本发明涉及半导体器件测试领域，尤其涉及SSD产品的测试系统。
背景技术：
目前业界对于SSD产品的测试大部分都是通过如下方式进行的，一般都是通过在高温高压条件下，以固定的数据类型和数据大小对SSD进行重复的读写操作，通过检测每一圈的读写测试结果：记录每一圈写入数据和读出数据错误；检测SSD的读写过程中产生坏块数，统计产生坏块数超过规定的标准的数据；记录每一圈的读写时间，统计超过规定的标准读写时间值的数据。测试完成后擦除产品内的数据，结束测试。这种测试方式存在以下问题：测试中未对SSD产品的状态进行监控，不能定位到具体的错误原因；目前不能对SSD产品出现坏块的位置进行定位；未对SSD产品进行上下电测试，以检验SSD产品正常开关机响应状况是否良好。
技术实现要素：
针对以上缺陷，本发明目的在于如何提升SSD产品的测试的覆盖面和可靠性。
为了实现上述目的，本发明提供了一种SSD产品的测试系统，其特征在于包括主控服务器和老化柜，所述老化柜上设有多个测试板，所述测试板与主控服务器直接相连接或通过交换机相连接，所述测试板设有安装待测试SSD产品的卡槽或接口，所述测试板主动从主控服务器中下载或者主控服务器主动下发给测试板测试所需的测试用例，测试板根据测试用例要求测试该测试板上的SSD产品，测试过程中读取SSD产品的SMART信息，并将SMART信息记录在测试日志中，并生成以产品序列号与测试PASS/FAIL的结论日志，上传到主控服务器，在主控服务器根据各个测试板上传的测试结论日志即可获得各个SSD产品的测试结果。
所述的SSD产品的测试系统，其特征在于所述的老化柜还包括温控系统，主控服务器还与温控系统相连接，在进行测试用例测试的同时，控制温控系统控制老化柜处于不同的温度环境和湿度环境。
所述的SSD产品的测试系统，其特征在于所述主控服务器上还包括测试用例集，所述测试用例集由多个由脚本文件构成的测试流程程序文件构成。
所述的SSD产品的测试系统，其特征在于所述主控服务器上还包括图形化测试用例编辑模块，用户通过图形化界面选择测试项、测试顺序、时间间隔和测试次数，用户选择完成后主控服务器自动根据用户的选择自动生成测试脚本文件作为一个测试用例。
本发明通过对SSD产品测试系统进行优化，特别是增加对测试过程中的SMART信息进行采集，通过详细的分析SMART信息可获得准确的测试结果以及测试发生问题的具体位置，且系统与老化测试进行结合，集成度高，配置灵活。
附图说明
图1是一个SSD产品测试示例的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
SSD产品的测试系统，包括主控服务器和老化柜，老化柜上设有多个测试板，测试板与主控服务器直接相连接或通过交换机相连接，测试板设有安装待测试SSD产品的卡槽或接口，测试板主动从主控服务器中下载或者主控服务器主动下发给测试板测试所需的测试用例，测试板根据测试用例要求测试该测试板上的SSD产品，测试过程中读取SSD产品的SMART信息，SMART是Self－Monitoring Analysis and Reporting Technology自动检测分析及报告技术的简写，它能对硬盘的磁头单元、硬盘温度、盘片表面介质材料、马达及其驱动系统、硬盘内部电路等进行监测，通过对其分析可及时并预报硬盘可能发生的问题。并将SMART信息记录在测试日志中，并生成以产品序列号SN与测试PASS/FAIL的测试结论日志，上传到主控服务器，在主控服务器根据各个测试板上传的测试结论日志即可获得各个SSD产品的测试结果。主控服务器还与温控系统相连接，在进行测试用例测试的同时，控制温控系统控制老化柜处于不同的温度环境和湿度环境。可控制系统在按照测试测试用例的要求测试硬盘的同时进行高温老化设计。
图1是一个SSD产品测试示例的流程图。将待测试的SSD产品连接到老化柜的测试板上后，关闭老化柜门，控制测试板上电，测试板通过网络连接从主控服务器中获取测试用例，根据测试用例要求控制SSD产品进行测试；假设本测试用例要求进行一个循环测试，要求SSD产品进行大量的读写测试：控制擦除所有Block进行读写操作，每圈SMART信息检查并保存，记录每圈测试时间，在做完要求的读写测试次数后，通过串口控制对测试板整体做上下电的操作，测试完成后对所有Block进行安全擦除操作，清除SMART信息，控制SSD产品进入立即待机，结束本测试用例。
以上所揭露的仅为本发明一种实施例而已，当然不能以此来限定本之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于本发明所涵盖的范围。