一种SSD性能稳态验证的方法及系统与流程

文档序号:17973320发布日期:2019-06-21 23:38阅读:368来源:国知局
一种SSD性能稳态验证的方法及系统与流程

本发明涉及硬盘稳态测试技术领域,具体涉及一种基于ssd性能稳态验证的方法及系统。



背景技术:

ssd是摒弃传统磁介质,采用电子存储介质进行数据存储和读取的一种技术,突破了传统机械硬盘的性能瓶颈,拥有极高的存储性能。

ssd硬盘相比传统的机械硬盘的优势是高速的读写效率和较低的功耗,但是相比于机械硬盘读写性能的稳定性略有不足。尤其是在随机写方面,随机写时ssd一开始空盘状态下性能良好,但随着硬盘数据越来越多,硬盘垃圾回收压力越来越大,一定条件下会进行磨损均衡和冷热数据再分配等,所以硬盘的性能也会相应的下降,当硬盘写入的性能和垃圾回收的能力达到平衡时,即进入了稳态。

ssd硬盘处于稳态时,随机写性能会基本保持不变,此时服务器存储系统也趋于稳定,在这一前提下获取服务器存储系统的相关存储性能数据进行服务器全面的功能性、稳定性测试,才能保证服务器测试验证的结果的可靠性。

由于ssd性能进入稳态的时间不确定,当前缺乏对ssd性能稳态进行验证的方法。为解决这一问题,本发明提出一种ssd性能稳态验证的方法及系统。



技术实现要素:

针对现有技术的上述不足,本发明提供一种ssd性能稳态验证的方法及系统,以解决上述技术问题。

第一方面,本发明提供一种ssd性能稳态验证的方法,包括以下步骤:

ss1、获取多个连续的iops有效平均值;

ss2、依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值;

ss3、依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态。

进一步的,所述步骤ss1中获取iops有效平均值具体包括以下步骤:

ss101、对iops取样,获取多个连续的iops值;

ss102、获取所述多个连续的iops值的平均值,记为iops平均值;

ss103、验证所述iops平均值是否为iops有效平均值。

进一步的,所述步骤ss103中验证所述iops平均值是否为iops有效平均值的方法具体包括:

依据所述iops平均值获取有效区间;

若所述多个连续的iops值均在所述有效区间内,则所述iops平均值为iops有效平均值。

进一步的,步骤ss2中依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值的方法具体包括:

获取所述多个连续的iops有效平均值的平均值,记为测试性能稳态值。

进一步的,步骤ss3中依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态的方法具体包括:

依据所述测试性能稳态值获取有效区间;

若所述多个连续的iops有效平均值均在所述有效区间内,则ssd进入性能稳态。

第二方面,本发明提供一种ssd性能稳态验证的系统,包括以下模块:

iops有效平均值获取模块,用于获取多个联系的iops有效平均值;

测试性能稳态值获取模块,用于依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值;

ssd性能稳态验证模块,用于依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态。

进一步的,所述获取iops有效平均值具体包括:

对iops取样,获取多个连续的iops值;

获取所述多个连续的iops值的平均值,记为iops平均值;

验证所述iops平均值是否为iops有效平均值。

进一步的,所述验证iops平均值是否为iops有效平均值具体包括:

依据所述iops平均值获取有效区间;

若所述多个连续的iops值均在所述有效区间内,则所述iops平均值为iops有效平均值。

进一步的,依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值具体包括:

获取所述多个连续的iops有效平均值的平均值,记为测试性能稳态值。

进一步的,依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态具体包括:

依据所述测试性能稳态值获取有效区间;

若所述多个连续的iops有效平均值均在所述有效区间内,则ssd进入性能稳态。

本发明的有益效果在于,

本发明提供的一种ssd性能稳态验证的方法及系统,实现了ssd性能稳态的验证,填补了当前ssd性能稳态测试方面的空白。此外,需要明确的是,由于ssd硬盘的固有属性,即随着ssd硬盘数据的增多,硬盘垃圾回收压力增大,硬盘会进行磨损均衡和冷热数据再分配,从而造成硬盘性能的下降,而当ssd硬盘进入到稳态平衡时,服务器的存储系统才能够趋于稳定,存储系统的稳定对服务器后续的测试、运行至关重要,而由于ssd性能进入稳态的时间不明确的,导致了服务器后续测试的不稳定,为此本发明提出的ssd性能稳态验证的方法使得工作人员能够对ssd硬盘的性能稳态阶段进行把控,便于后续工作的推进。

