专利名称：光盘装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及对光盘进行再现的光盘装置，例如适用于能够对具备多个记录层的光 盘进行再现的光盘装置。
背景技术：
近年来，提出了在BD(BlU-ray)标准的光盘中，为了增大记录容量而增大记录层 的技术，而且已经有双层光盘得到实用化。可以预料，为了实现进一步大容量化，将来具有 三层或四层以上记录层的光盘(以下称为多层光盘)会变得实用化。但是，在多层光盘的再现中，容易因记录层的反射率降低而引起再现品质的降低。 因此，增大向将激光照射到光盘的激光二极管供给的直流电流和高频叠加电流，使S/N比 变得良好，从而解决该问题。但是，在记录型光盘的情况下，若只单纯增大向激光二极管供给的直流电流和高 频叠加电流，将不能够确保所谓的再现耐力。对此，在专利文献1中公开了下述技术，即，在光盘装置中，逐渐增大再现功率，并 测定表示以各再现功率再现时的再现信号的品质的指标值，参照所测定的指标值变得最小 的下限再现功率，设定最佳再现功率。此外，专利文献2公开的技术中，在光盘装置中，抖动检测器再现记录的信息，检 测为再现信号，控制器根据抖动检测器检测出的再现信号来设定高频电流的叠加电平。专利文献1 日本特开2009-140580号公报专利文献2 日本特开2007-172770号公报
发明内容
但是，使用上述技术的光盘装置在进行多层光盘的再现时，来自记录再现对象层 以外的层的反射光的影响，会导致伺服信号和再现信号产生变动。这些信号的变动，会引起 再现品质的降低。因此，需要对用于驱动激光二极管的直流电流和高频叠加电流的电流值 进行调整，以使之不受到来自记录再现对象层以外的层的反射光的影响。本发明考虑以上问题点，提出一种能够将驱动激光二极管的直流电流和高频叠加 电流的电流值调整为最佳的光盘装置。为了解决该课题，本发明的一个方式提供一种光盘装置，其使从激光光源射出的 激光在光盘上反射，用光电二极管将反射的反射光检测为电信号，根据检测出的电信号生 成伺服信号或再现信号，该光盘装置的特征在于，包括激光驱动器，其在直流电流上叠加 高频电流作为驱动电流向上述激光光源供给，并驱动该激光光源；和控制部，其基于上述伺 服信号或再现信号，对由上述激光驱动器向上述激光光源供给的上述直流电流和/或上述 高频叠加电流的电流值进行调整，其中，上述控制部，对上述直流电流和/或上述高频叠加 电流的电流值进行调整，以使表示上述伺服信号或再现信号的波形变动的值满足波形变 动的规格值，表示上述再现信号的再现性能的值满足再现性能的规格值，并且表示上述光盘对于上述激光的耐久性能的值满足耐久性能的规格值。根据本发明，可实现一种能够将驱动激光二极管的直流电流和高频叠加电流的电 流值调整为最佳的光盘装置。
图1是表示本实施方式的光盘装置的框图。图2是表示激光二极管的驱动电流与发光波形的关系的图。图3是用于说明来自光盘的反射光投影在探测器上的状态的图。图4(A)是单层光盘中的跟踪误差信号的波形图，(B)是多层光盘中的跟踪信号的 波形图。图5是表示对于再现功率和HF调制度的TE信号的波形变动的图。图6是表示对于再现功率和HF调制度的再现信号的再现性能的图。图7是表示对于再现功率和HF调制度的光盘的再现耐力的图。图8是表示对于再现功率和HF调制度的波形变动、再现性能和再现耐力满足各规 格值的范围的图。图9是用于说明再现功率和HF调制度决定处理的流程图。图10是用于说明波形变动测定处理的流程图。图11是用于说明再现性能测定处理的流程图。图12是用于说明再现耐力测定处理的流程图。图13是用于说明其他实施方式的再现耐力的测定方法的图。附图标记说明1……光盘装置，2……光盘，3……光拾取器，4……微型计算机，5……模拟信号 处理器，6……数字信号处理器，31……激光二极管，32……激光驱动器，33……分束器， 34……功率监视器，35……偏振分束器，36……探测器，37……1/4波片，38……物镜
