光盘装置、控制方法、控制程序以及信息存储介质的制作方法
【技术领域】
[0001]本技术涉及一种用于读出光盘介质上记录的信息的光盘装置、光盘装置的控制方法、光盘装置的控制程序、以及用于存储控制程序的信息存储介质。光盘介质的示例是压缩盘(CD)、数字通用盘(DVD)和Blue-ray Disc (蓝光盘)(注册商标)。
[0002]例如，诸如⑶、DVD和蓝光盘(BD)的各种光盘介质用作信息存储介质。为了从信息存储介质读出信息，提供了一种具有用于将光发射至光盘介质并检测介质所反射的光的光学拾取器的光盘装置(参见诸如日本专利N0.4769150的文献)。
【背景技术】
[0003]当长时间使用光盘装置时，空气中的尘土、香烟焦油等会粘在光系统上，导致光透射系数降低，于是，在某些情况下，所反射的光的所测量的信号电平也会降低。因此，在从光盘介质读出信息的操作中，担心会产生读取错误。
[0004]于是，希望提供一种即使在低信号电平的情况下也能够继续进行从光盘介质读出信息的操作的光盘装置、一种光盘装置控制方法、一种用于光盘装置的控制程序以及一种用于存储控制程序的信息存储介质。
[0005]根据本技术的光盘装置为一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述光盘装置还包括执行控制的控制部分，在从光盘介质读出信息的操作中，其相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。
[0006]根据本技术的控制方法为一种能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的控制方法。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述方法包括执行这样的控制:在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。
[0007]根据本技术的程序为一种用于控制能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的程序。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述用于计算机的程序包括执行这样的控制:在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。
[0008]可以把所述程序存储在能够由计算机读取的信息存储介质中。
[0009]根据本技术的信息存储介质为一种能够由计算机读取的并且用于存储用于控制能够读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置的程序的介质。所述光盘装置包括发射光的发光设备和把发光设备所发射的光会聚在光盘介质上的物镜。所述用于计算机的程序包括执行这样的控制:在从光盘介质读出信息的操作中，相对发光设备所发射的光的光轴位置位移物镜的中心位置。
【附图说明】
[0010]图1是示出根据本技术的实施例的光盘装置的典型配置的框图；
[0011]图2是示出根据本技术的实施例的光盘装置中采用的光学拾取器的典型内部配置的概略图；
[0012]图3是示出扫描操作中物镜的移动的模型的图；
[0013]图4是示出通过使用小波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图；
[0014]图5是示出在BD上通过使用大波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图；
[0015]图6是示出在CD上通过使用大波长光进行扫描操作而获得的典型PI信号波形的图；
[0016]图7是示出根据本技术的实施例的由光盘装置进行的类型确定处理的流程的流程图；
[0017]图8A是示出在信号质量不恶化的情况下视野与抖动特性的图；
[0018]图SB是示出在信号质量恶化的情况下视野与抖动特性的图；
[0019]图9A是示出在正常条件下光学系统与物镜之间的相对位置关系的图；
[0020]图9B是示出在光轴偏移(shift)控制下光学系统与物镜之间的相对位置关系的图；以及
[0021]图10是示出在光轴偏移控制下处理的典型流程的流程图。
【具体实施方式】
[0022]以下描述通过参考附图来说明本技术的实施例的细节。
[0023]根据本技术的实施例的光盘装置I是用于读出存储在光盘介质中的信息的光盘装置。如图1中所示，光盘装置I包括介质支持部分11、主轴电机12、光学拾取器13、进给电机15、驱动电路16、信号输出电路17、伺服信号处理部分18、记录信号处理部分19和控制部分20。
[0024]用作由光盘装置I进行的信息读取操作的对象的光盘介质M包括叠层，诸如用于存储信息的数据记录层和用于在两侧保护数据记录层的保护层。在以下描述中，数据记录层的表面称为信号表面。应注意，光盘介质M可以包括多个数据记录层。光盘装置I也可以被配置为不仅能够读出存储在光盘介质M上的信息、而且还能够将信息写入到光盘介质M上。另外，在此实施例的情况下，光盘装置I被配置为能够读出存储在至少两种类型的光盘介质M( S卩，⑶和BD)上的信息。
[0025]介质支持部分11支持光盘介质M，以便可以旋转光盘介质M。另外，介质支持部分11通过使用从主轴电机12传送的动力来旋转光盘介质M。
[0026]光学拾取器13将激光照射至光盘介质M，并检测在发射光的反射中由光盘介质M反射的光，从而输出表示由此检测的反射光的信号。具体地，在此实施例的情况下，光学拾取器13被配置为能够发射具有用于不同类型的光盘介质M的多个波长的激光。图2是示出光学拾取器13的典型内部配置的概略图。此图中所示的典型配置包括第一发光设备31、第二发光设备32、光学系统33、物镜34、焦点检测器35和物镜驱动部分36。
[0027]第一发光设备31和第二发光设备32各自是用于输出激光的半导体激光设备。第一发光设备31发射具有用于CD的第一波长的光，而第二发光设备32发射具有用于BD的第二波长的光。应注意，具有第一波长的光是具有780nm波长的红外光，而具有第二波长的光是具有小于第一波长的405nm波长的蓝光。在以下描述中，为了方便起见，将具有第一波长的光称为大波长光，而将具有第二波长的光称为小波长光。
[0028]光学系统33包括多个光学组件,诸如偏振光分束器、启动镜和多个透镜。光学拾取器13包括用于将由第一发光设备31和第二发光设备32发射的光引导至物镜34的光路。另外，光学拾取器13还包括用于将反射光引导至稍后描述的焦点检测器35的另一光路。反射光是由光盘介质M反射且通过物镜34透射的光。由第一发光设备31和第二发光设备32发射的光通过光学系统33传播至物镜34，并且在被照射至光盘介质M之前由物镜34会聚。
[0029]在通过物镜34透射之后，由光盘介质M反射的光由光学系统33引导至焦点检测器35。焦点检测器35包括多个光接收设备。当光盘介质M所反射的光到达这些光接收设备时，焦点检测器35输出根据光接收设备所接收的光的强度的信号作为输出信号。
[0030]物镜驱动部分36被配置为包括致动器，并且用于在光盘介质M的径向方向和垂直于光盘介质M的表面的方向上移动物镜34。在以下方向中，径向方向称为跟踪(tracking)方向，而垂直于光盘介质M的表面的方向称为聚焦方向。通过物镜驱动部分36在聚焦方向上移动物镜34，可以改变从物镜34到光盘介质M的表面的距离。
[0031]进给电机15在跟踪方向上移动整个光学拾取器13。通过进给电机15以此方式驱动整个光学拾取器13，可以将光学拾取器13从接近于光盘介质M的中心的位置移动至接近于光盘介质M的最外周的位置。
[0032]根据从伺服信号处理部分18接收的控制信号，驱动电路16输出用于驱动主轴电机12、进给电机15和物镜驱动部分36的驱动信号。根据从驱动电路16接收的驱动信号，主轴电机12的旋转速度改变以控制光盘介质M的旋转速度。另外，根据从驱动电路16接收的驱动信号，物镜驱动部分36和进给电机15被驱动以控制物镜34与介质旋转轴之间的距离以及物镜34与介质表面之间的距离。
[0033]例如，信号输出电路17、伺服信号处理部分18、记录信号处理部分19和控制部分20典型地由模拟电路、A/D转换器、数字信号处理器(DSP)和微机实施。模拟电路是用于处理由光学拾取器13输出的模拟信号的电路。A/D转换器是用于将模拟信号转换为数字信号的转换器。DSP是用于处理数字信