将资料写入光盘的方法以及光驱的制作方法

专利名称：将资料写入光盘的方法以及光驱的制作方法
技术领域：
本发明涉及将资料写入光盘的方法及光驱。
背景技术：
目前的技术可利用光驱将资料写入光盘上(如CD、DVD、蓝光光盘(BD)、 HD DVD等等，统称为光盘)，要从光盘读写资料时，主要利用激光光学读 写单元(optical pick-up unit， 0PU)产生激光束，并扫描光盘表面反射 的激光束，便可读写光盘的资料。
光盘由数个层所构成，其中至少包含两层功能层，第一层是信息层， 第二层是保护层，保护层基本上是一块基材，保护信息层避免与外界接触， 光学读写单元的激光束可以穿透保护基材对光盘的信息层进行读写。
将光盘放置于光驱中，便形成可置换且便宜的资料储存媒体。 世界各地生产光盘媒体的厂商众多，因为大量生产，光盘的品质差异
很大，虽然光盘必须符合严谨的规格，然而光驱制造商并无法完全控制所
读写光盘的品质。
因为光盘上的资料只有受到保护层保护，如果没有使用其它针对保护 层的保护措施(如光盘盒)，当保护层受损(如灰尘或刮痕)的话，会不容易 从光盘读写资料，甚至可能无法读写光盘。
因为光盘的制作及处理方式等问题，将资料写入光盘信息层的程序便 不是完全可靠的。常见的解决方法是重新读出刚写入的资料，比较读出的 资料和原始资料，将错误或有疑问的资料重新放到不同的位置，这个方法 又称为"写后校验"(verify after write)功能，例如，针对蓝光光盘， 蓝光光盘格式有指定资料重新放置的区域，以配合缺陷管理(defect management)来处理换位后的资料。要确保资料完整性，光驱有一处理模式，可以在将资料写入光盘之后， 立即启动写后校验的功能以校验写入的资料，如果对写入的资料有疑问 时，资料便会放到重新放置的区域。
因此，为了要增加写入资料的完整性，便要开启"写后校验"功能， 不过"写后校验"功能会降低光驱的有效写入速度，为了了解"写后校验" 功能如何降低有效写入速度，下面提供一个简单的计算范例。 范例
假设写入及读取速度为蓝光光盘参考速度的2倍，"写后校验"程序
包括写入30个纠错码(error correction code, ECC)区块以及校验30 个纠错码区块等等，另外假设写入和校验动作的整体时间等于150ms (结束 写入程序、跳回己写入纠错码区块的开端、跳回开始下一个要写入的纠错 码区块、回到写入程序等时间)，整体时间与读或写的速度关系不大，于 参考速度下，要读或写一个纠错码区块的时间大约为14.6ms。
因此，可以计算写入30个纠错码区块的所需时间，如果不校验资料，
则2 (写入程序还未结束)，如果校验资料，则219+ 219+150
为588ms(为写入时间+读取时间+整体时间)。
根据计算的结果，如果使用「写后校验」功能，则有效写入速度从2X
219
2x^ = 0.751 一 掉到 588 写入速度。
对于较高的写入速度而言，整体时间所占的比重变大，效能也掉得更 多，例如以12X写入及12X读取速度来做相同的计算，则有效写入速度从 12X掉到2X。
为了要改善"写后校验"功能的效率，有一种方式是在驱动器中加入 容量大但昂贵的存储器，如此可以一次写入大量的纠错码区块，不过这会 增加成本，同时在较高的写入速度下，能够改善的效能有限。
另外，"写后校验"功能使得光驱需要更多的时间和动作来将资料写 入光盘，这也减少光驱的寿命。
本发明的目的在于提供具有较高效率的资料写入方式。

发明内容
根据本发明的概念，提供一种将资料写入光盘的方法，该方法包括步
骤
a) 执行一写入动作，将一第一资料部分写入该光盘； a2)判断是否要执行步骤b);
b) 校验至少部分已写入该光盘的该第一资料部分，并判断是否要改变
已写入该光盘的该第一资料部分的位置；以及
C)执行另一写入动作，将一第二资料部分写入该光盘。 根据一实施例，本发明提供一方法，其中该光盘上定义有多个区域，
同时步骤a2)包括检查与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否
已执行过步骤b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则判断不执行
步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中该光盘上定义有多个区域，
同时步骤a2)包括检查与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否
已执行过步骤b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则判断不执 行步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中该预定品质条件包括该写入 资料的一边界。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中如果在该第一资料部分进行
步骤a)之前的预定时间内，与该第一资料部分相同区域的先前写入资料己 进行过步骤b)，则不对该第一资料部分执行步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中步骤a2)包括使用先前搜集 的信息，该信息来自于预扫描至少部分的光盘。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中该光盘上定义有多个区域， 该预扫描步骤预扫描每一区域的至少部分区域。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中步骤a2)包括执行一监测功 能，其中该监测功能包括监测循轨错误信号及聚焦错误信号中的至少一个 信号或监测震动或监测光盘错误或监测温度。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中步骤a2)包括于预备写入 该第一资料部分的光盘位置，检査其预定距离内的先前写入资料是否执行过步骤b),如果不需要改变该先前写入资料的位置，则不执行步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中步骤a2)包括于预备写入 该第一资料部分的光盘位置，检查其预定距离内的先前写入资料是否执行 过步骤b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则判断不执行步骤 b)。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中该预定品质条件包括该写入 资料的边界。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中步骤a2)包括检查该第一 资料部分是否将写入该光盘的特定位置，如果是，不执行步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一方法，其中步骤a2)包括检查该第一
资料部分是否为一特定种类资料，如果是，不执行步骤b)。
根据本发明的概念，提供一种可接收光盘的光驱，该光驱包括一光学 读写单元，用于产生一光束，经该光盘表面反射后进行扫描，读写该光盘 的资料， 一控制单元，控制该光盘读写单元，其中该控制单元包含一存储 器或与一存储器连接，该存储器包含该控制单元可读取及执行的程序命令
列，该光驱用于
a) 执行一写入动作，将一第一资料部分写入该光盘； a2)决定是否要执行步骤b);