具体实施例方式以下针对附图详细叙述本发明的实施方式。(1)本实施方式的光盘装置的结构在图1中，1整体上表示本实施方式的光盘装置。该光盘装置1，具备光拾取器3、 微型计算机4、模拟信号处理器5和数字信号处理器6，构成为已装入光盘2的状态。光拾取器3，将激光照射到光盘2上，检测出反射的反射光并通过光电转换来转换 为电信号，向模拟信号处理器5供给。此外，光拾取器3，具备激光二极管31、激光驱动器 32、分束器33、功率监视器34、偏振分束器35、探测器36、1/4波片37和物镜38。激光二极管31，以与从激光驱动器32供给的驱动电流相应的发光功率发射激光。激光驱动器32，具备未图示的直流电流电路和高频电流电路。激光驱动器32，根 据微型计算机4的控制，在直流电流电路输出的直流电流上叠加高频电流电路输出的高频 电流，并供给到激光二极管31，驱动激光二极管31。此处，参照图2，说明激光二极管31发射的激光的发光功率与激光驱动器32对激 光二极管31供给的驱动电流的关系。
对激光二极管31供给的驱动电流的电流值与激光二极管31发射的激光的发光功 率的关系，是如直线201所示的比例关系。该特性因激光二极管而各异。此外，激光驱动器 32对激光二极管31供给像正弦波202那样的驱动电流。该驱动电流，是在直流电流上叠加 高频电流而得的。在将正弦波202所示的驱动电流，向具有直线201所示的特性的激光二 极管31供给的情况下，激光二极管31输出发光功率成为像波形203那样的发光波形的激 光。即，通过使激光驱动器32输出的驱动电流中包含的直流成分和高频成分发生变 化，能够控制发光波形。此处，将发光波形203的峰值功率相对于平均功率的比定义为“HF 调制度”。此外，后文中“再现功率”表示图2中的平均功率。分束器33使来自激光二极管31的激光的一部分透过，使另一部分反射导向功率 监视器；34。功率监视器；34是用于进行APC (Automatic Power Control 自动功率控制)驱动 的光电二极管，通过分束器33检测从激光二极管31输出的激光，利用光电转换将检测到的 激光转换为电信号并输出到微型计算机4。偏振分束器35使来自分束器33的激光透过，1/4波片37使来自偏振分束器35的 激光的相位偏移η/2，使偏振方向变化。物镜38使来自1/4波片37的激光聚集在光盘2 的记录层上，并将在光盘2的记录层上反射的激光转换为平行光。在光盘2上反射的激光， 将光盘2的记录层上写入的信息保持为光的强度变化。1/4波片37使来自物镜38的激光的偏振方向变化，偏振分束器35使来自1/4波 片37的激光反射，聚集在探测器36上。探测器36由分割为多个部分的光电二极管构成，对来自偏振分束器35的激光进 行检测，利用光电转换将检测到的激光转换为电信号，输出到模拟信号处理器5。微型计算机4对后文所述的伺服信号的波形变动、再现信号的再现性能和光盘2 的再现耐力进行测定，确定它们满足各自的规格值的HF调制度和再现功率的范围，在确定 的范围内决定要使用的HF调制度和再现功率，对直流电流和/或上述高频叠加电流进行调 整以使再现功率和HF调制度成为所决定的值，开始光盘2的再现。之后，微型计算机4基 于从功率监视器34供给的电信号，以维持所决定的再现功率的方式一面进行APC驱动，一 面使激光二极管31照射激光。此外，微型计算机4基于从数字信号处理器6供给的伺服信 号，对驱动物镜38的致动器(图未登载)进行反馈控制。此外，微型计算机4具备未图示 的ATAPI (AT Attachment Packet hterface，异步终端附属信息包接口)等标准的接口，通 过该接口与个人计算机等主机装置进行通信。模拟信号处理器5，基于从探测器36供给的电信号生成再现信号，对于生成的再 现信号进行均衡、放大等处理，输出到数字信号处理器6。数字信号处理器6对于由模拟信 号处理器5供给的再现信号，进行模拟/数字转换、均衡、解码等信号处理，并测定再现信号 的抖动和解码的数据的误码率。解码后的数据、再现信号的抖动和数据的误码率输出到微 型计算机4。此外，模拟信号处理器5基于从探测器36供给的电信号，生成聚焦误差信号、跟踪 误差信号(以下称为TE信号)和摆动(wobble)信号等伺服信号，输出到数字信号处理器 6。数字信号处理器6对从模拟信号处理器5供给的伺服信号的抖动等进行测定。此外，伺服信号和伺服信号的抖动，输出到微型计算机4。(2)现有的光盘装置的问题点首先，参照图3，说明光盘2的反射光在探测器36上聚集时的状态。探测器36由 两个以上的光电二极管301构成。当来自光盘2的作为再现对象的记录层的反射光，作为 光斑302投影在光电二极管301上时，探测器36输出与光盘2的记录层上的结构和记录状 态相对应的电信号。