技术总结
本发明实施例提供一种DDR控制参数的优化方法及装置，其中，该方法根据DDR读写过程受到控制参数影响的这个特性，通过预先在DDR中定义一个验证参数，然后再在控制参数的不同取值下，对验证参数的值进行读写，并在验证参数的值发生变化即读写过程发生错误时获取控制参数的多个取值，从而根据该些取值即可获得DDR读写正常时，控制参数的取值范围。进而将该取值范围中的最优值配置给控制参数即可实现控制参数的优化，从而有效的解决了DDR控制参数的经验值不够准确，而现有技术又无法对其进行优化配置的问题。
技术研发人员：周导;陈世雷;李洋;徐涛;莫增涛
受保护的技术使用者：上海顺久电子科技有限公司
文档号码：201611055270
技术研发日：2016.11.25
技术公布日：2017.02.22