b) 校验至少部分己写入该光盘的该第一资料部分，并判断是否要改变 已写入该光盘的该第一资料部分的位置；以及
c) 执行另一写入动作，将一第二资料部分写入该光盘。 根据一实施例，本发明提供一光驱，其中该光盘上定义有多个区域，
步骤a2)包括检査与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否已执 行过步骤b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则判断不执行歩骤 b)。
根据一实施例，本发明提供一光盘，其中该光盘上定义有多个区域， 步骤a2)包括检查与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否已执 行过步骤b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则判断不执行步 骤b)。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中该预定品质条件包括该写入资料的边界。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中如果在该第一资料部分进行
过步骤a)之前的预定时间内，与该第一资料部分相同区域的先前写入资料
已进行过步骤b)，则不对该第一资料部分执行步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中步骤a2)包括使用先前搜集
的信息，该信息来自于预扫描至少部分的光盘。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中该光盘上定义有多个区域， 该预扫描步骤预扫描每一区域的至少部分区域。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中步骤a2)包括执行一监测功 能，其中该监测功能包括监测循轨错误信号及聚焦错误信号中的至少一个 信号或监测震动或监测光盘错误或包括监测温度。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中步骤a2)包括于预备写入 该第一资料部分的光盘位置，检査其预定距离内的先前写入资料是否执行 过步骤b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则不执行步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中步骤a2)包括于预备写入 该第一资料部分的光盘位置，检查其预定距离内的先前写入资料是否执行 过步骤b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则判断不执行步骤 b)。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中该预定品质条件包括该写入 资料的边界。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中步骤a2)包括检查该第一 资料部分是否将写入该光盘的特定位置，如果是，不执行步骤b)。
根据一实施例，本发明提供一光驱，其中步骤a2)包括检查该第一 资料部分是否为一特定种类资料，如果是，不执行步骤b)。


图1为一示意图，显示已置入一光盘的光驱。 图2为本发明实施例的流程图。 图3为本发明实施例的流程图。 图4为一光盘的上视图。图5为本发明实施例的流程图。 图6为本发明实施例的流程图。
具体实施方式
图1显示一光驱ODD以及一光盘0D部分示意图，光盘0D的种类有CD、 DVD、蓝光光盘(BD)、 HD-DVD等，光盘OD通常是圆盘形状，即圆形物中间 有一孔洞，如此可让光驱ODD接收及驱动(旋转)该光盘0D。光驱0DD包含一光学读写单元0PU，用于产生一光束，如激光束LB， 由扫描光盘OD表面的反射，可擦写光盘OD的资料，光学读写单元OPU可 以产生用于写入数据的写入光束以及用于读取资料的读取光束，写入光束 和读取光束可以有不同的强度。光学读写单元0PU沿着平行于光盘0D表面的方向移动，如图1中水 平方向的虚线箭头所指，另外，光学读写单元0PU还可沿着垂直于光盘0D 表面的方向移动，使激光束LB的聚焦平面定位于该光盘0D的信息层。光驱ODD包含至少一个驱动器，例如使光盘0D沿着旋转轴RA旋转的 旋转组件R，还可以提供其它的驱动器以正确定位光盘0D和激光束LB间 的相对位置，这里的"驱动器"泛指所有可以调整运动的装置，例如液压 系统、机械手臂等等。控制单元CU控制光学读写单元0PU和旋转组件R的动作，使激光束 LB能以适当的方式扫描光盘0D表面，例如沿着光盘上的螺旋轨迹扫描。控制单元CU更用于控制光学读写单元0P(J读写光盘0D的资料，在写 入操作时，控制单元CU提供要写入的数据给光学读写单元OPU，在读取操 作时，光学读写单元OPU可传送从光盘OD读出的资料给控制单元CU，以便进行后续的处理。控制单元CU可包含存储器或连接一存储器ME，存储器ME内含有可供 控制单元CU读取及执行的程序命令列，以进行说明书中的一个或多个实 施例，存储器ME还可以含有要写入光盘0D的资料，存储器ME可选择任 何适合的种类，例如R0M、 RAM、 EPR0M等；于一实施例中还提供了一种计 算机程序，当计算机装置加载该计算机程序，可进行说明书中的一个或多 个实施例；另外亦提供一种资料载体，内含该计算机程序，该资料载体可为储存资料的用的媒体，例如光盘、CD、 DVD等等。 位置控制光驱ODD通常沿着光盘上的螺旋轨迹将资料写入，要保持光学读写单 元0PU所产生的激光束LB沿着正确轨迹并适当聚焦，便需要驱动器移动 光盘0D及光学读写单元OPU的相对位置，使得光盘OD位于激光束LB的 焦点处，同时亦控制光盘OD及激光束LB的相对径向位置。为了控制驱动器的移动，从光盘OD反射的激光光线获得位置错误信 号，该信号用于控制驱动器的径向位移的称为循轨错误信号(tracking error signal)TE，用于控制驱动器的聚焦方向位移的称为聚焦错误信号 (focus error signal)FE。要达到稳定的循轨性能，循轨错误信号TE和 聚焦错误信号FE都要控制在一定的范围内。可提供一反馈回路以降低循 轨错误信号TE及聚焦错误信号FE。 实施例请注意这里所提供的实施例也可应用至光盘OD以外的储存媒体，如 可写入资料并进行校验的资料储存器等等。根据传统的"写后校验"功能，会检查写入光盘的全部资料，本发明 实施例提供的"写后校验"功能则是预测及/或侦测何时写入光盘的资料 是"可能有问题的"，没有疑问的资料就不校验，如此可以节省时间并减 少光驱的动作，包括停止、跳回、开始、读取等等动作，这个技术称为"写 后快速校验"功能。因此，本发明提供将资料写入光盘OD的方法，该方法包括步骤a) 执行一写入动作，将一第一资料部分写入该光盘； a2)判断是否要执行步骤b);b) 校验至少部分已写入该光盘的该第一资料部分，并判断是否要改变 已写入该光盘的该第一资料部分的位置；以及c) 执行另一写入动作，将一第二资料部分写入该光盘。 如果产生读回问题或资料毁损的风险较高，写入的资料便视为可能有问题的资料，有疑问的资料不一定需要改变位置，只是表示资料要先经过 校验，如果写入的资料不能读回的风险较低，则写入的资料便当做没有问 题。实施例同时提供一基本原则，说明如何侦测或预测写入的资料有/无 问题。