但是，在对多层光盘进行记录再现的情况下，来自作为再现对象的记录 层以外的记录层的反射光，也会作为光斑303投影在光电二极管301上。结果，在单层光盘中，如图4(A)所示，TE信号中的极大值和极小值，在所有时间中 几乎是恒定的，但在多层光盘中，如图4(B)所示，TE信号中的极大值和极小值会发生变动。 这是因为在探测器36上来自对象层的反射光与来自其它层的反射光发生干涉而导致。若 产生这样的波形变动，则不能够正常进行跟踪，是致使记录再现性能恶化的重要原因。(3)本实施方式的光盘装置的动作的概况接着，参照图5至8，简单说明光盘装置1的动作。光盘装置1，在装入了光盘2时，按每规定步长(st印size)的HF调制度、并按每 规定步长的再现功率，测定TE信号的波形变动，生成如图5所示的表示TE信号的波形变动 与再现功率和HF调制度的关系的二维图(map)。TE信号的波形变动，例如用TE信号的各 极大值的标准差、TE信号的各极小值的标准差或者TE信号的各振幅中心的标准差来表示。 此处，线501是TE信号的波形变动为规格值(例如标准差“A”)的线，线502是波形变动为 不满足规格值的值(例如标准差“Α+α ”)的线，线503 506是波形变动为满足规格值的 值(例如标准差“Α-α ”、“Α-2α ”、“Α-3α ”、“Α-4α，，)的线。S卩，若增大HF调制度，则能够 抑制来自对象层的反射光与来自其他层的反射光的干涉，抑制波形变动。此外，波形变动也 依赖于再现功率。此处，如果以线501的线503 506 —侧的HF调制度和再现功率输出激 光，则TE信号的波形变动能够满足规格值。接着，光盘装置1按每规定步长的HF调制度、并按每规定步长的再现功率，测定再 现信号的再现性能，生成如图6所示的表示再现信号的再现性能与再现功率和HF调制度的 关系的二维图。再现信号的再现性能，例如用再现信号的抖动或者误码率来表示。此处，线 601是再现信号的再现性能为规格值(例如抖动Β[%])的线，线602、603是再现性能为不 满足规格值的值(例如抖动Β+β [%],Β+2β [% ])的线，线604、605是再现性能为满足规 格值的值(例如抖动Β-β ]、Β-2β ])的线。即，若增大HF调制度，则能够通过抑 制返回光的影响而降低激光噪声，提高再现性能。此外，若增大再现功率，则信号振幅增大， 能够提高再现性能。此处，如果以线601的线604、605 —侧的HF调制度和再现功率输出激 光，则再现信号的再现性能能够满足规格值。之后，光盘装置1按每规定步长的HF调制度、并按每规定步长的再现功率，测定光 盘2的再现耐力，生成如图7所示的表示光盘2的再现耐力与再现功率和HF调制度的关系 的二维图。再现耐力例如是在光盘2的规定的记录区域中再现规定次数后的再现信号的再 现性能的劣化量。此处，线701是再现耐力为规格值(例如抖动的劣化量C[%])的线，线 702是再现耐力为不满足规格值的值(例如抖动的劣化量C+γ [% ])的线，线703 705 是再现耐力取得满足规格值的值(例如抖动的劣化量C- γ ]、C-2 γ ]、C-3 γ ]) 的线。即，再现耐力随着再现功率和HF调制度的增大而减少。这是因为对光盘2的记录层施加的热量会增大。此处，如果以线701的线703 705 —侧的HF调制度和再现功率输出 激光，则光盘2的再现耐力能够满足规格值。然后，光盘装置1确定TE信号的波形变动、再现信号的再现性能和光盘2的再现 耐力满足各规格值的范围，即如图8所示的线501、601、701包围的范围，在确定的范围内决 定再现功率和HF调制度，以所决定的HF调制度和再现功率进行再现。在能够取得多个HF 调制度的值或者多个再现功率的值的情况下，例如以耗电量最小的方式决定HF调制度和 再现功率。另一方面，如果不存在满足规格值的范围，则中止再现。这样，光盘装置1能够以TE信号的波形变动、再现信号的再现性能和光盘2的再 现耐力满足各规格值的最佳HF调制度和再现功率进行再现。(4)光盘装置中的具体处理(4-1)再现功率和HF调制度决定处理此处，参照图9，说明光盘装置1决定再现功率和HF调制度的再现功率和HF调制 度决定处理。首先，微型计算机4在检测到光盘2装入了光盘装置1的情况下(SPl)，以初始再 现功率和初始HF调制度使激光二极管31发光(SP2)。