1的光束波长λ2的光束的双方产生相移的图形，因此能够力图简化组装工序及降低光学拾低头的成本。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，也可以上使波长λ1的光束产生相移的图形，相对于穿过通过光栅3的光束的中心、而且与光盘6的道方向实质上平行的边界线形成在单侧，而使波长λ2的光束产生相移的图形，相对于穿过通过光栅3的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线形成在两侧。
因而，例如在使用道间距大的光盘6时，或者在用于跟踪信号检测的、波长λ1的光束及波长λ2的光束的通过区域实质上重叠而其差较少时，通过像本实施形态那样形成产生的相移的图形，能够确实抑制副光束的推挽信号振幅。
以下，根据图12至图17说明本发明的其它实施形态。另外，本实施形态中叙述的以外的结构与前述实施形态1相同。因而，为了说明方便起见，对于与前述实施形态1的附图所示的构件具有同一功能的构件，附加同一标号，并省略其说明。
在作为本实施形态的光学拾取头的拾取头装置中，如图12所示，说明适用于全息激光单元的情况，该全息激光单元是将光源1中设置于一个组件内的前述双波长半导体激光器1a及1b、作为三光束用光栅的光栅3、伺服信号生成用的光束偏转全息元件及光检测器集成而构成。
如该图所示，从包含双波长半导体激光器1a及1b的光源1出射的光束用光栅3分割为0次主光束30及±1级副光束31和32的三光束，全息元件9的0级衍射光通过准直透镜2、孔径控制元件11、及物镜5，聚焦在光盘6上。然后，其返回光利用全息元件9进行衍射，被引导至光检测器即受光元件10。
这里，全息元件9如图13所示，利用沿与上述光盘6的径向相对应的x方向延伸的分割一9g、以及从该分割线9g的中心起沿与光盘6的径向垂直的y方向即与光盘6的道方向相对应的方向延伸的分割线9h，分割为三个分割区域9a、9b、9c，与这睦各分割区域9a、9b、9c相对应分别形成光栅。
另外，受光元件10的由聚焦用两分割受光区域10a、10b及跟踪用受光区域10c、10cd、10e、10f、10g、10h构成。
光束偏转全息元件产生的光的聚焦点虽因波长而变化，但通过考虑该变化量来决定受光元件10的大小，则对于不同波长能够公用。
由上述双波长半导体激光器1a及1b构成的发光元件即光源1、上述光栅3的光衍射元件、将反射光与光记录媒体即前述光盘6的道方向实质上一致的分割线9h分割受光的全息元件9以及受光元件10构成的光检测系统如图14所示，集成化成为一个组件。
在聚焦状态时，如图13所示，用全息元件9的分割区域9a进行衍射的主光束30在分割线10y上形成光束P1，用分割区域9b及9c进行衍射的主光束30分别在跟踪用受光区域10c及10d上形成光束P2及P3。
另外，用分割区域9a进行衍射的±1级副光束31及32分别在聚焦用两分割受光区域10a及10b的外侧形成光束P4及P5，用分割区域9b及9c进行衍射的±级副光束31及32分别在跟踪用受光区域10e及10f上形成光束P6及P7，在跟踪用受光区域10g及10h上形成光束P8及P9。
若设聚焦用两分割受光区域10a及10b的跟踪用受光区域10c～10h的输出分别为Ia～Ih，则聚焦误差信号FES利用单刀口法，通过(Ia-Ib)的计算求出。另外，跟踪误差信号TES利用TES＝(Ic-Id)-k((If-Ih)+(Ie-Ig))求出。
这里，跟踪误差信号TES的(Ic-Id)是主光束30的推挽信号，(If-Ih)及(Ie-Ig)分别是±1级光的副光束31及32的推挽信号。
在上述全息激光单元中，三光束用的光栅3设置在光束不断扩散的位置，但由于双波长半导体激光器1a及1b的发光点错开，因此与实施形态1的情况不同，波长不同的光束的中心位置如图15所示，在光栅3上通过错开的位置。另外，该图所示的半径表示第1波长及第2波长的光束的对跟踪信号有用的区域。
该光栅3的错开量因光栅3在光轴方向的位置及双波长半导体激光器1a和1b的各自位置而异，在错开量相对于束径小到能够忽略的程度时，用具有前述实施形态1的光栅图形对各波长的光也能够给予适当的相移，但在错开量比较大时，必须考虑到这一点进行适当的设计。
图16所示为考虑到这一点的位相差分布。
即，在本实施形态的光栅图形中，由多个第1光栅图形区域A及第2光栅图形区域B构成。这时，第2光栅图形区域B由设定成对束径大的光束给予适当位相差的区域B9、以及设定成对束径小的光束给予适当位相差的图形区域B10构成，而且在两个光束中，在信息的记录及重放所用的束径的区域不重叠的部分形成各自的相移图形。
