专利名称：磁盘测试方法及磁盘测试器的制作方法
鹏测试方舰纖测鄉駄领域本发明涉及一种磁盘测试方皿M:观!li，，尤 及一种可以减小连接 区域(连接测试信号写入结束和测试信号写入开始的区域)以及减小由于磁盘的连接区域导致的缺陷检测错误的磁盘检验器(certifier)(下文称为"检验器")。
技术背景当磁性媒介中雜异常时，在计,系统中i顿的硬磁盘(在下文中称作 "MT或'盘")的写入娜或读取繊中可倉浐生错误。因此，鹏在纖的预 先确定的^h写入预先确定的测试娜，例如FFhM，荆顿检验器读取 它来检验磁性媒介。另外，FFh的h ^+六进制符号，FFh表示所有位都为1的 。这种 鄉的专用频率信号的测微据即所谓的'测U^冲信号(burst signal)"。由检验器检测出的位错误包括所谓的混^昔误(包括具剤氐于预定阈值的 7jC平的位)，尖麟误，位置调带膪误和磁调律赔误等等。作为另一种错误，在 磁盘上的娜被擦除后，存在被位检测的额外错误。在M驱动器中，绕线式磁头(感应头)用来写入i^， MR磁头用来读 取数据。写入头和读取头被集成为复合磁头。磁盘的记录密度正在逐日改进。盘缺陷测鄉过同心圆测微或者螺旋测试法执行。在同心圆测试方法中， 皿在磁盘转动时，相应于M轨道来逐步径向移动安装在磁头架上面的磁头 来搜寻各个轨道的缺陷，从而检测盘缺陷。在螺旋测试方法中，M:相对于旋 转磁盘,iW旋移动磁头来扫描旋转M:的IWi，从而检测M缺陷。由于观!H^盘的所有轨道需要花费很长的时间，因此同心圆测试法的效率 较低。可是，为了提高磁盘的品质，最近测试轨道的数目增加了。实际上，有 缺陷的轨道的数量最多在100到200的范围内，OT应于所有轨道的1/10到 1/100。因此，通常iOT测Kf九道部分地变细的螺旋测试法或者变细的同心圆测 量法。顺便提及，螺旋测试法可以3ia细化麟巨来完成。JP-A-10-275434， JP-A-2000-57501和JP-A-2000-57502公开了Jd^技术。在同心圆观赋方法中，在一个轨道中写入测娜冲信号由表示旋转磁盘的 基准位置的索弓l信号(鹏区信号)开始，以及由磁盘一次旋转之后的索弓l信 号(鹏区信号)结束。因此，在测i微冲信号的写入开始位置和写入结束位 置之间出现连接区域。连接区域出现有两个原因。 一个原因慰龙转離的圆周舰每鄉定转有些 微的不同，写入开始位置和写入结束位置不完全匹配。另一个原因是在读取头 和写入头之间有预定的位置偏移(3nm到5Mm)。因此，即使磁头被控制成使得写入开始位置和写入结束位置完t致，仍 然有相应于读取头的读取信号偏移。实际上，当 :的圆周速度 变化时， 控制^JE读取头和写入头间的位置偏移是困难的。因此，图4 (a)中的连接区 域C出现在一个轨道的读取信号中。另外，图4显示了常规测鄉止门信号的 产生时序。当连接区域C在磁盘检验器中被测试时,连接区域C被检测为错误。因此， 具有覆盖图4 (a)所示的读取信号的连接区域C的窗口宽度的测试禁止门信号 14被产生，以提供纖轨道的一部分(连接区域C)作为非测试区域。另外， 禁止门信号14或下面要描述的禁止门信号18的低电甲'L"是很明显的，这个周 期被用作测试禁止周期。在这个周期过程中，测试信号写/读电路的读取电路部 分的读取操作被禁止，以使读取信号本身无效。在图4 (a)中，附图标记ll为索引信号，12为写入门信号，13为写入到 一，道的测试脉冲信号的读取信号，14为禁止门信号。附图标记15描述了可 以M31转换写入门信号12所产生的读取门信号。