对于大多数的光盘，只有非常小部份的资料可能会有问题，因此校验 写入资料其实不需要那么频繁，因此，本发明的优点有 因为"写后校验"功能会降低效率，利用"写后快速校验"功能可 减少所降低的效率； 不需要新增存储器，因此节省成本；以及 因为记录一张光盘所需的动作及时间都减少了，因此增加光驱的寿人叩o"写后快速校验"功能只有当资料可能有问题时才会中断写入程序， 先搜集信息来判断写入资料是否有问题，以避免读回过程发生错误，下面 将说明如何进行预测，控制单元CU要能使用这些信息，例如可将信息储 存于存储器ME中，供控制单元CU存取。 流程图1图2显示根据本发明实施例的控制单元CU所执行的流程图。 根据第一歩骤100，控制单元CU开始写入动作；于步骤101中，将资 料写入光盘0D，控制单元CU可控制光学读写单元OPU及驱动器，于光盘 0D中写入第一资料部分(如30个纠错码区块)；写入第一资料部分之后， 于步骤102中，控制单元CU检查是否需要进行校验，亦即资料是否可能有问题，这可能需要根据先前搜集的信息来进行判断，先前搜集的信息可 以储存于存储器ME，供控制单元CU存取。如果不需要校验，控制单元CU回到步骤lOl，写入资料的次一资料部 分，如果不需要校验，就不会因校验而中断写入程序，因为写入程序持续 进行，便不会降低效率；如果需要校验，控制单元CU前进到步骤103，读 回写入资料并与原始资料比较。于步骤104中，判断是否要改变资料的位 置。如果写入资料没有侦测到错误，或是写入资料符合预定品质要求，像 是包含写入资料应有的边界，控制单元CU便回到歩骤lOl，写入次一资料 部分。如果在写入资料内侦测到错误(或是边界太低)，控制单元CU进行歩骤105，将写入资料重新放到光盘的其它位置，然后，控制单元CU回到步 骤101，写入资料的次一部分，即使资料没有错误，但是边界太小，控制 单元CU也可以决定改变资料的位置。换位的资料也是由步骤102判断是否需要再校验，因此步骤105之后， 控制单元CU —样回到步骤102，事实上，控制单元CU也可以在步骤102 中判断一定要校验换位的资料。当然，如果没有数据要写入了，控制单元CU便结束进行图2的流程图。下列实施例中提供数种选项及可能，说明控制单元CU如何于步骤102 中判断是否要进行校验。 实施例1本发明可以侦测或预测写入资料是否可能有问题，我们先讨论为什么 光盘0D的资料品质会改变，再来讨论如何侦测或预测有问题资料的方法。 通常影响写入资料品质的原因有三1) 光盘属性；2) 光驱属性；以及3) 外部事件。以下将分项讨论 l)光盘属性因为产品制程的公差(tolerance)，整片光盘OD的某些属性会不一致， 最典型的例子便是基材(保护层)厚度，这类变动的属性会影响写入资料的 品质，不过通常是以渐进的方式，当第一资料部分写入光盘0D某位置的 品质良好，于次一轨写入的次一资料部分通常也有良好的品质，这里所定 义的资料轨是指一整圈的螺旋沟纹，通常接近次一轨的写入也有良好品 质，这里所谓的接近其定义和储存媒体有关，通常可以0.5mm为标准。另一种影响光盘属性的便是光盘缺陷(defect)，严重缺陷像是基材 (保护层)上的灰尘，会渐渐改变光盘属性，局部缺陷像是指印、黑点、气 泡、或刮痕，可能突然改变或逐渐改变(两种情况都有可能)一个位置与下 一位置或相邻位置的资料品质，另外，局部缺陷也使得径向或聚焦循轨的 效能不再可靠。2) 光驱属性与光盘属性相同，光驱属性可能是突然改变或逐渐改变。 大部分的光驱ODD属性会随着时间、温度或位置慢慢改变，例如光学 读写单元OPU的属性变化呈一温度函数。典型的光驱ODD属性快速变化发生于读写模式的切换，从读取模式切换到写入模式，许多参数(像是激光功率)会急速改变。因为激光功率的容许误差小，同时切换的时间很短(通常使用一反馈 信号)，读/写转换间可能出现问题，如果这个程序能正确进行，那么下一 次通常也不会有问题，所以校验第一次的读写转换便可知道之后的读/写 转换会不会有问题。另外，读/写信号在某些时候会破坏循轨错误信号TE和聚焦错误信号 FE，影响的情况常常不同(通常跟光盘位置有关)，但是可以测得，例如 监测循轨错误信号TE和聚焦错误信号FE、或监测缺陷大小。3) 外部事件外部事件包括震动、摇晃、或是电源供应突然不足，通常无法预测。 侦测/预侧可能有问题的资料实施例中的一个重要概念便是属性变化或外部事件可能会影响光盘 上的资料品质，因此影响到写入资料的读回能力。即便光盘内有纠错(error correction),属性变化或是外部事件还是可能使得光盘上的资料无法再读出。这里所使用的"纠错"是指光盘格式的纠错，例如蓝光光盘使用32 个极性位更正1个LDC字符，1个纠错码中有304个LDC字符，如果LDC 字符内有太多错误，用于纠错的极性位可能无法更正LDC字符，便造成资 料损毁。在写入动作时，属性变化或外部事件可能造成其它的错误，像是离轨 (off-track)情况或是失焦，大部分这类错误对正确写入资料及读回写入 资料的能力有严重的影响。要检查写入资料是否可能有问题，可利用几个侦测原则，可以同时使 用这些原则以确保有较佳的预测/侦测效果，再来将讨论几种侦测及/或预 测资料是否有问题的方法，步骤102便可使用这些方法来判断是否需要校验。光盘区域方法根据第一种方法，考虑光盘属性的缓慢变化，根据此方法，将光盘0D 分成多个区域，如果于某个特定时段中写入特定区域的资料没有问题，则 属性的缓慢变化(例如温度变化)在同样时段内并不会在这个区域形成有 问题的资料。这些区域将在说明图4时做进一步的说明。属性缓慢变化包括光盘本身的品质(如基材厚度变化)、光盘上的灰尘、不同组件的温度如光盘0D、光学读写单元OPU等组件的温度。根据系统(光驱)及应用程序定义各区域，另外还可根据(或预估)特定 属性(如温度)的变化速度及系统可以处理的缺陷大小来定义区域。 根据这些信息及其它因素，光驱的制造商可以定义区域大小，如一个区域从内资料区开始算半径为0.5mm， 一个区域可能是具有一宽度(半径) 的完整环状。其它因素包括可让系统检查区域的时间有多久、以及有多少存储器可 使用，较多的区域会需要较多的量测(较多的时间)，并且要储存较多的信 息(需要较多的存储器)。所以本发明提供一方法，其中光盘OD上定义有多个区域，其中步骤 a2)包括检査与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否已执行过 步骤b)，如果不需改变该先前写入资料的位置，则判断不执行步骤b); 或是步骤a2)包括检查与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否 己执行过步骤b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则判断不执 行步骤b)，预定品质条件可包括该写入资料的边界。同样地，其中如果在该第一资料部分进行步骤a)之前的预定时间内，与该第一资料部分相同区域的先前写入资料己进行过歩骤b)，则不对该第 一资料部分执行步骤b)。此部分将于稍后解释。 预扫描方法要了解写入资料的品质或侦测光盘属性，可以在写入程序前先进行扫 描，这称为预扫描，根据预扫描的结果，可定义光盘的区域并标示要进行"写后校验"功能的区域。当然，预扫描会花去相当的时间，因而影响效率，不过总体来说，跟 之前描述的"写后校验"功能相比，光驱ODD还是进行了比较少的动作(停止及跳回动作)，所以这个方法仍旧延长了光驱ODD的寿命，另外，当光 驱0DD闲置时，也可以进行预扫描。