这里，为了对于推挽图形不同的光盘6也能够适应，区域B9及区域B10也可以由多个区域形成。
另外，与前述实施形态1的不同点在于，对于推挽信号PP仅采用光束一半的光，即仅采用全息元件9的分割区域9b及9c的光。
在图13中，若设例如返因路径中入射全息元件9的分割区域9b及9c的光及第1象限及第2象限，则必须仅通过该第1象限与第2象限的光输出的减法运算来抵消推挽信号振幅，成为0。
在全息激光单元中，由于光源1与光栅3的距离短，因此实质上入射物镜5的副光束31及32如图17所示，在全息元件9上利用与主光束30错开的部分光束。
该全息元件9上的错开量因光栅3及全息元件9在光轴方向的位置而异，但在小型而且集成化的全息激光单元等中为比较大的值。在错开量相对于束径小到能够忽略的程度时，若在光轴中心给予位相差分布，则看作为对±1级光加上相同的位相分布，但在该错开量比较大时，则必须进行适当的相移图形设计。
本实施形态所示的、沿y轴方向具有一样的相移区域的光栅图形在这样的情况下特别有效。
这样，在本实施形态的拾取头装置中，光栅3这样配置，使得波长λ1的光束及波长λ2的光束的对各跟踪信号检测有用的区域不重叠或仅一部分重叠。
通过这样进行设定，使得各副光束31及32的通过区域中具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域，同时产生相移的图形对于波长不同的各光束的任一光束，都实质上抵消副光束31及32的推挽信号振幅，从而在照射波长λ1的光束时，能够为仅在该波长λ1的光束的通过区域内，抵消副光束31及32的推挽信号振幅，另外在照射波长λ2的光束时，能够设定成仅在该波长λ2的光束的通过区域内，抵消副光束31及32的推挽信号振幅。
其结果，由于分别对波长λ1的光束及波长λ2的光束形成区域，因此能够对不同波长的光束利用公共的一个光栅3，进行采用三光束的道检测，而且容易抵消因透镜移位等而产生的偏移分量。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，光栅3中使波长λ1的光束产生相移的图形、以及使波长λ2的光束产生相移的图形，分别形成在互相对跟踪信号检测没有影响的束径内。
其结果，在例如具有波长不同的双波长半导体激光器1a及1b的全息激光单元等集成化拾取头装置中，即使在从双波长半导体激光器1a及1b出射的光束在光栅3上通过的位置错开时，也能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，由于光栅3装在集成化全息激光单元内，因此通过光栅3与集成化全息激光单元的全息元件9等的组合，在具有波长不同的双波长半导体激光器1a及1b的集成化全息激光单元的集成化光学拾取头中，即使从双波长半导体激光器1a及1b出射的光束在光栅3上通过的位置错开时，也能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
以下，根据图18至图22说明本发明的其它实施形态。另外，本实施形态中叙述的以外的结构与前述实施形态1及实施形态2相同。因而，为了说明方便起见，对于与前述实施形态1及实施形态2的附图所示的构件具有同一功能的构件，附加同一标号，并省略其说明。
作为本实施形态的光学拾取头的拾取头装置的结构虽与前述实施形态2所示的结构相同，但它是提高对不同间距的光盘6给予的位相差的精度、以及光栅3的对于光轴方向错开的位相差的精度的结构。
如前所述。在CD系列及DVD系列的光盘6中分别有若干种类，要求用相同的拾取头装置对不同规格的光盘6进行记录及重放。
推挽图形由于随光盘6的间距及拾取头装置的光学系统放大率等而变化，因此光栅3上形成的相移图形必须考虑到这些因素进行优化设计。
在具有前述实施形态1所示那样的平行于y轴的多个相移区域的图形的情况下，通过优化设计，能够制成适应两种或三种光盘6的光栅3，但在装有该光栅3的拾取头装置的光学参数改变时等情况下，特性将变化。
作为改进这样问题的方法，可以考虑图18所示的相移图形。由该图形产生的副光束31及32的推挽图形，则成为图19所示的图形。在推挽信号区域n1中，副光束31的0级衍射光与+1级衍射光产生干涉，出现图示那样的多个位相不同的区域。
在区域A2中，是0级衍射光与+1级衍射光的各自180度相移的区域重叠的部分，其中推挽信号振幅的位相与0级衍射光及+1级衍射光中没有相移的区域重叠的区域A1中的推挽信号振幅的位相相同。
另外，在区域B1及区域B2中，由于0级衍射光或+1级衍射光的相移的区域与+1级衍射光或0级衍射光的没有相移的区域重叠，因此其推挽信号振幅的位相与区域A1及a的位相相反。
另外，由于推挽信号振幅的位相互相相反的区域A与区域B的面积实质上相同，因此整个推挽信号区域n1的推挽信号振幅为0。
