技术特征：
技术总结
本发明提供一种半导体存储装置、其擦除方法及编程方法，可使良率提高、从而可使存储器阵列的利用效率提高。半导体存储装置包含：存储器阵列，包含多个NAND串；页面缓冲器/读出电路(170)，经由位线而连接于存储器阵列的NAND串，并输出NAND串的不良的有无；以及检测电路(200)，连接于多个页面缓冲器/读出电路(170)，并检测选择块的NAND串的不良数。当由检测电路(200)检测出的NAND串的不良数为固定数以下时，判定为能够使用的块，当不良数超过固定数时，判定为坏块。
技术研发人员：山内一贵
受保护的技术使用者：华邦电子股份有限公司
技术研发日：2016.06.21
技术公布日：2017.08.15