一种DRAM芯片检测用基座的制作方法

本实用新型涉及基座领域，特别涉及一种dram芯片检测用基座。

背景技术：

dram芯片又称动态随机存取存储器，dram只能将数据保持很短的时间，所以需要定时刷新，dram分为很多种，常见的主要有fpram、edoram、sdram、ddrram、rdram、sgram以及wram等，dram芯片在检测时使用到基座放置芯片；然而，现有的基座对不同尺寸的芯片装夹适应性差，并且一般一次装夹一个芯片，在检测后取下并更换芯片，使得检测效率不佳。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的在于提供一种dram芯片检测用基座，可以有效解决背景技术中基座对不同尺寸的芯片装夹适应性差，并且一般一次装夹一个芯片，在检测后取下并更换芯片，使得检测效率不佳的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种dram芯片检测用基座，包括支撑底座，所述支撑底座的上表面活动安装有活动转板，所述活动转板的上表面圆心处固定安装有调位旋钮，所述支撑底座的表面活动安装有组合装置，所述组合装置包括安装支板、组合滑槽、第二吸附磁块和导向滑块，所述组合装置的表面活动安装有第一装夹座，所述组合装置的表面位于第一装夹座的一侧活动安装有第二装夹座。

优选的，所述支撑底座的上表面开设有环形滑槽，所述支撑底座的内部开设有凹槽，所述支撑底座的凹槽内部嵌设有轴承，所述轴承的轴心处固定安装有转轴。

优选的，所述第一装夹座的上表面开设有第一装夹槽，所述第二装夹座的上表面开设有第二装夹槽，所述第一装夹座和所述第二装夹座的上表面均开设有取出豁口，所述第一装夹座和所述第二装夹座的下表面均开设有组合滑条，所述组合滑条的一端固定安装有第一吸附磁块。

优选的，所述安装支板的上表面开设有组合滑槽，所述组合滑槽的内壁固定安装有第二吸附磁块，所述安装支板的下表面固定安装有导向滑块。

优选的，所述转轴的上端与活动转板的下表面圆心处固定连接，所述安装支板与活动转板的侧面固定连接，所述活动转板通过转轴和轴承在支撑底座的上方转动。

优选的，所述第一装夹座和所述第二装夹座均通过组合滑条滑入组合滑槽的内部，且通过第一吸附磁块与第二吸附磁块相吸附后限位固定，所述安装支板通过导向滑块与环形滑槽滑动连接。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型中，通过设置的活动转板、第一装夹座和第二装夹座，活动转板通过转轴和轴承在支撑底座上方转动，从而待检测芯片逐个移到前部区域进行检测，一次装夹多个芯片，有利于提高检测效率，通过设置的组合装置，可以根据芯片尺寸对第一装夹座及第二装夹座进行更换，适应对不同尺寸芯片进行装夹并检测。

附图说明

图1为本实用新型一种dram芯片检测用基座的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种dram芯片检测用基座的组合装置结构示意图；

图3为本实用新型一种dram芯片检测用基座的第一装夹座结构示意图；

图4为本实用新型一种dram芯片检测用基座的支撑底座剖面图。

图中：1、支撑底座；101、环形滑槽；102、轴承；103、转轴；2、活动转板；3、组合装置；301、安装支板；302、组合滑槽；303、第二吸附磁块；304、导向滑块；4、调位旋钮；5、第一装夹座；501、第一装夹槽；6、第二装夹座；601、第二装夹槽；602、取出豁口；603、组合滑条；604、第一吸附磁块。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”“前端”、“后端”、“两端”、“一端”、“另一端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1-4所示，一种dram芯片检测用基座，包括支撑底座1，支撑底座1的上表面活动安装有活动转板2，活动转板2的上表面圆心处固定安装有调位旋钮4，支撑底座1的表面活动安装有组合装置3，组合装置3包括安装支板301、组合滑槽302、第二吸附磁块303和导向滑块304，组合装置3的表面活动安装有第一装夹座5，组合装置3的表面位于第一装夹座5的一侧活动安装有第二装夹座6。

支撑底座1的上表面开设有环形滑槽101，支撑底座1的内部开设有凹槽，支撑底座1的凹槽内部嵌设有轴承102，轴承102的轴心处固定安装有转轴103。

在本实施例中，第一装夹座5的上表面开设有第一装夹槽501，第二装夹座6的上表面开设有第二装夹槽601，第一装夹座5和第二装夹座6的上表面均开设有取出豁口602，第一装夹座5和第二装夹座6的下表面均开设有组合滑条603，组合滑条603的一端固定安装有第一吸附磁块604，活动转板2通过转轴103和轴承102在支撑底座1上方转动，从而待检测芯片逐个移到前部区域进行检测，一次装夹多个芯片，有利于提高检测效率。

在本实施例中，安装支板301的上表面开设有组合滑槽302，组合滑槽302的内壁固定安装有第二吸附磁块303，安装支板301的下表面固定安装有导向滑块304，可以根据芯片尺寸对第一装夹座5及第二装夹座6进行更换，适应对不同尺寸芯片进行装夹并检测。

转轴103的上端与活动转板2的下表面圆心处固定连接，安装支板301与活动转板2的侧面固定连接，活动转板2通过转轴103和轴承102在支撑底座1的上方转动。

第一装夹座5和第二装夹座6均通过组合滑条603滑入组合滑槽302的内部，且通过第一吸附磁块604与第二吸附磁块303相吸附后限位固定，安装支板301通过导向滑块304与环形滑槽101滑动连接。

需要说明的是，本实用新型为一种dram芯片检测用基座，在使用时，待检测芯片依次放置在第一装夹座5的第一装夹槽501或第二装夹座6的第二装夹槽601处，然后转动调位旋钮4，使得活动转板2通过转轴103和轴承102在支撑底座1上方转动，从而待检测芯片逐个移到前部区域进行检测，一次装夹多个芯片，有利于提高检测效率，在使用过程中，向外拉动第二装夹槽601，带动第一吸附磁块604与组合滑槽302内壁的第二吸附磁块303脱离限制，使得第二装夹槽601下表面的组合滑条603从安装支板301的组合滑槽302中滑出，这样便可以根据芯片尺寸对第一装夹座5及第二装夹座6进行更换，适应对不同尺寸芯片进行装夹并检测。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。