Ddr4型内存条保护转接测试器的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及计算机设备领域，特别涉及到一种DDR4型内存条保护转接测试器。
【背景技术】
[0002]电脑主板在生产出来后，为了保证其质量和技术参数能达到要求，生产商需要在主板的内存槽上插入内存条进行功能测试，起初人们往往直接将内存条直接插入电脑主板的内存槽内即进行测试，但由于测试的工作量大，直接插拔的次数一旦增多，容易损坏内存条上金手指等结构，而造成内存条的损坏，甚至造成主板的损坏，大大增加了生产成本。如今，为了避免这种情况，人们通常会在内存条上加装内存条保护转接测试器进行转接，再进行测试，因为内存保护测试座能承受多次插拔，而且寿命更长。
[0003]但如今DDR(Dual Data Rate，即双倍速率同步动态随机存储器)4型的内存条，如果使用传统的内存条保护转接测试器进行转接，由于DDR4型内存条的传输频率极高，其使用要求也更高，而传统的内存条保护转接测试器内的传输线路比较长，阻抗大，使得DDR4型内存条通过传统内存条保护转接测试器进行数据传输时，会存在信号衰减，使得测试不稳定或失败，而且传统内存条保护转接测试器和DDR4型内存条一同安装在主板的内存条安装槽时，其安装可靠性低，容易脱落。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型要解决的技术问题是提供一种在主板上插拔方便、能适用于DDR4型内存条，可靠、稳定性强，寿命长的DDR4型内存条保护转接测试器。
[0005]根据本实用新型的一个方面，提供了一种DDR4型内存条保护转接测试器，包括内存槽连接器和接触电路PCB板，其中内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，接触电路PCB板上设有转接金手指、线路及通过线路与转接金手指一一对应的焊盘，焊盘与弹片端子一一对应电连接，接触电路PCB板的高度为DDR4型内存条第二缺口的高度和DDR4型内存条第一缺口的高度之差。
[0006]本实用新型的有益效果是:本实用新型利用内存槽连接器来安装DDR4型内存条，而利用接触电路PCB板来对DDR4型内存条进行转接，从而使DDR4型内存条能通过本实用新型转接接入到主板上进行测试，而且控制接触电路PCB板的高度，使其配合DDR4型内存条的U型固定卡口高度，从而一方面能保证本实用新型的阻抗足够小，确保DDR4型内存条经过转接后依然能正常工作，另一方面能保证本实用新型能配合DDR4型内存条牢固地安装在主板的内存槽内。
[0007]在一些实施方式中，内存条保护测试座的高度是10.40mm —10.60mm，接触电路PCB板的高度是6.90mm—7.10mm。通常DDR4型内存条设有用于和主板上内存槽的耳扣安装的DDR4型内存条第一 U型固定卡口和DDR4型内存条第二 U型固定卡口，DDR4型内存条第一 U型固定卡口的高度在6.90mm到7.1Omm之间，DDR4型内存条第二 U型固定卡口的高度在13.80mm到14.20mm之间，因此DDR4型内存条保护转接测试器的高度设置为10.40mm到10.60mm之间，接触电路PCB板高度设置为6.90mm到7.1Omm之间，这能保证DDR4型内存条保护转接测试器在安装DDR4型内存条后，其接触电路PCB板的高度和DDR4型内存条第一 U型固定卡口的高度和在13.80mm到14.20mm之间，即与DDR4型内存条第二 U型固定卡口的高度相等，使DDR4型内存条保护转接测试器能被主板内存槽的耳扣所扣住并固定，且保证了 DDR4型内存条保护转接测试器的阻抗足够小，同时确保了其连接的可靠性。
[0008]在一些实施方式中，塑胶槽设有导向槽，其中导向槽与内存条相匹配。导向槽能限制内存条插入DDR4型内存条保护转接测试器的位置，防止其发生偏移，能有效减少内存条金手指的损耗，也提高了内存条保护测试座的寿命。
[0009]在一些实施方式中，DDR4型内存条保护转接测试器包括内存条保护壳，其中内存条保护壳活动安装在内存槽连接器上。保护壳的设置能保护测试时裸露在外的内存条，以防止内存条因为碰撞或者磨损等情况而造成损坏。
[0010]在一些实施方式中，内存条保护壳的一端设有挡条。挡条的设置是防止内存条保护转接测试器在测试过程中滑动，确保测试稳定。
[0011]在一些实施方式中，保护壳设有散热孔。散热孔的设置能让内存条工作时产生的热量通过散热孔适时排出，提高内存条的使用寿命。
【附图说明】
[0012]图1是本实用新型一种实施方式的DDR4型内存条保护转接测试器使用时的结构示意图。
[0013]图2是本实用新型一种实施方式的DDR4型内存条保护转接测试器的正视图的结构示意图。
[0014]图3是图2所示的DDR4型内存条保护转接测试器的俯视图的结构示意图。
[0015]图4是图1所示的接触电路PCB板的结构示意图。
[0016]图5是图1所示的内存条保护壳的结构示意图。
[0017]图6是图5所示的内存条保护壳的后视图的结构示意图。
[0018]图7是图5所示的内存条保护壳的左视图的结构示意图。
[0019]图8是图5所示的内存条保护壳的右视图的结构示意图。
【具体实施方式】
[0020]下面结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