要限制效率降低的程度，也可以不要预扫描整个光盘，仅预扫描部分 光盘，如每个区域只扫描一圈(再次说明，区域是圆形环状区域)。这个方法可用于测量特定区域的资料品质，也可以测量其它光盘属 性，例如光盘缺陷(指印、刮痕、黑点)，同样地，预扫描方法也需要定义 区域。因此本发明提供一方法，其中步骤a2)包括使用先前搜集的信息，该 信息来自于预扫描至少部分的光盘OD，同时本发明提供一方法，其中于该 光盘上定义有多个区域，该预扫描步骤预扫描每一区域的至少部分区域， 这部分将于稍后做更进一步的说明。 监测功能进一步可利用监测功能侦测或测量随时间变化的属性，例如外部震 动、局部光盘缺陷、温度变化等等。利用震动检测器(加速度计)可以侦测外部震动，当侦测到震动，震动 检测器发送一信号给控制单元CU，指示需要进行校验。利用温度计可侦测温度变化，当侦测到温度变化超过预定范围，温度 计传送一信号给控制单元CU，指示需要进行校验。所以本发明提供一方法，其中步骤a2)包括执行一监测功能，该监测 功能可以包括 监测循轨错误信号TE及聚焦错误信号FE中的至少一个信号； 监测震动； 监测光盘错误；或 监测温度。这部份将于稍后做进一步的说明。于某些情况下，可以事先知道某些写入动作危险性比较高，亦即以某些写入动作写入的资料比较可能会有问题，例如，在调整光学读写单元0PU 产生的激光功率当时或之后所进行的写入动作，所写入的资料可能会有问题。另外，光盘中重新放置的区域或其它预定区域(光盘信息显示这部分 状况比较差)的写入资料也可能是有问题的。换位资料放在光盘的特定区域， 一次换位能的写入的资料有限(如写 入l纠错码区块)，因为换位资料包含很多的短纠错码区块，这些区块的 写入可能经过多个区段，因此在这个区域中，光驱无法以最佳效率进行， 依照需求，对于重新放置区域的写入资料总是需要进行校验。于蓝光光盘中，可以指示特定区域是否正常，如果因为某些原因得到 光盘信息(其它光驱编辑)指示某些区域不正常，那么在这个区域的写入动 作都要经过校验。对于某些种类的资料，因为是比较重要的资料，所以也当成可能有问 题的资料。所以，利用上述技术，可侦测哪些资料可能有问题和哪些资料没问题。因此本发明提供一方法，其中步骤a2)包括检查第一资料部分是否位于光盘OD的特定位置，如果是，执行步骤b);同时提供一方法，其中歩骤a2)包括检查第一资料部分是否为一特定种类资料，如果是，不执行歩 骤b)，这部份将于稍后做更进一步的说明。 流程图2图3显示"写后快速校验"功能的可能实施例，说明控制单元CU可 执行的流程图，当校验值为TRUE时，便会校验写入资料，当校验值为FALSE 时，不会校验资料，控制单元CU根据旗标为TRUE或FALSE来判断是否要 校验资料，旗标只是用来指示资料是否可能有问题。开始之后，将光盘OD分成多个(假想)光盘区域，如图4所示的圆形 环状区域，图4显示光盘0D的上视图，其中光盘OD被分成四个光盘区域 21、 22、 23、 24，当然光盘区域的数量可以自己选定。启动之后，因为还不知道光盘的品质，所以所有光盘区域21、 22、 23、 24的校验值为TRUE，表示所有的写入资料都要经过校验，当资料的第一 部分写入第一区域21，读出资料进行校验，根据校验结果，可判断在区域21的资料是否有问题，如果资料没有问题，就不用在校验这个区域21的 其它资料。有很多方法可判断资料是否有问题，当然，如果侦测到一个错误，那 么资料便是有问题，不过还有另一种检查是确认是否有足够的边界，也可 以用来预测资料是否品质良好，但是有其限制，他们常常变动，这些变动 必须要比测量边界小得多。一种可用来测量边界的方法为相关领域技术人员所知的错误统计，也 可使用其它方法，但是上述方法相当适合用来测量边界，因为可测得绝对 属性，可知何时发生问题，事实上，可将边界转换成实际测量。当资料写入光盘0D而不需校验时，快速监测回路检查是否有不利的 情况(如局部光盘缺陷)发生，如果侦测到不利的情况，会将区域标示成问题区域，资料仍储存在存储器ME中供控制单元CU存取，可以用来进行校 验，区域的剩余部分继续写入并进行校验，于图3中，流程图显示开始步 骤200，开始步骤200之后，于步骤201中，光盘OD的所有区域都设为校 验值为TRUE，在下一步骤202中，检查写入动作正发生的目前区域21的 校验值为TRUE或是FALSE,控制单元CU也可以检查是否正进行写入动作。如果校验值为FALSE,表示不需要进行校验，控制单元CU可以前进到 步骤203、 204、 205，因为在读或写时可以同时进行监测功能，所以步骤 203检查的同时还是持续执行写入动作，如果在读取时侦测到不利情况(步 骤204)，并不会标示该区域为问题区域(针对特定的演算)。监测回路并不知道光驱现在正在读或写(为快速轮询(polling)回 路)，所以当切换到读取模式或需要进行步骤204(可一直执行步骤204)， 控制单元CU必须停止监测。如此，可进行步骤204，检查是否发生任何不利情况，可利用前述方 法的输入来进行判断，如果没有出现不利情况，控制单元CU进行步骤 205(该回路为监测回路，所以步骤204、 204、 205的检查非常快速，大约 22ms，步骤204不用等待)，检查写入动作是否仍在同样的区域21 ，如果 是，便不需要校验，控制单元CU回到步骤203，步骤204、 204、 205形成 一个回路，直到所有的资料已写入完毕、或是侦测到不利情况而需要进行 校验、或是前进下一区域等等，所有的情况都会使控制单元CU回到步骤202。如果步骤202因为校验值为TRUE而判断需要校验，控制单元CU继续 步骤209-213。于步骤209测量资料的品质，于下一个步骤211中，判断资料是否可 能有问题。如果于步骤211中判断写入资料没有问题，于步骤212中，改变这个 区域的设定校验值为FALSE，然后控制单元CU回到步骤202;如果步骤 211认为资料有问题，控制单元CU进行歩骤213，校验资料，如果有需要， 改变资料的位置，之后回到步骤202，但不改变这个区域的设定，所以校 验值保持TRUE。不管判断资料是否有问题(步骤211)，都要分析写入资料并测量边界， 该判断区域的边界要大于写入资料的边界。上述演算为"写后快速校验"功能的一个实施范例，当然可使用其它 更复杂的算法则。请注意，监测功能或是前述预测方法所得的信息可输入步骤204，其 中步骤209-212主要是根据上述的光盘区域法。 实施例2如前所述，先扫描光盘OD寻找光盘缺陷或光盘错误可能会降低效率， 另外，无法预测的事件(如外部震动)和光盘上无法侦测的缺陷会立即影响 写入资料(已经于实施例1中说明)。因此，于此实施例中，可于写入动作时侦测此不利情况(如侦测可能 有问题的资料)，此实施例讨论无法预测的情况(已于实施例1中说明，参 考步骤204)，本实施例可为上述步骤204的一个可能实施方式，也可以是无关的实施例。不可预测的情况分为两类。 l)外部事件典型的外部事件为外部震动，这类事件无法预测，并会导致写入资料 产生问题。因为外部震动有可能导致离轨状况或聚焦失败，所以写入的资料可能 会有问题，有可能局部性降低聚焦和径向方向的循轨品质，而损坏资料品质。2)未侦测到的光盘缺陷写入程序可能会进入光盘缺陷部分，这是因为预扫描没有侦测到这个 缺陷或是没有先做预扫描。写入资料会发生问题的原因和前面所述外部事件的原因相同，另外， 缺陷也会妨碍光盘写入程序，此类的缺陷有气泡、刮痕和黑点等。对于外部事件及未侦测到的光盘缺陷，资料是否会有问题的主要原因 是循轨或聚焦的能力(后者针对蓝光光盘而非CD)，这称为循轨性能，包含循轨及聚焦能力。