此处，初始再现功率可以是在能够进行聚焦和跟踪的伺服控制，并且能够测定再 现性能的范围中较小的值，例如对于多层光盘来说为1. OmW，也可以是记录在光盘上的推荐 再现功率。初始HF调制度也同样为较小的值，例如为调制度1即可。这表示不叠加高频电 流，仅以直流电流发光。通过以这样的条件进行再现，能够抑制记录在光盘上的信息被破坏 的可能性。接着，微型计算机4开始聚焦伺服的控制(SP;3)，进行波形变动测定处理(SP4)，用 于得到如图5所示的波形变动对于再现功率和HF调制度的二维图。其中，关于波形变动测 定处理将在后文中详细叙述。然后，微型计算机4再次将再现条件设定为初始再现功率和初始HF调制度(SP5)， 驱动未图示的致动器使物镜38移动，使激光的在光盘2的记录层上的光斑位置移动到记录 区域，开始跟踪伺服的控制(SP6)。微型计算机4，进行再现性能测定处理(SP7)，用于得到如图6所示的再现性能对 于再现功率和HF调制度的二维图。其中，关于再现性能测定处理将在后文中详细叙述。微型计算机4，进行再现耐力测定处理(SP8)，用于得到如图7所示的再现耐力对 于再现功率和HF调制度的二维图。其中，关于再现耐力测定处理将在后文中详细叙述。微型计算机4使用步骤SP4、SP7、SP8中得到的二维图，决定满足波形变动、再现性 能、再现耐力的规格的再现功率和HF调制度(SP9)，并对直流电流和/或上述高频叠加电流 的电流值进行调整，以使再现功率和HF调制度成为所决定的值，开始光盘2的再现(SPlO)， 结束处理。(4-2)波形变动测定处理此处，参照图10，说明得到波形变动对于再现功率和HF调制度的二维图的波形变 动测定处理(SP4)。微型计算机4从规定的范围以预先决定的步长依次选择再现功率(SPll)，从规定 的范围以预先决定的步长依次选择HF调制度(SP12)，以所选择的再现功率和HF调制度测定跟踪误差信号的波形变动(SP13)，并判别是否已经以规定范围内的各HF调制度测定了 波形变动(SP14)。步骤SP14中，如果得到否定结果，则返回步骤SP12。步骤SP14中，如果得到肯定结果，则微型计算机4判别是否已经以规定范围内的 各再现功率测定了波形变动(SP15)。步骤SP15中，如果得到否定结果，则返回步骤SP11。 步骤SP15中，如果得到肯定结果，则结束处理。这样，在每次使再现功率或HF调制度变化规定的步长时，测定跟踪误差信号的波 形变动，得到波形变动对于再现功率和HF调制度的二维图。(4-3)再现性能测定处理此处，参照图11，说明得到再现性能对于再现功率和HF调制度的二维图的波形变 动测定处理(SP7)。微型计算机4，从规定的范围以预先决定的步长依次选择再现功率(SP21)，从规 定的范围以预先决定的步长依次选择HF调制度(SP22)，以所选择的再现功率和HF调制度 测定再现信号的再现性能(SP23)，并判别是否已经以规定范围内的各HF调制度测定了再 现性能(SP24)。步骤SPM中，如果得到否定结果，则返回步骤SP22。步骤SPM中，如果得到肯定结果，则微型计算机4判别是否已经以规定范围内的 各再现功率测定了波形变动(SP25)。步骤SP25中，如果得到否定结果，则返回步骤SP21。 步骤SP25中，如果得到肯定结果，则结束处理。这样，在每次使再现功率或HF调制度变化规定的步长时，测定再现信号的再现性 能，得到再现性能对于再现功率和HF调制度的二维图。(4-4)再现耐力测定处理此处，参照图12，说明得到再现耐力对于再现功率和HF调制度的二维图的再现耐 力测定处理(SP8)。微型计算机4，从规定的范围以预先决定的步长依次选择再现功率(SP31)，从规 定的范围以预先决定的步长顺序选择HF调制度(SP32)，例如，对于多层光盘来说，使再现 功率从初始再现功率每次增大0. 2mW直到增大lmW，使HF调制度从初始HF调制度每次增大 0.5直到调制度4。该步长按每种光盘预先决定。微型计算机4移动物镜38，使激光的焦点位置移动到未被再现耐力测定处理使用 的记录区域(SP3!3)。接着，微型计算机4以初始再现功率和初始HF调制度测定再现性能 (SP34)。之后，微型计算机4以所选择的再现功率和HF调制度对光盘2上的同一区域反复 规定次数进行再现(SP3Q。