另外，可能的是，一^t的测OT冲信号的写入不駒索弓l信号ll而是 用扇区信号作为Sm开始的，并且在该一个轨道后用相同的扇区信号结束。稍 后描述的本发明的实施例将，这种系统。在磁盘的缺陷测试中，通常被确定为测试禁止周期的连接区域C的宽度在 考虑磁盘的圆周速度的最大变化和读取头与写入头之间的位置偏移时关于将被 观赋的轨道被设置成最大值。因此，相对于具有对应于旋转数和磁盘的圆周速 度的最大宽度的连接区域C来设置禁止门信号14的窗口且使用写入结束点作为 緣图4 (b)显示了MR头的位置关系。假定写入头和读取头之间的^g偏移 是A[m]，选择禁止门信号14的窗口宽度[sec]使得建立关系式A[m]/圆周速度 [m/sec<W[sec]。另外，W是禁止门信号的窗口宽度。假定纖的旋转数在2000ipm到3000ipm的范围内(对应于雜约为20mm 的盘的在从4.1m/sec到6.3m/sec的范围内的圆周^Jt),并且读取头和写入头之 间的位置偏移A在范围3Mm至lj5拜内，窗口宽度W变为约1.5Mm。纖是目 前通常的窗口宽度W^fi。当一错道的记录密度舰时,记录在宽度为1.5nsec的非测试区域的信息 量也相应地增加。因此，为了保证磁盘的品质，就需要使非观赋区域的宽度尽 可能小。然而，当非测试区域的宽度减小时，缺陷检测的错误就会增加，再测 i，盘的次it就增加，导,生测试效率斷氐的问题。发明内容本发明用，决上述问题并且本发明的目的是提供一种磁盘测试方法或检 验器，禾,其能够减小测试轨道中的作为非测试区域的测^E冲信号的连接区域，并且倉^^在磁盘错误检测中连接区域的缺陷检测的错误。根据第一个发明的M:测试方法的构造包括以下步骤对于预定轨道的一 4 1^转(track revolution)写入测试信号，在该一^fliil定转时进一步写入 测试信号，在改写的写入结束点的前后设置具有予腚宽度的湖赋禁止区域作为 基准，以及从预定轨道读取测试信号，其中在由磁头的位置偏移量和磁盘的圆 周速度确定的预定轨道中的测试信号的写入结束点和写入开始点之间的连接区 :^执行改写，以使测试禁止区域的预定宽度比连接区域的宽度要窄。第二个发明进一步包括以下步骤对于预定轨道中的一个轨道旋转写入测 试信号，在该轨道的该一个轨道旋转时进一步写入测试 ，产生测试禁止门 信号使得预定轨道的读取信号无效^#使得在改写的写入结束点之前在预定轨 道中检测至啲错误无效，或者使得在 腕轨道中检测的错误无效，以及从预定 轨道读取测试数据，其中在由磁头的位置偏移量和磁盘的圆周速度确定的预定 轨道中的测试信号的写入结束点和写入开始点之间的连接区域上执行改写，通 过从写入结束点产生表示开始时序的第一信号，以及产生表示结束时序的第二 信号来产生所述测试禁止门信号，使得所述第一信号和第二信号之间的周期比连接区域的宽度短。顺便提及，如前所述，连接区域的宽度在考虑磁盘的圆周速度的最大变化和读取头与写入头之间的^g偏移时成为最大值。在本发明中，从写入结束^g^h连接区域C之上(参见图4 (a))改 写测^Jt冲信号，连接区域C由读取头和写入头之间的位置偏移和磁盘的圆周 驗来确定。因此，从写入开始点写入的测试脉冲信号的一部分細过写入开 始点的时间点处被改写，由此该部分的信号基本被改写。由于这样的重叠写入， 连接区域C就消失了。通常,在m的车爐Jdlil改写麵来记录新娜而在轨道中改写娜时, 生成与主要新数据对应的娜的高电平读取信号。