如前所述，为了得到稳定的循轨性能，循轨错误信号TE和聚焦错误 信号FE都要保持在范围内，当循轨错误信号TE或聚焦错误信号FE超过 预定的门槛值，便表示发生不可预测的事件，因此侦测到不利状况，导致 写入资料有问题。监测循轨错误信号TE及/或聚焦错误信号FE有很多种方式，这里叙述一种可能的实施方式。首先，循轨错误信号TE及/或聚焦错误信号FE通过低通滤波器，形成FE^为聚焦错误信号FE的低通滤波信号 TEw为循轨错误信号TE的低通滤波信号用于侦测不稳定循轨性能的门槛值可以设为FEum和TEHm，当循轨错 误信号TE的低通滤波信号或聚焦错误信号FE的低通滤波信号分别超过 TEn,n或FE^，表示发生不利状况而且资料可能有问题，因此进行校验写入 资料(步骤103)。所以在写入资料时可以重复下列监测回路 读取TEw; 如果|TELP| 〉 TElira，送出校验中断信号； 读取FElp; 如果|FELP| 〉 FElim，送出校验中断信号；以及 如果收到校验中断信号，即刻开始校验写入资料。 在侦测当时以及之前的刚写入资料必须要经过校验，光驱0DD的反应速度有多快，以及如何控制光驱ODD的存储器ME，可由以下指出有问题的资料依然要能被提取(如光驱ODD能从存储器ME获得)以便校验写入 资料。这个监测回路的执行速度要够快，才能实时侦测不利的状况。 因此可以利用监测回路提供输入，让控制单元CU于图2的判别步骤102(或步骤204)中进行判断，如果超出至少一个门槛值FE^和TE^，控制单元CU判断需要校验，进行步骤103、 104、 105。监测缺陷检测器如果循轨错误信号TE及聚焦错误信号FE可信赖，便可透过监测这些 信号来侦测循轨性能问题，某些光盘缺陷会形成循轨性能问题，但是也可 能破坏循轨错误信号TE及聚焦错误信号FE，如此便不能再利用循轨错误 信号TE及聚焦错误信号FE来侦测循轨性能问题。典型的光盘缺陷便是黑点，黑点会(部分)阻挡激光光，因此循轨错误 信号TE及聚焦错误信号FE便会变得非常小。黑点的定义如下观察反射信号(从光盘回来的光束或是二极管信号 总和)，当碰到黑点，反射信号的准位明显降低，黑点是局部性的问题， 在下一圈还会碰到，通常是在光盘的基材上有个不会反射的点，黑点有可 能是光盘上的黑墨水、刮痕(阻碍光线)、光盘上的灰尘(很多非常小的黑 点等等)。要能够侦测这些不利状况，这里提供另一种监测功能，可在写入动作 的同时使用。为了顺利播放光盘，现在的光驱ODD已经内建有缺陷检测器，缺陷检 测器会侦测循轨错误信号TE及聚焦错误信号FE是否有问题，当侦测到信 号TE或FE有问题，便会启动特定动作以保持循轨或聚焦。缺陷检测器的原理很简单监测回路检査反射信号(使用适当的滤波 器)的准位是否下降，当侦测到下降情形，将缺陷信号设成高准位，釆取 特定的动作以改善循轨效能。缺陷检测器可以是控制单元CU的一部分，但是也可以是单独的模块 (图中未绘出)，缺陷检测器可用于监测是否有良好的循轨效能。较严重的缺陷(如黑点)会影响循轨性能，这里将讨论无法利用循轨错误信号TE及聚焦错误信号FE所侦测的缺陷，但是可用缺陷检测器测得。 因此建议监测该缺陷检测器侦测到缺陷的时间，使用这个信息判断是否要校验在这段时间内写入的资料， 一个大约0. lmm的简单小黑点(缺陷 检测器事件)并不会影响资料，即使侦测到这样的小黑点也不需要进行校 验，不过lmm的黑点会影响资料(离轨高风险)，因此监测该缺陷检测器侦 测到缺陷的时间，当时间超过一预定时间，那么这个时段中写入的资料就 要经过校验，如果该缺陷检测器侦测到缺陷的时间小于该预定时间，便不 需要校验，除非有其它需要校验的原因(震动、预扫描等等)，所以控制单 元CU可以利用从缺陷检测器所得到的信息来判断是否需要进行步骤102 或204的校验动作。另外，丛聚的小缺陷也会破坏循轨性能，但是无法利用循轨错误信号 TE及聚焦错误信号FE来侦测这种不利状况，监测回路监测循轨错误信号 TE及聚焦错误信号FE的同时也会在移除噪声时过滤掉这些信号，当通过 丛聚的小缺陷，循轨错误信号TE及聚焦错误信号FE会从正确信号准位迅 速降低，因为使用了滤波器的关系，无法侦测到这种不良循轨性能，藉由 监测缺陷检测器侦测到缺陷的时间便可克服此问题。有很多方式可以监测该缺陷检测器侦测到缺陷的时间，下面详细介绍 其中一种方式。利用低通滤波器过滤该缺陷检测器侦测到缺陷的时间Defecttirae，可侦测到严重缺陷和聚集的(小)缺陷，利用低通滤波器过滤该缺陷检测器侦测到缺陷的时间，下列参数定义为Defects为缺陷检测器侦测到缺陷的时间的低通滤波信号 Defect 为DefecUp信号的门槛值，用以侦测不良循轨性能 控制单元CU可用于检查DefectLP信号是否超过门槛值Defect ,判断写入资料是否需要经过校验，图5显示其流程图。流程图3图5显示控制单元CU可进行的流程图，如果缺陷检测器是单独的模 块，那么这个流程图便是由该单独模块配合连接的控制单元CU共同执行。控制单元CU开始步骤300，于步骤301中，根据缺陷检测器的侦测决 定Defectt,，举个例子，缺陷检测器的输出可为"缺陷"或"无缺陷"(高输出或低输出)，于次一步骤302中，低通滤波器过滤Defectt^生成 DefectLP，于次一步骤303中，比较过滤时间DefectLP以及门槛值DefectTH。 如果低通滤波时间Defects没有超过门槛值Defect ,控制单元CU 回到步骤301，如果低通滤波时间Defects超过门槛值Defect ,控制单 元CU于步骤304中判断需要校验写入资料，之后回到步骤301。步骤303和304的输出可用于图2的步骤102或图3的步骤204。 如果流程图是由缺陷检测器执行而非控制单元CU，则步骤304可改为 发送一讯息给控制单元CU，通知需要校验写入资料。 图5的流程图的执行速度足以实时侦测错误情况。 本实施例的优点便是可利用光驱ODD原本就有的功能(缺陷检测器)。 针对"写后快速校验"功能，监测功能提供一警告信号，指示资料可 能有问题，因应此信号，控制结束写入程序(如完成某个纠错码区块之后)， 并校验资料，如果在读回资料时没有发生任何问题，便不需要改变写入资 料的位置。根据本实施例，监测功能利用循轨错误信号TE、聚焦错误信号FE、 缺陷检测器中的一种或多种方式，当然也可使用其它适于侦测不良循轨性 能的信号，例如侦测抖动(wobble)品质、进行循轨或聚焦的所需功率、循 轨错误信号TE及/或聚焦错误信号FE的功率等等。另外，没有用来监测循轨性能的参数还是可用来指示资料是否有问题 而需要校验，这类参数有监测电源供应的变化、HF的变化、抖动品质等 等，HF是高频信号，内含预备写入光盘的资料，请注意，在写入时并不能 知道写入资料的品质，只能在写入时分析其高频信息(从光盘返回的光 束)，抖动品质便是资料轨上的抖动品质，光驱ODD可利用抖动来控制光 盘的径向速度，有多种方法可测量抖动品质，如强度变化、错误更正 (ADER)、遗失同步等等。这些说明是表示我们可使用多种监测方式，来测量光盘OD或光驱ODD 的属性变化。当然，可利用其它的监测装置，例如温度传感器，以感测光盘OD、光 驱0DD、光学读写单元OPU等等的温度。根据本实施例，由监测参数，控制单元CU便可判断资料是否可能有问题而需要校验，可监测的参数有循轨错误信号TE、聚焦错误信号FE、 缺陷检测器、温度等。实施例3根据本实施例，本发明提供预测写入资料是否有问题的另一原则，如果于特定时段写入光盘OD的特定位置的资料有较高品质，那么在特定位置的附近以及于该特定时段的预定时间内写入的资料也没有问题，不需要经过校验，这个原则可应用于步骤102或211，判断是否需要进行校验。