[0021]参考图1一图4，本实用新型的DDR4型内存条保护转接测试器，包括内存槽连接器I和接触电路PCB板2，本实用新型用于安装常见的DDR4型内存条4。内存槽连接器I包括弹片端子11和塑胶槽12，塑胶槽12的设有与DDR4型内存条4的尺寸相匹配的导向槽121，而且在塑胶槽12的内壁面加工有与DDR4型内存条4相对应的凹槽，弹片端子11 一一置于凹槽内，接触电路PCB板2上设有转接金手指21、线路及通过线路与转接金手指21 —一对应的焊盘22，焊盘22与弹片端子11的下端一一对应焊接，使其能电性连接。
[0022]另外，DDR4型内存条4上设有和主板上的内存条安装槽的耳扣相匹配的DDR4型内存条第一 U型固定卡口 41和DDR4型内存条第二 U型固定卡口 42，其DDR4型内存条第一U型固定卡口 41的高度在6.90mm到7.1Omm之间，DDR4型内存条第二 U型固定卡口 42的高度为在13.80mm到14.20mm之间。而本实用新型的高度在10.40mm到10.60mm之间，接触电路PCB板2的高度在6.90mm到7.1Omm之间，即接触电路PCB板2的高度为DDR4型内存条第二缺U型固定卡口 42的高度与DDR4型内存条第一 U型固定卡口 41的高度之差。
[0023]参考图5—图8，本实用新型还包括内存条保护壳3，内存条保护壳3上设有多个散热孔32，而且其一端设有挡条31，内存条保护壳3的尺寸DDR4型内存条4相匹配，并可以活动安装在内存槽连接器I上。
[0024]本实用新型工作时，先将DDR4型内存条4安装进内存槽连接器I的导向槽121内，后再从一端穿进内存条保护壳3内，此时，塑胶槽12能完全遮盖DDR4型内存条4的金手指，保证其传输可靠和保护其金手指不受损坏，再让接触电路PCB板2的转接金手指21对准主板上的内存条安装槽，将本实用新型插入。
[0025]插入实用新型后，由于其接触电路PCB板2下半部分会与主板上的内存条安装槽的底部接触，且接触电路PCB板2的上半部分会与DDR4型内存条4的底部接触，因此接触电路PCB板2会垫高DDR4型内存条4，即DDR4型内存条第一 U型固定卡口 41的高度，会加上接触电路PCB板2的高度，使得DDR4型内存条第一 U型固定卡口 41的高度增高为13.80mm到14.20mm之间，这样此时DDR4型内存条第一 U型固定卡口 41的高度和原来DDR4型内存条第二 U型固定卡口 42的高度相等，而本来主板上的内存条安装槽如果直接插入DDR4型内存条4，其耳扣会扣住DDR4型内存条4的DDR4型内存条第二 U型固定卡口 42，因此此时将本实用新型和内存条一起插入，会让耳扣扣住DDR4型内存条4的DDR4型内存条第一 U型固定卡口 41，使得本实用新型和DDR4型内存条4可以可靠地安装在主板的内存条安装槽内并进行测试。
[0026]主板测试完成后，只需要松开主板上的内存条安装槽的耳扣，就能将本实用新型和DDR4型内存条4都取出，而且在取出后，即可马上插入到另外一块主板上进行测试。本实用新型能配合DDR4型内存条很好地固定在主板的内存条安装槽内，并提高DDR4型内存条的工作可靠性，延长DDR4型内存条的使用寿命长。
[0027]以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.DDR4型内存条保护转接测试器，其特征在于，包括内存槽连接器⑴和接触电路PCB板(2)，所述内存槽连接器(I)包括弹片端子(11)和塑胶槽(12)，所述接触电路PCB板(2)上设有转接金手指(21)、线路及通过线路与转接金手指(21) —一对应的焊盘(22)，所述焊盘(22)与弹片端子(11) 一一对应电连接，所述接触电路PCB板⑵的高度为DDR4型内存条第二 U型固定卡口(42)的高度与DDR4型内存条第一 U型固定卡口(41)的高度之差。2.根据权利要求1所述的DDR4型内存条保护转接测试器，其特征在于，所述内存条保护测试座的高度是10.40mm—10.60mm，所述接触电路PCB板⑵的高度是6.90mm—7.10mnin3.根据权利要求1所述的DDR4型内存条保护转接测试器，其特征在于，所述塑胶槽(12)设有导向槽(121)，所述导向槽(121)与DDR4型内存条相匹配。4.根据权利要求1所述的DDR4型内存条保护转接测试器，其特征在于，包括内存条保护壳(3)，所述内存条保护壳(3)活动安装在内存槽连接器(I)上。5.根据权利要求4所述的DDR4型内存条保护转接测试器，其特征在于，所述内存条保护壳(3) —端设有挡条(31)。6.根据权利要求4所述的DDR4型内存条保护转接测试器，其特征在于，所述内存条保护壳(3)设有散热孔(32)。
【专利摘要】本实用新型公开了一种DDR4型内存条保护转接测试器，包括内存槽连接器和接触电路PCB板，其中内存槽连接器包括弹片端子和塑胶槽，接触电路PCB板上设有转接金手指、线路及通过线路与转接金手指一一对应的焊盘，焊盘与弹片端子一一对应电连接，接触电路PCB板的高度为DDR4内存条第二U型固定卡口的高度和DDR4型内存条第一U型固定卡口的高度之差。本实用新型通过控制接触电路PCB板高度，使其和DDR4型内存条第一U型固定卡口安装相匹配，从而一方面能保证本实用新型的阻抗足够小，确保DDR4型内存条经过本实用新型转接后依然能正常工作，另一方面保证本实用新型能配合DDR4型内存条牢固地安装在主板的内存槽内。
【IPC分类】H01R13/639, G11C29/00, H01R12/71
【公开号】CN204885518
【申请号】CN201520690972
【发明人】张光荣
【申请人】张光荣
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年9月8日