因此，写在写入开始区域内 的测试脉冲信号和在改写的写入结束点的测试脉冲信号由这样的区域连接，在 该区域内对应于几位到几十位的波形发生变形，且由于改写产生的该变形的波 形部分顿新的连接区域。因此，仅使作为非测试区域的新的连接区域无效是 足够的。新的连接区域基本上不受读取头和写入头之间的位置偏移的影响，并且其 宽度小于连接区域C的宽度。取决于磁盘的圆周速度，新的连接区域的宽度会 窄到小于0.5psec。假定磁盘的旋转数在2000ipm到3000ipm的范围内(相应于，约20mm 的M的圆周速度在4.1m/sec到6.3m/sec的范围内)，且头之间的位置偏移在 3mih到5nm的范围内，禁止门信号的窗口宽度在改写结束点之前和之后变为约 0.5Msec。实际上，虽然为了M^缺陷观!l试的错误，窗口宽度比前面舰的窗口 宽度更宽，但是由于该宽度可以被减少到大约1^sec，因此一剛试区域会变得更 窄。结果，本发明可以减小在检测轨道中的作为测试脉冲信号的连接区域的非 检测区域，以及^1>当检验 ^行错误检测时连接区域的缺陷检测的错误。
图1为根据本发明的实施例的框图，图2 (a)为测试禁止门信号的生成时序的实例，图2 (b)为测试禁止门信号的生成时序的另一个实例，图3为禁止时序表，图4 (a)为常规测试禁止门信号的生成时序，图4 (b)表示MR磁头的位 置关系。
具体实施方式
在图1所示的测i^g 5中，磁盘1安装在旋转构件2的轴2a上。用于检 观鹏2a的旋转状态的旋转编码器2b产生表示鹏1的旋转S^置的脉冲(索 引信号INDX)以及标旋转角度e (相应于M^索弓I信号INDX的旋转量) 的脉冲。这些脉冲被发趟写/读控制电路51，错误检测单元52和缺陷检测处 鹏制體54。在4顿测i^S 5对旋转磁盘1的缺陷测试中，缺陷检测处掛控制部分54 包括微处理器MPU541 ，其向写/读控制电路51提供根据旋转磁盘1在径向上的 移动鄉的测试间距(test pitch)以及观iji^t冲信号例如FFh数据。顺便,，通aj定转,器2b，通过以预定数目划分磁盘的一个轨道旋转 获得的扇区信号与索弓I信号INDX同步产生。这醜区信号可在缺陷检测鹏 控制部分54中产生,通过MPU541禾佣软件鹏根据索弓l信号INDX将一个轨 道旋戦吩为多个均等区域而产生，并微超相应电路。写/读控制单元51包含磁头離置控制电路。磁头^a控制电路驱动磁头架6以由磁头3以预定的移动速度寻找预定的观!)试flit,该移动M与磁盘1 在径向上的测试间距相对应，以由此将磁头3定位在预定的测微道中。写/读 控制单元51 )^!供给写入侧感应磁头3a的测试J^冲信号转换为具有预定当前 值的信号，使当前信号在预定时刻与索弓瞎号INDX鹏区信号同步，并将同 步后的当前信号mS写/读电路50的写电路。写电路M:驱动磁头3来执行对 测试脉冲信号的写处理。在^^轨道的旋转雜位置的索弓I信号INDX鋼区信号上，写/读控制单元51禾佣同心圆测试方法将旋转S)t位置作为开始点来测试多个,。在该瞎 况下，测试脉冲信号被写入到一个测m道中，其后，测^E冲信号被改写在 比连接区域C宽的区域中。然后，由磁头3的读取MR磁头开始对测皿冲信 号进蹄取。顺便,，感应磁头(写入头)3a和MR磁头(读取头)被集皿配在图4 (b)所示的磁头3中。旋转编码器2b的输出被输入到写/读控制部分51，错 误检测单元52和缺陷检测,控制部分54。尽管磁头也可以被提供在磁盘的后表面侧，但是其并没有被示出，因为该 磁，似于位于前表面侧的磁头3 。由磁头3读出的观!l娜冲信号被鄉至写/读电路50，然后作为读取信号提 供辦昔误检测单元52，其中执行了错误检测。