但是，该图形是仅对一个波长设计的图形，如前述实施形态2的拾取头装置那样，在从双波长半导体激光器1a及1b出射的光束在三光束用光栅3上错开时，利用图中的图形不能给予最佳的相移图形。本实施形态的拾取头装置是在这样的情况下给予有效的相移图形的装置。
本实施形态的光栅图形如图20所示，其特征为，第1光栅图形的区域A与第2光栅图形的区域B以实质上等间隔交替形成的条柱状相移图形，以通过各自光束的中心通过的部分、而且平行与y轴的直线L2及L3作为边界进行变化。
在采用该图所示的图形时，在光束中心错开的波长λ1及波长λ2的副光束31及32的推挽图形中，由于出现与图19所示的同样的相移区域，因此能够使副光束31及32的推挽信号振幅为0。
另外，在对于具有不同间距的光盘6的情况下，或者在光学系统的放大率等那样的拾取头装置的光学参数变化的情况下，还有在因三光束用光栅3的设置位置而引起束径变化时，也由于形成同样的花样，因此特别变化少，这样能够力图提高通用性及拾取头装置的批量性。
另外，若相移周期缩小，则由于在推挽信号区域n1及n2中位相不同的区域的面积误差减小，因此特性进一步提高。
另外，在本实施形态中，只要边界线即直接L2与直线L3之间的相移图形与除此以外的区域的相移图形的形状不同即可，例如也可以具有图21所示的相移图形。在该光栅中，相移图形仅在边界线即直线L2与直线L3之间形成。
另外，根据波长不同的的两个双波长半导体激光器1a及1b的配置方法，如图22所示，在从不同位置的双波长半导体激光器1a及1b出射的光束的中心通过光栅3的中心、通过与平行于y轴的直线L1同一条直一上时，利用图18所示的光栅3的图形，对于波长λ1及波长λ2的光束的副光束31及32的推挽图形成为与图19相同的花样。因而，在配置上述双波长半导体激光器1a及1b时，利用该光栅3也能够适应双波长半导体激光器1a及1b位置错开的情况。
这样，在本实施形态的拾取头装置中，在穿过通过光栅3的波长λ1的光束的实质上中心而且与光盘6的道方向实质上平行的第1边界线、和穿过通过光栅3的波长λ2的光束的实质上中心而且与光盘6的道方向实质上平行的第2边界线之间产生相移的图形，与光栅3上的其它区域的图形不同。
通过这样，对于通过光栅3的波长λ1的光束中的左外侧一半及波长λ2的光束中的右外侧一半，由于至少两者不重叠，因此互相确保使波长λ1的光束的副光束31及32产生相移的图形及使波长λ2的光束的副光束31及32产生相移的图形，能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
其结果，在使用不同规格的光盘6时，或者在拾取头装置的光学参数变化时，或者因组装误差而使光栅3的位置沿光轴方向错开时，或者用光束的一部分检测跟踪误差信号(TES)时等情况下，也能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，由于使副光束31及32产生相移的图形及不产生相移的图形以实质上等间隔交替配置，因此在各副光束31及32的通过区域内，在照射波长λ1的光束时，能够设定成仅在该波长λ1的光束的通过区域内实质上抵消副光束31及32有推挽信号的振幅，在照射波长λ2的光束时，能够设定成仅在该波长λ2的光束的通过区域内实质上抵消副光束31及32的推挽信号的振幅。
因而，在波长λ1的光束与波长λ2的光束互相分开的部分中，能够确实确保凹凸间距错开的部分。所以，能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
特别是在使用不同规格的光盘6时，或者在拾取头装置的光学参数变化时，在因组装误差而使光栅3的位置沿光轴方向偏移时，在用光束的一部分检测跟踪误差信号(TES)时等情况下，也由于形成同样的花样，因此特性变化少，能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，第1光栅图形及第2光栅图形仅在第1边界线即直线L2与第2边界线即直线L3之间形成。但是，即使在这种情况下，在各副光束31及32通过区域内波长λ1的光束与波长λ2的光束互相分开的部分中，也能够确实确保凹凸间距错开的部分，能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
其结果，由于产生相移的图形只要仅在直线L2与直线L3之间形成即可，因此能够力图简化制造工序及降低拾取头装置的成本。
另外，在本实施形态的拾取头装置中，能够设定使直线L2与直线L3一致的直线L1。因此，利用波长不同的双波长半导体激光器1a及1b的配置方法，在从不同位置出射的光束的中心通过光栅3的中心、并通过与平行于y轴的直线为同一直线上时，能够抑制副光束31及32的推挽信号振幅。