规定次数例如是500次等，但也可以根据在启动中确保的时间 来决定。微型计算机4再次以初始再现功率和初始HF调制度测定再现性能(SP36)，计算 SP34和SP36中测定的再现性能的劣化量(再现耐力)(SP37)。微型计算机4判别是否已 经以规定范围内的各HF调制度测定了再现性能(SP38)。步骤SP38中，如果得到否定结果， 则返回步骤SP32。步骤SP38中，如果得到肯定结果，则微型计算机4判别是否已经以规定范围内的 各再现功率测定了波形变动(SP39)。步骤SP39中，如果得到否定结果，则返回步骤SP31。 步骤SP39中，如果得到肯定结果，则结束处理。
这样，在每次使再现功率或HF调制度变化规定的步长时，测定光盘2的再现耐力，得到光盘2的再现耐力对于再现功率和HF调制度的的二维图。以上，本实施方式的光盘装置1，通过使再现功率和HF调制度根据光盘2动态地变 化，能够抑制波形变动，确保再现耐力，同时得到良好的再现性能。(5)其他实施方式其中，上述实施方式中，为了测定波形变动，使用了 TE信号，但是也可以使用再现 信号。该情况下，也可以在测定再现信号的再现性能的同时测定波形变动。此外，上述实施方式中，使用再现信号作为再现性能的指标，但是也可以使用摆动信号。此外，上述实施方式中，按每规定步长的HF调制度、每规定步长的再现功率，测定 波形变动等，但也可以使HF调制度和再现功率的某一个为固定值，仅使另一个按每规定的 步长变化，测定波形变动等。此外，上述实施方式中，按每种HF调制度测定波形变动等，但是也可以按每种高 频叠加电流的振幅测定波形变动等，也可以按每种HF频率测定波形变动等。此外，上述实施方式中，测定了波形变动、再现性能和再现耐力，但也可以仅测定 其中的一个或两个。该情况下，对于不测定的指标，可以在光盘装置设计时预先测定。此外，上述实施方式中，在光盘装入时决定HF调制度和再现功率，但是在根据光 盘的半径等以多种再现速度进行再现的情况下，也可以在每次变更再现速度时决定HF调 制度和再现功率。这是因为，在再现性能和再现耐力根据再现速度的变化而变化的情况下， 最佳再现功率和HF调制度也会不同。此外，再现多层光盘的情况下，也可以在每次对要再现的记录层进行变更时，决定 HF调制度和再现功率。这是因为，当波形变动、再现性能和再现耐力因记录层的不同而不同 时，最佳再现功率和HF调制度也会不同。此外，在测定再现耐力时，因为存在使记录的数据劣化的可能性，所以也可以在 OPC区域等即使使数据劣化也不会造成问题的区域进行测定。此外，倾斜和聚焦调整等对于再现功率和HF条件几乎没有依赖性的动作，也可以 在再现功率和HF调制度的决定处理前进行。该情况下，只要用初始再现功率和初始HF调 制度进行调整即可。对于增益调整等依赖于再现功率的动作，可以在再现功率与HF条件的 调整前后进行。此外，上述实施方式中，应用于记录有信息的光盘2，在应用于未记录信息的光盘 2的情况下，需要在再现功率和HF调制度的调整前对光盘2进行信息记录。此外，上述实施方式中，在测定再现耐力时，以规定的步长依次按每个再现功率测 定再现性能的劣化量，但因为再现功率较低的区域劣化量较小，有时难以测定，所以也可以 如图13所示，通过拟合来预测劣化量。图13的例子中，基于测定点707进行拟合，计算出 近似曲线708，由此能够预测较低再现功率下的劣化量。此外，上述实施方式中，在光拾取器3上分离地搭载激光二极管31和功率监视器 34，但也可以在光拾取器上搭载封装有功率监视器、将检测出的功率输出到微型计算机101 的激光二极管。该情况下，能够实现省空间化，并且控制变得容易。此外，也可以将微型计 算机101和激光驱动器102、模拟信号处理器111、数字信号处理器112中的两个以上的模 块合并为一个。
本发明能够应用于符合BD标准、DVD标准、⑶标准或此外的标准的光盘装置。
权利要求
1.一种光盘装置，其使从激光光源射出的激光在光盘上反射，用光电二极管将反射的 反射光检测为电信号，根据检测出的电信号生成伺服信号或再现信号，该光盘装置的特征 在于，包括激光驱动器，其在直流电流上叠加高频电流作为驱动电流向所述激光光源供给，并驱 动该激光光源；和控制部，其基于所述伺服信号或再现信号，对由所述激光驱动器向所述激光光源供给 的所述直流电流和/或所述高频叠加电流的电流值进行调整，其中 所述控制部，对所述直流电流和/或所述高频叠加电流的电流值进行调整，以使表示所述伺服信 号或再现信号的波形变动的值满足波形变动的规格值，表示所述再现信号的再现性能的值 满足再现性能的规格值，并且表示所述光盘对于所述激光的耐久性能的值满足耐久性能的 规格值。