被错误检测单元52检测出的错误 位娜被^S测试縫5的缺陷检测,控制部分54，其中基于错误位M 棘缺陷检测执ffil定分析和繊处理。缺陷检测鹏控制部分54包括MPU541，存储器542， CRT显示器543 和鄉544等，它们Mii总线545相互连接。存储器542包括缺陷娜获取程 序542a,坝赋禁止范围设置禾辨542b，改写/iifi^ 542c，缺陷分类禾聘542d 禾口皿品质确定禾i^ 542e。缺陷检测处激控制部分54进一步包括禁止时序表 542f和参数区域542g等。MPU541执微陷娜获取禾辨542a以将磁头3定位在预定测试车爐中， 皿行改写/读程序542c以将测试脉冲信号写A^il—次旋转和连接区域c的总 和的区域。然后，MPU541读取测微冲信号来测试写入轨道。l顿同心圆测 i^法扫描多个轨道，以这种方式测^0f有或者预定数目的轨道。在^N/l道的测试中，执fi^肖后将描述的测试禁止区域體辦542b，并 且禁止门信号18被发i!M写/读电路50的读取部分，使得在与连接区域C的位 置不同的位置处的读信号在宽度小于连接区域C的宽度时无效。被检观啲缺陷信号被作为缺陷 (对应于缺陷鄉)和缺陷信号的坐标 一起存储在存储器的工作区内。顺便舰，接收到旋转綱器2b的脉冲后，由 缺陷检测,控制部分54根据磁头3的定位控制来计算被^r测出的缺陷的坐 标。对于舰一 効定转和连接区域C的总和的区域，MPU541在测鄉冲信号 的改写结束点执行改写/读程序542c和测试禁止区域^gfMJ^ 542b。顺便舰，缺離号包括尖麟误，正调制错误，负调讳诉昔误，混^昔误 和,错误等。图2所示为相应于由MPU541执行测试禁止区域设置禾聘542b时改写的 禁止门信号的生成时序。顺便舰，附图标记16标写入开始扇区信号，17为写在一，道中的测i^M:冲信号的读信号，18， 18a和18b是禁止门信号。如图2 (a)所示，MPU541执行改写/iif呈序542c以在初始写入开始扇区 信号16时开始写入测m冲信号，在一次旋转后，ffi31使用写入开始扇区信号 16开銜十时，并在写入开始扇区信号16后在周期T内把测i^^改写至鹏试 ,中。改写周期T被存储在参数区域542g中，并且例如为10Msec。周期T对应 于大于L5^isec的写入时间，其是获得相应于通常连接区域C的读信号所需的。 在该实施例中，根据读取信号的时间，观赋脉冲信号被改写达lOnsec。艮P,在 MPU541对一个旋转从写入结束点扫描10Msec后结束磁头3的写入。结果，如图2 (a)所示的新的连接区域Cs从写入结束点(一次旋转的写 入开始时间点直接在前)移动了 10Msec。在此情况下，由于测试脉冲信号从写 入开始扇区信号16开始改写，连接区域C消失，并且几位到几十位的波形由于该改写而改变的连接状态呈现为新的连接区域Cs。因此，其足以禁止连接区域Cs。连接区域Cs的位置变得与图4所示的连 接区域C的位置不同，并且其宽度比,区域C的宽度窄了 0,5Msec，如图2(a) 的,区域Cs所示。在磁盘的旋转数在2000ipm到3000rpm的范围内(从4. lm/sec到6.3m/sec 的圆周速度)，并且读磁头和写磁头之间的^g偏差A在3psec到5Msec的范围 内的情况下，使用改写结束点作为,来设置禁止门信号。因此，连接区域Cs 的宽度可以为大约0,5Msec窄，并且在考虑减小连接区域的错误缺陷检测时最多 为大约lMsec。