要预测于光盘的特定位置上是否能写入正确的资料，必须要知道光驱 ODD是否能在光盘OD的这个位置写入品质良好的资料，同时，不允许严重 的光盘缺陷，可以利用先前写入资料来预测资料品质及缺陷大小。 预测资料品质光盘OD和光驱ODD属性可能逐渐变化，大部分的光盘OD属性会随着 位置改变，光驱ODD的属性则随着时间(或温度)改变。当光驱ODD写入光盘0D的资料有良好的品质，靠近已写入资料的新 资料也会有良好的资料品质，不需要经过校验，另一种情况则是两次写入 的中间间隔时间没有太长，其时间间隔没有超过预定门槛间隔，当两次写 入动作的时间间隔低于门槛值，光驱ODD和光盘0D的属性变动不会太大， 所以写入资料的品质也差不多。利用此原则可以预测预备写入光盘OD的资料品质，首先必须能测量 已写入资料的资料品质，另外，还要知道光驱ODD和光盘OD的属性变动 有多快。 资料品质光盘OD上的HF包含的信息比资料内容还多，HF中的其它信息还包含 抖动(jitter)、 HF图样的不对称、HF的信号准位、区块错误率等等。因此当读回写入资料，不只是校验写入资料是否符合原本欲写入的资 料(比较"0值"及"l值")，同时考虑前述的参数，如果从光盘OD读回 的HF显示相当的不对称情况，就表示这些资料的品质较差。对于蓝光光盘，每一个纠错码区块分成304个LDC字符，其中LDC字 符为同位(parity)保护的长距码(long distance code)字符。纠错必须利用同位码更正每一个LDC字符内的所有错误，只要有一个不能更正的LDC字符就会损毁资料，之后利用更正所有LDC字符所需要的最大同位码数量来代表资料品质，如果所有LDC字符有足够的边界(不需要所有的同位码)，表示资料的品质良好。 变动的光驱属性光驱ODD属性会随温度和时间变化，这些参数的影响和如何考虑这些 参数会因光驱ODD而有不同，因为温度改变相对缓慢，因此其中一种方式 便是根据先前写入资料的品质来预测现在写入光盘OD的资料品质，而先 前写入动作和目前写入动作的时间间隔必须小于预定门槛时间间隔。光驱ODD的属性也会因为激光束在光盘OD上的位置而不同，因此其 中一种方式便是根据先前写入资料的品质来预测之后写入光盘OD的资料 品质，而先前写入动作和目前写入动作的距离必须小于预定门槛距离。 测量缺陷大小要测量光盘OD上缺陷的大小，可以利用写入资料，光盘缺陷会局部 损毁资料，而纠错(利用丛发指针信号(burst indicator signal, BIS)信 息)可以修正遗失的资料，根据同步/丛发指针信号勘误表，可以估计最 大缺陷长度。如果在一个位置里没有缺陷或仅有小缺陷，那么在这个位置附近区域 的缺陷规模应该也在可以接受的范围内，通常区域的规模等于最大可接受 缺陷的一半半径，而最大可接受的缺陷大小也与光驱和光盘有关。因此，如果判定某个位置里没有缺陷，那么这个位置周围的圆形范围 也被视做安全区域，亦即没有会影响资料的缺陷，根据这个原则，控制单 元CU便可判断不要校验这个区域里的写入资料，除非有其它的因素影响。 要储存测量信息(品质及缺陷大小)，可在存储器ME内储存一信息表，当 写入资料没有问题，则储存下列信息测量时间以及测量位置，信息表可 以是一种先进先出(first in first out, FIFO)缓冲区，新的测量信息会 加在表头，太旧的测量信息则移除，如此在判断资料品质之后，再利用这 个信息判断附近写入资料品质不需经过校验(即资料没有问题)，中间所 需的时间不会太久。 流程图4图6为控制单元CU可用来执行前述实施例的流程图，该流程图可与图2的流程图交替使用，控制单元CU也可更动此流程图来协助图2及3的流程图中的步骤102或204判断是否需要校验资料。流程图的开始步骤400，接着于步骤401中，控制单元CU接收一写入 命令，写入命令包括开始地址W和结束地址S1，因此资料会写在开始地址 W和结束地址S1之间。于步骤402中，根据这些地址计算光盘OD的相关半径(开始半径、结 束半径)，于此实施例中，利用已写入资料来预测邻近资料的品质，如此 需要将相关信息转换成位置及距离(mm)，资料和位置的关系与半径有关， 因此步骤403中使用的信息为半径，不过这只是其中一种方式。于步骤403中，计算控制单元CU可以将资料写入不会产生问题的地 址，此步骤需要检查储存在存储器ME的信息表，根据信息表，计算要写 入的地址是否太靠近先前判定的缺陷(可将地址转换成半径)，同时检查要 写入的地址与先前具有良好品质的写入资料的位置距离及时间间隔是否 太远。步骤403的输出为地址信号(nojerify—stop)，这代表有多少资料是 没有问题的，在这个位置之前的写入程序都没有问题， 一直持续到如果开 始地址可能有问题，则nojerify一st叩与开始半径的值相同，如果要写 入资料的整个区域都没有问题，nojerify一stop的值会等于或大于结束地 址S1。根据步骤403的输出，步骤404会计算可以连续写入资料(即不需校 验)的范围(从W到S2)，于步骤404中，计算目前写入动作的结束位置S2， S2是目前写入动作的结束位置，而Sl则是步骤401所定义的结束位置(要 到达这个写入位置可能会经过数个写入及校验的动作)。于步骤405中，在起始地址W及结束地址S2间写入资料，步骤406 检査是否完成写入动作(即到达结束地址S2)，如果是，控制单元CU进行 步骤407，检査结束地址S2是否小于一开始的结束地址Sl，如果不小于 结束地址S1，控制单元回到步骤403，同时于步骤408中设定开始地址W 为前次停止地址S2。如果步骤407的判断结果是结束地址S2小于结束地址Sl，则表示还 未到达最终结束地址，而最近的写入资料可能有问题而需要进行校验，因此，于步骤409中，校验最后N个纠错码区块并检查资料品质，校验步骤可以依照前述步骤103-105来进行，同时测量最后N个纠错码区块的品质， 并将品质信息等储存在存储器ME的信息表中。如果步骤407判断结束地址S2等于(或大于)初始的结束地址Sl，这 表示完成写入动作，控制单元CU便进行与步骤409相似的步骤411，校验 最后N个纠错码区块，检查其品质并根据检査结果更新存储器ME内的信 息表，当然，如果确定与S2相关的半径没有问题，便可省略步骤411，这 在步骤410会确定，步骤411之后，从步骤401接收到的写入命令便算告 一段落(步骤412)。这个实施例读回资料并从HF接收信息，当然此实施例也可配合其它 实施例，例如利用缺陷检测器、循轨稳定度、温度量测、抖动量测等等。因此，本发明提供一方法，其中步骤a2)包括于预备写入该第一资 料部分的光盘位置，检查其预定距离内的先前写入资料是否执行过歩骤 b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则不执行步骤b)。另外，本发明提供一方法于预备写入该第一资料部分的光盘位置， 检查其预定距离内的先前写入资料是否执行过步骤b)，如果该先前写入资 料不符合预定品质条件，则判断不执行步骤b)，该预定品质条件包括该写 入资料的边界。 实施例4根据另一实施例，本发明提供一方法预测写入资料是否可能有问题， 根据本实施例，控制单元CU可以根据写入资料的内容及/或预定位置(地 址)来判断是否要校验写入资料，本实施例的原则是某些资料部分的判断 标准要比其它资料部分来的严格，如1. 档案系统区域；2. 备用的区域；3. 缺陷表；4. 前一缺陷的邻近地址(其它实施例已说明过)；5. 缺陷表中列出为缺陷或可能为缺陷的地址的邻近地址；6. 