2.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于 所述控制部，对所述伺服信号或再现信号的波形的极大值和极小值进行检测， 测定所述极大值和极小值的变动量或振幅中心的变动量，作为表示所述伺服信号或再 现信号的波形变动的值，对所述直流电流和/或所述高频叠加电流的电流值进行调整，以使所测定的值满足其 规格值。
3.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于 所述控制部，对所述再现信号的抖动、误码率和振幅中的至少一个进行测定，作为表示所述再现信 号的再现性能的值，对所述直流电流和/或所述高频叠加电流的电流值进行调整，以使所测定的值满足其 规格值。
4.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于 所述控制部，对将所述光盘再现规定次数后的所述再现信号的抖动、误码率和振幅中的至少一个的 变化量进行测定，作为表示所述光盘对于所述激光的耐久性能的值，对所述直流电流和/或所述高频叠加电流的电流值进行调整，以使所测定的值满足其 规格值。
5.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于 所述控制部，使所述驱动电流的平均功率和作为平均功率与所述驱动电流的峰值功率的比的驱动 电流调制度分别变化，按每次变化测定表示所述伺服信号或再现信号的波形变动的值，表 示所述再现信号的再现性能的值，或者表示所述光盘对于所述激光的耐久性能的值，确定表示所述波形变动的值满足其规格值，表示所述再现性能的值满足其规格值，并 且表示所述光盘对于所述激光的耐久性能的值满足其规格值的所述平均功率和所述驱动 电流调制度的范围，对所述直流电流和/或所述高频叠加电流的电流值进行调整，以使所述平均功率和所 述驱动电流调制度处于所确定的所述范围内。
6.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于所述控制部，对所述直流电流和/或所述高频叠加电流的电流值进行调整，以使所述 驱动电流的耗电量变得最小。
7.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于所述控制部，当不存在表示所述伺服信号或再现信号的波形变动的值满足波形变动的 规格值，表示所述再现信号的再现性能的值满足再现性能的规格值，并且表示所述光盘对 于所述激光的耐久性能的值满足耐久性能的规格值的条件的情况下，中止再现。
8.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于所述控制部，在每次对再现所述光盘的速度进行变更时，调整所述直流电流值和/或 所述高频叠加电流值。
9.如权利要求1所述的光盘装置，其特征在于所述控制部，在每次对要再现的所述光盘上的记录层进行变更时，调整所述直流电流 值和/或所述高频叠加电流值。
全文摘要
本发明提供一种能够将驱动激光二极管的直流电流和高频叠加电流的电流值调整为最佳的光盘装置。光盘装置中，具备激光驱动器，其在直流电流上叠加高频电流作为驱动电流向上述激光光源供给，并驱动该激光光源；和控制部，其基于上述伺服信号或再现信号，对由上述激光驱动器向上述激光光源供给的上述直流电流和/或上述高频叠加电流的电流值进行调整，其中，上述控制部，对上述直流电流和/或上述高频叠加电流的电流值进行调整，以使表示上述伺服信号或再现信号的波形变动的值满足波形变动的规格值，表示上述再现信号的再现性能的值满足再现性能的规格值，并且表示上述光盘对于上述激光的耐久性能的值满足耐久性能的规格值。
文档编号G11B7/13GK102054493SQ201010536608
公开日2011年5月11日 申请日期2010年11月4日 优先权日2009年11月6日
发明者盐泽学 申请人:日立乐金资料储存股份有限公司, 日立民用电子株式会社