MPU541执行测试禁止区域^g程序542b，以产生如图2 (a)所示的禁止 门信号18,从而使写/读电路50的读取电路的读取信号无效。在这种情况下， 在写入开始扇区信号16上，MPU541 Mil写入开始扇区信号16开^i十时，并 且禁止门信号18作为窗口信号产生，其具有lMsec的宽度，其是9.5nsec与 10.5Msec的皿。另外，从9.5Msec到10.5Msec的时刻之间产生的窗口周期与改 写周期T对应地存储在参数区域542g中。结果，可以将作为一剛试区域产生的轨道中的测试脉冲信号的连接区域从 1.5Msec减小到1.0Msec。与常规区域相比，这个区域可以减小至少0.5Msec。进一 步的，当圆周速度增加到5.0m/sec时，基本上可以将非测试区域减小2.5网。图2 (b)示出了一个实例，其中产生表示改写结束点之前禁止门的开始时 序的第一信号以及表示改写结束点之后的禁止门的结束时序的第二信号。在这 种情况下，育辦将宽m^—信号调节至lJ第二信号来产生禁止门。脉冲宽度的 调节范围t:fcii常的连接区域C更窄。在图2 (b)中，體禁止门信号的开始时序的第一信号18a从写入开始扇 区信号16经过TlMsec之后下降，并^一信号的前沿(下降时间)，如图2 (a)的禁止门信号18的下降时间。设置禁止门信号的结束时序的第二信号18b 从写入开始扇区信号16经过T2psec后开始下降，并M二信号的后沿(上升 时间)变成如图2 (a)的禁止门信号18的上升时间。因而，禁止门信号18的宽度被确定为錢一信号18a的前沿T2和第二信 号18b的后沿T1之间。第一信号18a和第二信号18b的产生时序被存储在禁止时序表542f中，并 且MPU541执行测试禁止区域^g禾ii^ 542b，以aM参考禁止时序表542f产生 第—信号和第二信号。如图3所示，禁止时序表542f包括旋转数列19a,圆周速度列19b，和读/ 写偏差量列19c和19d。旨读/写偏差量列被划分为第一信号产生周期Tl列和 第二信号产生周期T2列。改写周期T的列19e进一步被包括在禁止时序表542f 内。根据输入 ， S31参考禁止时序表542f的旋转数或圆周速度和激写偏差 量A来确定周期T1和T2。另外，使用写入开始信号16作为基 I^行计算周期T1和T2，并且改写周 期T为Tl+a。因此，可以用a来存储改写周期T,其中a为与测试脉冲信号的 几位到几十位相对应的时间。因此，禁止门信号18的宽度3131两个信号的周期T2和Tl进微置并可 舰被调节。在该实施例中，ili^顿写入开始扇区信号作为^i来计时，或者j顿写 入开始扇区信号作为基准在改写结束点之前和之后设置时间来确定改写结束 点，从而设置禁止门的窗口。但是，不用写入开始扇区信号而是用索引信号来 ^g这些时间基隹当然也是可以的。进一步，在该实施例中，禁止门信号被総至写/读电路50的读取电路。然而，写/读电路50可以舰把禁止门信号^lflJ写/读控制电路51而被控制。 另外，舰将禁止门信号发超错误检测单元52来停止错误检测，磁盘上的测试,的一部分可用作非测试区域。并且，m^缺赚测处衝控制装置54的错误检测单元52读^^有错误以及MM^^,掩蔽禁止门信号的一部 分，测试鹏的连接区域可以鹏作非测试区域。尽管在这个实施例中，在测^l^被改写在测试,内之后读取该测试数 据，舰于多个轨道，iM^l轨道的一次旋转执行改写来写入测^l^后， 读取多，道的测 据也是可以的。
权利要求