如上所述，本发明的光学拾取头中，前述形成三光束的光栅的对跟踪信号检测有用的、前述第1波长的光束的通过区域存在于第2波长的光束的通过区域内部，另外上述形成三光束的光栅的产生相移的图形形成与道平行的第1相移图形及第2相移图形，同时，上述第1相移图形配置成包含对跟踪信号检测有用的、第一波长的光束的通过区域及第2波长的光束的通过区域的两通过区域的一部分，上述第2相移图形配置成仅包含第2波长的光束的通过区域的一部分。
根据上述本发明，形成三光束的光栅的产生相移的图形，第1相移图形及第2相移图形与道实质上平行形成，同时所述第1相移图形配置成包含对跟踪信号检测有用的、第1波长的光束的通过区域及第2波长的光束的通过区域的两通过区域的一部分，所述第2相移图形配置成仅包含第2波长的光束的通过区域的一部分。
即，在形成三光束的光栅的对光栅的对跟踪信号检测有用的、前述第1波长的光束的通过区域存在于第2波长的光束的通过区域内部内，如上述结构那样，形成产生相移的图形。
其结果，在采用波长不同的多个光源实现单组件化的光学拾取头进行利用相移DPP法的道检测时，在数值孔径因波长而异的情况下，或采用不同规格的光不的情况下，能够确实抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头中，前述形成三光束的光栅的使前述第1波长的光束产生相移的图形、以及使所述第2波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过上述形成三光束的光栅的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界都形成在单侧。
根据上述本发明，在形成三光束的光栅中，使第1波长的光束产生相移的图形、以及使第2波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过形成三光束的光栅的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行边界线都形成在单侧。
因而，由于仅在形成三光束的光栅的单侧形成使第1波长的光束及第2波长的光束的双方产生相移的图形，因此能够力图简化组装工序及降低光学拾取头的成本。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头中，前述形成三光束的光栅的使前述第1波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过上述形成三光束的光栅的光不的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线形成在单侧，另一方面使前述第2波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过上述形成三光束的光栅的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线形成在两侧。
根据上述发明，使第1波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过上述形成三光束的光栅的光不的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线形成在单侧，另一方面使前述第2波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过上述形成三光束的光栅的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线形成在两侧。
因而，例如在使用道间距大的光盘时，或者在对跟踪信号检测有用的、第1波长的光束与第2波长的光束的通过区域实质上重叠，其差很少时，如本发明那样，通过在形成三光束的光栅的两侧，形成使第1波长的光束及第2波长的光束的双方产生相移的图形，能够确实抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头，前述形成三光束的光栅这样配置，使得第1波长的光束及第2波长的光束的对各跟踪信号检测有用的区域不重叠或仅一部分重叠。
根据上述发明，形成三光束的光栅这样配置，使得第1波长的光束及第2波长的光束的对各跟踪信号检测有用的区域不重叠或仅一部分重叠。