此外,本发明设计原理可靠,结构简单,具有非常广泛的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为根据一示例性实施例示出的ssd性能稳态验证的方法流程示意图。

图2为根据一示例性实施例示出的获取iops有效平均值的方法流程示意图。

图3为根据一示例性实施例示出的ssd性能稳态验证的系统结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。

下面对本发明中出现的关键术语进行解释:

ssd是摒弃传统磁介质,采用电子存储介质进行数据存储和读取的一种技术,突破了传统机械硬盘的性能瓶颈,拥有极高的存储性能。

iops(input/outputpersecond)即每秒的输入输出量(或读写次数),是衡量磁盘性能的主要指标之一。iops是指单位时间内系统能处理的i/o请求数量,一般以每秒处理的i/o请求数量为单位,i/o请求通常为读或写数据操作请求。

为了使本技术领域的人员更好的理解本发明方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明做进一步的详细说明。

图1是根据一示例性实施例示出的ssd性能稳态验证的方法流程示意图,如图1所示的,ssd性能稳态验证的方法具体包括以下步骤:

ss1、获取多个连续的iops有效平均值;

ss2、依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值;

ss3、依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态。

对于图1所示的技术方案,需要特殊说明的是,本发明通过上述步骤实现了ssd性能稳态的验证,填补了当前ssd性能稳态测试方面的空白。此外,需要明确的是,由于ssd硬盘的固有属性,即随着ssd硬盘数据的增多,硬盘垃圾回收压力增大,硬盘会进行磨损均衡和冷热数据再分配,从而造成硬盘性能的下降,而当ssd硬盘进入到稳态平衡时,服务器的存储系统才能够趋于稳定,存储系统的稳定对服务器后续的测试、运行至关重要,而由于ssd性能进入稳态的时间不明确的,导致了服务器后续测试的不稳定,为此本发明提出的ssd性能稳态验证的方法使得工作人员能够对ssd硬盘的性能稳态阶段进行把控,便于后续工作的推进。此外,上述步骤ss3中得到性能稳态值能在一定程度上反应ssd硬盘的读写性能。

如图1所示的技术方案中,还需要特殊说明的是,步骤ss1、ss2中的多个的取值通常为25。

上述iops有效平均值为本发明中定义的值,其具体含义的解释依赖于其取得步骤。如图2所示的,获取有效平均值具体包括以下步骤:

ss101、对iops取样,获取多个连续的iops值;

ss102、获取所述多个连续的iops值的平均值,记为iops平均值;

ss103、验证所述iops平均值是否为iops有效平均值。

上述步骤ss103中,验证iops平均值是否为iops有效平均值的方法为:

依据所述iops平均值获取有效区间;

若所述多个连续的iops值均在所述有效区间内,则所述iops平均值为iops有效平均值。

可以理解的,当取得的多个连续的iops值的平均值即iops平均值,在有效区间内时,上述iops平均值为iops有效平均值;上述有效区间为依据iops平均值得到的区间范围,通常情形下,将iops平均值的95%-105%作为有效区间。

上述步骤ss101、ss102中多个的取值通常为5;步骤ss101中对iops取样通常2s取一次样。

本实施例所述的ssd性能稳态验证的方法依赖于ssd的性能表现,本实施例中通过iops的表现来实现ssd性能稳态验证;iops是指单位时间内系统能处理的i/o请求数量,一般以每秒处理的i/o请求数量为单位,i/o请求通常为读或写数据操作请求。

如图1所示的技术方案中,还需要特殊说明的是,步骤ss2中依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值的方法具体包括:

获取所述多个连续的iops有效平均值的平均值,记为测试性能稳态值。

如图1所示的技术方案中,还需要特殊说明的是,步骤ss3中依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态的方法具体包括:

依据所述测试性能稳态值获取有效区间;

若所述多个连续的iops有效平均值均在所述有效区间内,则ssd进入性能稳态。

上述有效区间的获得依据测试性能稳态值,通常情形下为测试性能稳态值的95%-105%。

当ssd进入性能稳态时,上述性能稳态值也可作为ssd硬盘性能的评价指标。

针对图1的技术方案,还需要明确的是,在执行图1的技术方案验证ssd性能稳态之前需要对ssd硬盘进行预处理,处理方法可以为全盘顺序写满两遍。

针对图1的技术方案,还需注意ssd硬盘可依据读写比例分为多个场景。如依据读写混合比例为100/0,95/5,65/35,50/50,35/65,5/95得到多个场景。图1所示的技术方案可在上述任意一种场景下进行测试,需要注意的是,不同读写混合比例不同的场景下,其性能稳态测试值是不同的。