1.一种用于通过使用复合磁头扫描磁盘来测试磁盘的磁盘测试方法，所述复合磁头具有在轨道测试方向上位置上互相偏离的写入头和读取头，使用所述写入头在预定轨道中写入测试信号，以及使用所述读取头读取所述测试信号，该方法包含以下步骤对于所述预定轨道的一个轨道旋转写入测试信号并且在该一个轨道旋转内进一步写入测试信号，以及在作为基准的改写测试信号的写入结束点的之前和之后设置具有预定宽度的测试禁止区域，并且从所述预定轨道读取测试信号，其中在由所述写入头和所述读取头之间的位置偏差量以及磁盘的圆周速度确定的所述预定轨道中的测试信号的写入结束点和写入开始点之间的连接区域内执行改写，使得所述预定宽度比连接区域的宽度要窄。
2. 如权利要求1所述的鹏测肪法，其中所述预定轨道包括多个测鄉道，在与所述多个测鄉劍应的同心圆上执行纖的缺陷测试，并且i顿测 试信号的写入开始点内的扇区信号或索弓l信号作为基准来确定写入结束点。
3. 如权利要求2戶脱的纖测试方法，其中M3S^生测试禁止门信号使得测试信号的读取信号无效棘使检测至啲错误无棘设a^f述测试禁止区域。
4. 如权利要求3所述的M测i^"法，其中所述测试禁止门信号被^^ 读取电路以读取测试信号，待改写的宽度和所述预定宽度作为i^g存储在存储 器中，根据从存储器中读出的改写数据的宽度的 使用扇区信号或者索引信号作为s i来计时，从而确定所述写入结束点，并且根据从存储器中读出的所 述预定宽度的数据来计时，从而产生所述测试禁止门信号。
5.—种用于通过j^复合磁头扫描磁盘来测试磁盘的磁盘测试方法，所述 复合磁头具有在轨道测试方向上位置上互相偏离的写入头和读取头，i^所述 写入头在预定轨道中写入测试信号，以及使用所述读取头读Wf述测试信号， 该方魏含以下步骤对于所述预定轨道的一个轨道旋转写入测试信号，并且在该一个轨道旋转 内进1写入测试信号，以及fflil产生观赋禁止门信号使得所述预定轨道中的测试信号的读取信号无效或者使得所述预定轨道中检测至啲错误无效，来>^万述预定轨道读^^述测试 麵，其中在由所述写入头和所述读取头之间的位置偏差量和磁盘的圆周3Ut确定的所述预定轨道中的测试信号的写入结束点和写入开始点之间的连接区域内 执行改写，在写入结束点之前il31产生^^开始时序的第一信号，然后产生表示结束 时序的第二信号来产鈔万述测试禁止门信号，所，一信号和第二信号之间的 周期比连接区域的宽度短。
6. 如权利要求5所述的磁盘测试方法，其中所述预定车爐包括多个测鄉 道，在与该多个测试M分别对应的同心圆上执行所述磁盘的缺陷测试，并且 通过^ffl在所述测试信号的写入开始点的扇区信号或者索弓l信号作为a i来确 定写A^束点。
7. 如权利要求6所述的纖测试方法，其中戶腐改写的宽度和所述预定宽 度作为数据存储在存储器中，根据从存储器中读出的所述改写的宽度的数据确 定写入结束点，以及根据从存储器中读出的数据，通过^ffl所述扇区信号或者 所述索弓l信号作为難计时来产生所述第一信号和所述第二信号。
8. 如权利要求7所述的磁盘测试方法，其中所述存储器包括存储改写的宽 度和预定宽度的数据表，并且根据磁盘的测试^f牛通过参考所述数据表来选择 所述改写的宽度和所述预定宽度的最佳数据。
9.一种用于通过使用复合磁头扫描磁盘来测试磁盘的磁盘测试器，所述复 合磁头具有在轨道测试方向上位置上互相偏离的写入头和读取头，使用所述写 入头在预定轨道中写入测试信号，以及^所述读取头读取所述测试信号，所 述m测^^包括M写/读电路，错误检测电路和缺陷检测处理装置，其中所述缺陷检测处理装置通过所述数据写/读电路对于所述预定轨道的一个 轨道旋转写入测微据，并且在所述轨道旋转内进一步写入测试娜以设置在 所述改写的写入结束点前后具有预定宽度的湖赋禁止区域作为基准，并且通过 所述i^写/读电路从预定fUt读^0 述测试信号数据，在由所述写入头和所述读取头的位置偏差量以及磁盘的圆周速度确定的所 述预定轨道中的连接所述测试数据的写入结束点和所述测，据的写入开始点 的连接区域内执行改写，所述预定宽度比戶;M^接区域的宽度要窄。