通过这样，在各副光束区域具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域，同时产生相移的图形设定成对于波长不同的各光束的任何一光束，都实质上抵消副光束的推挽信号的振幅，从而在照射第1波长的光束时，能够设定成仅在该第1波长的光束的通过区域内实质上抵消副光束的推挽信号的振幅，而在照射第2波长的光束时，能够设定成仅在该第2波长的光束的通过区域内实质上抵消副光束的推挽信号的振幅。
其结果，能够对不同波长的光束利用公共的一个形成三光束的光栅，进行采用三光束的道检测，而且容易抵消因透镜移位等而产生的偏移分量。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头中，前述形成三光束的光栅的、使前述第1波长的光束产生相移的图形及使前述第2波长的光束产生相移的图形，分别形成在互相对跟踪信号检测没有影响的束径内。
根据上述发明，形成三光束的光栅的、使第1波长的光束产生相移的图形及使第2波长的光束产生相移的图形，分别形成在互相对跟踪信号检测没有影响的束径内。
其结果，在例如具有波长不同的多个光源的全息激光单元等集成化拾取头中，即使在从光源出射的光束在形成三光束的光栅上通过的位置错开时，也能够抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头中，在第1边界线与第2边界线之间的产生相移的图形与形成三光束的光栅上的其它区域的图形不同，前述第1边界线穿过通过前述形成三光束的光栅的第1波长的光束的实质上中心，而且与光盘的道方向实质上平行，前述第2边界线穿过通过上述形成三光束的光栅的第2波长的光束的实质上中心，而且与光盘的道方向实质上平行。
根据上述发明，对于通过形成三光束的光栅的第1波长的光束的左外侧一半及第2波长的光束的右外侧一半，由于至少两者不重叠，因此能够互相确保使第1波长的光束的副光束产生相移的图形及使第2波长的光不的副光束产生相移的图形，抑制副光束的推挽信号振幅。
其结果，在使用不同规格的光盘时，或者在光学拾取头的光学参数变化时，或者因组装误差而使形成三光束的光栅的位置沿光轴方向错开时，或者用光束的一部分检测跟踪误差信号(FES)时等情况下，也能够抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头中，前述形成三光束的光栅的、具有与前述光盘的道方向实质上垂直的凹凸的第1光栅图形和对于上述第1光栅图形使凹凸间距错开而形成的第2光栅图形，以实质上等间隔交替配置。
根据上述发明，由于使副光束产生相移的图形与不产生相移的图形交替以实质上等间隔配置，因此在各副光束通过区域内，在照射第1波长的光束时，能够设定成仅在该第1波长的光束的通过区域内实质上抵消副光束的推挽信号的振幅，而在照射第2波长的光束时，能够设定成仅在该第2波长的光束的通过区域内实质上抵消副光束的推挽信号的振幅。
因此，能够确实确保凹凸间距错开的部分。因而，能够抑制副光束的推挽信号振幅。
特别是在使用不同规格的光盘时，或者在光学拾取头的光学参数变化时，在因组装误差而使形成三光束的光栅的位置沿光轴方向偏移时，在用光束的一部分检测跟踪误差信号(TES)时等情况下，也由于形成同样的花样，因此特性变化少，能够抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头中，前述第1光栅图形及第2光栅图形仅在前述第1边界线与第2边界线之间形成。
根据上述发明，第1光栅图形及第2光栅图形仅在前述第1边界线与第2边界线之间形成。但是，即使在这种情况下，在各副光束通过区域内第1波长的光束与第2波长的光束互相分开的部分中，也能够确实确保凹凸间距错开的部分，能够抑制副光束的推挽信号振幅。
其结果，由于产生相移的图形只要仅在第1边界线与和第2边界线之间形成即可，因此能够力图简化制造工序及降低光学拾取头的成本。
另外，本发明的光拾拾取头是在上述的光学拾取头中，前述第1边界线与第2边界线一致。
根据上述发明，由于第1边界线与第2边界线一致，因此根据波长不同的光源的配置方法，在从不同位置出射的光束的中心通过形成三光束的光栅的中心、并通过与平行于y轴的直线为同一直线上时，能够抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，本发明的光学拾取头是在上述的光学拾取头中，前述形成三光束的光栅装入在集成化全息激光单元之内。
根据上述发明，由于形成三光束的光栅装入在集成化全息激光单元内，因此通过形成三光束的光栅与集成化全息激光单元的全息元件等的结合，在具有波长不同的多个光源的集成化全息激光单元的集成化光学拾取头中，即使在从光源出射的光束在形成三光束的光栅上通过的位置错开时，也能够抑制副光束的推挽信号振幅。