针对图1所示的技术方案,还需特别明确的是,步骤ss1中需要获取多个连续的iops有效平均值,所述的多个iops有效值需连续,多个iops有效值的连续依赖于iops取样值的连续。

基于前述实施例相同的发明构思,如图3所示的,本发明实施例公开一种ssd性能稳态验证的系统,包括以下模块:

iops有效平均值获取模块,用于获取多个联系的iops有效平均值;

测试性能稳态值获取模块,用于依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值;

ssd性能稳态验证模块,用于依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态。

对于图3所示的技术方案,需要特殊说明的是,本发明通过上述模块实现了ssd性能稳态的验证,填补了当前ssd性能稳态测试方面的空白。此外,需要明确的是,由于ssd硬盘的固有属性,即随着ssd硬盘数据的增多,硬盘垃圾回收压力增大,硬盘会进行磨损均衡和冷热数据再分配,从而造成硬盘性能的下降,而当ssd硬盘进入到稳态平衡时,服务器的存储系统才能够趋于稳定,存储系统的稳定对服务器后续的测试、运行至关重要,而由于ssd性能进入稳态的时间不明确的,导致了服务器后续测试的不稳定,为此本发明提出的ssd性能稳态验证的方法使得工作人员能够对ssd硬盘的性能稳态阶段进行把控,便于后续工作的推进。此外,上述ssd性能稳态验证模块中的性能稳态值能在一定程度上反应ssd硬盘的读写性能。

如图3所示的技术方案,需要特殊说明的是,上述iops有效平均值为本发明中定义的值,其具体含义的解释依赖于其取得步骤。本实施例中,获取有效平均值具体包括:

对iops取样,获取多个连续的iops值;

获取所述多个连续的iops值的平均值,记为iops平均值;

验证所述iops平均值是否为iops有效平均值。

上述验证iops平均值是否为iops有效平均值的方法为:

依据所述iops平均值获取有效区间;

若所述多个连续的iops值均在所述有效区间内,则所述iops平均值为iops有效平均值。

可以理解的,当取得的多个连续的iops值的平均值即iops平均值,在有效区间内时,上述iops平均值为iops有效平均值;上述有效区间为依据iops平均值得到的区间范围,通常情形下,将iops平均值的95%-105%作为有效区间。

上述对iops取样通常2s取一次样。

本实施例所述的ssd性能稳态验证的系统依赖于ssd的性能表现,本实施例中通过iops的表现来实现ssd性能稳态验证;iops是指单位时间内系统能处理的i/o请求数量,一般以每秒处理的i/o请求数量为单位,i/o请求通常为读或写数据操作请求。

如图3所示的技术方案中,还需要特殊说明的是,测试性能稳态值获取模块中依据所述多个连续的iops有效平均值,获取测试性能稳态值的方法具体包括:

获取所述多个连续的iops有效平均值的平均值,记为测试性能稳态值。

如图3所示的技术方案中,还需要特殊说明的是,ssd性能稳态验证模块中依据所述测试性能稳态值验证ssd性能稳态的方法具体包括:

依据所述测试性能稳态值获取有效区间;

若所述多个连续的iops有效平均值均在所述有效区间内,则ssd进入性能稳态。

上述有效区间的获得依据测试性能稳态值,通常情形下为测试性能稳态值的95%-105%。

当ssd进入性能稳态时,上述性能稳态值也可作为ssd硬盘性能的评价指标。

针对图3的技术方案,还需要明确的是,图3的技术方案验证ssd性能稳态之前需要对ssd硬盘进行预处理,处理方法可以为全盘顺序写满两遍。

针对图3的技术方案,还需注意ssd硬盘可依据读写比例分为多个场景。如依据读写混合比例为100/0,95/5,65/35,50/50,35/65,5/95得到多个场景。图3所示的技术方案可在上述任意一种场景下进行测试,需要注意的是,不同读写混合比例不同的场景下,其性能稳态测试值是不同的。

针对图3所示的技术方案,还需特别明确的是,iops有效平均值获取模块中获取多个连续的iops有效平均值,所述的多个iops有效值需连续,多个iops有效值的连续依赖于iops取样值的连续。

尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述,但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下,本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换,而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

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