10. 如权利要求9所述的m测織，其中所述预定轨道包括多个测在与所述多个测试轨舰应的同心圆上执行磁盘的所述缺陷测试，并且舰使 用在所述测试信号的写入开始点的扇区信号或者索弓i信号作为，来确定写入 结束点。
11. 如权利要求io所述的纖澳i臓，其中iiil产生测试禁止门信号以使测试信号的读取信号无效或者使检测到的错误无棘體所述测试禁止区域。
12. 如权利要求n戶皿的M观!H^1，其中所述测试禁止门信号被^i^ 读取电路以读取测试信号，待改写的宽度和所述预定宽度作为数据存储在存储器中，并且根据;!^f述存储器读出的改写的宽度的数据，通过^ffi扇区信号或者索弓l信号作为雜进衍十时来确定写入结束时间点，以及根据从存储器中读 取的戶M预定宽度的数据il31计时来产鈔;f述测试禁止门信号。
13. 如权禾腰求11所述的纖观!)鄉，其中所述测试禁止门信号被^t^ 所述错误检测电路以使检测到的错误无效。
14. 一种用于皿^ffl复合磁头扫描磁盘以测i^M:的m:澳!B^,所述复 合磁头具有在轨道测试方向上位置上互相偏离的写入头和读取头，使用所述写 入头在预定轨道中写入测试信号，以及舰所述读取头读取所述测试信号，所 述测鄉包括数据写/读电路，错误检测电路和缺陷检测处理装置，其中通a^过所述写/读电路对于所述预定轨道中的一个轨道旋转写入测试数 据，在该轨道旋转内进一步写入测试数据，以M于所述预定轨道使用改写的 写入结束点设置测试禁止门信号以使预定轨道中的测试数据的读信号无效或使在预定轨道中检测到的错误无效，所述缺陷检测处理装置Mai所述写/读电路从所述预定鹏读取测试娜，在由所述写入头和所述读取头的位置偏差量以及磁盘的圆周，确定的所 述预定轨道中的连接戶，测 据的写入结束点和所述测试数据的写入开始点 的连接区域内执行改写，,在写入结束点之前生^^开始时序的第一信号以及其后生皿示写 A^束点的第二信号来生^^f述测试禁止门信号，所述第一信号和所述第二信号之间的周期比连接区域的宽度短。
15. 如权禾腰求14臓的磁盘测鄉，其中所述预定轨道包括多个测鄉道，在与所述多个测i^九道分别对应的同心圆上执行磁盘的所述缺陷测试，并 且皿舰在所述测试信号的写入开始点的扇区信号或者索弓l信号作为基准来确定所述写A^束点。
16.如权利要求15戶腐的 测,，其中改写的宽度和预定宽度作为数 据存储在存储器中，根据>^万述存储器中读出的所述改写的宽度的 来确定 写入结束点，并且根据^ff述存储器读出的数据使用扇区信号或索弓l信号作为 SM冊时来产賴—信号和第二信号。
全文摘要
本发明涉及磁盘测试方法及磁盘测试器。在根据磁盘的读取头和写入头之间的位置偏差以及圆周速度确定的连接区域内从写入结束点改写测试脉冲信号。因此，由于改写的信号部分被重叠在写入在写入开始点的测试脉冲信号上，因此能够减小连接区域的宽度，从而减小测试禁止区域。
文档编号G11B5/84GK101335017SQ20081021472
公开日2008年12月31日 申请日期2008年2月21日 优先权日2007年2月21日
发明者加藤治芳, 设乐健一 申请人:日立高新技术有限公司