另外，本发明不限定于上述的各实施形态，在权利要求书所示的范围内可以进行各种变更，对于将不同的实施形态中分别揭示的技术性手段适当组合而得到的实施形态，也包含在本发明的技术范围内。
工业上的实用性本发明可适用于对光盘等信息记录媒体通过光学方式来记录重放信息的光学拾取头。
权利要求
1.一种光学拾取头，对光盘进行利用三光束的跟踪，其特征在于，具有产生第1波长的光束及第2波长的光束用的单组件化的光源、将所述光源出射的光束分割为主光束及两个副光束的形成三光束的光栅、将所述分割的三光束聚焦在光盘上的物镜、以及从三光束各自用光盘产生的反射光、检测出推挽信号的光检测器，所述形成三光束的光栅要赋予使所述第1波长的光束及第2波长的光束中的各光束产生部分相移的图形，在各光束的通过区域中具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域，同时所述产生相移的图形设定成对于所述波长不同的各光束的任一光束，都实质上抵消副光束的推挽信号的振幅。
2.如权利要求1所述的光学拾取头，其特征在于，所述形成三光束的光栅的对跟踪信号检测有用的、所述第1波长的光束的通过区域，存在于第2波长的光束的通过区域的内部，另一方面所述形成三光束的光栅的产生相移的图形，第1相移图形及第2相移图形与道实质上平行形成，同时所述第1相移图形配置成包含对跟踪信号检测有用的、第1波长的光束的通过区域及第2波长的光束的通过区域的两通过区域的一部分，所述第2相移图形配置成仅包含第2波长的光束的通过区域的一部分。
3.如权利要求2所述的光学拾取头，其特征在于，所述形成三光束的光栅的、使所述第1波长的光束产生相移的图形及使所述第2波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过所述形成三光束的光栅的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线都形成在单侧。
4.如权利要求2所述的光学拾取头，其特征在于，所述形成三光束的光栅的、使所述第1波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过所述形成三光束的光栅的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线形成在单侧，另一方面使所述第2波长的光束产生相移的图形，相对于穿过通过所述形成三光束的光栅的光束的中心、而且与光盘的道方向实质上平行的边界线形成在两侧。
5.如权利要求1所述的光学拾取头，其特征在于，所述形成三光束的光栅配置成使得第1波长的光束及第2波长的光束的对各跟踪信号检测有用的区域不重叠或仅一部分重叠。
6.如权利要求5所述的光学拾取头，其特征在于，所述形成三光束的光栅的、使所述第1波长的光束产生相移的图形及使所述第2波长的光束产生相移的图形，分别形成在互相对跟踪信号检测没有影响的束径内。
7.如权利要求5所述的光学拾取头，其特征在于，在第1边界线与第2边界线之间的产生相移的图形与形成三光束的光栅上的其它区域的图形不同，所述第1边界线穿过通过所述形成三光束的光栅的第1波和的光束的实质上中心，而且与光盘的道方向实质上平行，所述第2边界线穿过通过所述形成三光束的光栅的第2波长的光束的实质上中心，而且与光盘的道方向实质上平行。
8.如权利要求7所述的光学拾取头，其特征在于，所述形成三光束的光栅的、具有与所述光盘的道方向实质上垂直的凹凸的第1光栅图形和对于所述第1光栅图形使凹凸间距错开而形成的第2光栅图形，以实质上等间隔交替配置。
9.如权利要求7所述的光学拾取头，其特征在于，所述第1光栅图形及第2光栅图形，仅在所述第1边界线与第2边界线之间形成。
10.如权利要求7所述的光学拾取头，其特征在于，所述第1边界线与第2边界线一致。
11.如权利要求2至10中任一项所述的光学拾取头，其特征在于，所述形成三光束的光栅，装在集成化全息激光单元内。
全文摘要
光栅(3)要赋予对波长(λ1)的光束及波长(λ2)的光束的各光束产生部分相移的图形，在各光束的通过区域具有衍射沟槽的凹凸间距部分错开的区域(B1、B2)。产生相移的图形设定成对于波长不同的各光束的任一光束，都实质上抵消副光束的推挽信号振幅。在同一组件内有多个光源的光学拾取头中，在对DVD系列及CD系列等任一种光盘用三光束进行道检测时，都能力图降低成本、简化组装调整及简化拾取头。
文档编号G11B7/135GK1784722SQ20048001235
公开日2006年6月7日 申请日期2004年3月23日 优先权日2003年4月3日
发明者渡边由纪夫, 上山徹男 申请人:夏普株式会社