记录开始地址(通常为写入光盘OD的第一个纠错码区块，其风险较高是因为激光功率要很快的从读取功率切换到正确的写入功率，转换时造成资料可能有问题(与光驱/光盘有关)， 一种解决方式便是总是将写入光盘0D的第一个纠错码区块储存于光驱ODD的存储器ME中，等到正常区域的写入动作结束，可以校验第一个纠错码区块，必要时改变写入位置)；7. 经常存取的区域(控制单元CU具有学习机制，会记录经常存取的地 址并将其视为可能有问题的资料，经常存取的资料通常是"重要"资料(如 档案系统资料))；8. 读取时发现可疑的地址(重试、错误率、不能更正计数等等)，当读 取光盘0D时可一面搜集光盘状态的信息，这个信息可用来判断光盘的哪 一个部分可能有问题，将信息储存在控制单元CU的存储器中，或者是储 存在光盘OD的缺陷表中，于下一个步骤，控制单元CU便可决定改变资料 的储存位置；9. 扫描光盘时发现的区域(请见实施例5);以及10. 使用者指定为重要的区域。第l、 2、 3项与资料内容有关，因其重要性而将校验视为必要，项目 4、 5、 6、 7、 8、 9、 IO则与在特定地址的写入动作有关，这些地址被视为 比较容易出错，因此可能会影响资料。如果其中有一个区域不能读出资料(因为缺陷)，那么光盘0D当作不 可使用或损毁，因此当光驱ODD需要写入这些区域，控制单元CU就会判 断在写入资料之后要进行校验。根据本实施例，主应用程序或光驱ODD判断是否需要校验资料，主应 用程序会发出指令给控制单元CU开始写入程序。主应用程序针对资料区域发出普通写入命令(通常是没有问题的资 料，所以不需要校验)，但是碰到较为关键的区域(档案系统区域、使用者 指定为重要信息)，写入命令会指示需要校验资料，因此控制单元CU接收 的资料已经包含指示，指示在写入某些资料后一定要进行校验。光驱也可判断是否需要校验资料，光驱ODD可以根据光盘0D上的资 料写入地址来做判断，己知某些地址比较关键，便可将相关资料储存于存 储器ME中供控制单元CU存取，存储器ME存储器有光驱用区域、缺陷表及其它关键区域等信息。 实施例5根据另一实施例，光盘OD分成多个(假想)光盘区域，如图4的圆形环状区域，图4显示一光盘0D的上视图，其中光盘被分成四个光盘区域 21、 22、 23、 24，当然光盘区域的数量可以自己选定。本实施例提供不用校验整片光盘OD的高可信度方法，比演算校验整 片光盘OD快速。要达成这个目的，先搜集光盘OD的各种信息，这些信息可用于判断 光盘OD的缺陷，这些信息也可供控制单元CU利用来判断是否需要校验资 料(前述的歩骤102或204)。要进行本实施例，先将光盘分成多个光盘区域21-24，区域2卜24的 大小可设定为大约涵盖平常使用时可能碰到的一个缺陷。假设缺陷基本上是圆的，先预扫描区域的中间(即沿着区域中间的圆 形)，区域的尺寸大概与可容许的最大缺陷一样大，当然可以小一点以增 加边界(降低风险)，如果沿着区域的中间测量而未碰到可能的缺陷，那么 "测量位置一(可允许缺陷大小/2)」以及「测量位置+(可允许缺陷大小 /2)"之间应该没问题。如果测量是针对区域的开始位置(不是中间)，那么区域大小就要小于 "可允许缺陷大小/2" 了。在下一步骤中，控制单元CU可让每一个区域21-24在写入前几个区 块后进行校验，如果在这前几个区块中发现缺陷，那么在这个区域的所有 区块都要经过校验，如果在前几个区块中没有发现缺陷，整个区域都不用 校验(除非有其它的理由显示需要校验)。根据本实施例，将所有区域分类成未知、干净、可疑， 一开始，光盘 OD的所有区域都标示为未知。请注意，本实施例可事先预扫描所有区域，如果还没执行过写入动作， 便针对所有未进行过写入动作的区域进行预扫描。当第一区块资料写入光盘后OD后，光驱ODD检查写入第一区块资料 的区域21-24状态，如果区域标示为未知，光驱就必须要扫描或校验写入 资料，这和图3的步骤209、 211、 212相同。如果状态是可疑，光驱ODD需校验写入资料；如果状态是干净，这表 示这个区域的先前写入资料没有问题，或是这个区域在所有写入动作之前的预扫描未发现任何缺陷，因此不需要校验。
根据本实施例，决定区域21-24状态的方法可自由决定，区域21-24 的状态可以利用预先扫描来决定(在各区域21-24的第一写入动作之前)， 或是校验己写入特定区域21-24的资料，当然还有其它的方式，如测试写 入动作。
于此实施例中，缺陷就意谓着可能有问题的资料，扫描演算侦测所有 的信息，这些信息适用于指出光盘0D的特定区域21-24中的缺陷或可能 有问题的资料，扫描的长度不到整个区域21-24，但却足以侦测小缺陷， 如果扫描发现缺陷、边界区域或可能有问题的资料，更新区域状态，将区 域标示为可疑，之后将进行校验动作。
如果光驱ODD并不忙碌，便可在所有的写入动作之前先扫描光盘0D， 根据扫描的输出，更新储存在存储器ME里的区域表，供后续的写入动作 使用。
扫描必须利用所有信息判断区域是否可能损坏，侦测出在已写入或未 写入区域的所有缺陷。
也可以在读/写光盘0D的同时更新区域表，光驱ODD也可以在读取或
写入动作的同时测量用来指示后面缺陷的信息。
当发现其中一个问题区域，控制单元CU更新区域表，表示在这个区 域里写入的所有区块都要进行校验动作。
根据另一概念，区域表可储存在光盘0D本身，在光盘0D移出光驱ODD 之前进行储存，可从存储器ME取出区域表并将其写入光盘0D的专用位置， 如果在下一次写入动作时将光盘0D放入光驱ODD,光驱ODD读取并使用光 盘0D的区域表，以便在下一次的写入动作时使用，这样便能实时更新区 域表而不会漏失信息。
本发明提供的实施例可让控制单元CU判断是否需要校验动作，如果 不需要，写入动作便持续写入下一个资料部分，跳过(不进行)校验先前 写入资料的动作，下列讨论的方法可提供信息给控制单元CIJ，根据该信息 可判断是否需要执行校验动作。
这里描述光盘区域方法，其中将光盘0D分成多个区域，针对每一个 区域判断是否需要校验动作，校验写入一区域的资料及/或判断写入资料的品质，根据结果判断同一区域之后来写入资料是否需要经过校验，根据 一实施例，可另外考虑时间对参数变动的影响，如温度变化，根据本实施 例，如果校验及/或判断资料品质已超过一段时间，便需再次进行校验及/ 或判断资料品质。
根据另一实施例，于真实写入动作之前先预扫描光盘OD，根据预扫描 的输出，判断资料写入光盘OD的位置是否需要进行校验。
另外，可配合使用光盘区域实施例与预扫描实施例，例如，预扫描光 盘0D每一个区域的一小部分，根据其结果判断个别光盘区域是否需要进 行校验。
根据另一实施例，在执行写入动作时，可以搜集有关光盘0D的缺陷
以及写入资料品质等信息，这些信息可用于判断目前写入位置附近的区域 或目前写入动作的特定时间内所写入的资料需不需要经过校验。
根据另一实施例，于写入动作的同时监测参数，根据其结果判断是否 需要进行校验，例如监测到温度改变及/或震动，可将结果发送给控制单
元cu以便判断需要进行校验。
根据另一实施例，控制单元CU知道针对光盘0D的特定位置及/或特 定种类资料的写入动作总是需要进行校验，这是因为光盘0D上的某些区 域容易发生写入错误，另外，某些资料因其重要性而要求一定要进行校验。
当然，另外可结合前述实施例进行应用。
本文提供的实施例可应用的光盘OD包括蓝光光盘、HD-DVD、 DVD、 CD 等，也可应用至其它的储存媒体种类，如资料储存驱动器等，可写入资料 并进行校验，这些实施例可应用至任何将资料写入储存装置的系统。
上述实施例仅用于说明的用而非限制，因此相关领域技术人员可对本 发明进行修改，然皆不脱如附权利要求书的范围。
权利要求
1. 一种将资料写入光盘的方法，其特征在于，该方法包括步骤a)执行一写入动作，将一第一资料部分写入该光盘；a2)判断是否要执行步骤b)；b)校验至少部分已写入该光盘的该第一资料部分，并判断是否要改变已写入该光盘的该第一资料部分的位置；以及c)执行另一写入动作，将一第二资料部分写入该光盘。
2. 如权利要求1所述的方法，其特征在于该光盘上定义有多个区域， 同时步骤a2)包括检查与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否已执行过歩骤 b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则判断不执行步骤b)。
3. 如权利要求1所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，该光盘 上定义有多个区域，同时步骤a2)包括检查与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否已执行过步骤 b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则判断不执行步骤b)。
4. 如权利要求3所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，该预定品质条件包括该写入资料的边界。
5. 如权利要求2-4任一项所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，如果在该第一资料部分进行步骤a)之前的预定时间内，与该第一资料部分 同一区域的先前写入资料已进行过歩骤b)，则不对该第一资料部分执行步 骤b)。
6. 如权利要求1所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，步骤a2) 包括使用先前搜集的信息，该信息来自于预扫描至少部分的该光盘。
7. 如权利要求1所述的方法，其特征在于步骤a2)包括执行一监测功能。
8. 如权利要求7所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，该监测 功能包括监测循轨错误信号及聚焦错误信号中的至少一个信号。
9. 如权利要求7所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，该监测 功能包括监测震动或监测光盘错误或监测温度。
10. 如权利要求1所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，步骤a2)包括于预备写入该第一资料部分的光盘位置，检查其预定距离内的先前写入资料是否执行过步骤b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则不执行步骤b)。
11. 如权利要求1所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，步骤a2)包括于预备写入该第一资料部分的光盘位置，检查其预定距离内的先前写入资料是否执行过步骤b),如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则 判断不执行步骤b)。
12. 如权利要求11所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于,该预 定品质条件包括该写入资料的边界。
13. 如权利要求1所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，步骤a2) 包括检查该第一资料部分是否将写入该光盘的特定位置，如果是，不执行 步骤b)。
14. 如权利要求1所述的将资料写入光盘的方法，其特征在于，步骤a2) 包括检查该第一资料部分是否为一特定种类资料，如果是，不执行步骤b)。
15. —种光驱，可接收一光盘，其特征在于，该光驱包括一光学读写 单元，用于产生一光束，经该光盘表面反射后进行扫描，读写该光盘的资 料； 一控制单元，控制该光学读写单元，该控制单元包含一存储器或与一 存储器连接，该存储器包含该控制单元可读取及执行的程序命令列，该光 驱用于a) 执行一写入动作，将一第一资料部分写入该光盘； a2)判断是否要执行步骤b);b) 校验至少部分已写入该光盘的该第一资料部分，并判断是否要改变 已写入该光盘的该第一资料部分的位置；以及c) 执行另一写入动作，将一第二资料部分写入该光盘。
16. 如权利要求15所述的光驱，其特征在于，该光盘上定义有多个区域，步骤a2)包括检查与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否已执行过步骤b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则判断不执行步骤b)。
17. 如权利要求15所述的光驱，其特征在于，该光盘上定义有多个区 域，步骤a2)包括检査与该第一资料部分相同区域的先前写入资料是否已执行过步骤 b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则判断不执行步骤b)。
18. 如权利要求17所述的光驱，其特征在于，该预定品质条件包括该 写入资料的边界。
19. 如权利要求15-18任一项所述的光驱，其特征在于，如果在该第 一资料部分进行步骤a)之前的预定时间内，与该第一资料部分相同区域的 先前写入资料已进行过步骤b)，则不对该第一资料部分执行歩骤b)。
20. 如权利要求15-17任一项所述的光驱，其特征在于，步骤a2)包括使用先前搜集的信息，该信息来自于预扫描至少部分的该光盘。
21. 如权利要求15所述的光驱，其特征在于，歩骤a2)包括执行一监测功能。
22. 如权利要求21所述的光驱，其特征在于，该监测功能包括监测循 轨错误信号及聚焦错误信号中的至少一个信号。
23. 如权利要求21所述的光驱，其特征在于，该监测功能包括监测震动或监测光盘错误或监测温度。
24. 如权利要求15所述的光驱，其特征在于，步骤a2)包括于预备写入该第一资料部分的光盘位置，检查其预定距离内的先前写 入资料是否执行过步骤b)，如果不需要改变该先前写入资料的位置，则不 执行步骤b)。
25. 如权利要求15所述的光驱，其特征在于，步骤a2)包括于预备写入该第一资料部分的光盘位置，检查其预定距离内的先前写 入资料是否执行过步骤b)，如果该先前写入资料不符合预定品质条件，则 判断不执行歩骤b)。
26. 如权利要求25所述的光驱，其特征在于，该预定品质条件包括该写入资料的边界。
27. 如权利要求15所述的光驱，其特征在于，步骤a2)包括检查该第 一资料部分是否预备写入该光盘的一特定位置，如果是，不执行步骤b)。
28. 如权利要求15所述的光驱，其特征在于，步骤a2)包括检查该第 一资料部分是否为一特定种类资料，如果是，不执行步骤b)。
全文摘要
一种将资料写入光盘的方法，该方法包括步骤a)执行一写入动作，将一第一资料部分写入该光盘；a2)判断是否要执行步骤b)；以及b)校验写入该光盘的该第一资料部分的至少部分资料，并判断是否要改变已写入该光盘的该第一资料部分的位置，最后，该方法包括步骤c)执行另一写入动作，将一第二资料部分写入该光盘。
文档编号G11B7/0045GK101546565SQ200810214910
公开日2009年9月30日 申请日期2008年8月28日 优先权日2007年8月28日
发明者史塔分·吉森, 汉·克莱斯, 马克·卡斯 申请人:飞利浦建兴数位科技股份有限公司